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光的干涉

本专题涉及光的干涉的标准有141条。

国际标准分类中，光的干涉涉及到长度和角度测量、光电子学、激光设备、振动、冲击和振动测量、玻璃、光学设备、集成电路、微电子学、光学和光学测量、摄影技术、电灯及有关装置、道路车辆装置、涂料和清漆、金属矿、燃料、黑色金属、煤、采矿设备、表面处理和镀涂、振动和冲击(与人有关的)、铁合金、光纤通信、电子电信设备用机电元件。

在中国标准分类中，光的干涉涉及到学校专用设备、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、敏感元器件及传感器、光学仪器综合、微电路综合、供热器材设备、基础标准与通用方法、光学设备、材料防护、声学仪器与测震仪、航空与航天用非金属材料、光电子器件综合、时间、频率计量、光通信设备、光学计量、量具与量仪、机械振动、冲击设备与动平衡机。


行业标准-教育，关于光的干涉的标准

美国国家标准学会，关于光的干涉的标准

美国机械工程师协会，关于光的干涉的标准

英国标准学会，关于光的干涉的标准

  • BS ISO 16063-13:2001 振动和冲击传感器的校准方法.激光干涉法的主要冲击校准
  • PD ISO/TR 14999-3:2005 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 干涉测试设备和测量的校准和验证
  • PD ISO/TR 14999-1:2005 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 术语、定义和基本关系
  • PD ISO/TR 14999-2:2019 跟踪更改 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 测量和评估技术
  • BS ISO 16063-11:1999 振动和冲击传感器的校准方法.采用激光干涉量度法的主要振动校准
  • BS ISO 16063-11:2001 振动和冲击传感器的校准方法.采用激光干涉量度法的主要振动校准
  • BS ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.ISO 10110中指定公差的注释和评定
  • BS ISO 14999-4:2015 跟踪更改 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 ISO 10110 中规定的公差的解释和评估
  • BS 6955-1:1994 振动和冲击传感器的校准 激光干涉法初级振动校准方法

韩国科技标准局，关于光的干涉的标准

国际标准化组织，关于光的干涉的标准

  • ISO/TR 14999-3:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和验证
  • ISO/TR 14999-2:2019 光学和光子学 - 光学元件和光学系统的干涉测量 - 第2部分:测量和评估技术
  • ISO/TR 14999-2:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
  • ISO/TR 14999-1:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第1部分:术语、定义和基本关系
  • ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
  • ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
  • ISO 16063-15:2006 振动和冲击传感器的校准方法.第15部分:用激光干涉法的初级角振动校准
  • ISO 3868:1976 金属和其他无机覆盖层 镀层厚度的测量 裴索多光束干涉仪法
  • ISO 16063-11:1999 振动与冲击传感器的校准方法 第11部分:激光干涉法作主要的振动校准

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于光的干涉的标准

  • GB/T 34894-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
  • GB/T 34893-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
  • GB/T 34900-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法

德国标准化学会，关于光的干涉的标准

  • DIN 65571-4:1992-11 航天;增强纤维；长丝纱线直径的测定；激光干涉测量
  • DIN ISO 14999-4 Beiblatt 1:2020-04 光学和光子学-光学元件和光学系统的干涉测量-第4部分：ISO 10110中规定的公差的解释和评估
  • DIN 65571-4:1992 航空航天.增强纤维.复丝纱的长丝直径的测定.激光干涉测量法
  • DIN ISO 14999-4:2016 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2015)
  • DIN ISO 14999-4:2016-04 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第4部分：ISO 10110(ISO 14999-4:2015)中规定的公差的解释和评估
  • DIN ISO 14999-4:2008 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2007).英文版本DIN ISO 14999-4-2008
  • DIN EN ISO 3868:1995-01 金属和其他无机涂层 - 涂层厚度的测量 - 斐索多光束干涉测量法 (ISO 3868:1976)

日本工业标准调查会，关于光的干涉的标准

  • JIS B 0091:2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义

美国材料与试验协会，关于光的干涉的标准

  • ASTM E2246-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
  • ASTM E2245-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的残余应变测量的标准测试方法

美国机动车工程师协会，关于光的干涉的标准

  • SAE J2739-2011 可替换头灯灯泡涂膜用的吸收和干涉光涂层

SAE - SAE International，关于光的干涉的标准

  • SAE J2739-2007 可替换头灯灯泡涂膜用的吸收和干涉光涂层

法国标准化协会，关于光的干涉的标准

  • NF S10-009-4*NF ISO 14999-4:2015 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第4部分：ISO 10110 中规定的公差的解释和评估
  • NF S10-009-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
  • FD ISO/TR 14999-2:2019 光学和光子学 - 光学元件和系统的干涉测量 - 第 2 部分：测量和评估技术
  • NF ISO 14999-4:2015 光学和光子学 - 光学元件和系统的干涉测量 - 第 4 部分：ISO 10110 中规定的公差评估指南
  • NF A91-117*NF EN ISO 3868:1995 金属和其他无机物涂层 涂层厚度的测量 菲索（Fizeau）多光束干涉仪法

美国电气电子工程师学会，关于光的干涉的标准

KR-KS，关于光的干涉的标准

  • KS B ISO 14999-4-2016 光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第4部分:KS B ISO 10110规定公差的解释和评定
  • KS B ISO 16063-13-2018 振动和冲击传感器的校准方法第13部分:使用激光干涉测量的主要冲击校准

RU-GOST R，关于光的干涉的标准

  • GOST R 8.744-2011 国家测量一致性保证体系.光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和检定
  • GOST R 8.745-2011 国家测量一致性保证体系.光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
  • GOST R 8.743-2011 国家测量一致性保证体系.光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第1部分:术语、定义和基本关系

TIA - Telecommunications Industry Association，关于光的干涉的标准

丹麦标准化协会，关于光的干涉的标准

  • DS/EN ISO 3868:1995 金属和其他非有机涂层 涂层厚度的测量 斐索多光束干涉法

未注明发布机构，关于光的干涉的标准

国家质检总局，关于光的干涉的标准

  • GB/T 13823.11-1995 振动与冲击传感器的校准方法 激光干涉法低频振动一次校准
  • GB/T 13823.2-1992 振动与冲击传感器的校准方法 激光干涉振动绝对校准(一次校准)

立陶宛标准局，关于光的干涉的标准

  • LST EN ISO 3868:2001 金属和其他非有机涂层 涂层厚度的测量 Fizeau 多光束干涉测量法（ISO 3868:1976）

AENOR，关于光的干涉的标准

  • UNE-EN ISO 3868:1996 金属和其他非有机涂层 涂层厚度的测量 FIZEAU 多光束干涉测量法 （ISO 3868:1976）

国家计量检定规程，关于光的干涉的标准

行业标准-机械，关于光的干涉的标准

ZA-SANS，关于光的干涉的标准

  • SANS 16063-11:2008 振动与冲击传感器的校准方法.第11部分:激光干涉法作主要的振动校准

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可能用到的仪器设备

 

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