微电子器件试验方法与程序

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国际标准分类中，微电子器件试验方法与程序涉及到半导体分立器件。

在中国标准分类中，微电子器件试验方法与程序涉及到半导体分立器件综合。

国家军用标准-总装备部，关于微电子器件试验方法与程序的标准

• GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

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