Quartz Kristall

Für die Quartz Kristall gibt es insgesamt 500 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Quartz Kristall die folgenden Kategorien: Umfangreiche elektronische Komponenten, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, nichtmetallische Mineralien, Filter, Klebstoffe und Klebeprodukte, Luft- und Raumfahrtmotoren und Antriebssysteme, Uhrmacherkunst, Messung von Kraft, Schwerkraft und Druck, Wortschatz.

SCC, Quartz Kristall

IEC 60758:1983 Synthetischer Quarzkristall – Kapitel I: Spezifikation für synthetischen Quarzkristall – Kapitel II: Leitfaden zur Verwendung von synthetischem Quarzkristall
IEC 60758:1983/AMD1:1983 Änderung 1 – Synthetischer Quarzkristall – Kapitel I: Spezifikation für synthetischen Quarzkristall – Kapitel II: Leitfaden zur Verwendung von synthetischem Quarzkristall
CEI EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
DANSK DS/EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
CEI EN 60444-7:2005 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristall-Einheiten
DANSK DS/EN 60444-7:2004 Messung von Schwingquarz-Parametern - Teil 7: Messung der Aktivität und der Frequenzeinbrüche an Schwingquarzen
DANSK DS/EN 60758:2016 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
CEI EN 60758:2017 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
DIN EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-8:2016); Deutsche Fassung EN 60444-8:2017
IEC 60122-2:1962 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzoszillatorkristallen
IEC PAS 62277:2001 Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
DANSK DS/EN 168100:2016 Abschnittsspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitsgenehmigung)
DANSK DS/EN 168200:2016 Abschnittsspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Qualifikationsgenehmigung)
DANSK DS/EN 168200/A1:2016 Abschnittsspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Qualifikationsgenehmigung)
BS PD IEC/PAS 62277:2002 Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
DANSK DS/IEC 122-2:1985 Quarzkristallgeräte zur Frequenzregelung und -auswahl - Teil 2: Leitfaden für den Einsatz von Quarzkristallgeräten zur Frequenzregelung und -auswahl
DIN EN 60444-8/A1 E:2013 Entwurfsdokument – Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 49/1061/CD:2013)
DIN EN 60444-8 E:2014 Entwurfsdokument – Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 49/1099/CD:2014)
DANSK DS/IEC 122-2-1:1993 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren
BS 9618:1988 Spezifikation für die Fähigkeitsprüfung von Quarzeinheiten: generische Daten
DANSK DS/EN 168101:2016 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitsgenehmigung)
DANSK DS/EN 168201:2016 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Qualifikationsgenehmigung)
13/30280840 DC BS EN 60758. Synthetischer Quarzkristall. Spezifikationen und Richtlinien für die Verwendung
07/30161553 DC BS EN 60758. Synthetischer Quarzkristall. Spezifikationen und Anleitung zur Verwendung
BS DD IEC/PAS 60679-6:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Phasenjitter-Messmethode für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren. Anwendungsleitfaden
IEC 60122-2:1962/AMD1:1969 Änderung 1 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzoszillatorkristallen
IEC 60758:1993/AMD2:2001 Änderung 2 – Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Leitfaden zur Verwendung
IEC 60758:1993/AMD1:1997 Änderung 1 – Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Leitfaden zur Verwendung
IEC 60314:1970/AMD1:1979 Änderung 1 – Temperaturkontrollgeräte für Quarzkristalleinheiten
CEI EN 60679-6:2015 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
DANSK DS/EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
IEC 60122-3:1962 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
DANSK DS/EN 60444-4:1997 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk. Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte der Quarzkristalleinheit...
BS EN 60679-1:1998 Quarzgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Fachgrundspezifikation
DANSK DS/EN 60122-1:2003 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
BS EN 60122-3:2001 Quarzkristalleinheiten in geprüfter Qualität - Standardumrisse und Anschlussverbindungen
DANSK DS/EN 60122-1/A1:2003 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation
IEC 60122-3:1962 CSV Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Abschnitt vier: Standardskizzen – Abschnitt fünf: Stiftverbindungen – Abschnitt sechs: Artikelblätter für Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in Quarzfiltern
DANSK DS/EN 60444-2:1997 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem PI-Netzwerk – Teil 2: Phasenversatzmethode zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Quartz Kristall

KS C 6506-1983 Synthetischer Quarzkristall1
KS C 6506-1983(2008) Synthetischer Quarzkristall1
KS C 6503-1999 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
KS C 6503-1984 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
KS C 6504-1987(2017) Öfen für Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60679-2:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
KS C IEC 60679-2-2023 Quarzkristall-Oszillator Teil 2: Eine Anleitung zur Verwendung eines Quarzkristall-Oszillators
KS C 6509-1991 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
KS C 6508-2013 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200∼1000kHz)
KS C 6509-1991(2011) Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
KS C 6504-1987(2022) Öfen für Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60444-8:2016 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
KS C 6504-1987 Öfen für Quarzkristalleinheiten
KS C 6508-1990 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200∼1000kHz)
KS C IEC 60444-8-2016(2021) Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60444-8-2021 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60444-7-2016(2021) Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten
KS C 6503-1999(2009) Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
KS C IEC 60122-2-2003(2018) Kristalle zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Eine Anleitung zur Verwendung von Kristallen zur Frequenzsteuerung und -auswahl
KS C IEC 60444-7:2016 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60444-7-2021 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 61080:2018 Leitfaden zur Messung äquivalenter elektrischer Parameter von Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60758:2018 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
KS C IEC 61080-2023 Leitfaden zur Messung quarzkristalläquivalenter elektrischer Parameter
KS C IEC 60758-2023 Spezifikationen und Verwendungsanleitung für synthetische Quarzkristalle
KS C IEC 60122-2-1-2011(2021) Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für Mikroprozessoruhren
KS C IEC 60122-2-1-2011(2016) Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für Mikroprozessoruhren
KS C 6509-2013 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
KS C 6508-1990(2010) Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200∼1000kHz)
KS C IEC 60122-2-1-2021 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren
KS C IEC 60444-2-2002(2017) Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem p-Netzwerk – Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60444-2-2022 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem p-Netzwerk – Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60444-2-2002(2022) Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem p-Netzwerk – Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60679-6:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
KS C IEC 60679-6-2023 Qualifizierte Quarzkristalloszillatoren Teil 6: Anwendungsrichtlinien für Phasenjitter-Messmethoden für Quarzkristalloszillatoren und Oberflächenwellenoszillatoren
KS C IEC 60122-1:2022 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
KS C IEC 60122-1:2018 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Quartz Kristall

GB/T 3352-1994 Synthetischer Quarzkristall
GB/T 3351~353-1982 künstlicher Quarzkristall
GB/T 6628-1996 Beschwerter synthetischer Quarzkristall
GB/T 7895-2008 Synthetischer Quarzkristall in optischer Qualität
GB 12274-1990 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren Allgemeine Spezifikation für
GB/T 3353-1995 Leitfaden zur Verwendung von synthetischem Quarzkristall
GB/T 22319.7-2015 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Teil 7: Messung von Aktivitätseinbrüchen von Quarzkristalleinheiten
GB/T 22319.8-2008 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
GB/T 7896-2008 Prüfverfahren für synthetische Quarzkristalle in optischer Qualität
GB/T 15020-1994 Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in elektronischen Geräten.Blande Detailspezifikation für.Widerstandsgeschweißte Quarzkristalleinheiten.Bewertungsstufe E
GB 12275-1990 Nomenklatur des Quarzkristalloszillatormodells
GB/T 3352-2012 Synthetischer Quarzkristall. Technische Daten und Gebrauchsanweisung
GB 6627-1986 Nomenklatur des künstlichen Quarzkristallstabmodells
GB 6627-1986 Nomenklatur des künstlichen Quarzkristallstabmodells
GB　6627-1986 Nomenklatur des künstlichen Quarzkristallstabmodells
GB/T 12274.1-2012 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität. Teil 1: Fachgrundspezifikation

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Quartz Kristall

JIS C 6704:2017 Synthetischer Quarzkristall
JIS C 6704:1997 Synthetischer Quarzkristall
JIS C 6704:2005 Synthetischer Quarzkristall
JIS C 6704:2009 Synthetischer Quarzkristall
JIS C 6701:1995 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
JIS C 6710:1995 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
JIS C 6701:1999 Allgemeine Spezifikation von Quarzkristalleinheiten
JIS C 6701:2007 Allgemeine Spezifikation von Quarzkristalleinheiten
JIS C 6701 ERRATUM 1:2000 Allgemeine Spezifikation von Quarzkristalleinheiten (Erratum 1)
JIS C 6701:2021 Allgemeine Spezifikationen und Prüfmethoden für Quarzkristalleinheiten

TR-TSE, Quartz Kristall

TS 2319-1976 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
TS 2268-1976 Quarzkristall-Einheitshalter für Oszillatoren und Stiftanschlüsse

Professional Standard - Electron, Quartz Kristall

SJ/T 11199-1999 Rohlinge aus piezoelektrischem Quarzkristall
SJ/Z 9155.2-1987 Quarzkristalloszillator Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalloszillatoren
SJ/T 10639-1995 Begriffe für Quarzkristalleinheiten
SJ/T 10638-1995 Messmethoden für Quarzkristalloszillatoren
SJ 2592-1985 Monolithische Quarzkristallfilter für Typ LSP10.7MA(~E)
SJ 52138.1-1995 Kristalleinheit, Quarz, Typ JA 538, Detailspezifikation für
SJ/Z 9570.1-1995 Qualitätsbewertungsstandard für Quarzkristallkomponenten
SJ/T 9570.1-1995 Qualitätsbewertungsstandard für Quarzkristalleinheiten
SJ 20110-1992 Filter, Quarzkristall, Typ LST60MA, Detailspezifikation für
SJ/Z 9158-1987 Temperaturkontrolleinheit für Quarzkristallelemente
SJ/T 9570.3-1995 Qualitätsbewertungsstandard für Quarzkristalloszillatoren
SJ 51508/1-1994 Filter, Quarzkristall, Typ LST60.02M, Detailspezifikation für
SJ 51508/2-1994 Filter, Quarzkristall, Typ LST42.02M, Detailspezifikation für
SJ 51508/6-1996 Filter, Quarzkristall, Typ LST21.4M, Detailspezifikation für
SJ 51508/7-1996 Filter, Quarzkristall, Typ LST25.0425M, detaillierte Spezifikation für
SJ/Z 9152.2-1987 Quarzkristallelemente zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristallelementen zur Frequenzsteuerung und -auswahl
SJ/T 9570.2-1995 Qualitätsbewertungsstandard für monolithische Quarzkristallfilter
SJ 51508.4-1995 Filter, Quarzkristall, Seitenband, Typ LSB1.4M, Detailspezifikation für
SJ 51508.5-1995 Filter, Quarzkristall, monolithisch, Typ LSP21.4M, Detailspezifikation für
SJ 51508/8-1999 Filter, Quarzkristall, monolithisch, Typ LP12, Detailspezifikation für
SJ/T 10015-1991 32-kHz-Stimmgabel-Quarzkristalleinheiten für Uhren der Typen JU38 und JU26
SJ/Z 9154.2-1987 Verwenden Sie die Nullphasentechnik im π-Netzwerk, um die Parameter der Quarzkristalleinheit zu messen. Teil 2: Phasenversatzmethode zur Messung der dynamischen Kapazität von Quarzkristallelementen
SJ 51508/3-1994 Filter, Quarzkristall, Typ LSP10.7M(1～3), detaillierte Spezifikation für
SJ/Z 9154.1-1987 Verwenden Sie die Nullphasentechnik im π-Netzwerk, um die Parameter der Quarzkristalleinheit zu messen. Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristallelementen
SJ/T 10015-2013 Mess- und Prüfmethoden für Stimmgabelquarzeinheiten im Bereich von 10 kHz bis 200 kHz und Standardwerte
SJ/T 11256-2001 Quarzkristall-Kratal-gesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität. Teil 1: Allgemeine Spezifikation

ES-UNE, Quartz Kristall

UNE-EN 168100:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten. (Von AENOR im November 1996 gebilligt.)
UNE-EN 168200/A1:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten (Qualifikationszulassung). (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
UNE-EN 168200:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten (Qualifikationszulassung). (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
UNE-EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Testvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2017.)
UNE-EN 60444-7:2004 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten – Teil 7: Messung von Aktivitäts- und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten (Genehmigt von AENOR im September 2004.)
UNE-EN 60758:2016 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung (Von AENOR im November 2016 empfohlen.)
UNE-EN 168201:1992 LEERE DETAILSPEZIFIKATION: QUARZKRISTALLEINHEITEN (QUALIFIZIERUNGSZULASSUNG). (Von AENOR im November 1997 gebilligt.)
UNE-EN 168101:1992 LEERE DETAILSPEZIFIKATION: QUARZKRISTALLEINHEITEN (FÄHIGKEITSZULASSUNG). (Von AENOR im November 1997 gebilligt.)
UNE-EN 60444-2:1997 MESSUNG VON EINHEITPARAMETERN VON QUARZKRISTALL DURCH NULLPHASEN IN EINEM PI-NETZWERK. TEIL 2: PHASENVERSATZMETHODE ZUR MESSUNG DER BEWEGUNGSKAPAZITÄT VON QUARZKRISTALLEINHEITEN (Genehmigt von AENOR im Oktober 1997.)
UNE-EN 60122-1:2002/A1:2018 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Allgemeine Spezifikation (Genehmigt durch die Asociación Española de Normalización im Mai 2018.)
UNE-EN 60122-1:2002 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Allgemeine Spezifikation (Genehmigt von AENOR im März 2003.)

工业和信息化部, Quartz Kristall

SJ/T 11199-2016 Piezoelektrische Quarzkristallplatte

International Electrotechnical Commission (IEC), Quartz Kristall

IEC 60679-2:1981 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
IEC 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
IEC 60444-8:2016 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
IEC 60444-7:2004 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristall-Einheiten
IEC 60758:2008 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
IEC 60758:2004 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Anleitung zur Verwendung
IEC 60758:2016 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
IEC 60758:1993 Synthetischer Quarzkristall; Spezifikationen und Anleitung zur Verwendung
IEC 60122-2-1:1991 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristallgeräten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Abschnitt 1: Quarzkristalleinheiten zur Mikroprozessor-Taktversorgung
IEC 60314:1970 Temperaturkontrollgeräte für Quarzkristallgeräte
IEC 60122-2-1:1991/AMD1:1993 Änderung 1 – Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt Eins: Quarzkristalleinheiten für mi
IEC 60122-2:1983 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl
IEC 61080:1991 Leitfaden zur Messung äquivalenter elektrischer Parameter von Quarzkristalleinheiten
IEC 60758/AMD2:2001 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Anleitung zur Verwendung; Änderung 2
IEC 60758/AMD1:1997 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Anleitung zur Verwendung; Änderung 1
IEC PAS 60679-6:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden
IEC 60444-2:1980 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
IEC 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden
IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 CSV Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
IEC 60314/AMD1:1979 Temperaturkontrollgeräte für Quarzkristallgeräte
IEC 60679-1:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
IEC 60122-1:2002 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
IEC 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Quartz Kristall

JJG 181-2005 Frequenzstandards für Quarzkristalle
JJG 809-1993 Verifizierungsregelung digitaler Temperaturanzeiger mit Quarzkristallsensoren
JJG 180-2002 Verifizierungsregelung von Quarzoszillatoren in elektrischen Messgeräten
JJG(轻工) 76-1991 SCI 327 Quarzkristall-Impedanzmessgerät SPM 327PPM Zählerverifizierungsvorschriften

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Quartz Kristall

GJB 1787-1993 Spezifikationen für künstliche Quarzkristalle
GJB 1942-1994 Spezifikation für Quarzglas für künstliche Quarzkristalle
GJB 2138-1994 Allgemeine Spezifikation für Quarzkristallkomponenten
GJB 2138A-2015 Allgemeine Spezifikation für Quarzkristallkomponenten
GJB 1508-1992 Allgemeine Spezifikation für Quarzkristallfilter
GJB 2138/4-2011 Detailspezifikation für Quarzkristalleinheit Typ JA500
GJB 960-1990 Künstliches Quarzkristallsubstrat für Oberflächenwellengeräte
GJB/Z 45.1-1993 Quarzkristallkomponenten für militärische piezoelektrische Geräteserien
GJB 960A-2020 Spezifikation für künstliche Quarzkristallsubstrate für akustische Oberflächenwellengeräte mit langer Verzögerung

KR-KS, Quartz Kristall

KS C IEC 60679-2-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
KS C IEC 60679-2-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
KS C IEC 60444-8-2016 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 61080-2018 Leitfaden zur Messung äquivalenter elektrischer Parameter von Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60758-2018 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
KS C IEC 60758-2018(2023) Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
KS C IEC 60444-7-2016 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 61080-2018(2023) Leitfaden zur Messung äquivalenter elektrischer Parameter von Quarzkristalleinheiten
KS C IEC 60679-6-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
KS C IEC 60679-6-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
KS C IEC 60122-1-2022 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
KS C IEC 60122-1-2018 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation

Group Standards of the People's Republic of China, Quartz Kristall

T/CECA 48-2021 Quarzkristall-Mikrowaagenelement
T/ZJCX 0021-2022 Quarzkristallresonator für die Automobilelektronik
T/ZZB 3093-2023 Quarzkristallresonatoren für Kommunikationsprodukte
T/CECA 50-2021 Elektrisch leitfähige Klebstoffe für Quarzkristallgeräte

German Institute for Standardization, Quartz Kristall

DIN IEC 60679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
DIN EN 60444-8:2017-11 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-8:2016); Deutsche Fassung EN 60444-8:2017 / Hinweis: DIN EN 60444-8 (2004-03) bleibt neben dieser Norm bis zum 19.01.2020 gültig.
DIN IEC 60679-2:1997-09 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
DIN EN 60444-8:2004 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-8:2003); Deutsche Fassung EN 60444-8:2003
DIN EN 60444-7:2004 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 7: Messung der Aktivität und Frequenzeinbrüche von Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-7:2004); Deutsche Fassung EN 60444-7:2004
DIN EN 60444-7:2004-11 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten - Teil 7: Messung von Aktivitäts- und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-7:2004); Deutsche Fassung EN 60444-7:2004
DIN EN 60758:2009 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien für die Verwendung (IEC 60758:2008); Deutsche Fassung EN 60758:2009
DIN EN 60758:2017-04 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien für die Verwendung (IEC 60758:2016); Deutsche Fassung EN 60758:2016 / Hinweis: DIN EN 60758 (2009-05) bleibt neben dieser Norm bis zum 07.10.2019 gültig.
DIN EN 168200:1993-10 Abschnittsspezifikation; Quarzkristalleinheiten (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 168200:1993
DIN EN 168101:1992-09 Leere Detailspezifikation; Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitszulassung); Deutsche Fassung EN 168101:1992
DIN EN 169200:1996-05 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169200:1995
DIN EN 168201:1992-09 Leere Detailspezifikation; Quarzkristalleinheiten (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 168201:1992
DIN EN 60444-2:1997 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-2:1980); Deutsche Fassung EN 60444-2:1997
DIN IEC 60122-2:1993-09 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristallgeräten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Identisch mit IEC 60122-2:1983
DIN EN 60122-1:2003 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60122-1:2002); Deutsche Fassung EN 60122-1:2002
DIN EN 169201:1996-05 Vordruck für Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169201:1995
DIN EN 60122-1:2018-08 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60122-1:2002 + A1:2017); Deutsche Fassung EN 60122-1:2002 + A1:2018 / Hinweis: DIN EN 60122-1 (2003-06) bleibt neben dieser Norm bis zum 12.01.2021 gültig.
DIN EN 60679-1:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60679-1:2007); Deutsche Fassung EN 60679-1:2007

British Standards Institution (BSI), Quartz Kristall

BS EN 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
BS EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
BS EN 60444-7:2004 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten - Messung von Aktivitäts- und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten
BS EN 60444-2:1997 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
BS EN 60758:2005 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Anleitung zur Verwendung
BS EN 60758:2009 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
BS EN 60758:2016 Synthetischer Quarzkristall. Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
BS EN 60444-2:1993 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Phasenversatzmethode zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
BS EN 60122-1:2002+A1:2018 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Allgemeine Spezifikation
BS EN 60444-4:1993 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte von Quarzkristalleinheiten bis 30 MHz
BS EN 60122-1:2003 Quarzkristalleinheiten von geprüfter Qualität. Allgemeine Spezifikation
BS EN 60122-1:2002 Quarzkristalleinheiten von bewerteter Qualität. Allgemeine Spezifikation
BS EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von bewerteter Qualität. Phasenjitter-Messmethode für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren. Anwendungsrichtlinien
BS EN 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Allgemeine Spezifikation
BS EN 60444-1:1997 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem π-Netzwerk
BS EN 60444-1:1993 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem $Gp-Netzwerk
BS EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
BS EN IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit geprüfter Qualität - Kristalleinheiten mit Thermistoren
BS EN 60122-3:2011 Quarzkristalleinheiten von geprüfter Qualität. Standardkonturen und Anschlussverbindungen
BS EN 60122-3:2010 Quarzkristalleinheiten von geprüfter Qualität. Standardumrisse und Anschlussverbindungen

未注明发布机构, Quartz Kristall

DIN IEC 679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren; Teil 2; Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
DIN EN 60444-8 E:2014-08 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
DIN EN 60758 E:2013-06 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung

GSO, Quartz Kristall

GSO IEC 60679-2:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
OS GSO IEC 60679-2:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
BH GSO IEC 60679-2:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
GSO IEC 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
GSO IEC 60444-7:2014 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristall-Einheiten
BH GSO IEC 60444-7:2016 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristall-Einheiten
GSO IEC 60122-2-1:2014 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt Eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren
GSO IEC 60758:2014 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
OS GSO IEC 60758:2014 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
BH GSO IEC 60758:2016 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
OS GSO IEC 61080:2014 Leitfaden zur Messung äquivalenter elektrischer Parameter von Quarzkristalleinheiten
BH GSO IEC 61080:2016 Leitfaden zur Messung äquivalenter elektrischer Parameter von Quarzkristalleinheiten
OS GSO IEC 60122-2-1:2014 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt Eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren
BH GSO IEC 60122-2-1:2016 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt Eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren
GSO IEC 61080:2014 Leitfaden zur Messung äquivalenter elektrischer Parameter von Quarzkristalleinheiten
GSO IEC 60679-6:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
OS GSO IEC 60122-2:2014 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl
GSO IEC 60122-2:2014 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl
BH GSO IEC 60122-2:2016 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl
OS GSO IEC 60679-6:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
BH GSO IEC 60679-6:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
GSO IEC 60444-2:2015 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk. Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
OS GSO IEC 60122-1:2014 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation

Defense Logistics Agency, Quartz Kristall

DLA QPL-3098-91-2006 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, MINIATUR, OBERFLÄCHENMONTAGE
DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, MINIATUR, MONTAGE FÜR GEDRUCKTE SCHALTUNGEN

SE-SIS, Quartz Kristall

SIS SEN 43 60 01-1964 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
SIS SS-CECC 68000-1991 Allgemeine Spezifikation: Quarzkristalleinheiten
SIS SS-CECC 68100-1991 Rahmenspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitszulassung)
SIS SS-CECC 68200-1991 Rahmenspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
SIS SS-CECC 68201-1991 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristallun/ts (Qualifikationszulassung)
SIS SS-CECC 68101-1991 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitszulassung)

U.S. Military Regulations and Norms, Quartz Kristall

ARMY MIL-PRF-3098/16 H VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR36/U
ARMY MIL-PRF-3098/17 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR37/U
ARMY MIL-PRF-3098/21 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR42/U
ARMY MIL-PRF-3098/25 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR46/U
ARMY MIL-PRF-3098/26 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR47/U
ARMY MIL-PRF-3098/30 F VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR52/U
ARMY MIL-PRF-3098/32 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR54/U
ARMY MIL-PRF-3098/33 J VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR55/U
ARMY MIL-PRF-3098/36 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR58/U
ARMY MIL-PRF-3098/37 J VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR59/U
ARMY MIL-PRF-3098/38 G VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR60/U
ARMY MIL-PRF-3098/41 H VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR63/U
ARMY MIL-PRF-3098/45 J VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR67/U
ARMY MIL-PRF-3098/47 J VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR69/U
ARMY MIL-PRF-3098/63 F VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR79/U
ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR119/U
ARMY MIL-PRF-3098/103 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR101/U
ARMY MIL-PRF-3098/109 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR130/U
ARMY MIL-PRF-3098/146 C VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR165/U
ARMY MIL-PRF-3098/3 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR18/U
ARMY MIL-PRF-3098/4 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR19/U
ARMY MIL-PRF-3098/7 H VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR25/U
ARMY MIL-PRF-3098/8 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR26/U
ARMY MIL-PRF-3098/9 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR27/U
ARMY MIL-PRF-3098/10 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR28/U
ARMY MIL-PRF-3098/14 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR33/U
ARMY MIL-PRF-3098/15 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR35/U
ARMY MIL-PRF-3098/103 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR101/U
ARMY MIL-PRF-3098/109 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR130/U
ARMY MIL-PRF-3098/146 D-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR165/U
ARMY MIL-PRF-3098/62 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR78/U
ARMY MIL-PRF-3098/63 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR79/U
ARMY MIL-PRF-3098/68 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR91/U
ARMY MIL-PRF-3098/72 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR97/U
ARMY MIL-PRF-3098/77 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR5/U
ARMY MIL-PRF-3098/78 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR6/U
ARMY MIL-PRF-3098/54 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR73/U
ARMY MIL-PRF-3098/56 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR85/U
ARMY MIL-PRF-3098/58 J-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR81/U
ARMY MIL-PRF-3098/59 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR82/U
ARMY MIL-PRF-3098/60 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR83/U
ARMY MIL-PRF-3098/67 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR89/U
ARMY MIL-PRF-3098/38 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR60/U
ARMY MIL-PRF-3098/39 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR61/U
ARMY MIL-PRF-3098/40 G-2010 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, CR62/U
ARMY MIL-PRF-3098/41 J-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR63/U
ARMY MIL-PRF-3098/42 K-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR64/U
ARMY MIL-PRF-3098/43 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR65/U
ARMY MIL-PRF-3098/45 K-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR67/U
ARMY MIL-PRF-3098/47 K-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR69/U
ARMY MIL-PRF-3098/50 E-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR72/U
ARMY MIL-PRF-3098/51 J-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR74/U
ARMY MIL-PRF-3098/52 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR75/U
ARMY MIL-PRF-3098/53 M-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR76/U
ARMY MIL-PRF-3098/3 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR18/U
ARMY MIL-PRF-3098/4 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR19/U
ARMY MIL-PRF-3098/7 J-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR25/U
ARMY MIL-PRF-3098/8 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR26/U
ARMY MIL-PRF-3098/9 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR27/U
ARMY MIL-PRF-3098/10 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR28/U
ARMY MIL-PRF-3098/14 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR33/U
ARMY MIL-PRF-3098/15 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR35/U
ARMY MIL-PRF-3098/16 J-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR36/U
ARMY MIL-PRF-3098/17 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR37/U
ARMY MIL-PRF-3098/21 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR42/U
ARMY MIL-PRF-3098/24 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR45/U
ARMY MIL-PRF-3098/25 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR46/U
ARMY MIL-PRF-3098/26 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR47/U
ARMY MIL-PRF-3098/30 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR52/U
ARMY MIL-PRF-3098/32 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR54/U
ARMY MIL-PRF-3098/33 K-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR55/U
ARMY MIL-PRF-3098/34 J-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR56/U
ARMY MIL-PRF-3098/36 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR58/U
ARMY MIL-PRF-3098/37 K-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR59/U

IN-BIS, Quartz Kristall

IS 10184-1982 Spezifikation für synthetische Quarzkristalle für Holz
IS 8899-1978 Benutzerhandbuch für synthetische Quarzkristalle
IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in Oszillatoren der Serie II AA Abschnitt 3: Quarzkristalleinheit Typ AA-03
IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in Oszillatoren der Serie II AA Abschnitt 5: Quarzkristalleinheit Typ AA-05
IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren der Serie II AA verwendet werden, Abschnitt 2: Quarzkristalleinheit Typ AA-02
IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren der Serie II AA verwendet werden, Abschnitt 1: Quarzkristalleinheit Typ AA-01
IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren verwendet werden, Teil II AA-Serie, Abschnitt 4: Quarzkristalleinheit Typ AA-04
IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren verwendet werden, Teil II, Serie AA, Abschnitt 6: Quarzkristalleinheit Typ AA-06
IS 10337-1982 Spezifikation für 327,68 kHz Quarzkristallgeräte für Uhren
IS 8271 Pt.3/Sec.6-1982 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren verwendet werden, Teil III, Serie BC, Abschnitt 6: Quarzkristalleinheitentypen BC-06
IS 8271 Pt.3/Sec.7-1982 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren verwendet werden. Teil III, Serie BC, Abschnitt 7: Quarzkristalleinheitentypen BC-07
IS 9018-1978 Allgemeine Anforderungen und Prüfungen für Quarzkristalloszillatoren
IS 8271 Pt.6/Sec.4-1988 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 6 Oszillatoren der BF-Serie Abschnitt 4: Quarzkristalleinheit Typ BF-04
IS 8271 Pt.4/Sec.3-1984 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 4 SERFES AB für Oszillatoren Abschnitt 3: Quarzkristalleinheitentypen AB-03
IS 8271 Pt.3/Sec.4-1982 Spezifikationen für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil III Oszillatoren der BC-Serie Abschnitt 4: Quarzkristalleinheitentypen BC-04
IS 8271 Pt.2/Sec.22-1985 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 22: Quarzkristalleinheit Typ AA-22
IS 8271 Pt.2/Sec.8-1982 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 8: Quarzkristalleinheit Typ AA-08
IS 8271 Pt.3/Sec.5-1982 Spezifikationen für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil III Oszillatoren der BC-Serie Abschnitt 5: Quarzkristalleinheitentypen BC-05
IS 8271 Pt.5/Sec.17-1990 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Spezifikation Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 17: Quarzkristalleinheit Typ CX-17
IS 8271 Pt.2/Sec.10-1984 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 10: Quarzkristalleinheit Typ AA-10
IS 8271 Pt.5/Sec.10-1989 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Spezifikation Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 10: Quarzkristalleinheit Typ CX-10
IS 8271 Pt.4/Sec.1-1983 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 4 Oszillatoren der AB-Serie Abschnitt 1: Quarzkristalleinheit Typ AB-01
IS 8271 Pt.2/Sec.18-1985 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 18: Quarzkristalleinheit Typ AA-18
IS 8271 Pt.5/Sec.13-1990 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Spezifikation Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 13: Quarzkristalleinheit Typ CX-13
IS 8271 Pt.3/Sec.3-1982 Spezifikationen für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil III Oszillatoren der BC-Serie Abschnitt 3: Quarzkristalleinheitentypen BC-03
IS 8271 Pt.4/Sec.2-1983 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 4 Oszillatoren der AB-Serie Abschnitt 2: Quarzkristalleinheitentypen AB-02
IS 8271 Pt.5/Sec.6-1988 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 6: Quarzkristalleinheit Typ CX-06
IS 8271 Pt.6/Sec.6-1991 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 6 Oszillatoren der BF-Serie Abschnitt 6: Quarzkristalleinheitentypen BF-06
IS 8271 Pt.5/Sec.8-1989 Quarzkristalleinheit zur Frequenzsteuerung und -auswahl? Technische Daten Abschnitt 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 8 Quarzkristalleinheit Typ CX-08
IS 8271 Pt.2/Sec.21-1985 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 21: Quarzkristalleinheit Typ AA-21
IS 8271 Pt.3/Sec.8-1982 Spezifikationen für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil III Oszillatoren der BC-Serie Abschnitt 8: Quarzkristalleinheitentypen BC-08
IS 8271 Pt.2/Sec.13-1984 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 13: Quarzkristalleinheit Typ AA-13
IS 8271 Pt.3/Sec.1-1982 Spezifikationen für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil III Oszillatoren der BC-Serie Abschnitt 1: Quarzkristalleinheitentypen BC-01
IS 8271 Pt.5/Sec.11-1990 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Spezifikation Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 11: Quarzkristalleinheit Typ CX-11
IS 8271 Pt.2/Sec.11-1984 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 11: Quarzkristalleinheit Typ AA-11
IS 8271 Pt.2/Sec.14-1984 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 14: Quarzkristalleinheit Typ AA-14
IS 8271 Pt.5/Sec.9-1989 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 9: Quarzkristalleinheit Typ CX-09
IS 8271 Pt.6/Sec.5-1991 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Spezifikation Teil 6 Oszillatoren der BF-Serie Abschnitt 5: Quarzkristalleinheit Typ BF-O5
IS 8271 Pt.2/Sec.19-1985 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 19: Quarzkristalleinheit Typ AA-19
IS 8271 Pt.2/Sec.9-1982 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil II Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 9: Quarzkristalleinheit Typ AA-09
IS 8271 Pt.5/Sec.16-1990 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Spezifikation Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 16: Quarzkristalleinheit Typ CX-16
IS 8271 Pt.2/Sec.15-1985 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 15: Quarzkristalleinheit Typ AA-15
IS 8271 Pt.2/Sec.20-1985 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 20: Quarzkristalleinheit Typ AA-20
IS 8271 Pt.2/Sec.17-1985 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 17: Quarzkristalleinheit Typ AA-17
IS 8271 Pt.5/Sec.15-1990 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Spezifikation Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 15: Quarzkristalleinheit Typ CX-15
IS 8271 Pt.5/Sec.12-1990 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Spezifikation Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 12: Quarzkristalleinheit Typ CX-12
IS 8271 Pt.2/Sec.12-1984 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 12: Quarzkristalleinheit Typ AA-12
IS 8271 Pt.4/Sec.4-1984 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 4 Oszillatoren der AB-Serie Abschnitt 4: Quarzkristalleinheitentypen AB-04
IS 8271 Pt.6/Sec.3-1988 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 6 Oszillatoren der BF-Serie Abschnitt 3: Quarzkristalleinheit Typ BF-03
IS 8271 Pt.5/Sec.14-1990 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Spezifikation Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 14: Quarzkristalleinheit Typ CX-14
IS 8271 Pt.3/Sec.9-1982 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil III Oszillatoren der BC-Serie Abschnitt 9: Quarzkristalleinheit Typ BC-09
IS 8271 Pt.3/Sec.2-1982 Spezifikationen für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil III Oszillatoren der BC-Serie Abschnitt 2: Quarzkristalleinheitentypen BC-02
IS 8271 Pt.5/Sec.7-1989 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 5 Oszillatoren der CX-Serie Abschnitt 7: Quarzkristalleinheit Typ CX-07
IS 8271 Pt.2/Sec.7-1982 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil II Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 7: Quarzkristalleinheit Typ AA-07
IS 8271 Pt.2/Sec.16-1985 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Teil 2 Oszillatoren der AA-Serie Abschnitt 16: Quarzkristalleinheit Typ AA-16
IS 9728-1981 Spezifikation für ein Phasenverschiebungsverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristallen

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Quartz Kristall

GB/T 22319.9-2018 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
GB/T 12273.1-2017 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Allgemeine Spezifikation

PL-PKN, Quartz Kristall

PN T01029-1985 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren Terminologie

Danish Standards Foundation, Quartz Kristall

DS/EN 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
DS/EN 60444-7:2004 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristall-Einheiten
DS/EN 60758:2009 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
DS/IEC 122-2-1:1993 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren
DS/EN 169200:1998 Abschnittsspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung)
DS/EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
DS/EN 60444-2:1998 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem PI-Netzwerk – Teil 2: Phasenversatzmethode zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
DS/EN 60122-1:2003 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
DS/EN 169201:1998 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationsgenehmigung)

Association Francaise de Normalisation, Quartz Kristall

NF C93-621-8*NF EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
NF C93-621-8:2005 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten.
NF C93-621-7*NF EN 60444-7:2004 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 7: Messung der Aktivität und Frequenzeinbrüche von Quarzkristalleinheiten
NF C93-632:2005 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Anleitung zur Verwendung
NF C93-632:2013 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
NF C93-640-100*NF EN 168100:2013 Abschnittsspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitszulassung)
NF C93-632*NF EN 60758:2018 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
NF EN 60758:2018 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Verwendungsrichtlinien
NF C93-640-200*NF EN 168200:2013 Abschnittsspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Qualifikationszulassung)
NF C93-640-101*NF EN 168101:2014 Blanko-Bauartspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Kapazitätsgenehmigung)
NF C93-640-201*NF EN 168201:2014 Vordruck für Bauartspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Qualifikationsgenehmigung)
NF C93-620-6*NF EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
NF C93-622*NF EN 60444-2:2001 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 2: Phasenversatzmethode zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten.
NF C93-618-1/A1*NF EN 60122-1/A1:2018 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Allgemeine Spezifikation
NF C93-624*NF EN 60444-4:2001 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte der Quarzkristalleinheit
NF C93-618-1*NF EN 60122-1:2003 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 1: Allgemeine Spezifikation
NF C93-611:1975 Komponenten für elektronische Geräte. Piezoelektrische Geräte. Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren.

Electronic Industrial Alliance (U.S.), Quartz Kristall

EIA CB6-A-1987 Leitfaden für die Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung
EIA RS-192-A-1967 Hält Qutlines und Pin-Verbindungen für Quarzkristalleinheiten
EIA-699-1997 Prüfverfahren zur visuellen Prüfung von Quarzkristall-Resonatorrohlingen

ECIA - Electronic Components Industry Association, Quartz Kristall

CB6-A-1987 Leitfaden für die Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung
RS-192-A-1967 Halterumrisse und Stiftverbindungen für Quarzkristalleinheiten
699-1997 Prüfverfahren zur visuellen Prüfung von Quarzkristall-Resonatorrohlingen

Professional Standard - Aerospace, Quartz Kristall

QJ 2979-1997 Detailspezifikation für Quarzkristallkomponenten vom Typ XJ33
QJ 2980-1997 Detaillierte Spezifikationen für XJ36-Quarzkristallelemente
QJ 2981-1997 Detaillierte Spezifikationen für XJ39-Quarzkristallelemente
QJ 2978-1997 Detaillierte Spezifikationen für XJ17-Quarzkristallelemente
QJ 2929-1997 Detailspezifikation für Quarzkristallelement vom Typ XJ42
QJ 2931-1997 Detaillierte Spezifikationen für die hochpräzisen Quarzkristallelemente XB07
QJ 2930-1997 Detaillierte Spezifikationen für die hochpräzisen Quarzkristallelemente XB87

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Quartz Kristall

JJF 2090-2023 Kalibrierungsspezifikation für Quarzkristall-Frequenzstandards
JJF 1984-2022 Spezifikation zur Kalibrierung von Quarzoszillatoren in elektronischen Messgeräten

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Quartz Kristall

EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
EN 60758:2009 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
EN 60758:2016 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien zur Verwendung
EN 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
EN 60444-7:2004 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristall-Einheiten
EN 169101:1993 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung) (bleibt aktuell)
EN 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
EN 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Quartz Kristall

EN 60758:2005 Technische Daten und Gebrauchsanweisung für synthetische Quarzkristalle
EN 169200:1995 Abschnittsspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung)
EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
EN 169201:1995 Blank Detail Specification: Quartz Crystal Controlled Oscillators (Qualification Approval)
EN 60679-1:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität Teil 1: Fachgrundspezifikation (Enthält Änderung A1: 2002)
EN 168000:1993 Allgemeine Spezifikation: Quarzkristalleinheiten (Enthält die Änderungen A1: 1993 und A2: 1998)

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Quartz Kristall

GJB 2138/1-2007 Detaillierte Spezifikation für JA533-Quarzkristallresonatoren
GJB 2138/2-2007 Detaillierte Spezifikation für JA547-Quarzkristallresonatoren
GJB 2138/3-2007 Detaillierte Spezifikation für JA557-Quarzkristallresonatoren
GJB 2138.1-2007 Detaillierte Spezifikation des Quarzkristallresonators JA533
GJB 2138.2-2007 Detaillierte Spezifikation des Quarzkristallresonators JA547
GJB 2138.3-2007 Detaillierte Spezifikation des Quarzkristallresonators JA557
GJB 5971-2007 Spezifikation für monolithische Bandpass-Quarzkristallfilter mit 10 MHz bis 100 MHz

Lithuanian Standards Office , Quartz Kristall

LST EN 169000+A1-2001 Allgemeine Spezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
LST EN 60444-8-2004 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-8:2003)
LST EN 60444-7-2004 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Teil 7: Messung der Aktivität und Frequenzeinbrüche von Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-7:2004)
LST EN 168200-2002/A1-2005 Abschnittsspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
LST EN 168200-2002 Abschnittsspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
LST EN 60758-2009 Synthetischer Quarzkristall – Spezifikationen und Richtlinien für die Verwendung (IEC 60758:2008)
LST EN 169100-2003 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung)
LST EN 168201-2001 Leere Detailspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
LST EN 168101-2001 Leere Detailspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitsnachweis)
LST EN 169101-2003 Blanko-Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung)
LST EN 60444-2-2001 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk. Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-2:1980)
LST EN 60679-6-2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien (IEC 60679-6:2011)

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Quartz Kristall

PQC 83 ISSUE 1.1-1989 Allgemeine Spezifikation: Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in elektronischen Geräten
PQC 84 ISSUE 1.1-1989 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in elektronischen Geräten

Professional Standard - Building Materials, Quartz Kristall

JC/T 471-1992 Künstliche Quarzkristallplatten für lichtempfindliche Detektoren

国家建筑材料工业局, Quartz Kristall

JC 471-1992 Künstliche Quarzkristallplatte für lichtempfindliche Detektoren

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Quartz Kristall

ECA 192-A-1967 Halterumrisse und Stiftverbindungen für Quarzkristalleinheiten
ECA RS-192-A-1967 Halterumrisse und Stiftverbindungen für Quarzkristalleinheiten

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Quartz Kristall

CNS 11624-1986 Kristalleinheitsquarz CR-84/U für Radiooszillation

American National Standards Institute （ANSI), Quartz Kristall

ANSI/EIA 192-A:1967 Halterumrisse und Stiftverbindungen für Quarzkristalleinheiten
ANSI/EIA 699:1997 Prüfverfahren zur visuellen Prüfung von Quarzkristall-Resonatorrohlingen

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Quartz Kristall

ECA 699-1997 Prüfverfahren zur visuellen Prüfung von Quarzkristall-Resonatorrohlingen
ECA CB6-A-1987 Leitfaden für die Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung

IEC - International Electrotechnical Commission, Quartz Kristall

PAS 62277-2001 Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (Edition 1.0;)
PAS 60679-6-2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden (Ausgabe 1.0)

YU-JUS, Quartz Kristall

JUS N.R9.071-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zwei weitere Kristallhalter im Umriss, Typ 18
JUS N.R9.070-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ouartz-Kristalleinheiten. Zweistiftiger Kristallhalter, Typ 09
JUS N.R9.073-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristall-Einheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 17
JUS N.R9.069-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zwei Piri-Kristall-Halter-Umrisse, Typ 07
JUS N.R9.005-1977 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl
JUS N.R9.074-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ouartz-Kristalleinheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 19
JUS N.R9.072-1986 Piezo-/Elektrovibratoren. Ctuartz-Kristalleinheiten. Umriss zweier WFR-Krystafhalter, Typ 16
JUS N.R9.077-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 20
JUS N.R9.076-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zweipoliger Kristallwärmerausgang, Typ 08
JUS N.R9.075-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Umriss eines Kristallhalters mit zwei Stiften, Typ 10
JUS N.R9.078-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Umriss des Turo-Drahtkristallhalters, Typ 21
JUS N.R9.064-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ctuartz-Kristalleinheiten. Umriss des Kristallhalters mit zwei Drähten. Typen 11, 14 und 15

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Quartz Kristall

GB/T 21296.5-2020 Automatische Instrumente zum Wiegen von Straßenfahrzeugen in Bewegung – Teil 5: Kristallquarztyp