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RUSpektralfrequenzspitze
Für die Spektralfrequenzspitze gibt es insgesamt 76 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Spektralfrequenzspitze die folgenden Kategorien: Elektronenröhre, Optoelektronik, Lasergeräte, Akustik und akustische Messungen, Optik und optische Messungen, analytische Chemie, Spezialmessgeräte für die Telekommunikation, Glasfaserkommunikation, fotografische Fähigkeiten, Diskrete Halbleitergeräte, Anwendungen der Informationstechnologie, Alarm- und Warnsysteme, Metrologie und Messsynthese, Fernsehsendungen und Radiosendungen.
Professional Standard - Electron, Spektralfrequenzspitze
- SJ/Z 731-1973 Bevorzugte Serien und Typen von Photomultiplierröhren
- SJ 2355.7-1983 Methode zur Messung der Spitzenemissionswellenlänge und der spektralen Strahlungsbandbreite lichtemittierender Geräte
- SJ 2658.12-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Methoden zur Messung der Spitzenemissionswellenlänge und der spektralen Halbwertsbreite
- SJ/T 2658.12-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarot-emittierende Dioden. Teil 12: Spitzenemissionswellenlänge und spektrale Strahlungsbandbreite
RU-GOST R, Spektralfrequenzspitze
- GOST 11612.17-1981 Phetomultiplier. Methoden zur Messung der spektralen Anodenempfindlichkeit
- GOST 11612.7-1983 Photomultiplier. Messmethoden für Licht und spektrales Äquivalent des durch den Lichtstrom erzeugten Anodenstromrauschens
- GOST 8.197-2013 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Staatliches Verifizierungsschema für Instrumente zur Messung der spektralen Strahlungsdichte, der spektralen Strahlungsleistung, der spektralen Bestrahlungsstärke, der spektralen Strahlungsintensität, der Leistung und der Strahlungsintensität im Spektralbereich
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Spektralfrequenzspitze
- GJB 759-1989 Kaliumtitanphosphat (KTP)-Kristall für Laserfrequenzverdoppler
- GJB 1677-1993 Spezifikation für eine frequenzverdoppelnde Antireflexionsbeschichtung aus Kaliumtitanylphosphat (KTP) für nichtlineare optische Kristalle
U.S. Air Force, Spektralfrequenzspitze
International Organization for Standardization (ISO), Spektralfrequenzspitze
- ISO/DIS 13473-4 Charakterisierung der Fahrbahntextur mithilfe von Oberflächenprofilen – Teil 4: Spektralanalyse von Oberflächenprofilen im Terzband
- ISO 19830:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestberichtsanforderungen für die Peakanpassung in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
- ISO 20903:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
- ISO 20903:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
- ISO 20903:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Spektralfrequenzspitze
American Society for Testing and Materials (ASTM), Spektralfrequenzspitze
- ASTM E520-08(2023) Standardpraxis zur Beschreibung von Photomultiplier-Detektoren in der Emissions- und Absorptionsspektrometrie
- ASTM E520-08(2015)e1 Standardpraxis zur Beschreibung von Photomultiplier-Detektoren in der Emissions- und Absorptionsspektrometrie
- ASTM E827-07 Standardpraxis zur Identifizierung von Elementen anhand der Peaks in der Auger-Elektronenspektroskopie
- ASTM E520-98 Standardpraxis zur Beschreibung von Photomultiplier-Detektoren in der Emissions- und Absorptionsspektrometrie
- ASTM E520-98(2003) Standardpraxis zur Beschreibung von Photomultiplier-Detektoren in der Emissions- und Absorptionsspektrometrie
- ASTM E827-95 Standardpraxis zur Identifizierung von Elementen anhand der Peaks in der Auger-Elektronenspektroskopie
- ASTM E827-02 Standardpraxis zur Identifizierung von Elementen anhand der Peaks in der Auger-Elektronenspektroskopie
ZA-SANS, Spektralfrequenzspitze
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Spektralfrequenzspitze
- GB/T 41073-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestberichtsanforderungen für die Peakanpassung in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
- GB/T 37984-2019 Nanotechnologien – Raman-Verschiebungskorrekturwert für die Spektrometerkalibrierung
British Standards Institution (BSI), Spektralfrequenzspitze
- BS ISO 19830:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Elektronenspektroskopien. Mindestanforderungen an die Berichterstattung für die Peakanpassung in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
- BS EN 62129-1:2016 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten. Optische Spektrumanalysatoren
- BS ISO 20903:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensitäten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
- PD IEC/TR 63100:2017 Sendegeräte für die Funkkommunikation. Radio-over-Fiber-Technologien zur Spektrumsmessung. Geräte zur Messung des 100-GHz-Spektrums
- BS ISO 20903:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensitäten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
- BS EN 61290-10-2:2003 Optische Verstärker - Testmethoden - Mehrkanalparameter - Pulsmethode unter Verwendung eines torgesteuerten optischen Spektrumanalysators
- BS EN 61290-1-1:2006 Optische Verstärker – Prüfverfahren – Teil 1-1: Leistungs- und Verstärkungsparameter – Optische Spektrumanalysatormethode
- BS EN 61290-1-1:2015 Optische Verstärker. Testmethoden. Leistungs- und Verstärkungsparameter. Methode des optischen Spektrumanalysators
- BS EN 61290-1-1:2007 Optische Verstärker. Testmethoden. Leistungs- und Verstärkungsparameter. Methode des optischen Spektrumanalysators
German Institute for Standardization, Spektralfrequenzspitze
- DIN 45672-3:2023-02 Schwingungsmessung an Schienenverkehrsanlagen - Teil 3: Vorhersageverfahren auf Basis von Terzspektren / Hinweis: Ausgabedatum 06.01.2023
International Telecommunication Union (ITU), Spektralfrequenzspitze
- ITU-T G.694.1-2002 Spektralgitter für WDM-Anwendungen: DWDM-Frequenzgitter Serie G: Übertragungssysteme und Medien, Digitale Systeme und Netzwerke Übertragungsmedieneigenschaften – Eigenschaften optischer Komponenten und Subsysteme Studiengruppe 15
- ITU-T G.694.2-2003 Spektralgitter für WDM-Anwendungen: CWDM-Wellenlängengitter Serie G: Übertragungssysteme und Medien Digitale Systeme und Netzwerke Übertragungsmedieneigenschaften – Eigenschaften optischer Komponenten und Subsysteme Studiengruppe 15
- ITU-R SM.667 SPANISH-1990 NATIONALE SPEKTRUMVERWALTUNGSDATEN
National Aeronautics and Space Administration (NASA), Spektralfrequenzspitze
Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Spektralfrequenzspitze
- ECA TEP 150-1964 Relative spektrale Antwortdaten für lichtempfindliche Geräte („S“-Kurven)
工业和信息化部, Spektralfrequenzspitze
- JC/T 2418-2017 Allgemeine technische Bedingungen und Prüfmethoden für Neodym-dotierte Calciumoxyborat-Gadolinium-Yttrium-Laser-Selbstverdoppelungskristalle
International Electrotechnical Commission (IEC), Spektralfrequenzspitze
- IEC TR 63100:2017 Sendegeräte für die Funkkommunikation – Funk-über-Glasfaser-Technologien zur Spektrumsmessung – 100-GHz-Spektrumsmessgeräte
- IEC 61290-2-1:1998 Optische Faserverstärker – Grundspezifikation – Teil 2-1: Prüfverfahren für optische Leistungsparameter – Optischer Spektrumanalysator
- IEC 61290-1-1:2015 Optische Verstärker – Prüfverfahren – Teil 1-1: Leistungs- und Verstärkungsparameter – Optische Spektrumanalysatormethode
- IEC 61290-1-1:2006 Optische Verstärker – Prüfverfahren – Teil 1-1: Leistungs- und Verstärkungsparameter – Optische Spektrumanalysatormethode
- IEC 61290-10-2:2003 Optische Verstärker - Prüfverfahren - Teil 10-2: Mehrkanalparameter; Pulsmethode mit einem getakteten optischen Spektrumanalysator
Association Francaise de Normalisation, Spektralfrequenzspitze
- NF X21-058:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind.
- NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 1: Optische Spektrumanalysatoren
- NF ISO 23166:2019 Nickellegierungen - Bestimmung von Tantal - Optische Emissionsspektrometriemethode mit hochfrequenzinduzierter Plasmaquelle
- NF EN 62129-1:2016 Kalibrierung von Wellenlängenmessgeräten/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 1: Optische Spektrumanalysatoren
- NF EN 15605:2010 Kupfer und Kupferlegierungen – Analyse durch optische Emissionsspektrometrie mit hochfrequenzinduzierter Plasmaquelle
- NF C93-805-2-1:1998 Glasfaserverstärker. Grundlegende Spezifikation. Teil 2-1: Prüfmethoden für optische Leistungsparameter. Optischer Spektrumanalysator.
- NF C93-805-1-1:2007 Optische Verstärker – Prüfverfahren – Teil 1-1: Leistungs- und Verstärkungsparameter – Optische Spektrumanalysatormethode.
- NF Z84-567:2012 Broadband Radio Access Networks (BRAN) – 60 GHz Multiple-Gigabit WAS/RLAN-Systeme – Harmonisierte EN, die die grundlegenden Anforderungen von Artikel 3.2 der R&TTE-Richtlinie (V1.2.1) abdeckt.
- NF C93-805-5-1:2001 Optische Faserverstärker – Grundspezifikation – Teil 5-1: Prüfverfahren für Reflexionsparameter – Optischer Spektrumanalysator.
- NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 Glasfaserverstärker. Grundlegende Spezifikation. Teil 2-2: Prüfmethoden für optische Leistungsparameter. Elektrischer Spektrumanalysator.
- NF EN 15111:2007 Lebensmittel - Bestimmung von Spurenelementen - Bestimmung von Jod mittels Emissionsspektrometrie mit Hochfrequenz-induziertem Plasma und Massenspektrometer (ICP-MS)
- NF C93-805-1-1:1998 Glasfaserverstärker. Grundlegende Spezifikation. Teil 1-1: Testmethoden für Verstärkungsparameter. Optischer Spektrumanalysator.
Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Spektralfrequenzspitze
- SMPTE 117M-2001 Kinofilm – fotografische Audioaufnahme – spektrale diffuse Dichte
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Spektralfrequenzspitze
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Spektralfrequenzspitze
- EN 62129-1:2016 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 1: Optische Spektrumanalysatoren
- EN 62129:2006 Kalibrierung optischer Spektrumanalysatoren (Einschließlich Berichtigung Dezember 2006)
ES-UNE, Spektralfrequenzspitze
- UNE-EN 62129-1:2016 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 1: Optische Spektrumanalysatoren (Von AENOR im Juli 2016 gebilligt.)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Spektralfrequenzspitze
- GB/T 28893-2012 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
- GB/T 36063-2018 Nanotechnologien – Raman-Verschiebungs-Standardkurve für die Spektrometerkalibrierung
American National Standards Institute （ANSI), Spektralfrequenzspitze
- ANSI/IEEE 1214:1993 MCA-Histogramm-Datenaustauschformat für die Kernspektroskopie
- ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 – IEC 61290-2-1 – Glasfaserverstärker – Basisspezifikation Teil 2-1: Testmethoden für optische Leistungsparameter – Optischer Spektrumanalysator
Group Standards of the People's Republic of China, Spektralfrequenzspitze
- T/CCSAS 009-2021 Technische Spezifikation für ein Videoüberwachungs- und Frühwarnsystem für das Spektrum gefährlicher Gase
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Spektralfrequenzspitze
- EN 61290-5-1:2000 Optische Faserverstärker – Basisspezifikation – Teil 5-1: Prüfverfahren für Reflexionsparameter – Optischer Spektrumanalysator
- EN 61290-2-2:1998 Optische Faserverstärker – Basisspezifikation Teil 2-2: Testmethoden für optische Leistungsparameter Elektrischer Spektrumanalysator
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Spektralfrequenzspitze
- JIS C 6122-1-1:2011 Optische Verstärker – Prüfverfahren – Teil 1-1: Leistungs- und Verstärkungsparameter – Optische Spektrumanalysatormethode
- JIS C 6122-3-1:2011 Optische Verstärker – Prüfverfahren – Teil 3-1: Rauschzahlparameter – Optische Spektrumanalysatormethode
Professional Standard - Agriculture, Spektralfrequenzspitze
- GB 10725-1989 Allgemeine Regeln für die induktiv gekoppelte Hochfrequenzplasma-Atomemissionsspektrometrie mit chemischen Reagenzien