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Gerätecharakterisierung

Für die Gerätecharakterisierung gibt es insgesamt 5 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Gerätecharakterisierung die folgenden Kategorien: Diskrete Halbleitergeräte, Struktur und Strukturelemente.


British Standards Institution (BSI), Gerätecharakterisierung

  • BS IEC 62951-7:2019 Halbleiterbauelemente. Flexible und dehnbare Halbleiterbauelemente – Testverfahren zur Charakterisierung der Barriereleistung der Dünnschichtverkapselung für flexible organische Halbleiter

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Gerätecharakterisierung

  • IEEE 351-1972 IEEE Trial Use Standard Guide on Solid State Devices: Varactor Measurements Part II – Characterization of Large-Signal Devices
  • IEEE Std 351-1972 IEEE Trial Use Standard Guide on Solid State Devices: Varactor Measurements Part II – Characterization of Large-Signal Devices

Society of Automotive Engineers (SAE), Gerätecharakterisierung

WRC - Welding Research Council, Gerätecharakterisierung

  • BULLETIN 456-2000 CHARAKTERISIERUNG DES WÄRMETAUSCHERFLUSSES – HXFLOW-SOFTWARE: THEORIEDOKUMENT UND BENUTZERHANDBUCH




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