Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

Für die Infrarot-Silizium-Silizium-Peak gibt es insgesamt 114 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Infrarot-Silizium-Silizium-Peak die folgenden Kategorien: Isolierflüssigkeit, Längen- und Winkelmessungen, Prüfung von Metallmaterialien, Halbleitermaterial, Ferrolegierung, Luftqualität, Metallerz, Chemikalien, Keramik, Optoelektronik, Lasergeräte, Gummi, medizinische Ausrüstung, Nichteisenmetalle, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, analytische Chemie, Baumaterial, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Diskrete Halbleitergeräte.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

GB/T 14143-1993 Infrarot-Absorptionsmessmethode des Sauerstoffgehalts im Spalt eines 300–900 μm großen Siliziumwafers
GB/T 1557-2006 Die Methode zur Bestimmung des interstitiellen Sauerstoffgehalts in Silizium durch Infrarotabsorption
GB/T 42905-2023 Infrarot-Reflexionsmethode zur Messung der Dicke der Siliziumkarbid-Epitaxieschicht
GB/T 35306-2023 Bestimmung des Kohlenstoff- und Sauerstoffgehalts in der Niedertemperatur-Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie von Silizium-Einkristallen
GB/T 1558-2023 Infrarot-Absorptionstestverfahren für den Gehalt an substituiertem Kohlenstoff in Silizium
GB/T 1558-1997 Prüfverfahren für den substitutionellen atomaren Kohlenstoffgehalt von Silizium durch Infrarotabsorption
GB/T 1558-2009 Testverfahren für den substitutionellen atomaren Kohlenstoffgehalt von Silizium durch Infrarotabsorption
GB/T 14847-1993 Prüfverfahren zur Bestimmung der Dicke von leicht dotierten äquitaktischen Siliziumschichten auf stark dotierten Siliziumsubstraten durch Infrarotreflexion
GB/T 14847-2010 Prüfverfahren für die Dicke von leicht dotierten Silizium-Epitaxieschichten auf stark dotierten Siliziumsubstraten durch Infrarotreflexion
GB/T 4700.5-1998 Methoden zur chemischen Analyse von Calcium-Silizium. Die Infrarot-Absorptionsmethode zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts
GB/T 32573-2016 Bestimmung des Gesamtkohlenstoffgehalts von Siliziumpulver Infrarot-Absorptionsverfahren nach der Verbrennung im Induktionsofen
GB/T 4699.4-2008 Ferrochrom und Silicochrom. Bestimmung des Kohlenstoffgehalts. Infrarot-Absorptionsmethode und gravimetrische Methode
GB/T 14849.6-2014 Methoden zur chemischen Analyse von Siliziummetall. Teil 6: Bestimmung von Kohlenstoff. Infrarot-Absorptionsmethode
GB/T 4699.6-2008 Ferrochrom und Silicochrom. Bestimmung des Schwefelgehalts. Die Infrarot-Absorptionsmethode und die Verbrennungstitrationsmethode
GB/T 4700.7-1998 Methoden zur chemischen Analyse von Calcium-Silizium Die Infrarot-Absorptionsmethode und die Verbrennungs-Kaliumjodat-Titrationsmethode zur Bestimmung des Schwefelgehalts
GB/T 24581-2009 Testmethode zur Niedertemperatur-FT-IR-Analyse von einkristallinem Silizium auf III-V-Verunreinigungen
GB/T 5686.7-2008 Ferromangan, Ferromangan-Silizium, stickstoffhaltiges Ferromangan und Manganmetall. Bestimmung des Schwefelgehalts. Infrarot-Absorptionsverfahren und Verbrennungsneutralisationsverfahren
GB/T 5686.7-2022 Ferromangan, Ferromangan-Silizium, stickstoffhaltiges Ferromangan- und Manganmetall – Bestimmung des Schwefelgehalts – Infrarot-Absorptionsverfahren und Verbrennungsneutralisationsverfahren
GB/T 5686.5-2023 Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Ferromangan, Mangan-Silizium-Legierung, Ferromangannitrid und metallischem Mangan durch Infrarotabsorptionsmethode, Gasvolumenmethode, gravimetrische Methode und coulometrische Methode
GB/T 5686.5-2008 Ferromangan, Ferromangan-Silizium, stickstoffhaltiges Ferromangan und Manganmetall. Bestimmung des Kohlenstoffgehalts. Das Infrarot-Absorptionsverfahren, das gasometrische Verfahren, das gravimetrische und das coulometrische Verfahren

Group Standards of the People's Republic of China, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

T/HIS 002-2022 Infrarot-Gassensor auf Siliziumbasis
T/IAWBS 007-2018 Testverfahren für die Dicke von homoepitaktischen 4H-Siliziumkarbidschichten durch Infrarotreflexion
T/CSTM 00254-2020 Die Pyrolyseprodukte von Polycarbosilan – Bestimmung von Sauerstoff durch die Pulserhitzungs-Einsatzgasfusions-Infrarot-Absorptionsmethode
T/SCDA 126-2023 Anwendungstechnischer Standard für HF-Kieselsäure-Wärmedämmstoffe für Außenwand- und Innenwärmedämmsysteme

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

GB/T 1557-2018 Testverfahren zur Bestimmung des interstitiellen Sauerstoffgehalts in Silizium durch Infrarotabsorption
GB/T 38976-2020 Testmethode für die Sauerstoffkonzentration in Siliziummaterialien – Infrarot-Detektionsmethode mit Inertgasfusion
GB/T 4333.10-2019 Ferrosilicium – Bestimmung des Kohlenstoffgehalts – Infrarot-Absorptionsmethode
GB/T 40561-2021 Photovoltaisches Siliziummaterial – Bestimmung von Sauerstoff – Infrarot-Absorptionsmethode durch Pulserwärmung mit Inertgasfusion
GB/T 36691-2018 Methylvinylsilikonkautschuk – Bestimmung des Vinylgehalts – Nahinfrarotspektroskopie
GB/T 4333.7-2019 Ferrosilicium – Bestimmung des Schwefelgehalts – Infrarot-Absorptionsmethode und chromatographische Trennung – gravimetrische Methode mit Bariumsulfat
GB/T 24581-2022 Testmethode für Ⅲ und Ⅴ Verunreinigungen in einkristallinem Silizium – Niedertemperatur-FT-IR-Analysemethode
GB/T 40566-2021 Granulatförmiges Polysilicium, hergestellt durch Wirbelschichtmethode – Bestimmung von Wasserstoff – Infrarotabsorptionsmethode durch Pulserwärmung mit Inertgasfusion

Professional Standard - Electron, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

SJ/T 11491-2015 Testmethoden zur Messung des interstitiellen Sauerstoffgehalts in Silizium mittels Kurz-Basis-Infrarotabsorptionsspektrometrie
SJ 20830-2002 Allgemeine Spezifikation für die PtSi-Infrarot-Focal-Plane-Array-Detektor-Dewar-Baugruppe
SJ/T 11552-2015 Testmethoden zur Messung des interstitiellen Sauerstoffgehalts von Siliziumwafern durch Infrarotabsorption mit P-polarisierter Strahlung, die im Brewster-Winkel einfällt

工业和信息化部, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

YB/T 4738-2019 Bestimmung des Sauerstoffgehalts einer Calcium-Silizium-Legierung durch Inertgasfusions-Infrarotabsorptionsmethode
YB/T 4582.4-2017 Bestimmung des Schwefelgehalts in Siliziumeisennitrid durch Infrarotabsorptionsmethode
YB/T 4582.10-2017 Bestimmung des Kohlenstoffgehalts in Siliziumferronitrid durch Infrarotabsorptionsmethode
YB/T 5316-2016 Bestimmung des Kohlenstoffgehalts einer Calcium-Silizium-Legierung durch Hochfrequenz-Infrarot-Absorptionsmethode
YS/T 1509.2-2021 Chemische Analysemethode für Silizium-Kohlenstoff-Verbundanodenmaterialien Teil 2: Bestimmung des Kohlenstoffgehalts Hochfrequenzerwärmungs-Infrarotabsorptionsverfahren

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

YB/T 178.6-2008 Bestimmung des Kohlenstoffgehalts in Silizium-Aluminium-Legierungen und Silizium-Barium-Aluminium-Legierungen durch Infrarot-Absorptionsmethode
YB/T 178.7-2008 Bestimmung des Schwefelgehalts in Silizium-Aluminium-Legierungen und Silizium-Barium-Aluminium-Legierungen durch Infrarot-Absorptionsmethode
YB/T 109.7-2012 Silizium-Barium-Legierung. Bestimmung des Schwefelgehalts. Die Infrarot-Absorptionsmethode
YB/T 109.6-2012 Silizium-Barium-Legierung.Bestimmung des Kohlenstoffgehalts.Die Infrarot-Absorptionsmethode
YB/T 178.6-2000 Methoden zur chemischen Analyse von Silizium-Aluminium-Legierungen und Silizium-Barium-Aluminium-Legierungen. Die Infrarot-Absorptionsmethode zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts
YB/T 109.6-1997 Methoden zur chemischen Analyse von Barium-Silizium, die Infrarot-Absorptionsmethode zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts
YB/T 109.7-1997 Methoden zur chemischen Analyse von Barium-Silizium, die Infrarot-Absorptionsmethode zur Bestimmung des Schwefelgehalts
YB/T 5316-2006 Chemische Analysemethode für Calcium-Silizium-Legierungen. Infrarot-Absorptionsmethode zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts
YB/T 109.6-2023 Methoden zur Analyse von Silizium-Barium-Legierungen Teil 6: Bestimmung des Kohlenstoffgehalts durch Infrarot-Absorptionsmethode
YB/T 5317-2016 Calcium-Silizium-Legierung.Bestimmung des Schwefelgehalts.Hochfrequenzverbrennung mit Infrarot-Absorptionsmethode und der Verbrennungs-Kaliumjodat-Titrationsmethode
YB/T 5317-2006 Chemische Analysemethode für Calcium-Silizium-Legierungen, Infrarot-Absorptionsmethode und Verbrennungs-Kaliumjodat-Titrationsmethode zur Bestimmung des Schwefelgehalts

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

GJB 2052-1994 Spezifikation für Siliziumwafer für ladungsgekoppelte Infrarotgeräte

SCC, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

SPC GB/T 4333.10-2019 Ferrosilicium – Bestimmung des Kohlenstoffgehalts – Infrarot-Absorptionsmethode (DOKUMENTENTEXT IST AUF CHINESISCH)
AENOR UNE 81550:2017 Ausstellung am Arbeitsplatz. Bestimmung von kristalliner Kieselsäure (alveolengängiger Anteil) in Luft. Methode der Infrarotspektrophotometrie.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

GB/T 35306-2017 Testmethode für den Kohlenstoff- und Sauerstoffgehalt von einkristallinem Silizium – Niedertemperatur-Fourier-Transformations-Infrarotspektrometrie

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

DB53/T 749-2016 Bestimmung der Feuchtigkeit in industriellem Quarzstaub durch Infrarot-Heizmethode

American Society for Testing and Materials (ASTM), Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

ASTM F1188-00 Standardtestmethode für den interstitiellen atomaren Sauerstoffgehalt von Silizium durch Infrarotabsorption
ASTM D7948-20 Standardtestmethode zur Messung von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure in der Luft am Arbeitsplatz mittels Infrarotspektrometrie
ASTM D7948-14 Standardtestmethode zur Messung von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure in der Luft am Arbeitsplatz mittels Infrarotspektrometrie
ASTM D7948-14e1 Standardtestmethode zur Messung von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure in der Luft am Arbeitsplatz mittels Infrarotspektrometrie
ASTM C1842-16 Standardtestmethode für die Analyse von Bor und Silizium in Uranhexafluorid mittels Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie (FTIR).
ASTM F1619-95(2000) Standardtestmethode zur Messung des interstitiellen Sauerstoffgehalts von Siliziumwafern durch Infrarotabsorptionsspektroskopie mit p-polarisiertem Strahlungseinfall im Brewster-Winkel

Xinjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

DB65/T 3486-2013 Infrarot-Fehlererkennungsmethode für Polysiliziumblöcke in Solarqualität

British Standards Institution (BSI), Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

BS ISO 19087:2018 Luft am Arbeitsplatz. Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure mittels Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

YS/T 820.8-2012 Methoden zur chemischen Analyse von Laterit-Nickelerzen. Teil 8: Bestimmung des Siliciumdioxidgehalts. Titrimetrische Methode mit Kaliumsiliciumdioxidfluorid
YS/T 514.7-2006 Schlacke mit hohem Titangehalt, chemische Rutil-Analysemethode, gravimetrische Bestimmung des Siliziumdioxidgehalts
YS/T 820.23-2012 Methoden zur chemischen Analyse von Laterit-Nickelerzen. Teil 23: Bestimmung des Kobalt-, Eisen-, Nickel-, Phosphor-, Aluminiumoxid-, Calciumoxid-, Chromoxid-, Magnesiumoxid-, Manganoxid-, Siliziumdioxid- und Titandioxidgehalts. Wellenlängendispersive X-
YS/T 514.4-2009 Methoden zur chemischen Analyse von Schlacke und Rutil mit hohem Titangehalt. Teil 4: Bestimmung des Siliziumdioxidgehalts. Gravimetrische Analyse und Molybdänblau-Spektrophotometrie

Association Francaise de Normalisation, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

NF T77-156:1987 Basissilikone für den industriellen Einsatz. Bestimmung des Gehalts an eingeführten Peroxiden. Infrarotspektrometrische Methode.
NF T77-162:1988 Basische Silikone für den industriellen Einsatz. Bestimmung der Verhältnisse Phenyl/Silizium und Phenyl/Methyl. Nahinfrarotspektrometrische Methode.
XP X43-243:2002 Luft am Arbeitsplatz – Fourier-Transformations-Infrarotspektrometrische Bestimmung von kristallinem Siliziumdioxid – Probenahme mit einem rotierenden Bechergerät oder einer Filtermembran
NF X43-243:2022 Luft an Arbeitsplätzen – Bestimmung von kristallinem Siliziumdioxid mittels Fourier-Transformations-Infrarotspektrometrie – Probenahme mittels rotierendem Bechergerät oder Filtermembran
NF T77-155:1987 Basissilikone für den industriellen Einsatz. Bestimmung von Vinylgruppen (Gehalt über 0,1 Prozent (m/m)). Nahinfrarotspektrometrische Methode.

International Organization for Standardization (ISO), Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

ISO 19087:2018 Luft am Arbeitsplatz – Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure mittels Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie

German Institute for Standardization, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

DIN 50438-1:1995 Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnik – Bestimmung des Verunreinigungsgehalts in Silizium durch Infrarotabsorption – Teil 1: Sauerstoff

Henan Provincial Standard of the People's Republic of China, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

DB41/T 1050-2015 Chemische Analysemethode für Ferrosilicium Infrarot-Absorptionsmethode zur Bestimmung des Schwefelgehalts

RU-GOST R, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

GOST R ISO 19087-2021 Luft am Arbeitsplatz. Analyse von alveolengängiger kristalliner Kieselsäure mittels Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie

AENOR, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

UNE 81550:2017 Exposition am Arbeitsplatz. Bestimmung der kristallinen freien Kieselsäure (alveolengängige Fraktionen) in der Luft. Methode durch Infrarotspektrometrie

国家食品药品监督管理局, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

YY/T 1457-2016 Bestimmung von oligomeren Siloxanen in passiven chirurgischen Implantaten, mit Silikongel gefüllten Brustimplantaten

PL-PKN, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

PN Z04018-02-1991 Schutz der Luftreinheit Prüfungen des Gehalts an freier kristalliner Kieselsäure Bestimmung der freien kristallinen Kieselsäure im Gesamtstaub an Arbeitsplätzen mittels Infrarot-Absorptionsspektrophotometrie
PN Z04018-03-1991 Luftreinheitsschutz Tests für den Gehalt an freiem kristallinem Siliciumdioxid. Bestimmung des alveolengängigen Staubes von freiem kristallinem Siliciumdioxid an Arbeitsplätzen mittels Infrarot-Absorptionsspektrophotometrie

Defense Logistics Agency, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

DLA SMD-5962-94642-1994 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, VERBESSERTE MULTIFUNKTIONALE PERIPHERIE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-84066 REV G-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, PROGRAMMIERBARE PERIPHERIESCHNITTSTELLE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89971-1992 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, HMOS, REMOTE UNIVERSAL PERIPHERAL INTERFACE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96646 REV C-2003 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTETES CMOS, QUAD-EXKLUSIV ODER GATE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96816-1996 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, VIERFACHES EXKLUSIV-ODER-GATE MIT 2 EINGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95660 REV C-2000 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTET, ADVANCED CMOS, QUAD 2-EINGANG EXKLUSIV ODER GATE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96611 REV C-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTETES CMOS, QUAD EXKLUSIV ODER UND EXKLUSIV NOR GATES, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94510 REV A-2007 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIK-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-95654 REV C-2000 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTET, ADVANCED CMOS, QUAD 2-EINGANG EXKLUSIV ODER GATE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88549 REV A-1992 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIKGERÄT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93144 REV B-2007 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, UV-LÖSCHBAR, PROGRAMMIERBAR, LOGIKGERÄT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-96815 REV A-2000 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 8-BIT-TTL/BTL-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-90989 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIK-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-91772-1993 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIK-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93248-1993 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIK-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-95783 REV B-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTET, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, QUAD 2-EINGANG EXKLUSIV ODER GATE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-95814 REV A-1998 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTET, HOCHGESCHWINDIGKEIT CMOS, QUAD 2-INPUT EXKLUSIV ODER GATE, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88548 REV A-1992 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIKGERÄT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88678 REV B-2005 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, UV-LÖSCHBAR, PROGRAMMIERBARES LOGIK-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88724 REV D-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SPEICHER, UV-LÖSCHBARES CMOS, PROGRAMMIERBARES LOGIK-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88726 REV E-2007 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, ULTRAVIOLET-LÖSCHBAR, PROGRAMMIERBARES LOGIK-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-96538 REV C-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, STRAHLENGEHÄRTET, ADVANCED CMOS, VIERFACH, 2-EINGÄNGE, EXKLUSIV ODER GATE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-85102 REV E-2005 MIKROSCHALTUNGEN, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, 8K x 8 UV-LÖSCHBARER PROM, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-91584-1992 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIK-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92062 REV B-2007 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIKGERÄT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89468 REV C-2007 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIK-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89469 REV B-1994 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIKGERÄT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89476-1992 MIKROSCHALTUNG, SPEICHER, DIGITAL, CMOS, UV-LÖSCHBARES PROGRAMMIERBARES LOGIKGERÄT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-93245-1993 Mikroschaltkreise, digital, Speicher, CMOS, erweiterte Spannung, UV-löschbar, programmierbares Logik-Array, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-96817 REV B-1997 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES HOCHGESCHWINDIGKEITS-CMOS, VIERFACHES EXKLUSIV-ODER-GATE MIT 2 EINGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM

Professional Standard - Commodity Inspection, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

SN/T 2413-2010 Bestimmung des gesamten Kohlenstoff- und Schwefelgehalts von Siliziummetall für den Import und Export – Infrarot-Absorptionsspektrometrie

国家质量监督检验检疫总局, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

SN/T 4758-2017 Bestimmung des Eisenoxid-, Siliziumdioxid- und Zirkoniumdioxidgehalts in Rutil mittels induktiv gekoppelter Plasma-Atomemissionsspektrometrie

(U.S.) Ford Automotive Standards, Infrarot-Silizium-Silizium-Peak

FORD WSL-M4G349-A-2014 DICHTMITTEL, SILIKONKAUTSCHUK, ULTRAVIOLET/METHOXY-HÄRTUNG ***ZUR VERWENDUNG MIT FORD WSS-M99P1111-A***