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적외선 실리콘 실리콘 피크

모두 111항목의 적외선 실리콘 실리콘 피크와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 적외선 실리콘 실리콘 피크와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 길이 및 각도 측정, 절연유체, 금속 재료 테스트, 반도체 소재, 합금철, 공기질, 금속 광석, 광전자공학, 레이저 장비, 화학 제품, 세라믹, 고무, 의료 장비, 비철금속, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 분석 화학, 건축 자재, 항공우주 제조용 재료, 반도체 개별 장치.


Group Standards of the People's Republic of China, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • T/HIS 002-2022 실리콘 기반 적외선 가스 센서
  • T/IAWBS 007-2018 4H 탄화규소 호모에피택시층 두께에 대한 적외선 반사 측정 방법
  • T/CSTM 00254-2020 펄스 가열 불활성 가스 용융-적외선 흡수 방법에 의한 폴리카보실란 분해 생성물의 산소 함량 측정
  • T/SCDA 126-2023 외벽 및 내부 단열 시스템에 대한 HF 흄드 실리카 단열재 적용에 대한 기술 표준

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • GB/T 14143-1993 300-900μm 실리콘 웨이퍼 갭의 산소 함량에 대한 적외선 흡수 측정 방법
  • GB/T 1557-2006 실리콘 결정의 격자간 산소 함량에 대한 적외선 흡수 측정 방법
  • GB/T 42905-2023 적외선 반사법을 이용한 탄화규소 에피층 두께 테스트
  • GB/T 35306-2023 저온 푸리에 변환 적외선 분광법을 이용한 실리콘 단결정의 탄소 및 산소 함량 측정
  • GB/T 1558-2023 실리콘의 치환 탄소 함량에 대한 적외선 흡수 시험 방법
  • GB/T 1558-1997 실리콘의 치환 탄소원자 함량에 대한 적외선 흡수 측정 방법
  • GB/T 1558-2009 실리콘의 치환 탄소 원자 함량 적외선 흡수 측정 방법
  • GB/T 14847-1993 고농도 기판 상의 저농도 실리콘 에피층 두께에 대한 적외선 반사 측정 방법
  • GB/T 14847-2010 고농도 기판 상의 저농도 실리콘 에피층 두께에 대한 적외선 반사 측정 방법
  • GB/T 4700.5-1998 규소칼슘 합금의 화학적 분석 방법 적외선 흡수법에 의한 탄소 함량 측정
  • GB/T 32573-2016 유도로에서 연소 후 적외선 흡수법에 의한 실리콘 분말의 총 탄소 함량 측정
  • GB/T 4699.4-2008 크롬철 및 실리콘-크롬 합금, 탄소 함량 측정, 적외선 흡수 및 중량 측정 방법
  • GB/T 14849.6-2014 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 6부: 적외선 흡수법에 의한 탄소 함량 측정
  • GB/T 4699.6-2008 크롬철 및 실리콘-크롬 합금 황 함량 측정 적외선 흡수법 및 연소 중화 적정법
  • GB/T 4700.7-1998 규소칼슘 합금의 화학적 분석법, 적외선 흡수법 및 황 함량 측정을 위한 요오드산칼륨 연소 적정법
  • GB/T 24581-2009 저온 푸리에 변환 적외선 분광법을 이용한 실리콘 단결정의 III족 및 V족 불순물 함량 측정 시험 방법
  • GB/T 5686.7-2008 망간철, 망간-실리콘 합금, 질화철망간, 금속망간 황 함량 측정 적외선 흡수법 및 연소 중화 적정법
  • GB/T 5686.7-2022 적외선 흡수법 및 연소 중화 적정법을 통한 페로망간, 망간-실리콘 합금, 페로망간 질화물 및 금속 망간 황 함량 측정
  • GB/T 5686.5-2008 망간철, 망간-실리콘 합금, 질화철망간 및 금속 망간 탄소 함량 측정 적외선 흡수법, 기체 부피법, 중량법 및 전기량법
  • GB/T 5686.5-2023 적외선 흡수법, 가스 부피법, 중량법 및 전기량법을 이용한 페로망간, 망간-실리콘 합금, 질화철망간 및 금속 망간의 탄소 함량 측정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • GB/T 1557-2018 실리콘 결정의 격자간 산소 함량에 대한 적외선 흡수 측정 방법
  • GB/T 38976-2020 불활성 가스 융합 적외선 방법을 통한 실리콘 재료의 산소 함량 측정
  • GB/T 4333.10-2019 적외선 흡수법을 이용한 페로실리콘 및 탄소 함량 측정
  • GB/T 40561-2021 펄스 가열 불활성 가스 융합 적외선 흡수 방법을 통한 광전지 실리콘 재료의 산소 함량 측정
  • GB/T 36691-2018 근적외선법을 이용한 메틸 비닐 실리콘 고무의 비닐 함량 측정
  • GB/T 4333.7-2019 적외선 흡수법 및 크로마토그래피 황산바륨 중량법을 통한 규소철 및 황 함량 측정
  • GB/T 24581-2022 저온 푸리에 변환 적외선 분광법을 통한 실리콘 단결정의 III족 및 V족 불순물 함량 측정
  • GB/T 40566-2021 유동층법에 의한 과립 내 실리콘 수소 함량 측정 펄스 가열 불활성 기체 융합 적외선 흡수법

Professional Standard - Electron, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • SJ/T 11491-2015 짧은 기준선 적외선 흡수 분광법을 사용하여 실리콘의 격자간 산소 함량 측정
  • SJ 20830-2002 백금 실리콘 적외선 초점면 검출기 Dewar 어셈블리 일반 사양
  • SJ/T 11552-2015 브루스터 각도 입사 P-편광 복사 적외선 흡수 분광법을 이용한 실리콘의 격자간 산소 함량 측정

工业和信息化部, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • YB/T 4738-2019 불활성 가스 융합 적외선 흡수법에 의한 칼슘 실리콘 합금의 산소 함량 측정
  • YB/T 4582.4-2017 적외선 흡수법을 이용한 질화철 규소의 황 함량 측정
  • YB/T 4582.10-2017 적외선 흡수법을 이용한 페로질화규소의 탄소 함량 측정
  • YB/T 5316-2016 고주파 연소 적외선 흡수법에 의한 규소칼슘 합금의 탄소 함량 측정
  • YS/T 1509.2-2021 실리콘-탄소 복합 음극재의 화학적 분석 방법 2부: 탄소 함량 측정 고주파 가열 적외선 흡수 방법

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • YB/T 178.6-2008 적외선 흡수법을 이용한 실리콘-알루미늄 합금 및 실리콘-바륨-알루미늄 합금의 탄소 함량 측정
  • YB/T 178.7-2008 적외선 흡수법을 이용한 실리콘 알루미늄 합금 및 실리콘 바륨 알루미늄 합금의 황 함량 측정
  • YB/T 109.6-2012 적외선 흡수법을 이용한 실리콘-바륨 합금의 탄소 함량 측정
  • YB/T 109.7-2012 적외선 흡수법을 이용한 실리콘-바륨 합금의 황 함량 측정
  • YB/T 178.6-2000 실리콘-알루미늄 합금 및 실리콘-바륨-알루미늄 합금의 화학적 분석 방법 적외선 흡수법에 의한 탄소 함량 측정
  • YB/T 109.6-1997 실리콘-바륨 합금의 화학적 분석 방법 적외선 흡수법에 의한 탄소 함량 측정
  • YB/T 109.7-1997 실리콘-바륨 합금의 화학적 분석 방법 적외선 흡수법에 의한 황 함량 측정
  • YB/T 5316-2006 규소칼슘 합금의 화학적 분석 방법 적외선 흡수법에 의한 탄소 함량 측정
  • YB/T 5317-2016 고주파 연소 적외선 흡수법 및 연소 요오드산칼륨 적정법에 의한 규소칼슘 합금의 황 함량 측정
  • YB/T 5317-2006 규소칼슘 합금의 화학적 분석법, 적외선 흡수법 및 황 함량 측정을 위한 요오드산칼륨 연소 적정법

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • GJB 2052-1994 적외선 전하 결합 소자용 실리콘 웨이퍼 사양

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • GB/T 35306-2017 저온 푸리에 변환 적외선 분광법을 이용한 실리콘 단결정의 탄소 및 산소 함량 측정

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • DB53/T 749-2016 적외선 가열법에 의한 공업용 실리카 분말의 수분 함량 측정

American Society for Testing and Materials (ASTM), 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • ASTM F1188-00 적외선 흡수를 통한 실리콘 내 격자간 원자 산소 함량 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D7948-20 적외선 분광법을 이용한 작업장 공기 중 호흡성 결정질 실리카 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D7948-14 적외선 분광법을 이용한 작업장 공기 중 호흡성 결정질 실리카 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM D7948-14e1 적외선 분광법을 이용한 작업장 공기 중 호흡성 결정질 실리카 측정을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM C1842-16 푸리에 변환 적외선 분광법을 이용한 육불화우라늄의 붕소 및 규소 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM F1619-95(2000) 브루스터각에 입사하는 p-편광 방사선을 이용한 적외선 흡수 분광법에 의한 실리콘 웨이퍼의 격자간 산소 함량 측정을 위한 표준 테스트 방법

Xinjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • DB65/T 3486-2013 태양광 등급 다결정 실리콘 블록의 적외선 결함 탐지 방법

British Standards Institution (BSI), 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • BS ISO 19087:2018 작업장 공기 중 호흡 가능한 결정질 실리카의 푸리에 변환 적외선 분광학 분석

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • YS/T 820.8-2012 라테라이트 니켈 광석의 화학적 분석 방법 파트 8: 실리카 함량 측정 불화규산칼륨 적정 방법
  • YS/T 514.7-2006 고티타늄 슬래그, 금홍석 화학 분석 방법 실리카 함량의 중량 측정
  • YS/T 820.23-2012 라테라이트 니켈 광석의 화학적 분석 방법 파트 23: 코발트, 철, 니켈, 인, 산화알루미늄, 산화칼슘, 산화크롬, 산화마그네슘, 산화망간, 이산화규소 및 이산화티탄의 양 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
  • YS/T 514.4-2009 고티타늄 슬래그 및 금홍석의 화학적 분석 방법 4부: 실리카 함량 측정 칭량 방법, 몰리브덴 블루 분광광도법

Henan Provincial Standard of the People's Republic of China, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • DB41/T 1050-2015 페로실리콘 화학 분석법, 적외선 흡수법, 황 함량 측정

Association Francaise de Normalisation, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • NF T77-156:1987 산업용 알칼리 실리콘 수지 투입된 과산화물 함량 측정 적외선 분광법
  • NF T77-162:1988 산업용 기초 실리콘 수지 페닐/실리콘 및 페닐/메틸 비율 측정 근적외선 분광법
  • XP X43-243:2002 로터리 컵 장치 또는 필터 샘플링을 사용하여 작업장에서 공기 중 결정질 실리카의 푸리에 변환 적외선 분광학 측정
  • NF X43-243:2022 회전 컵 장치 또는 필터 멤브레인으로 샘플링한 결정질 실리카의 푸리에 변환 적외선 분광법을 통한 작업장 공기 투여량 결정
  • NF T77-155:1987 산업용 기본 실리콘 플라스틱 에틸렌 함량 측정(0.1%(m/m) 초과 함량) 근적외선 분광학

International Organization for Standardization (ISO), 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • ISO 19087:2018 작업장 공기 푸리에 변환 적외선 분광법을 통한 호흡 가능한 결정질 실리카 분석.

German Institute for Standardization, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • DIN 50438-1:1995 반도체 공정 재료 검사 적외선 흡수법에 의한 실리콘의 불순물 함량 측정 1부: 산소

RU-GOST R, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • GOST R ISO 19087-2021 푸리에 변환 적외선 분광법을 이용한 호흡 가능한 결정질 실리카의 작업장 공기 분석

AENOR, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • UNE 81550:2017 적외선 분광법을 통한 작업장 노출 공기 내 결정질 유리 실리카(호흡 가능 비율) 측정

国家食品药品监督管理局, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • YY/T 1457-2016 수동 수술용 임플란트, 실리콘 겔 충전 유방 보형물에서 올리고머 실록산 측정

Defense Logistics Agency, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • DLA SMD-5962-94642-1994 실리콘 모놀리식, 확장된 다기능 주변기기, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-84066 REV G-2006 실리콘 모놀리식 프로그래밍 가능 주변 인터페이스, 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-89971-1992 실리콘 모놀리식, 원격 범용 주변 장치 인터페이스, 고성능 금속 산화물 반도체 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96646 REV C-2003 방사선 단단한 보완적인 금속 산화물 반도체 4배 독점적인 AND 문 실리콘 모놀리식 회로 디지털 초소형 회로
  • DLA SMD-5962-96816-1996 상보형 금속 산화물 반도체, 4중 2입력 전용 AND 게이트 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95660 REV C-2000 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 쿼드러플 2입력 전용 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96611 REV C-2004 방사선 하드 상보성 금속 산화물 반도체 4중 배타적 OR 게이트 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-94510 REV A-2007 실리콘 모놀리식, UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 어레이, 산화물 반도체 디지털 메모리 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95654 REV C-2000 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 쿼드러플 2입력 전용 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-88549 REV A-1992 실리콘 모놀리식 보완 금속 산화물 반도체 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 장치 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-93144 REV B-2007 실리콘 모놀리식, UV로 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 설정, 산화물 반도체 디지털 메모리 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96815 REV A-2000 양극 상보형 금속 산화물 반도체, 4중 2입력 전용 AND 게이트 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-90989 REV A-2006 실리콘 모놀리식 보완 금속 산화물 반도체 UV 프로그래밍 가능 논리 어레이, 디지털 메인 메모리 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-91772-1993 실리콘 모놀리식 상보형 금속 산화물 반도체, UV 소거 가능 로직 어레이, 디지털 메인 메모리 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-93248-1993 실리콘 모놀리식, 전압 UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 어레이, 산화물 반도체 디지털 메모리 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-95783 REV B-2004 고속 방사선 하드 상보형 금속 산화물 반도체 4중 2입력 전용 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-95814 REV A-1998 고속 방사선 하드 상보형 금속 산화물 반도체 4중 2입력 전용 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-88548 REV A-1992 실리콘 모놀리식 보완 금속 산화물 반도체 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 장치 디지털 저장 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-88678 REV B-2005 실리콘 모놀리식 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 어레이 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 저장 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-88724 REV D-2007 실리콘 모놀리식 프로그래밍 가능 논리 어레이 상보성 금속 산화물 반도체 UV 지울 수 있는 디지털 저장 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-88726 REV E-2007 실리콘 모놀리식 프로그래밍 가능 논리 어레이 상보성 금속 산화물 반도체 UV 지울 수 있는 디지털 저장 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96538 REV C-2007 방사선 하드 디지털 상보형 금속 산화물 반도체 4중 2입력 전용 실리콘 모놀리식 회로 선형 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-85102 REV E-2005 실리콘 모놀리식 8KX8 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 읽기 전용 메모리, 산화물 반도체 디지털 주 메모리 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-91584-1992 실리콘 모놀리식 UV 소거 가능 프로그래밍 가능 로직 어레이, 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 메인 메모리 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-92062 REV B-2007 실리콘 모놀리식 UV 와이프 가능 프로그래밍 가능 논리 장치, 상보형 금속 산화물 반도체, 디지털 마스터 메모리 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-89468 REV C-2007 실리콘 모놀리식 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 어레이 상보형 금속 산화물 반도체 디지털 저장 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-89469 REV B-1994 실리콘 모놀리식 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 장치 보완적인 금속 산화물 반도체 디지털 저장 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-89476-1992 실리콘 모놀리식 UV 지울 수 있는 프로그래밍 가능 논리 장치 보완적인 금속 산화물 반도체 디지털 저장 마이크로 회로
  • DLA SMD-5962-93245-1993 실리콘 모놀리식, 확장된 전압 UV 소거 가능 프로그래밍 가능 논리 어레이, 산화물 반도체 디지털 메모리 마이크로회로
  • DLA SMD-5962-96817 REV B-1997 상보형 금속 산화물 반도체, 4중 2입력 전용 AND 게이트 트랜지스터 입력 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로

PL-PKN, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • PN Z04018-02-1991 공기 순도 보호. 유리 결정질 실리콘 함량 테스트, 적외선 흡수 분광법을 이용한 작업장 전체 먼지 내 유리 결정질 실리콘 측정
  • PN Z04018-03-1991 공기 순도 보호. 유리 결정 실리콘 함량 테스트, 적외선 흡수 분광법을 통한 작업장 호흡성 먼지 내 유리 결정 실리콘 측정

Professional Standard - Commodity Inspection, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • SN/T 2413-2010 수입 및 수출되는 금속 실리콘의 총 탄소 및 황 함량 측정 고주파 연소 적외선 흡수 분광법

国家质量监督检验检疫总局, 적외선 실리콘 실리콘 피크

  • SN/T 4758-2017 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법을 통한 금홍석의 산화제2철, 이산화규소 및 이산화지르코늄 함량 측정

(U.S.) Ford Automotive Standards, 적외선 실리콘 실리콘 피크





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