Automatisches Rasterelektronenmikroskop

Für die Automatisches Rasterelektronenmikroskop gibt es insgesamt 272 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Automatisches Rasterelektronenmikroskop die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Prüfung von Metallmaterialien, analytische Chemie, erziehen, Längen- und Winkelmessungen, Wortschatz, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Luftqualität, Elektronische Anzeigegeräte, Kriminalprävention, Thermodynamik und Temperaturmessung, Farben und Lacke, Textilfaser, Optoelektronik, Lasergeräte, Baumaterial, Nichteisenmetalle, Zeichensätze und Nachrichtenkodierung, Physik Chemie, medizinische Ausrüstung, fotografische Fähigkeiten, Halbleitermaterial, Stahlprodukte, Keramik, IT-Terminals und andere Peripheriegeräte, Fischerei und Aquakultur, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Textilprodukte, Zutaten für die Farbe, Industrielles Automatisierungssystem.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen
DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen
DB32/T 4432-2022 Technische Spezifikationen für die automatische Schwachstellenprüfung der vernetzten Informationssicherheit durch Videoüberwachung

International Organization for Standardization (ISO), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO 21550:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Dynamikbereichsmessungen
ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode; Technische Berichtigung 1
ISO/FDIS 17751-2 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO/IEC 15423:2004 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungstests für Barcodescanner und Decoder
ISO/IEC 15423:2009 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungstests für Barcodescanner und Decoder
ISO 17751-2:2014 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 17751-2:2023 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO/TS 10303-1321:2019 Industrielle Automatisierungssysteme und Integration – Darstellung und Austausch von Produktdaten – Teil 1321: Anwendungsmodul: Swept Solid
ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
ISO/TS 10303-1831:2019 Industrielle Automatisierungssysteme und Integration – Darstellung und Austausch von Produktdaten – Teil 1831: Anwendungsmodul: 3D-Form von Daten scannen
ISO/TS 10303-1831:2018 Industrielle Automatisierungssysteme und Integration – Darstellung und Austausch von Produktdaten – Teil 1831: Anwendungsmodul: 3D-Form von Daten scannen

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)

Professional Standard - Machinery, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
JB/T 5478-1991 Manuell scannendes, fotoelektrisches, direkt ablesbares Spektrometer
JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

Group Standards of the People's Republic of China, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

T/CSTM 00346-2021 Automatische Klassifizierung und Statistik für Einschlüsse in Stahl – Energiedispersive Spektrummethode des Rasterelektronenmikroskops
T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
T/NLIA 004-2021 In-situ-REM-Zugversuchsmethode für additiv gefertigte Aluminiumlegierungen
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
T/GAIA 017-2022 Bestimmung des Fluorgehalts in der Oberflächenbeschichtung von Aluminium und Aluminiumlegierungen – Rasterelektronenmikroskop- und energiedispersives Spektrometerverfahren

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS A ISO 21550:2005 Fotografie－Elektronische Scanner für fotografische Bilder－Dynamikbereichsmessungen
KS A ISO 21550-2005(2020) Fotografie－Elektronische Scanner für fotografische Bilder－Dynamikbereichsmessungen
KS K ISO 17751-2:2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
KS X ISO/IEC 15423-1:2013 Informationstechnologie－Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken－Barcode-Scanner- und Decoder-Leistungstests－Teil 1: Lineare Symbole
KS B ISO 10303-523-2015(2020) Industrielle Automatisierungssysteme und Integration – Produktdatendarstellung und -austausch – Teil 523: Von der Anwendung interpretiertes Konstrukt: Kurvendurchlauf

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben

Professional Standard - Commodity Inspection, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberflächen mittels REM
SN/T 2649.1-2010 Bestimmung von Asbest in Kosmetika für den Import und Export. Teil 1: Röntgenbeugungs- und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

KR-KS, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
KS K ISO 17751-2-2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Professional Standard - Education, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

British Standards Institution (BSI), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 21550:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Dynamikbereichsmessungen
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS EN ISO 17751-2:2023 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS EN ISO 17751-2:2016 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS EN ISO 15423:2010 Informationstechnologie. Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken. Leistungstests für Barcodescanner und Decoder
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
22/30442792 DC BS EN ISO 17751-2. Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2. Rasterelektronenmikroskopie-Methode

American Society for Testing and Materials (ASTM), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM F1390-97 Standardtestmethode zur Messung der Verformung von Siliziumwafern durch automatisiertes berührungsloses Scannen
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2809-13 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektrometrie bei forensischen Farbuntersuchungen
ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E1588-95(2001) Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
ASTM E1588-08 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-10 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2142-01 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E1588-95 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM F1372-93(1999) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E1588-20 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM F1372-93(2020) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM F1530-94 Standardtestmethode zur Messung der Ebenheit, Dicke und Dickenschwankung von Siliziumwafern durch automatisiertes berührungsloses Scannen
ASTM D605-82(1996)e1 Standardspezifikation für Magnesiumsilikatpigment (Talk)
ASTM D6059-96(2011) Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E280-98(2004)e1 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (4 &189; bis 12 Zoll [114 bis 305 mm]) Stahlgussteile
ASTM E1588-07 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2809-22 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektroskopie (SEM/EDS) bei forensischen Polymeruntersuchungen
ASTM F1372-93(2012) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E1588-07e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM F1372-93(2005) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM E280-21 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (412 bis 12 Zoll (114 bis 305 mm)) Stahlgussteile
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
GB/T 32280-2015 Testverfahren für die Verformung von Siliziumwafern. Automatisiertes berührungsloses Scanverfahren
GB/T 17362-2008 Methode zur Analyse des Röntgenenergiespektrums mit einem Rasterelektronenmikroskop für Goldprodukte
GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 17362-1998 Zerstörungsfreie Methode der Röntgen-EDS-Analyse mit REM für Goldschmuck
GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
GB/T 30834-2014 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl. Rasterelektronenmikroskop
GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 36422-2018 Chemiefaser.Testmethode für Mikromorphologie und Durchmesser.Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 30834-2022 Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl – Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS
GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
GB/T 17361-2013 Mikrostrahlanalyse. Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels Rasterelektronenmikroskop und energiedispersivem Spektrometer
GB/T 14593-2008 Quantitative Analysemethode für Kaschmir, Wolle und deren Mischungen. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
GB/T 29507-2013 Testmethode zur Messung der Ebenheit, Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumwafern. Automatisiertes berührungsloses Scannen
GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiedispersive Spektrometrie
GB/T 40905.2-2022 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Professional Standard - Petroleum, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

Association of German Mechanical Engineers, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode

国家能源局, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

Professional Standard - Judicatory, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 32280-2022 Testverfahren für Verformung und Biegung von Siliziumwafern – Automatisiertes berührungsloses Scanverfahren
GB/T 35099-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektrometrie – Morphologie und Elementanalyse einzelner feiner Partikel in der Umgebungsluft
GB/T 35097-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektrosmetrie – Bestimmung der zahlenmäßigen Konzentration anorganischer Faserpartikel in der Umgebungsluft
GB/T 38614-2020 Messmethode für den Nanopositionierungs- und Scantisch basierend auf flexiblem Scharniermechanismus und Piezoaktor

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgrößenbestimmung Rasterelektronenmikroskopie

SE-SIS, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

European Committee for Standardization (CEN), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
EN ISO/IEC 15423:2010 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungsprüfung von Barcodescannern und -decodierern (ISO/IEC 15423:2009)
EN ISO/IEC 15423:2005 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungsprüfung von Barcodescannern und -decodern [Ersetzt: CEN ENV 12646]
EN ISO 15423:2010 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungstests für Barcodescanner und Decoder
prEN ISO 17751-2 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode (ISO/DIS 17751-2:2022)
EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir@ Wolle@ anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
EN ISO 17751-2:2023 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO 17751-2:2023)

Association Francaise de Normalisation, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode
NF Z63-423*NF EN ISO/IEC 15423:2011 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungstests für Barcodescanner und Decoder.
NF EN ISO/IEC 15423:2011 Informationstechnologie - Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken - Steuerung der Leistung von Barcode-Scannern und -Decodern
NF EN ISO/IEC 15419:2010 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungstests von digitalem Scannen und Barcode-Drucken
NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von auf Oberflächen abgelagertem Faserstaub mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
FD T16-203:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

RU-GOST R, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST ISO/IEC 16390-2005 Automatische Identifizierung. Barcode. Symbologie-Spezifikationen. Interleaved 2 von 5
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST R ISO/IEC 15423-2005 Automatische Identifizierung. Barcode. Allgemeine Anforderungen für die Leistungsprüfung von Barcodescannern und Decodern
GOST ISO/IEC 15423-2014 Informationstechnologie. Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken. Leistungstests für Barcodescanner und Decoder
GOST ISO 16000-27-2017 Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

Danish Standards Foundation, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
DS/EN ISO/IEC 15423:2011 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungstests für Barcodescanner und Decoder
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

German Institute for Standardization, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
DIN EN ISO/IEC 15423:2010-12 Informationstechnologie - Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken - Leistungsprüfung von Barcodescannern und -decodierern (ISO/IEC 15423:2009); Englische Version EN ISO/IEC 15423:2010
DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO 17751-2:2016); Deutsche Fassung EN ISO 17751-2:2016 / Hinweis: Wird durch DIN EN ISO 17751-2 (2022-09) ersetzt.
DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Verfahren (ISO/DIS 17751-2:2022); Deutsche und englische Version prEN ISO 17751-2:2022 / Hinweis: Ausgabedatum 19.08.2022*I...
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN ISO 16000-27:2014-11 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)
DIN EN 60601-2-47:2002 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2-47: Besondere Anforderungen an die Sicherheit, einschließlich der wesentlichen Leistungsmerkmale, von ambulanten Elektrokardiographiesystemen (IEC 60601-2-47:2001); Deutsche Fassung EN 60601-2-47:2001

ES-UNE, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)
UNE-EN ISO 17751-2:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 2: Rasterelektronenmikroskopie-Methode (ISO 17751-2:2016)

工业和信息化部, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

YS/T 1491-2021 Methode zur Bestimmung der Sphärizität von Hochtemperaturlegierungspulvern auf Nickelbasis mittels Rasterelektronenmikroskopie
SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie

Professional Standard - Public Safety Standards, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1418-2017 Untersuchung der Elementzusammensetzung von forensischen Glasbeweisen, Rasterelektronenmikroskopie/Energiespektroskopie
GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 909-2010 Sammel- und Verpackungsmethode für Spurenspuren – Schussrückstände (SEM/EDS-Untersuchung)
GA/T 1520-2018 Forensische Wissenschaft Schwarzpulver, pyrotechnische Pulverelementzusammensetzungsprüfung Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie
GA/T 823.3-2018 Methoden zur Untersuchung von Farbspuren in der Forensik Teil 3: Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie

GOSTR, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

GOST ISO/IEC 16390-2017 Informationstechnologie. Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken. Spezifikation der Interleaved-2-of-5-Barcode-Symbologie
PNST 508-2020 Nanotechnologien. Einwandige Kohlenstoffnanoröhren. Charakterisierung mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

GJB 5891.6-2006 Prüfverfahren zum Laden von Material zur Zündung von Sprengkörpern Teil 6: Messung der Korngröße Rasterelektronenmikroskopie

AENOR, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
UNE-EN ISO/IEC 15423:2010 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungsprüfung von Barcodescannern und -decodierern (ISO/IEC 15423:2009)

Lithuanian Standards Office , Automatisches Rasterelektronenmikroskop

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
LST EN ISO/IEC 15423:2011 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungsprüfung von Barcodescannern und -decodierern (ISO/IEC 15423:2009)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

DB35/T 110-2000 Elektronensonden- und Rasterelektronenmikroskop-Röntgenenergiespektrum-Analyseverfahren zur Erkennung physischer Farbspuren

国家食品药品监督管理局, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

YY/T 1538-2017 Leistung und Testmethoden des automatisch scannenden Wasserphantomsystems für die Strahlentherapie

AT-ON, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

BE-NBN, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

International Telecommunication Union (ITU), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

ITU-R BR.1441-2000 Kompromittieren Sie die Abmessungen des gescannten Bereichs für das Fernsehen von 35-mm-Breitbildfilmen

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

DB37/T 420.2-2004 Diagnoseprotokoll für die Skorpionfingerkrankheit bei Marikulturfischen, Teil 2: Rasterelektronenmikroskopische Diagnosemethode

American National Standards Institute （ANSI), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

ANSI/ASTM D6059:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Aviation, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

HB 20094.4-2012 Prüfverfahren zur Bestimmung von Verschleißmetallen in Betriebsflüssigkeiten für die Luftfahrt. Teil 4: Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersive Spektrometrie

未注明发布机构, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips
BS EN ISO/IEC 15423:2010(2011) Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungsprüfung von Barcodescannern und Decodern
DIN EN ISO 17751-2 E:2014-08 Quantitative analysis of textiles, cashmere, wool, other specialty animal fibers and their blends Part 2: Scanning electron microscopy (draft)
DIN ISO 16000-27 E:2012-12 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

Professional Standard - Nuclear Industry, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

EJ/T 20150.23-2018 Nachbeleuchtung von PWR-Stabstrahlungs-Brennstoffanordnungen, Teil 23: SEM-Analyse von Brennstoffhüllrohren

Canadian Standards Association (CSA), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

CAN/CSA-ISO/IEC 15423:2010 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungstests für Barcodescanner und Decoder
CSA ISO/IEC-15423-05:2005 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungsprüfung von Barcodescannern und -decodern ISO/IEC 15423:2004

ZA-SANS, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

SANS 15423:2005 Informationstechnologie – Automatische Identifikations- und Datenerfassungstechniken – Leistungstests für Barcodescanner und Decoder

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Automatisches Rasterelektronenmikroskop

ST 294:2001 ST 294:2001 – SMPTE-Standard – für Fernsehen – 720 × 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Bit-serielle Schnittstellen

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

EN 60601-2-47:2015 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2-47: Besondere Anforderungen an die grundlegende Sicherheit und wesentliche Leistung von ambulanten Elektrokardiographiesystemen

BELST, Automatisches Rasterelektronenmikroskop

STB 2210-2011 Nanogroße Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Verfahren zur Bestimmung von Parametern mittels Rasterelektronenmikroskopie-Messungen