Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

Für die Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop gibt es insgesamt 226 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Optik und optische Messungen, Baumaterial, erziehen, Wortschatz, analytische Chemie, Längen- und Winkelmessungen, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Nichteisenmetalle, Luftqualität, Elektronische Anzeigegeräte, Kriminalprävention, Thermodynamik und Temperaturmessung, Farben und Lacke, Prüfung von Metallmaterialien, Textilfaser, Optoelektronik, Lasergeräte, Physik Chemie, Stahlprodukte, fotografische Fähigkeiten, Keramik, Zerstörungsfreie Prüfung, Mechanischer Test, Fischerei und Aquakultur.

British Standards Institution (BSI), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
BS ISO 28600:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
BS ISO 18115-2:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz – Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
BS ISO 16067-2:2004 Fotografie. Elektronische Scanner für fotografische Bilder. Messungen der räumlichen Auflösung. Filmscanner
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung
JIS K 0147-2:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden

International Organization for Standardization (ISO), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 11039:2012 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
ISO 18115-2:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
ISO 28600:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)
JJF 1351-2012 Kalibrierungsspezifikation für Rastersondenmikroskope

Professional Standard - Machinery, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode
JB/T 5478-1991 Manuell scannendes, fotoelektrisches, direkt ablesbares Spektrometer

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

Professional Standard - Commodity Inspection, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberflächen mittels REM

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I 0051-2019 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D 2714-2016(2021) Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS D 2714-2016 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS D 2714-2021 Rastersondenmikroskop – Methode für Querkraftmikroskop
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D 2714-2006 Rastersondenmikroskop-Methode für Querkraftmikroskope
KS D 2713-2021 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016(2021) Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messung der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner

Group Standards of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
T/NLIA 004-2021 In-situ-REM-Zugversuchsmethode für additiv gefertigte Aluminiumlegierungen
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
T/CSTM 00346-2021 Automatische Klassifizierung und Statistik für Einschlüsse in Stahl – Energiedispersive Spektrummethode des Rasterelektronenmikroskops
T/CNIA 0161-2023 Methode zur Untersuchung der Mikrostruktur und Morphologie von verformtem Aluminium und Aluminiumlegierungen. Rasterelektronenmikroskopie-Methode
T/GAIA 017-2022 Bestimmung des Fluorgehalts in der Oberflächenbeschichtung von Aluminium und Aluminiumlegierungen – Rasterelektronenmikroskop- und energiedispersives Spektrometerverfahren

KR-KS, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Education, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 0582-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rastersondenmikroskopie
JY/T 0586-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopie

GSO, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

GSO ISO 22493:2015 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
BH GSO ISO 22493:2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
GSO ISO 9220:2013 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
GSO ISO/TS 24597:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
OS GSO ISO/TS 24597:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
GSO ISO 25498:2015 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
GSO ISO 11039:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
BH GSO ISO 11039:2015 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
OS GSO ISO 11039:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Messung der Driftrate
GSO ISO 28600:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
BH GSO ISO 28600:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie
GSO ISO 16067-2:2013 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messungen der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner

SCC, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

BS ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
BS EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
DANSK DS/EN ISO 9220:1994 Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NS-EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988)
VDI/VDE 2656 BLATT 1-2019 Bestimmung geometrischer Maße mit Rastersondenmikroskopen – Kalibrierung von Messsystemen

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

GJB 2666-1996 Spezifikation zum Scannen reflektierender Berylliumspiegel
GJB 2666A-2018 Spezifikation zum Scannen reflektierender Berylliumspiegel
GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgrößenbestimmung Rasterelektronenmikroskopie
GJB 8288-2014 Verifizierungsvorschrift für ein Ultrahochgeschwindigkeits-Rotationsspiegel-Streifenkamerasystem

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
GB/T 36052-2018 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E986-04(2024) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E1813-96e1 Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2002) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2007) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
GB/T 17362-2008 Methode zur Analyse des Röntgenenergiespektrums mit einem Rasterelektronenmikroskop für Goldprodukte
GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 17362-1998 Zerstörungsfreie Methode der Röntgen-EDS-Analyse mit REM für Goldschmuck
GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
GB/T 30834-2014 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl. Rasterelektronenmikroskop
GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 36422-2018 Chemiefaser.Testmethode für Mikromorphologie und Durchmesser.Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 30834-2022 Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl – Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 29190-2012 Messmethoden der Driftrate des Rastersondenmikroskops
GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
GB/T 14593-2008 Quantitative Analysemethode für Kaschmir, Wolle und deren Mischungen. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 42659-2023 Oberflächenchemische Analyse Rastersondenmikroskopie Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopie: Messsystemkalibrierung
GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS

Professional Standard - Petroleum, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

Association of German Mechanical Engineers, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen

国家能源局, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen
DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

Professional Standard - Judicatory, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 35099-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektrometrie – Morphologie und Elementanalyse einzelner feiner Partikel in der Umgebungsluft

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

VDI 3866 BLATT 5-2015 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3866 Blatt 5-2003 Determination of asbestos in technical products - Scanning electron microscopy method
VDI 3861 Blatt 2-1994 Messen anorganischer faserförmiger Partikel im strömenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3861 Blatt 2-1996 Messen anorganischer faserförmiger Partikel im strömenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3861 Blatt 2-2006 Messen von Emissionen - Messen anorganischer faserförmiger Partikel im strömenden Reingas - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
VDI 3877 Blatt 1-2009 Luftverschmutzung in Innenräumen – Messung von Staubablagerungen auf Oberflächen – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI/VDE 2656 Blatt 1-2006 Bestimmung geometrischer Messgrößen mit Rastersondermikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen

SE-SIS, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

European Committee for Standardization (CEN), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

Association Francaise de Normalisation, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF X21-069-2:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 2: Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden.

RU-GOST R, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung

Danish Standards Foundation, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

German Institute for Standardization, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)

ES-UNE, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

工业和信息化部, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

YS/T 1491-2021 Methode zur Bestimmung der Sphärizität von Hochtemperaturlegierungspulvern auf Nickelbasis mittels Rasterelektronenmikroskopie
SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie

Professional Standard - Public Safety Standards, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1418-2017 Untersuchung der Elementzusammensetzung von forensischen Glasbeweisen, Rasterelektronenmikroskopie/Energiespektroskopie
GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

DB35/T 110-2000 Elektronensonden- und Rasterelektronenmikroskop-Röntgenenergiespektrum-Analyseverfahren zur Erkennung physischer Farbspuren

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

GJB 5891.6-2006 Prüfverfahren zum Laden von Material zur Zündung von Sprengkörpern Teil 6: Messung der Korngröße Rasterelektronenmikroskopie

AENOR, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

AT-ON, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

GOST, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

GOST R ISO 14966-2022 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie

IN-BIS, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

IS 9782-1981 Spezifikation für Fernseh-Scan-Generatoren

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

SMPTE 293M-2003 Fernseher – 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung
SMPTE 294M-2001 Fernseher 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Bit-serielle Schnittstellen

BE-NBN, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

Professional Standard - Chemical Industry, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

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未注明发布机构, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

SEMI F73-0309-2009 TESTVERFAHREN ZUR RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE (SEM)-BEWERTUNG DES BENETZTEN OBERFLÄCHENZUSTANDS VON EDELSTAHLKOMPONENTEN

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

DB37/T 420.2-2004 Diagnoseprotokoll für die Skorpionfingerkrankheit bei Marikulturfischen, Teil 2: Rasterelektronenmikroskopische Diagnosemethode