So scannen Sie Strom

Für die So scannen Sie Strom gibt es insgesamt 391 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst So scannen Sie Strom die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Nichteisenmetalle, Uhrmacherkunst, Thermodynamik und Temperaturmessung, Optische Ausrüstung, fotografische Fähigkeiten, Optik und optische Messungen, Wortschatz, erziehen, Keramik, Zerstörungsfreie Prüfung, Straßenarbeiten, Längen- und Winkelmessungen, medizinische Ausrüstung, Film, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Elektronische Anzeigegeräte, Bodenqualität, Bodenkunde, Luftqualität, Elektrotechnik umfassend, Übertragungs- und Verteilungsnetze, Kriminalprävention, Farben und Lacke, Physik Chemie, Datenspeichergerät, Prüfung von Metallmaterialien, Dokumentenbildtechnologie, Textilfaser, Mikroprozessorsystem, Optoelektronik, Lasergeräte, Drahtlose Kommunikation, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Baumaterial, Transport, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Fernsehsendungen und Radiosendungen, Transformatoren, Drosseln, Induktoren, Elektronenröhre, Schnittstellen- und Verbindungsgeräte, Elektrische Geräte und Systeme für die Luft- und Raumfahrt, Metrologie und Messsynthese, Stahlprodukte, externes Abwasserentsorgungssystem, Filter, Isoliermaterialien, Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV), Straßenfahrzeuggerät, Bauteile, Fischerei und Aquakultur, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, So scannen Sie Strom

GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
GB/T 33838-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), So scannen Sie Strom

KS D 1950-1999 Methoden zur Bestimmung von Kobalt in Nickelmaterialien für Elektronenröhren
KS B ISO 12819-2005(2010) Methoden zur Bewertung der Batterielebensdauer einer batteriebetriebenen Uhr
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messung der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner
KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS A ISO 16067-2:2005 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messung der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner
KS A ISO 16067-1:2005 Fotografie – Messungen der räumlichen Auflösung elektronischer Scanner für fotografische Bilder – Teil 1: Scanner für reflektierende Medien
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS A ISO 16067-1-2005(2020) Fotografie – Raumauflösungsmessungen elektronischer Scanner für fotografische Bilder – Teil 1: Scanner für reflektierende Medien
KS X ISO/IEC 15780:2013 Informationstechnologie – 8 mm breite Magnetbandkassette – Helical-Scan-Aufzeichnung – AIT – 1-Format
KS A ISO 21550:2005 Fotografie－Elektronische Scanner für fotografische Bilder－Dynamikbereichsmessungen
KS A ISO 21550-2005(2020) Fotografie－Elektronische Scanner für fotografische Bilder－Dynamikbereichsmessungen
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS B ISO 15708-2:2018 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren für die Computertomographie – Teil 2: Grundlagen, Geräte und Proben
KS C 5530-1997 Schrägspur-Videokassettensystem mit 8-mm-Magnetband – 8-mm-Video
KS X ISO 12653-1-2007(2017) Elektronische Bildgebung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Teil 1: Eigenschaften
KS X ISO 12653-1-2007(2022) Elektronische Bildgebung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Teil 1: Eigenschaften
KS C IEC TR 61948-3:2020 Nuklearmedizinische Instrumente – Routinetests – Teil 3: Positronenemissionstomographen
KS C IEC TR 61948-3:2017 Nuklearmedizinische Instrumentierung ─ Routinetests ─ Teil 3: Positronen-Emissions-Tomographen
KS X ISO 12653-1:2007 Elektronische Bildgebung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Teil 1: Eigenschaften
KS X ISO 12653-2-2007(2022) Elektronische Bildgebung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Teil 2: Verwendungsmethode
KS X ISO 12653-2-2007(2017) Elektronische Bildgebung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Teil 2: Verwendungsmethode
KS X ISO 12653-2:2007 Elektronische Bildgebung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Teil 2: Verwendungsweise
KS C IEC 61074-2002(2012) Bestimmung der Schmelz- und Kristallisationswärmen und -temperaturen elektrischer Isoliermaterialien mittels Differentialscanningkalorimetrie
KS C IEC 61074:2002 Bestimmung der Schmelz- und Kristallisationswärmen und -temperaturen elektrischer Isoliermaterialien mittels Differentialscanningkalorimetrie

Professional Standard - Petroleum, So scannen Sie Strom

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

国家能源局, So scannen Sie Strom

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben
NB/T 35109-2018 Dreidimensionale Laserscanning-Messverfahren für Wasserkraftprojekte

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, So scannen Sie Strom

GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 23414-2009 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Wortschatz
GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
GB/T 17362-2008 Methode zur Analyse des Röntgenenergiespektrums mit einem Rasterelektronenmikroskop für Goldprodukte
GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 17362-1998 Zerstörungsfreie Methode der Röntgen-EDS-Analyse mit REM für Goldschmuck
GB/T 30834-2014 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl. Rasterelektronenmikroskop
GB/T 36422-2018 Chemiefaser.Testmethode für Mikromorphologie und Durchmesser.Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 30834-2022 Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl – Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
GB/T 14593-2008 Quantitative Analysemethode für Kaschmir, Wolle und deren Mischungen. Rasterelektronenmikroskop-Methode
GB/T 20493.1-2006 Electronic Imaging Testtraget für das Schwarz-Weiß-Scannen von Bürodokumenten Teil 1: Eigenschaften
GB/T 43196-2023 Nanotechnologische Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Größen- und Formverteilung von Nanopartikeln
GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
GB/T 20493.2-2006 Elektronische Bildgebung. Testziel für das Schwarz-Weiß-Scannen von Bürodokumenten. Teil 2: Verwendungsweise
GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS

German Institute for Standardization, So scannen Sie Strom

DIN SPEC 91127:2011 Empfehlung zur Temperaturkalibrierung von Fast Scanning Calorimeters (FSCs) für Probenmasse und Scanrate; Text in Englisch
DIN EN ISO 15708-2:2019-09 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren für die Computertomographie – Teil 2: Grundsätze, Ausrüstung und Proben (ISO 15708-2:2017); Deutsche Fassung EN ISO 15708-2:2019
DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN 6169-7:1979 Farbwiedergabe; Methode zur Spezifizierung der Farbwiedergabe der Filmabtastung im Farbfernsehen
DIN EN ISO 15708-2:2019 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren für die Computertomographie – Teil 2: Grundsätze, Ausrüstung und Proben (ISO 15708-2:2017)
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN EN 16016-2:2012 Zerstörungsfreie Prüfung - Strahlungsverfahren - Computertomographie - Teil 2: Prinzip, Geräte und Proben; Deutsche Fassung EN 16016-2:2011
DIN EN 61074:1994 Prüfverfahren zur Bestimmung der Schmelz- und Kristallisationswärmen und -temperaturen elektrischer Isoliermaterialien mittels Differentialscanningkalorimetrie (IEC 61074:1991); Deutsche Fassung EN 61074:1993
DIN 6855-4:2016-11 Konstanzprüfung nuklearmedizinischer Instrumente - Teil 4: Positronen-Emissions-Tomographen (PET)
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
DIN EN 3475-414:2007 Luft- und Raumfahrt - Kabel, elektrisch, für Flugzeuge - Prüfverfahren - Teil 414: Dynamisches Differenzkalorimeter (DSC-Test); Deutsche und englische Fassung EN 3475-414:2005
DIN EN 3475-414:2007-04 Luft- und Raumfahrt - Kabel, elektrisch, für Flugzeuge - Prüfverfahren - Teil 414: Dynamisches Differenzkalorimeter (DSC-Test); Deutsche und englische Fassung EN 3475-414:2005 / Hinweis: Gilt in Verbindung mit DIN EN 3475-100 (2002-08), ASTM D 4591 (2001).
DIN 6871-1:2003-02 Zyklotronanlagen für die Positronen-Emissions-Tomographie – Teil 1: Anforderungen an den baulichen Strahlenschutz

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), So scannen Sie Strom

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS K 7542:1993 Abmessungen von Fotofilmen für die Verwendung in elektronischen Scannern
JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung
JIS B 7208:1972 16-mm-Kinofilme zum Testen der Gleichmäßigkeit der Scanstrahlbeleuchtung
JIS B 7207:1972 Testfilme für die Gleichmäßigkeit der 35-mm-Kinofilm-Abtaststrahlbeleuchtung, Servicetyp
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

IN-BIS, So scannen Sie Strom

IS 9782-1981 Spezifikation für Fernseh-Scan-Generatoren

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), So scannen Sie Strom

SMPTE 293M-2003 Fernseher – 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung
SMPTE 294M-2001 Fernseher 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Bit-serielle Schnittstellen
SMPTE EG 25-2003 Telecine-Scanning für die Filmübertragung zum Fernsehen
SMPTE 96M-2004 Fernsehen – 35- und 16-mm-Kinofilm – gescannter Bildbereich
SMPTE 96M-1999 Fernsehen – 35- und 16-mm-Kinofilm – gescannter Bildbereich
SMPTE ST 96M-2004 Fernsehen – 35- und 16-mm-Kinofilm – gescannter Bildbereich
SMPTE 16M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Typ-B-Helical-Scan – Aufzeichnungen
SMPTE ST 16M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Typ-B-Helical-Scan – Aufzeichnungen
SMPTE ST 294M-2001 Fernseher 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Bit-serielle Schnittstellen
SMPTE RP 86-1991 Videoaufzeichnungsparameter für die Aufzeichnung von 1-Zoll-Fernsehbandaufzeichnungen mit Helical-Scan Typ C
SMPTE 15M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter
SMPTE ST 15M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter
SMPTE 17M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Typ-B-Helical-Scan – Frequenzgang und Betriebspegel
SMPTE ST 17M-1998 Analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Typ-B-Helical-Scan – Frequenzgang und Betriebspegel
SMPTE RP 81-2004 Spezifikationen für Scanstrahl-Gleichmäßigkeitstestfilme für 16-mm-Kinofilm-Audiowiedergabegeräte
SMPTE RP 69-2002 Spezifikationen für Scan-Beam-Uniformity-Testfilm für 35-mm-Film-Audio-Wiedergabegeräte
SMPTE ST 293M-2003 Fernseher – 720 x 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung
SMPTE RP 85-1999 Tracking-Control-Aufzeichnung für 1-Zoll-Typ-C-Helical-Scan-Fernsehbandaufzeichnung
SMPTE RP 83-1996 Spezifikationen der Tracking-Control-Aufzeichnung für analoge 1-Zoll-Fernsehaufzeichnung mit Helical-Scan Typ B
SMPTE RP 84-1996 Referenzträgerfrequenzen und Preemphasis-Eigenschaften für die analoge 1-Zoll-Helical-Scan-Fernsehaufzeichnung vom Typ B
SMPTE RP 81-1994 Spezifikationen für Scanstrahl-Gleichmäßigkeitstestfilme für 16-mm-Kinofilm-Audiowiedergabegeräte
SMPTE EG 24-1995 Video- und Audioausrichtungsbänder und -verfahren für analoge 1-Zoll-Fernsehrecorder mit Helical-Scan-Technik vom Typ C

International Organization for Standardization (ISO), So scannen Sie Strom

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 16067-2:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messungen der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner
ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 11312:1993 Fotografie; Filmabmessungen; Film für elektronische Scanner
ISO 16067-1:2003 Fotografie – Ortsauflösungsmessungen elektronischer Scanner für fotografische Bilder – Teil 1: Scanner für reflektierende Medien
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 15708-2:2017 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren für die Computertomographie – Teil 2: Grundlagen, Geräte und Proben
ISO 21550:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Dynamikbereichsmessungen
ISO/CD 15708-2:2023 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren für die Computertomographie – Teil 2: Grundlagen, Geräte und Proben
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 12653-1:2000 Elektronische Bilderfassung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Teil 1: Eigenschaften
ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO 12653-2:2000 Elektronische Bilderfassung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Teil 2: Verwendungsweise
ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO 13083:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Standards zur Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung von elektrischen Rastersondenmikroskopen (ESPMs) wie SSRM und SCM für die 2D-Dotierstoff-Bildgebung und andere Zwecke
ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Professional Standard - Chemical Industry, So scannen Sie Strom

HG/T 3640-1999 Fotografie.Filmdimension.Film für den Einsatz in elektronischen Scannern

British Standards Institution (BSI), So scannen Sie Strom

BS ISO 16067-2:2004 Fotografie. Elektronische Scanner für fotografische Bilder. Messungen der räumlichen Auflösung. Filmscanner
BS ISO 16067-1:2003 Fotografie. Ortsauflösungsmessungen für elektronische Scanner für fotografische Bilder. Scanner für reflektierende Medien
BS ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS ISO 15708-2:2017 Zerstörungsfreie Prüfung. Bestrahlungsverfahren für die Computertomographie. Prinzipien, Ausrüstung und Beispiele
BS EN ISO 15708-2:2019 Zerstörungsfreie Prüfung. Bestrahlungsmethoden für die Computertomographie. Prinzipien, Ausrüstung und Beispiele
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS ISO 21550:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Dynamikbereichsmessungen
PD IEC/TR 61948-3:2018 Nuklearmedizinische Instrumente. Routinetests. Positronen-Emissions-Tomographen
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 12653-1:2000 Elektronische Bilderfassung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Eigenschaften
BS ISO 12653-1:2001 Elektronische Bildgebung. Testziel für das Schwarz-Weiß-Scannen von Bürodokumenten. Eigenschaften
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
PD IEC/TS 61967-3:2014 Integrierte Schaltkreise. Messung elektromagnetischer Emissionen. Messung abgestrahlter Emissionen. Oberflächenscan-Methode
BS PD IEC/TS 61967-3:2014 Integrierte Schaltkreise. Messung elektromagnetischer Emissionen. Messung abgestrahlter Emissionen. Oberflächenscan-Methode
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 12653-2:2000 Elektronische Bilderfassung – Testziel für das Schwarzweiß-Scannen von Bürodokumenten – Verwendungsweise
BS ISO 12653-2:2001 Elektronische Bildgebung. Testziel für das Schwarz-Weiß-Scannen von Bürodokumenten. Verwendungsmethode
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS PD IEC/TS 62132-9:2014 Integrierte Schaltkreise. Messung der elektromagnetischen Immunität. Messung der Strahlungsimmunität. Oberflächenscan-Methode
BS DD IEC/TS 61967-3:2005 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen, 150 kHz bis 1 GHz – Messung abgestrahlter Emissionen – Oberflächenscan-Methode
PD IEC/TS 62132-9:2014 Integrierte Schaltkreise. Messung der elektromagnetischen Immunität. Messung der Strahlungsimmunität. Oberflächenscan-Methode
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Integrierte Schaltkreise. Messung elektromagnetischer Emissionen. Allgemeine Bedingungen und Definitionen. Datenaustauschformat für Nahfeldscans
BS EN 3475-414:2005 Elektrische Kabel für den Einsatz in Flugzeugen – Prüfverfahren – Teil 414: Dynamisches Differenzkalorimeter (DSC-Test)
BS EN 3475-414:2006 Luft- und Raumfahrt. Kabel, elektrisch, Verwendung in Flugzeugen. Testmethoden. Dynamisches Differenzkalorimeter (DSC-Test).
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
BS EN IEC 61675-1:2022 Radionuklid-Bildgebungsgeräte. Eigenschaften und Testbedingungen. Positronen-Emissions-Tomographen
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 13083:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Standards zur Definition und Kalibrierung der räumlichen Auflösung von elektrischen Rastersondenmikroskopen (ESPMs) wie SSRM und SCM für die 2D-Dotierstoff-Bildgebung und andere Zwecke
BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
BS ISO 12653-3:2014 Elektronische Bildgebung. Testziel zum Scannen von Bürodokumenten. Testziel für den Einsatz in Anwendungen mit niedrigerer Auflösung
18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)

Professional Standard - Machinery, So scannen Sie Strom

JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
JB/T 5478-1991 Manuell scannendes, fotoelektrisches, direkt ablesbares Spektrometer
JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

Group Standards of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
T/CEC 616-2022 Technische Spezifikationen für Laserscanning-Flugroboter für Stromübertragungsleitungen
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
T/SAS 0003-2018 Wismutgermanat-Szintillationskristalle für die Positronenemissionstomographie
T/NLIA 004-2021 In-situ-REM-Zugversuchsmethode für additiv gefertigte Aluminiumlegierungen
T/CEC 448-2021 Technische Vorschriften für den Laserscanbetrieb von Freileitungen mit unbemannten Luftfahrzeugen
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
T/CSTM 00346-2021 Automatische Klassifizierung und Statistik für Einschlüsse in Stahl – Energiedispersive Spektrummethode des Rasterelektronenmikroskops
T/GAIA 017-2022 Bestimmung des Fluorgehalts in der Oberflächenbeschichtung von Aluminium und Aluminiumlegierungen – Rasterelektronenmikroskop- und energiedispersives Spektrometerverfahren
T/CIRA 42-2022 Verfahren zur Gleichmäßigkeitserkennung durch Elektronenbeschleunigerstrahlabtastung für Aluminiumstäbe, die bei der Strahlungsverarbeitung verwendet werden
T/CES 183-2022 Spezifikation der Datenerfassung durch unbemanntes Starrflügel-Laserscanning für Freileitungen
T/SAME 004-2021 Wartungs- und Wartungsmanagement-Servicespezifikation für Röntgen-Computertomographie (CT).

KR-KS, So scannen Sie Strom

KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS B ISO 15708-2-2018 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren für die Computertomographie – Teil 2: Grundlagen, Geräte und Proben
KS C IEC TR 61948-3-2020 Nuklearmedizinische Instrumente – Routinetests – Teil 3: Positronenemissionstomographen
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Education, So scannen Sie Strom

JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), So scannen Sie Strom

ASTM D7000-11(2017) Standardtestmethode für den Sweep-Test von Oberflächenbehandlungsproben mit bituminöser Emulsion
ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM D7000-19 Standardtestmethode für den Sweep-Test von Proben zur Oberflächenbehandlung von emulgiertem Asphalt
ASTM D7000-19a Standardtestmethode für den Sweep-Test von Proben zur Oberflächenbehandlung von emulgiertem Asphalt
ASTM E1728-02 Standardpraxis für die Sammlung abgesetzter Staubproben unter Verwendung von Wischproben zur anschließenden Bleibestimmung
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2603-15 Standardpraxis für die Kalibrierung von Differentialscanningkalorimetern mit fester Zelle
ASTM E1728-99 Standardpraxis für die Sammlung abgesetzter Staubproben vor Ort unter Verwendung von Wischprobenverfahren zur Bleibestimmung durch Atomspektrometrietechniken
ASTM D6966-13 Standardpraxis für die Sammlung abgesetzter Staubproben unter Verwendung von Wischproben zur anschließenden Bestimmung von Metallen
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM D8231-19 Standardpraxis für den Einsatz eines elektronischen Niederspannungs-Scansystems zur Erkennung und Lokalisierung von Brüchen in Dach- und Abdichtungsmembranen
ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM F2550-06 Standardpraxis zur Ortung von Lecks in Abwasserrohren mittels Elektroscan – der Variation des elektrischen Stromflusses durch die Rohrwand
ASTM D7954/D7954M-15a(2021) Standardpraxis für die Feuchtigkeitsmessung von Dach- und Abdichtungssystemen mithilfe zerstörungsfreier elektrischer Impedanzscanner
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B773-96 Standardhandbuch für die Ultraschall-C-Scan-Verbindungsbewertung von gelöteten oder geschweißten elektrischen Kontaktbaugruppen
ASTM D7954/D7954M-22 Standardpraxis für die Feuchtigkeitsmessung von Dach- und Abdichtungssystemen mithilfe zerstörungsfreier elektrischer Impedanzscanner
ASTM D7954/D7954M-22a Standardpraxis für die Feuchtigkeitsmessung von Dach- und Abdichtungssystemen mithilfe zerstörungsfreier elektrischer Impedanzscanner
ASTM E2809-13 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektrometrie bei forensischen Farbuntersuchungen
ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D7954/D7954M-15a Standardpraxis für die Feuchtigkeitsmessung von Dach- und Abdichtungssystemen mithilfe zerstörungsfreier elektrischer Impedanzscanner
ASTM B773-96(2002)e1 Standardhandbuch für die Ultraschall-C-Scan-Verbindungsbewertung von gelöteten oder geschweißten elektrischen Kontaktbaugruppen
ASTM B773-96(2008) Standardhandbuch für die Ultraschall-C-Scan-Verbindungsbewertung von gelöteten oder geschweißten elektrischen Kontaktbaugruppen

Association Francaise de Normalisation, So scannen Sie Strom

NF X21-010:2009 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln.
NF Z42-010-1:1992 Elektronische Bildbearbeitung – Scannen von Bürodokumenten – Teil 1: Vergabe von Scans an Unterauftragnehmer – Leitfaden für detaillierte technische Anweisungen für Büros
NF EN ISO 15708-2:2019 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren für die Computertomographie – Teil 2: Grundlagen, Geräte und Proben
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF C26-214:1993 Bestimmung der Schmelz- und Kristallisationswärmen und -temperaturen elektrischer Isoliermaterialien mittels Differentialscanningkalorimetrie.
NF Z42-010-2:1993 Elektronische Bildbearbeitung – Scannen von Bürodokumenten – Teil 2: Anschaffung elektronischer Bildbearbeitungssysteme – Richtlinien für eine Ausschreibung

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

CNS 14197-1998 Elektrisches Ultraschall-Diagnosegerät mit linearer Abtastung

Professional Standard - Commodity Inspection, So scannen Sie Strom

SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberflächen mittels REM

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, So scannen Sie Strom

NEMA NU 2-2012 Leistungsmessungen von Positronen-Emissions-Tomographen
NEMA NU 2-2018 Leistungsmessungen von Positronen-Emissions-Tomographen (PET)

Association of German Mechanical Engineers, So scannen Sie Strom

VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

International Telecommunication Union (ITU), So scannen Sie Strom

ITU-R SM.1839 SPANISH-2007 Testverfahren zur Messung der Abtastgeschwindigkeit von Funküberwachungsempfängern. Verfahren zur Prüfung der Geschwindigkeit der Erkundung der Rezeptoren der technischen Funktechnik
ITU-R BR.1441 FRENCH-2000 KOMPROMISSE ABMESSUNGEN DES SCANBEREICHS FÜR FERNSEHEN VON 35-mm-BREITBILDFILMEN
ITU-R BR.1441 SPANISH-2000 KOMPROMISSE ABMESSUNGEN DES SCANBEREICHS FÜR FERNSEHEN VON 35-mm-BREITBILDFILMEN
ITU-R BR.1374-1-2001 Abmessungen des gescannten Bereichs von 16-mm- und 35-mm-Kinofilmen, die im Fernsehen verwendet werden
ITU-R BT.1358-1-2007 Studioparameter von progressiven Fernsehsystemen mit 625 und 525 Zeilen
ITU-R SM.1839-1 FRENCH-2011 Testverfahren zur Messung der Abtastgeschwindigkeit von Funküberwachungsempfängern
ITU-R SM.1839-1-2011 Testverfahren zur Messung der Abtastgeschwindigkeit von Funküberwachungsempfängern
ITU-R SM.1839-1 SPANISH-2011 Testverfahren zur Messung der Abtastgeschwindigkeit von Funküberwachungsempfängern
ITU-R SM.1839-2007 Testverfahren zur Messung der Abtastgeschwindigkeit von Funküberwachungsempfängern
ITU-R SM.1839 FRENCH-2007 Testverfahren zur Messung der Abtastgeschwindigkeit von Funküberwachungsempfängern. Procéure déssai pour mesurer la vitesse déxploration des répteurs de contrèle des éissions
ITU-R SM.1839-2011 Testverfahren zur Messung der Abtastgeschwindigkeit von Funküberwachungsempfängern
ITU-R BR.1374-1 FRENCH-2001 Abmessungen des gescannten Bereichs von 16-mm- und 35-mm-Kinofilmen, die im Fernsehen verwendet werden
ITU-R BT.1358-1 SPANISH-2007 Studioparameter von progressiven Fernsehsystemen mit 625 und 525 Zeilen
ITU-R BR.1374-1 SPANISH-2001 Abmessungen des gescannten Bereichs von 16-mm- und 35-mm-Kinofilmen, die im Fernsehen verwendet werden
ITU-R BT.1358-1 FRENCH-2007 Studioparameter von progressiven Fernsehsystemen mit 625 und 525 Zeilen
ITU-R BR.1374-2001 Abmessungen des gescannten Bereichs von 16-mm- und 35-mm-Kinofilmen, die im Fernsehen verwendet werden
ITU-R BR.1441-2000 Kompromittieren Sie die Abmessungen des gescannten Bereichs für das Fernsehen von 35-mm-Breitbildfilmen
ITU-R BR.1288-1997 (ZURÜCKGEZEICHNET) Gescannter Bereich von 16-mm- und 35-mm-Releasefilmen, die für herkömmliche 4:3-Fernsehsysteme verwendet werden
ITU-R BR.1289-1997 (ZURÜCKGEZEICHNET) Gescannter Bereich von 16-mm- und 35-mm-Releasefilmen, die für herkömmliche 16:9-Fernsehsysteme verwendet werden
ITU-R BT.1362-1998 Schnittstellen für digitale Komponentenvideosignale in 525- und 625-Zeilen-Progressive-Scan-Fernsehsystemen
ITU-R BT.1362 FRENCH-1998 Schnittstellen für digitale Komponentenvideosignale in 525- und 625-Zeilen-Progressive-Scan-Fernsehsystemen. Schnittstellen für die Anzahl der Videosignale und Komponenten in den Übertragungssystemen: 525 Linien und 625 Linien mit Balayage-Programmierung
ITU-R BR.1291-1997 Gescannter Bereich eines Super-16-mm-Films für die Produktion und Postproduktion in 16:9-Fernsehsystemen
ITU-R BR.1291 SPANISH-1997 gescannter Bereich eines Super-16-mm-Films für die Produktion und Postproduktion in 16:9-Fernsehsystemen

RU-GOST R, So scannen Sie Strom

GOST R 56109-2014 Medizinische elektrische Geräte. Positronen-Emissions-Tomographen sowie Röntgengeräte für die Computertomographie. Technische Anforderungen für staatliche Einkäufe
GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST R 56108-2014 Medizinische elektrische Geräte. Positronen-Emissions-Tomograph. Technische Anforderungen für staatliche Einkäufe
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 11983-1981 Fernsehempfänger. Impulsausgangs-Leitungstransformatoren. Allgemeine Spezifikation
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 59731-2021 Medizinische elektrische Geräte. Magnetresonanztomographen. Technische Methoden zur Zustandskontrolle
GOST 19438.21-1979 Elektronische Röhren und Röhren mit geringem Stromverbrauch für Ausgangskaskaden der TV-Leitungsabtastung. Methoden zur Messung elektrischer Parameter und Prüfung der Betriebszeit
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST R 56123-2014 Medizinische elektrische Geräte. Einzelphotonenemissions-Computertomographen. Technische Anforderungen für staatliche Einkäufe

Professional Standard - Electricity, So scannen Sie Strom

DL/T 1346-2014 Betriebscode für das Helikopter-Laserscannen für Übertragungsleitungen
DL/T 1346-2021 Technische Vorschriften für den Helikopter-Laserscanbetrieb von Freileitungen

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode
DB44/T 1833-2016 Testziel zum Scannen elektronischer Bilddokumente im Büro mit niedriger Auflösung
DB44/T 1216-2013 Charakterisierung von Graphen mittels Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenspektroskopie
DB44/T 1215-2013 Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und Energiespektroskopie

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen
DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

Professional Standard - Judicatory, So scannen Sie Strom

SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, So scannen Sie Strom

ITU-R BT.1358-1998 Studioparameter von 625- und 525-Zeilen-Progressive-Scan-Fernsehsystemen
ITU-R BR.1374-1998 Abmessungen des gescannten Bereichs von 16-mm- und 35-mm-Kinofilmen, die im Fernsehen verwendet werden
ITU-R BR.1289 SPANISH-1997 ZONA EXPLORADA DE PEL?CULA EN COPIA DE DISTRIBUCI?N DE 16 mm Y 35 mm UTILIZADA PARA LOS SYSTEMS OF CONVENCIONAL FERNSEHEN 16:9
ITU-R BR.1289 FRENCH-1997 SURFACE DE BALAYAGE DES COPIES D'EXPLOITATION DE FILMS 16 mm ET 35 mm DESTIN?S AUX SYST?MES DE T?L?VISION CLASSIQUE 16:9
ITU-R BR.1288 SPANISH-1997 ZONA EXPLORADA DE PEL?CULA EN COPIA DE DISTRIBUCI?N DE 16 mm Y 35 mm UTILIZADA PARA LOS SYSTEMS OF CONVENCIONAL FERNSEHEN 4:3

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, So scannen Sie Strom

GB/T 39867-2021 Wismutgermanat-Szintillationskristall für die Positronenemissionstomographie
GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 40826-2021 Testmethode zum manuellen Anordnen der Stapellänge von enthaartem Kaschmir – Flachbettscanner-Methode
GB/T 35099-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektrometrie – Morphologie und Elementanalyse einzelner feiner Partikel in der Umgebungsluft

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, So scannen Sie Strom

GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgrößenbestimmung Rasterelektronenmikroskopie

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), So scannen Sie Strom

SMPTE EG 25:2003 EG 25:2003 – SMPTE-Engineering-Richtlinie – Telecine-Scanning für die Filmübertragung zum Fernsehen
SMPTE ST 295:1997 ST 295:1997 – SMPTE-Standard – Für Fernsehen – 1920 × 1080 50 Hz – Abtastung und Schnittstellen
EG 25:2003 EG 25:2003 – SMPTE-Engineering-Richtlinie – Telecine-Scanning für die Filmübertragung zum Fernsehen
ST 96:2004 ST 96:2004 – SMPTE-Standard – Für Fernsehen – 35- und 16-mm-Kinofilme – Gescannter Bildbereich
SMPTE ST 16:1998 ST 16:1998 – SMPTE-Standard – Für analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Typ-B-Helical-Scan – Aufzeichnungen
ST 293:2003 ST 293:2003 – SMPTE-Standard – Für Fernsehen – 720 × 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung
SMPTE ST 96:2004 ST 96:2004 – SMPTE-Standard – Für Fernsehen – 35- und 16-mm-Kinofilme – Gescannter Bildbereich
SMPTE ST 17:1998 ST 17:1998 – SMPTE-Standard – für analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Frequenzgang und Betriebspegel
SMPTE ST 15:1998 ST 15:1998 – SMPTE-Standard – Für analoge Fernsehaufzeichnung – 1-Zoll-Helical-Scan Typ B – Grundlegende Systemparameter
SMPTE ST 293:2003 ST 293:2003 – SMPTE-Standard – Für Fernsehen – 720 × 483 Active Line bei 59,94 Hz Progressive Scan-Produktion – Digitale Darstellung

Danish Standards Foundation, So scannen Sie Strom

DS/EN 16016-2:2011 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren – Computertomographie – Teil 2: Prinzip, Geräte und Proben
DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
DS/IEC/TR 61948-3:2006 Nuklearmedizinische Instrumentierung – Routineprüfungen – Teil 3: Positronen-Emissions-Tomographen
DS/EN 61074:1994 Bestimmung der Schmelz- und Kristallisationswärmen und -temperaturen elektrischer Isoliermaterialien mittels Differential-Scamming-Kalorimetrie
DS/EN 3475-414:2005 Luft- und Raumfahrt - Elektrische Kabel, Verwendung in Flugzeugen - Prüfverfahren - Teil 414: Dynamisches Differenzkalorimeter (DSC-Test)

Lithuanian Standards Office , So scannen Sie Strom

LST EN 16016-2-2011 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren – Computertomographie – Teil 2: Prinzip, Geräte und Proben
LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
LST EN 3475-414-2006 Luft- und Raumfahrt - Elektrische Kabel, Verwendung in Flugzeugen - Prüfverfahren - Teil 414: Dynamisches Differenzkalorimeter (DSC-Test)

AENOR, So scannen Sie Strom

UNE-EN 16016-2:2012 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren – Computertomographie – Teil 2: Prinzip, Geräte und Proben
UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).

ES-UNE, So scannen Sie Strom

UNE-EN ISO 15708-2:2020 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren für die Computertomographie – Teil 2: Grundsätze, Ausrüstung und Proben (ISO 15708-2:2017)
UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)
UNE-EN 61074:1993 BESTIMMUNG DER WÄRMEN UND TEMPERATUREN DES SCHMELZENS UND DER KRISTALLISATION ELEKTRISCHER ISOLIERMATERIALIEN DURCH DIFFERENZ-SCAN-KALORIMETRIE. (Von AENOR im November 1995 gebilligt.)

SE-SIS, So scannen Sie Strom

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

European Committee for Standardization (CEN), So scannen Sie Strom

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN 16016-2:2011 Zerstörungsfreie Prüfung – Strahlungsverfahren – Computertomographie – Teil 2: Prinzip, Geräte und Proben
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

Professional Standard - Military and Civilian Products, So scannen Sie Strom

WJ 2299-1995 Vorschriften zur Überprüfung von induktiv gekoppelten Plasma-Sequenzscanspektrometern

Professional Standard - Energy, So scannen Sie Strom

DL/T 2333-2021 Technische Vorschriften für die dreidimensionale Laserscanning-Bodenmessung von Energieübertragungs- und -umwandlungsprojekten

Professional Standard - Public Safety Standards, So scannen Sie Strom

GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1418-2017 Untersuchung der Elementzusammensetzung von forensischen Glasbeweisen, Rasterelektronenmikroskopie/Energiespektroskopie
GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 909-2010 Sammel- und Verpackungsmethode für Spurenspuren – Schussrückstände (SEM/EDS-Untersuchung)

Professional Standard - Electron, So scannen Sie Strom

SJ/T 11008-1996 Detaillierte Spezifikationen für elektronische Komponenten – Integrierte Halbleiter-TV-Schaltkreise – CD11235CP Line- und Field-Sweep-Schaltkreise
SJ/T 10987-1996 Detaillierte Spezifikationen für elektronische Komponenten – Integrierte Halbleiter-TV-Schaltkreise – CD5435CP-Magnetfeld-Sweep-Schaltkreise
SJ/T 11006-1996 Integrierte Halbleiter-TV-Schaltungen – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für horizontale und vertikale Wobbelschaltungen
SJ/T 11087-1996 Detaillierte Spezifikationen für elektronische Komponenten – Integrierte Halbleiterschaltkreise – Horizontale und vertikale Sweep- und Chrominanzverarbeitungsschaltkreise CD7698CP
SJ/T 10784-1996 Detaillierte Spezifikationen für elektronische Komponenten – Integrierte Halbleiterschaltkreise – Horizontale und vertikale Sweep-Schaltkreise CD7609CP (gilt für die Zertifizierung)

CZ-CSN, So scannen Sie Strom

CSN 36 7522-1986 Farbfernseh-Diascanner Technische Anforderungen und Messmethoden

US-FCR, So scannen Sie Strom

FCR 21 CFR PART 212-2015 AKTUELLE GUTE HERSTELLUNGSPRAXIS FÜR POSITRON-EMISSIONS-TOMOGRAPHIE-ARZNEIMITTEL
FCR 21 CFR PART 212-2013 AKTUELLE GUTE HERSTELLUNGSPRAXIS FÜR POSITRON-EMISSIONS-TOMOGRAPHIE-ARZNEIMITTEL
FCR 21 CFR PART 212-2014 AKTUELLE GUTE HERSTELLUNGSPRAXIS FÜR POSITRON-EMISSIONS-TOMOGRAPHIE-ARZNEIMITTEL

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

DB15/T 1341-2018 Spezifikation für die Kalibrierung des elektronischen Scanners für Handreihenlängendiagramme aus kardiertem Kaschmir
DB15/T 981-2016 Kardiertes Kaschmir-Handreihenlängentestverfahren, Zeichenbrett, elektronisches Scannerverfahren

工业和信息化部, So scannen Sie Strom

YS/T 1491-2021 Methode zur Bestimmung der Sphärizität von Hochtemperaturlegierungspulvern auf Nickelbasis mittels Rasterelektronenmikroskopie
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American National Standards Institute （ANSI), So scannen Sie Strom

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Professional Standard - Civil Aviation, So scannen Sie Strom

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Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

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PT-IPQ, So scannen Sie Strom

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GJB 5891.6-2006 Prüfverfahren zum Laden von Material zur Zündung von Sprengkörpern Teil 6: Messung der Korngröße Rasterelektronenmikroskopie

Defense Logistics Agency, So scannen Sie Strom

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AT-ON, So scannen Sie Strom

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International Electrotechnical Commission (IEC), So scannen Sie Strom

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BE-NBN, So scannen Sie Strom

NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

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SAE - SAE International, So scannen Sie Strom

SAE J1752-2-2016 Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächen-Scan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, So scannen Sie Strom

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