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RUElektroscan
Für die Elektroscan gibt es insgesamt 96 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Elektroscan die folgenden Kategorien: fotografische Fähigkeiten, externes Abwasserentsorgungssystem, medizinische Ausrüstung, analytische Chemie, Datenspeichergerät, Optische Ausrüstung, Textilfaser, Optik und optische Messungen, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Baumaterial, Wortschatz, erziehen, Längen- und Winkelmessungen, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Luftqualität, Kriminalprävention, Thermodynamik und Temperaturmessung.
IN-BIS, Elektroscan
Professional Standard - Chemical Industry, Elektroscan
- HG/T 3640-1999 Fotografie.Filmdimension.Film für den Einsatz in elektronischen Scannern
American Society for Testing and Materials (ASTM), Elektroscan
- ASTM F2550-06 Standardpraxis zur Ortung von Lecks in Abwasserrohren mittels Elektroscan – der Variation des elektrischen Stromflusses durch die Rohrwand
- ASTM D8231-19 Standardpraxis für den Einsatz eines elektronischen Niederspannungs-Scansystems zur Erkennung und Lokalisierung von Brüchen in Dach- und Abdichtungsmembranen
- ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
- ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Elektroscan
- JIS K 7542:1993 Abmessungen von Fotofilmen für die Verwendung in elektronischen Scannern
- JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
International Organization for Standardization (ISO), Elektroscan
- ISO 11312:1993 Fotografie; Filmabmessungen; Film für elektronische Scanner
- ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
- ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
- ISO 21550:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Dynamikbereichsmessungen
- ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- ISO 16067-2:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messungen der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner
- ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
- ISO 16067-1:2003 Fotografie – Ortsauflösungsmessungen elektronischer Scanner für fotografische Bilder – Teil 1: Scanner für reflektierende Medien
- ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
- ISO 14535:2001 Fotografie – Raumlicht-Ladepakete für elektronische Scanner und Bildsatzfilm- und Papierrollen – Abmessungen und zugehörige Anforderungen
Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Elektroscan
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Elektroscan
- EN 60601-2-47:2015 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2-47: Besondere Anforderungen an die grundlegende Sicherheit und wesentliche Leistung von ambulanten Elektrokardiographiesystemen
- EN 60601-2-47:2001 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2-47: Besondere Anforderungen an die Sicherheit, einschließlich der wesentlichen Leistungsmerkmale, von ambulanten Elektrokardiographiesystemen (bleibt aktuell)
German Institute for Standardization, Elektroscan
- DIN EN 60601-2-47:2002 Medizinische elektrische Geräte – Teil 2-47: Besondere Anforderungen an die Sicherheit, einschließlich der wesentlichen Leistungsmerkmale, von ambulanten Elektrokardiographiesystemen (IEC 60601-2-47:2001); Deutsche Fassung EN 60601-2-47:2001
- DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Elektroscan
- GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektroscan
- DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Elektroscan
British Standards Institution (BSI), Elektroscan
- BS ISO 21550:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Dynamikbereichsmessungen
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
- BS ISO 16067-2:2004 Fotografie. Elektronische Scanner für fotografische Bilder. Messungen der räumlichen Auflösung. Filmscanner
- BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
- BS ISO 16067-1:2003 Fotografie. Ortsauflösungsmessungen für elektronische Scanner für fotografische Bilder. Scanner für reflektierende Medien
- BS ISO 22493:2014 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Wortschatz
- BS ISO 14535:2001 Fotografie – Raumlicht-Ladepakete für elektronische Scanner und Bildsatzfilm- und Papierrollen – Abmessungen und zugehörige Anforderungen
Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektroscan
- DB15/T 1341-2018 Spezifikation für die Kalibrierung des elektronischen Scanners für Handreihenlängendiagramme aus kardiertem Kaschmir
- DB15/T 981-2016 Kardiertes Kaschmir-Handreihenlängentestverfahren, Zeichenbrett, elektronisches Scannerverfahren
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Elektroscan
- GB/T 40826-2021 Testmethode zum manuellen Anordnen der Stapellänge von enthaartem Kaschmir – Flachbettscanner-Methode
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Elektroscan
- GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
- GB/T 23414-2009 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Wortschatz
- GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
- GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
- GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
- GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
- GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Elektroscan
- SMPTE EG 25:2003 EG 25:2003 – SMPTE-Engineering-Richtlinie – Telecine-Scanning für die Filmübertragung zum Fernsehen
- EG 25:2003 EG 25:2003 – SMPTE-Engineering-Richtlinie – Telecine-Scanning für die Filmübertragung zum Fernsehen
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Elektroscan
- JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)
Professional Standard - Machinery, Elektroscan
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Elektroscan
- JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
- JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops
Association Francaise de Normalisation, Elektroscan
- NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
- NF X21-010:2009 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln.
Professional Standard - Electron, Elektroscan
- SJ/T 11006-1996 Integrierte Halbleiter-TV-Schaltungen – Allgemeine Grundsätze der Messmethoden für horizontale und vertikale Wobbelschaltungen
- SJ/T 11008-1996 Detaillierte Spezifikationen für elektronische Komponenten – Integrierte Halbleiter-TV-Schaltkreise – CD11235CP Line- und Field-Sweep-Schaltkreise
- SJ/T 10987-1996 Detaillierte Spezifikationen für elektronische Komponenten – Integrierte Halbleiter-TV-Schaltkreise – CD5435CP-Magnetfeld-Sweep-Schaltkreise
- SJ/T 10784-1996 Detaillierte Spezifikationen für elektronische Komponenten – Integrierte Halbleiterschaltkreise – Horizontale und vertikale Sweep-Schaltkreise CD7609CP (gilt für die Zertifizierung)
PT-IPQ, Elektroscan
- NP 3081-1985 Elektronisches Bauteil. Halbleiter-Chip-Inspektion beim Mikroelektronik-Scannen, grundlegende Spezifikationen
Professional Standard - Public Safety Standards, Elektroscan
- GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
Group Standards of the People's Republic of China, Elektroscan
- T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
- T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
- T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
BE-NBN, Elektroscan
- NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
KR-KS, Elektroscan
Professional Standard - Education, Elektroscan
- JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
- JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektroscan
- DB35/T 110-2000 Elektronensonden- und Rasterelektronenmikroskop-Röntgenenergiespektrum-Analyseverfahren zur Erkennung physischer Farbspuren
Professional Standard - Petroleum, Elektroscan
- SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
- SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
- SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben
Professional Standard - Commodity Inspection, Elektroscan
- SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
- SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberflächen mittels REM
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektroscan
- DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
Association of German Mechanical Engineers, Elektroscan
- VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
- VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
国家能源局, Elektroscan
- SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben
International Telecommunication Union (ITU), Elektroscan
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektroscan
- DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode
Professional Standard - Judicatory, Elektroscan
- SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektroscan
- CNS 14197-1998 Elektrisches Ultraschall-Diagnosegerät mit linearer Abtastung