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SEM

Für die SEM gibt es insgesamt 180 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst SEM die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Luftqualität, Optik und optische Messungen, erziehen, Längen- und Winkelmessungen, Wortschatz, analytische Chemie, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Nichteisenmetalle, Kriminalprävention, Thermodynamik und Temperaturmessung, Elektronische Anzeigegeräte, Farben und Lacke, Prüfung von Metallmaterialien, Textilfaser, Optoelektronik, Lasergeräte, Baumaterial, Stahlprodukte, Physik Chemie, Keramik, Fischerei und Aquakultur, medizinische Ausrüstung.


British Standards Institution (BSI), SEM

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
  • BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
  • BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
  • BS ISO 18115-2:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Begriffe, die in der Rastersondenmikroskopie verwendet werden
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM

  • JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
  • JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung

Professional Standard - Commodity Inspection, SEM

  • SN/T 4388-2015 Lederidentifizierung. Rasterelektronenmikroskopie und optische Mikroskopie
  • SN/T 3009-2011 Identifizierung von Meerwasserkorrosion auf metallischen Oberflächen mittels REM

International Organization for Standardization (ISO), SEM

  • ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
  • ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
  • ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
  • ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
  • ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
  • ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
  • ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM

  • ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
  • ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
  • ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
  • ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
  • ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, SEM

  • JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)
  • JJF 1351-2012 Kalibrierungsspezifikation für Rastersondenmikroskope

Professional Standard - Machinery, SEM

  • JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
  • JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
  • JB/T 7503-1994 Dicke des Querschnitts von Metallbeschichtungen Rasterelektronenmikroskop-Messmethode

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, SEM

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM

Group Standards of the People's Republic of China, SEM

  • T/SPSTS 032-2023 Allgemeine Spezifikationen für die elektrochemische Rastermikroskopie
  • T/CSTM 00795-2022 Materialexperimentelle Daten – Anforderungen für Rasterelektronenmikroskopbilder
  • T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
  • T/CSTM 00229-2020 Identifizierung von Graphenmaterialien in Beschichtungsmaterialien Rasterelektronenmikroskop-Energiedispersionsspektrometer-Methode
  • T/NLIA 004-2021 In-situ-REM-Zugversuchsmethode für additiv gefertigte Aluminiumlegierungen
  • T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • T/CSTM 00346-2021 Automatische Klassifizierung und Statistik für Einschlüsse in Stahl – Energiedispersive Spektrummethode des Rasterelektronenmikroskops
  • T/GAIA 017-2022 Bestimmung des Fluorgehalts in der Oberflächenbeschichtung von Aluminium und Aluminiumlegierungen – Rasterelektronenmikroskop- und energiedispersives Spektrometerverfahren

KR-KS, SEM

  • KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
  • KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

Professional Standard - Education, SEM

  • JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
  • JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie
  • JY/T 0582-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rastersondenmikroskopie
  • JY/T 0586-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM

  • GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
  • GB/T 31563-2015 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • GB/T 17722-1999 Vergoldete Dickenmessung mittels REM
  • GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
  • GB/T 20307-2006 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Nanometerbereich mittels REM
  • GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
  • GB/T 17362-2008 Methode zur Analyse des Röntgenenergiespektrums mit einem Rasterelektronenmikroskop für Goldprodukte
  • GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • GB/T 17362-1998 Zerstörungsfreie Methode der Röntgen-EDS-Analyse mit REM für Goldschmuck
  • GB/T 30834-2014 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl. Rasterelektronenmikroskop
  • GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
  • GB/T 36422-2018 Chemiefaser.Testmethode für Mikromorphologie und Durchmesser.Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • GB/T 30834-2022 Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
  • GB/T 29190-2012 Messmethoden der Driftrate des Rastersondenmikroskops
  • GB/T 14593-2008 Quantitative Analysemethode für Kaschmir, Wolle und deren Mischungen. Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
  • GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
  • GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS

Professional Standard - Petroleum, SEM

  • SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
  • SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
  • SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM

  • DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops

Association of German Mechanical Engineers, SEM

  • VDI 3866 Blatt 5-2004 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • VDI 3866 Blatt 5-2017 Bestimmung von Asbest in technischen Produkten – Rasterelektronenmikroskopische Methode
  • VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

国家能源局, SEM

  • SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, SEM

  • GJB 2666-1996 Spezifikation zum Scannen reflektierender Berylliumspiegel
  • GJB 2666A-2018 Spezifikation zum Scannen reflektierender Berylliumspiegel
  • GJB 737.11-1993 Prüfmethoden für pyrotechnische Chemikalien Partikelgrößenbestimmung Rasterelektronenmikroskopie
  • GJB 8288-2014 Verifizierungsvorschrift für ein Ultrahochgeschwindigkeits-Rotationsspiegel-Streifenkamerasystem

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, SEM

  • GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
  • GB/T 36052-2018 Chemische Oberflächenanalyse – Datenübertragungsformat für die Rastersondenmikroskopie

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM

  • DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM

  • DB32/T 4546-2023 Technische Spezifikationen für die automatisierte Inspektion von Diatomeenbildern mittels Rasterelektronenmikroskopen
  • DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

Professional Standard - Judicatory, SEM

  • SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, SEM

  • GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • GB/T 38783-2020 Methode zur Schichtdickenbestimmung für Edelmetallverbundwerkstoffe mittels Rasterelektronenmikroskop
  • GB/T 35099-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektrometrie – Morphologie und Elementanalyse einzelner feiner Partikel in der Umgebungsluft

Association Francaise de Normalisation, SEM

  • NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
  • NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
  • XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
  • NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie

SE-SIS, SEM

  • SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
  • SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

European Committee for Standardization (CEN), SEM

  • EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
  • EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
  • EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
  • prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

RU-GOST R, SEM

  • GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
  • GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
  • GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
  • GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung

Danish Standards Foundation, SEM

  • DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
  • DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

German Institute for Standardization, SEM

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
  • DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023

Professional Standard - Public Safety Standards, SEM

  • GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1418-2017 Untersuchung der Elementzusammensetzung von forensischen Glasbeweisen, Rasterelektronenmikroskopie/Energiespektroskopie
  • GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
  • GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie

ES-UNE, SEM

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
  • UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

工业和信息化部, SEM

  • YS/T 1491-2021 Methode zur Bestimmung der Sphärizität von Hochtemperaturlegierungspulvern auf Nickelbasis mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM

  • DB35/T 110-2000 Elektronensonden- und Rasterelektronenmikroskop-Röntgenenergiespektrum-Analyseverfahren zur Erkennung physischer Farbspuren

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, SEM

  • GJB 5891.6-2006 Prüfverfahren zum Laden von Material zur Zündung von Sprengkörpern Teil 6: Messung der Korngröße Rasterelektronenmikroskopie

AENOR, SEM

  • UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , SEM

  • LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

AT-ON, SEM

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

BE-NBN, SEM

  • NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM

  • DB37/T 420.2-2004 Diagnoseprotokoll für die Skorpionfingerkrankheit bei Marikulturfischen, Teil 2: Rasterelektronenmikroskopische Diagnosemethode

国家食品药品监督管理局, SEM

未注明发布机构, SEM

  • BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips

Professional Standard - Medicine, SEM

  • YY/T 0619-2017 Medizinisches Endoskop, starres Koagulations-Schneid-Endoskop

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