Einkristallin und polykristallin

Für die Einkristallin und polykristallin gibt es insgesamt 500 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Einkristallin und polykristallin die folgenden Kategorien: Halbleitermaterial, Nichteisenmetalle, Baumaterial, Optische Ausrüstung, Industrieofen, Papier und Pappe, Isolierflüssigkeit, Wortschatz, Einrichtungen im Gebäude, Prüfung von Metallmaterialien, Nichteisenmetallprodukte, Diskrete Halbleitergeräte, Energie- und Wärmeübertragungstechnik umfassend, Optik und optische Messungen, Optoelektronik, Lasergeräte, magnetische Materialien, Feuerfeste Materialien, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Allgemeines, Terminologie, Standardisierung, Dokumentation, Strahlungsmessung, Batterien und Akkus, Anorganische Chemie, Keramik, Teile und Zubehör für Telekommunikationsgeräte, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Solartechnik, Elektrische Lichter und zugehörige Geräte, Komponenten elektrischer Geräte, Zerstörungsfreie Prüfung, Schneidewerkzeuge, Ausrüstung für die Gesundheit des menschlichen Körpers, Schmuck, Elektronische Anzeigegeräte, medizinische Ausrüstung, Luftqualität, Isoliermaterialien, Spanlose Bearbeitungsgeräte, Verbundverstärkte Materialien, Organisation und Führung von Unternehmen (Enterprises), Chemikalien, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Werkzeugmaschine, Pulvermetallurgie, Arbeitssicherheit, Arbeitshygiene, erziehen, Terminologie (Grundsätze und Koordination), Stahlprodukte, Glasfaserkommunikation, analytische Chemie, Rotierender Motor, Kernenergietechnik, Wasserqualität, Land-und Forstwirtschaft, Filter, Gleichrichter, Wandler, geregelte Netzteile, Bauteile, schwarzes Metall, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Umweltschutz, Zutaten für die Farbe, Abfall.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Einkristallin und polykristallin

GB/T 11072-2009 Indiumantimonid-Polykristall, Einzelkristalle und geschnittene Scheiben
GB/T 5238-2009(英文版) Monokristallines Germanium und monokristalline Germaniumscheiben
GB/T 5238-2009 Monokristallines Germanium und monokristalline Germaniumscheiben
GB/T 31092-2014 Monokristalliner Saphirbarren
GB/T 31092-2022 Monokristalliner Saphirbarren
GB/T 12963-2009 Spezifikation für polykristallines Silizium
GB/T 12963-1996 Polykristallines Silizium
GB/T 12962-1996 Monokristallines Silizium
GB/T 12962-2005 Monokristallines Silizium
GB/T 5238-1995 Monokristallines Germanium
GB/T 12962-2015 Silizium-Einkristall
GB/T 15713-1995 Monokristalline Germaniumscheiben
GB/T 29504-2013 300 mm monokristallines Silizium
GB/T 1555-1997 Testmethoden zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleitereinkristalls
GB/T 1555-2023 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls
GB/T 1555-2009 Prüfverfahren zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleiter-Einkristalls
GB/T 12963-2014 Polykristallines Silizium in elektronischer Qualität
GB/T 12963-2022 Polykristallines Silizium in elektronischer Qualität
GB/T 11094-2007 Horizontaler Bridgman-gewachsener Galliumarsenid-Einkristall und Schneidwafer
GB/T 20229-2006 Galliumphosphid-Signalkristall
GB/T 20230-2006 Indiumphosphid-Signaturkristall
GB/T 20228-2006 Galliumarsenid-Einkristall
GB/T 14843-1993 Lithiumniobat-Einkristalle
GB 29447-2012 Die Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit eines Polysiliziumunternehmens
GB 29447-2022 Die Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit aus Polysilizium und Germanium
GB/T 25074-2010 Polykristallines Silizium in Solarqualität
GB/T 25074-2017(英文版) Polykristallines Silizium in Solarqualität
GB/T 12964-2003 Polierte Wafer aus monokristallinem Silizium
GB/T 11093-2007 In Flüssigkeit eingekapselte, durch Czochralski gezüchtete Galliumarsenid-Einkristalle und geschnittene Scheiben
GB/T 26044-2010 Einkristalliner Rundkupferdraht und Ziehmaterial zur Signalübertragung
GB/T 29506-2013 300 mm polierte monokristalline Siliziumwafer
GB 51034-2014 Code für die Gestaltung einer Polysiliziumanlage
GB/T 29055-2012 Multikristalliner Siliziumwafer für Solarzellen
GB/T 30656-2014 Polierte monokristalline Siliziumkarbid-Wafer
GB/T 25076-2010 Monokristallines Silizium einer Solarzelle
GB/T 30656-2023 Einkristall-polierter Siliziumkarbid-Wafer
GB/T 41662-2022 Polykristallines Cadmium-Zink-Tellurid für hochenergetische Strahlungsdetektions- und Bildgebungsmaterialien
GB/T 41751-2022 Prüfverfahren für den Krümmungsradius der Kristallebene in GaN-Einkristall-Substratwafern
GB/T 42676-2023 Röntgenbeugungsmethode zur Prüfung der Qualität von Halbleitereinkristallen
GB/T 30118-2013 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden
GB/T 29054-2012 Multikristalliner Siliziumgussstein in Solarqualität
GB/T 26072-2010 Germanium-Einkristall-Solarzelle
GB/T 29057-2023 Praxis zur Bewertung polykristalliner Siliziumstäbe durch Zonenschmelzziehen und spektroskopische Analyse
GB/T 29057-2012 Praxis zur Bewertung von polykristallinen Siliziumstäben durch Floatzonen-Kristallwachstum und Spektroskopie
GB 11297.7-1989 Testmethode für den spezifischen Widerstand und den Hall-Koeffizienten von InSb-Einkristallen
GB/T 12965-1996 Monokristallines Silizium als Schnittscheiben und geläppte Scheiben
GB/T 12965-2005 Monokristallines Silizium in Scheiben geschnitten und geläppt
GB/T 1551-2009 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von einkristallinem Silizium
GB/T 26065-2010 Spezifikation für polierte Test-Siliziumwafer
GB/T 30858-2014 Poliertes monokristallines Saphirsubstratprodukt
GB/T 13843-1992 Polierte monokristalline Saphirsubstrate
GB/T 29055-2019(英文版) Multikristalline Siliziumwafer für Photovoltaik-Solarzellen
GB/T 25075-2010 Galliumarsenid-Einkristall für Solarzellen
GB/T 29420-2012 Nd-dotierte Vanadat-Laserkristallvorrichtungen
GB/T 29508-2013 300 mm monokristallines Silizium als Schnittscheiben und gemahlene Scheiben
GB/T 34213-2023 Hochreines Aluminiumoxid für Saphir-Einkristall
GB/T 4059-2007 Polykristallines Silizium.Untersuchungsmethode.Zonenschmelzen auf Phosphor unter kontrollierter Atmosphäre
GB/T 4060-2007 Polykristallines Silizium.Untersuchungsmethode.Vakuumzonenschmelzen auf Bor
GB/T 32188-2015 Testverfahren für die volle Breite bei halbem Maximum der Doppelkristall-Röntgenschaukelkurve eines GaN-Einkristallsubstrats
GB/T 26071-2010 Monokristallines Silizium als geschnittene Scheiben für Photovoltaik-Solarzellen
GB/T 29421-2012 Vanadat-Birebringent-Kristallgeräte
GB/T 9532-2012 Bezeichnungen für piezoelektrische Kristalle
GB/T 30866-2014 Testverfahren zur Messung des Durchmessers von monokristallinen Siliziumkarbid-Wafern
GB/T 5117-2012 Umhüllte Elektroden für das Lichtbogenhandschweißen von unlegierten Stählen und Feinkornstählen
GB/T 29054-2019(英文版) Gießen multikristalliner Siliziumsteine für Photovoltaik-Solarzellen
GB/T 18032-2000 Die Untersuchungsmethode für mikroskopische AB-Defekte in Galliumarsenid-Einkristallen
GB/T 32278-2015 Prüfverfahren für die Ebenheit eines Siliziumkarbid-Einzelwafers
GB/T 32652-2016 Quarzglas für Quarzkeramiktiegel zum Gießen von polykristallinem Silizium
GB/T 4061-2009 Polykristallines Silizium – Untersuchungsmethode – Bewertung von Sandwiches im Querschnitt durch chemische Korrosion

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Einkristallin und polykristallin

GB/T 5238-2019 Monokristallines Germanium und monokristalline Germaniumscheiben
GB/T 36706-2018 Polykristallines Indiumphosphid
GB/T 39137-2020 Bestimmung der Orientierung eines Einkristalls aus hochschmelzendem Metall
GB/T 11094-2020 Galliumarsenid-Einkristall und Schneidwafer, gezüchtet durch die horizontale Bridgman-Methode
GB/T 20228-2021 Galliumarsenid-Einkristall
GB/T 20229-2022 Galliumphosphid-Einkristall
GB/T 20230-2022 Indiumphosphid-Einkristall
GB/T 39865-2021 Verfahren zur Messung des Brechungsindex einachsiger optischer Kristalle
GB/T 12964-2018 Polierte Wafer aus monokristallinem Silizium
GB/T 26069-2022 Geglühte monokristalline Siliziumwafer
GB/T 37051-2018 Testmethode zur Bestimmung der Kristalldefektdichte in PV-Siliziumbarren und -Wafern
GB/T 29055-2019 Multikristalline Siliziumwafer für Photovoltaik-Solarzellen
GB/T 38907-2020 Wassersparende Unternehmen – Polysiliziumindustrie
GB/T 19346.3-2021 Methoden zur Messung amorpher und nanokristalliner Legierungen – Teil 3: Wechselstrommagnetische Eigenschaften eines amorphen Streifens auf Fe-Basis unter Verwendung einer Einzelblechprobe
GB/T 25076-2018 Monokristallines Silizium für Solarzellen
GB/T 36648-2018 Spezifikation für TFT-Flüssigkristallmonomere
GB/T 18910.201-2021 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 20-1: Sichtprüfung – Monochrome Flüssigkristallanzeigezellen
GB/T 41325-2022 Kristalle mit niedriger Dichte stammen aus grubenpolierten monokristallinen Siliziumwafern für integrierte Schaltkreise
GB/T 36647-2018 Spezifikation für Flüssigkristallmonomere
GB/T 12965-2018 Monokristallines Silizium als geschnittene Wafer und geläppte Wafer
GB/T 26071-2018 Monokristalline Siliziumwafer für Solarzellen
GB/T 29054-2019 Gießen multikristalliner Siliziumsteine für Photovoltaik-Solarzellen
GB/T 37418-2019 Lutetium-Oxyorthosilikat, Lutetium-Yttrium-Oxyorthosilikat-Szintillations-Einkristalle
GB/T 18910.202-2021 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 20-2: Sichtprüfung – Flüssigkristallanzeigemodule mit monochromer Matrix
GB/T 4059-2018 Prüfverfahren für den Phosphorgehalt in polykristallinem Silizium durch Zonenschmelzverfahren unter kontrollierter Atmosphäre
GB/T 4060-2018 Prüfverfahren für den Borgehalt in polykristallinem Silizium mittels Vakuumzonenschmelzverfahren
GB/T 18916.47-2020 Norm der Wasseraufnahme – Teil 47: Polysiliziumproduktion
GB/T 5252-2020 Prüfverfahren für die Versetzungsdichte von einkristallinem Germanium

Group Standards of the People's Republic of China, Einkristallin und polykristallin

T/CBCSA 36-2021 Polykristalline Platte aus Korund
T/ZZB 0497-2018 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten
T/ZZB 0061-2016 Ofen zur Herstellung polykristalliner Siliziumbarren
T/ZSA 72-2019 Monokristallines Siliziumkarbid
T/IAWBS 001-2021 Einkristall aus Siliziumkarbid
T/ZZB 1041-2019 Polykristalline Silizium-Solarzelle
T/ZZB 0916-2018 Gyromagnetischer polykristalliner Ferrit
T/ACRI 0025-2020 Mehrkomposit-Spinellstein
T/CAB 0180-2022 Messmethode für charakteristische Parameter von GAGG-Kristallen und -Kristallarrays
T/CNIA 0014-2019 Porzellanringe für die Polysiliziumproduktion
T/ZZB 1389-2019 Monokristalline Silizium-Photovoltaikzellen
T/CECA 83-2023 Lithiumtantalat- und Lithiumniobat-reduzierte Einkristallwafer – technische Anforderungen und Messmethoden für Helligkeit und Farbunterschied
T/CECA 72-2022 Gyromagnetische polykristalline Ferritmaterialien
T/NXCL 015-2022 Säulenförmiges Polysilizium für Siliziumteile
T/ZZB 2675-2022 Monokristallines Silizium als geläppte Wafer für TVS
T/ZZB 0044-2016 Kristallzüchtungsöfen der TDR-Serie
T/GDBCA 001-2021 Ultra-Nanokristalle und Kits
T/CNIA 0013-2019 Graphitprodukte für die Polysiliciumproduktion
T/ZZB 1927-2020 Automatische Monosilizium-Schneidemaschine
T/JSAS 015-2021 Monokristalline Silizium-Solarzellen
T/GZHG 006-2019 Großer einkristalliner Nickel-Kobalt-Lithium-Mangan-Oxid (NCM523)
T/ICMTIA SM0028-2022 Polysilizium in elektronischer Qualität für integrierte Schaltkreise
T/CISA 167-2021 Vorlegierung aus der Einkristall-Superlegierung DD419
T/HEBQIA 073-2022 Supraleitende Magnete für monokristallines Czochralski-Silizium
T/CISA 086-2021 DD405 Einkristall-Superlegierungs-Vorlegierung
T/SZBX 118-2023 Monokristalline Siliziumwafer für Solarzellen
T/CASME 465-2023 IPA-freier Texturierer für Monosilizium
T/IAWBS 017-2022 Testverfahren für die volle Breite bei halbem Maximum der Doppelkristall-Röntgenrocking-Kurve eines Diamant-Einkristallsubstrats
T/IAWBS 015-2021 Testverfahren für die volle Breite bei halbem Maximum der Doppelkristall-Röntgenschaukelkurve eines Ga2O3-Einkristallsubstrats
T/IAWBS 016-2022 Röntgen-Doppelkristall-Rocking-Kurve FWHM-Testmethode für Siliziumkarbid-Einzelwafer
T/IAWBS 005-2018 6 Zoll polierte monokristalline Siliziumkarbid-Wafer
T/CEC 290-2019 Technische Anforderungen für Rückkontakt-Einkristallwafer
T/CNIA 0115-2021 Aktivkohle zur Abgasreinigung in der Polysiliciumproduktion
T/CEMIA 004-2018 Quarztiegel für das Wachstum von einkristallinem Silizium in der Photovoltaikindustrie
T/IAWBS 005-2024 6 bis 8 Zoll große, polierte monokristalline Siliziumkarbid-Wafer
T/CEMIA 018-2019 Quarzglas-Keramiktiegel für photovoltaisches polykristallines Silizium
T/CESA 1082-2020 Bewertungsanforderungen für grüne Fabriken in der polykristallinen Siliziumherstellungsindustrie
T/CEMIA 023-2021 Quarztiegel für das Wachstum von Halbleiter-Monosilicium
T/CECA 69-2022 Einkristalline Dünnschichtsubstrate für SAW-Geräte
T/ZZB 0648-2018 200 mm starke, mit Phosphor dotierte, einkristalline, polierte Czochralski-Siliziumwafer
T/NXCL 017-2022 300 mm starke, mit Phosphor dotierte, einkristalline, polierte Czochralski-Siliziumwafer
T/NXCL 016-2022 200 mm stark antimondotierter, einkristalliner, polierter Czochralski-Siliziumwafer
T/SEESA 003-2021 Technische Spezifikation für die Multieffekt-Verdunstungskristallisation von Wasser mit hoher Salzwasserkonzentration
T/CNIA 0021-2019 Technische Spezifikation für die Bewertung von Green-Design-Produkten aus Polysilizium

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Einkristallin und polykristallin

KS D 2715-2006 Zugprobe aus ein- und polykristallinen Nano-/Mikro-Dünnschichtmaterialien
KS D 2715-2017 Zugprobe aus ein- und polykristallinen Nano-/Mikro-Dünnschichtmaterialien
KS D 2715-2006(2011) Zugprobe aus ein- und polykristallinen Nano-/Mikro-Dünnschichtmaterialien
KS C 7110-2007(2017) Flüssigkristallanzeigegeräte – Messmethoden der Hintergrundbeleuchtungseinheit für Flüssigkristallanzeigen
KS B 3620-2012 Polykristalline Diamantmatrizen zum Drahtziehen
KS C IEC 60122-4:2022 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren
KS C 7110-2007(2022) Flüssigkristallanzeigegeräte – Messmethoden der Hintergrundbeleuchtungseinheit für Flüssigkristallanzeigen
KS C IEC 61747-3-2002(2017) Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Teil 3: Abschnittsspezifikation von Flüssigkristallanzeigezellen (LCD).
KS C IEC 60119-2014(2019) Empfehlungen für polykristalline Halbleiter-Gleichrichterstapel und -ausrüstungen
KS C IEC 61747-3-2002(2022) Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Teil 3: Abschnittsspezifikation von Flüssigkristallanzeigezellen (LCD).
KS C IEC 61747-20-1-2015(2020) FLÜSSIGKRISTALLANZEIGEGERÄTE – Teil 20-3: Sichtprüfung – Monochrome LCD-Anzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallzellen)
KS C 0256-2002 Prüfverfahren für den spezifischen Widerstand von Siliziumkristallen und Siliziumwafern mit einer Vierpunktsonde
KS C IEC 61747-20-1:2015 FLÜSSIGKRISTALLANZEIGEGERÄTE – Teil 20-3: Sichtprüfung – Monochrome LCD-Anzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallzellen)
KS D 0070-2002 Methode zur Prüfung der magnetischen Eigenschaften amorpher Metalle unter Verwendung einzelner Blechproben
KS C 6503-1999(2009) Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
KS C IEC 61747-3-1-2002(2017) Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Teil 3-1: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Vordruck für Bauartspezifikation
KS D 3803-1994 Kornorientiertes magnetisches Stahlblech und -band
KS C IEC 61747-3-1-2002(2022) Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Teil 3-1: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Vordruck für Bauartspezifikation

Professional Standard - Electron, Einkristallin und polykristallin

SJ 3241-1989 Galliumarsenid-Einkristallstab und -Wafer
SJ 3243-1989 Indiumphosphid-Einkristallbarren und -Wafer
SJ/T 11500-2015 Testverfahren zur Messung der kristallographischen Orientierung von monokristallinem Siliziumkarbid
SJ/T 11501-2015 Prüfverfahren zur Bestimmung des Kristalltyps von monokristallinem Siliziumkarbid
SJ 3244.3-1989 Messmethoden für die Kristallorientierung von Einkristallen aus Galliumarsenid und Indiumphosphid
SJ/Z 2655-1986 Sammlung einkristalliner Germaninm-Defekte
SJ 20607-1996 Spezifikation für Molybdänatkristall
SJ 20444-1994 Spezifikation für Lithiumniobat-Einkristall
SJ/T 10173-1991 TDA75 einkristalline Silizium-Solarzelle
SJ 20606-1996 Spezifikation für Tellurdioxid-Einkristall
SJ/T 10333-1993 Messmethoden für Uni-Junction-Transistoren
SJ/T 11450-2013 Spezifikationen zum Energieverbrauch von Einkristallöfen
SJ/T 11854-2022 Czochralski-Ofen aus monokristallinem Silizium für die Photovoltaik
SJ 2268-1983 Serie gyromagnetischer Mehrkristallmaterialien aus magnetischen Oxiden
SJ/T 11502-2015 Spezifikation für polierte monokristalline Siliziumkarbid-Wafer
SJ/T 11505-2015 Spezifikation für polierte Saphir-Einkristallwafer
SJ/T 11853-2022 Überdruck-Schwebezonen-Schmelzofen für einkristallines Silizium
SJ 2572-1985 Monokristalline Siliziumstäbe und -platten für Solarzellen
SJ/T 11864-2022 Halbisolierendes Siliziumkarbid-Einkristallsubstrat
SJ 3245-1989 Methoden zur Messung der Versetzung von Indiumphosphid-Einkristallen
SJ 2592-1985 Monolithische Quarzkristallfilter für Typ LSP10.7MA(~E)
SJ 20641-1997 Spezifikation für Indiumantimonid-Einkristalle zur Verwendung in Infrarotdetektoren

CZ-CSN, Einkristallin und polykristallin

CSN 34 5911-1986 Polykristallines Silizium
CSN 42 4991-1970 Polykristallines Germanium
CSN 03 8169-1984 Edelstahl und Legierungen. Interkristalline Korrosionstests

UNKNOWN, Einkristallin und polykristallin

YB 1601-1983 Polykristallines Silizium
YB 1601-83 Polykristallines Silizium
YB 1602-1983 Silizium-Einkristall
YB 1602-83 Silizium-Einkristall
YB 1603-83 Silizium-Einkristall-Trennscheiben und Schleifscheiben

Professional Standard - Machinery, Einkristallin und polykristallin

JB/T 10439-2004 Kristallzüchtungsöfen Kristallzüchtungsöfen der TDR-Serie nach der Czochralski-Methode
JB/T 5633-1991 Einkristallofen. Abstufung des Energieverbrauchs
JB/T 7996-1999 Gemeinsames Schleifmittel Einzelnes Alundum
JB/T 7996-2012 Konventionelles Schleifmittel. Monokristallines Edelkorund
JB/T 12068-2014 TDR-Z Germanium-Einkristall-Züchtungsofen nach der Czochralski-Methode
JB/T 5203-1991 Monokristallines geschmolzenes Aluminiumoxid. Methode zur chemischen Analyse
JB/T 5203-2012 Chemische Analysemethoden für monokristallines geschmolzenes Aluminiumoxid
JB/T 7826.2-1996 Einphasiges Brückenmodul für Thyristoren der MTQ (MFQ)-Serie
JB/T 7826.3-1995 Einphasiges Thyristor-Brückenmodul der Serie MTS (MFS).
JB/T 7826.2-1995 Einphasiges Thyristor-Brückenmodul der Serie MTQ (MFQ).
JB/T 12542-2015 Superabrasive.Polykristalline Diamantpulver mit Detonation

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Einkristallin und polykristallin

DB13/T 1314-2010 Monokristalliner Siliziumquadratstab in Solarqualität, monokristalliner Siliziumwafer
DB13/T 1631-2012 Polysiliziumbarren in Solarqualität
DB13/T 1632-2012 Polysiliziumblock in Solarqualität
DB13/T 1633-2012 Polysiliziumwafer in Solarqualität
DB13/T 5092-2019 Allgemeine technische Anforderungen an quadratische Impfkristalle für monokristalline Siliziumbarren in Solarqualität
DB13/T 1828-2013 Monokristalliner Siliziumwafer in Solarqualität

Professional Standard - Light Industry, Einkristallin und polykristallin

QB/T 1174-2002 Mehrkristalliner Kandiszucker
QB/T 1174-1991 Mehrkristalliner Kandiszucker
QB/T 1173-2002 Einkristalliner Kandiszucker
QB/T 1173-1991 Einkristalliner Kandiszucker

轻工业部, Einkristallin und polykristallin

QB 1174-1991 polykristalliner Kandiszucker
QB 1173-1991 Einkristalliner Kandiszucker

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Einkristallin und polykristallin

GB/T 34210-2017 Testmethode zur Bestimmung der Orientierung von Saphir-Einkristallen
GB/T 25074-2017 Polykristallines Silizium in Solarqualität
GB/T 33763-2017 Testmethode für die Versetzungsdichte von Saphir-Einkristallen

SE-SIS, Einkristallin und polykristallin

SIS SEN 27 06-1962 Polykristalline Halbleiter-Gleichrichterstapel und -ausrüstungen
SIS SEN 43 60 01-1964 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
SIS SS-CECC 68000-1991 Allgemeine Spezifikation: Quarzkristalleinheiten
SIS SS-CECC 68100-1991 Rahmenspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitszulassung)
SIS SS-CECC 68200-1991 Rahmenspezifikation: Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)

工业和信息化部, Einkristallin und polykristallin

YS/T 724-2016 Siliziumpulver für polykristallines Silizium
YS/T 1359-2020 Polykristallines Lithiumtantalat-Pulver
YS/T 1195-2017 Siliziumtetrachlorid, ein Nebenprodukt von Polysilizium
JC/T 2417-2017 Piezoelektrisches Einkristallmaterial aus Lithiumtetraborat
YS/T 1182-2016 Sicherheitsspezifikationen für die Herstellung von Germanium-Einkristallen
YS/T 1500-2021 Polykristallines Silizium bereitet Silberplatten für die Ofenauskleidung vor
SJ/T 2268-2018 Gyromagnetische polykristalline Ferritmaterialserie
YS/T 1590-2022 Anforderungen an die Bewertung grüner Fabriken für die polykristalline Siliziumindustrie
YB/T 4589-2017 Kohlenstoff/Kohlenstoff-Verbundwerkstoffe für die Isolierung von Einkristallöfen
XB/T 520-2021 Mit Cer dotierter polykristalliner Gadolinium-Gallium-Aluminium-Granat-Szintillator
YB/T 4587-2017 Heizelement aus Kohlenstoff/Kohlenstoff-Verbundwerkstoff für Einkristallöfen

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Einkristallin und polykristallin

YS/T 554-2007 Lithiumniobat-Einkristalle
YS/T 42-2010 Lithiumtantalat-Einkristalle
YS/T 554-2006 Lithiumniobat-Einkristall
YS/T 1167-2016 Geätzte Wafer aus monokristallinem Silizium
YS/T 1061-2015 Siliziumkern für Polysilizium durch verbesserte Siemens-Methode
YS 783-2012 Die Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit eines Infrarot-Germanium-Einkristalls
YS/T 978-2014 Führungsschild aus Kohlenstoff/Kohlenstoff-Verbundwerkstoffen für einen Einkristallofen
YS/T 977-2014 Wärmeisolationszylinder aus Kohlenstoff/Kohlenstoff-Verbundwerkstoff eines Einkristallofens
YS/T 792-2012 Tiegel aus Kohlenstoff-Kohlenstoff-Verbundwerkstoffen, der in Einkristallöfen verwendet wird

Defense Logistics Agency, Einkristallin und polykristallin

DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, DUAL MONOSTABLE MULTIVIBRATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY MIT NIEDRIGER LEISTUNG, TTL, MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/314 C VALID NOTICE 1-2008 MIKROKREISE, DIGITAL, SCHOTTKY MIT NIEDRIGER LEISTUNG, TTL, MONOSTABILE MULTIVIBRATOREN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-PRF-3098/79 F-2009 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR104/U
DLA MIL-PRF-3098/85 D-2009 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR109/U
DLA MIL-PRF-3098/93 C-2009 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR117/U
DLA MIL-PRF-3098/102 D-2009 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR125/U
DLA MIL-PRF-3098/106 D-2009 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR127/U
DLA MIL-PRF-3098/114 D-2009 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR135/U
DLA MIL-PRF-3098/123 D-2009 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR142/U
DLA MIL-PRF-3098/129 D-2009 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR148/U
DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MONOSTABILER MULTIVIBRATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-87533 REV B-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, ERWEITERTER SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, UNIVERSALER MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-85096 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY TTL, MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-85097 REV F-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY, TTL, MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-86869 REV C-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY TTL, MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA QPL-3098-92-2008 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
DLA QPL-3098-93-2010 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
DLA QPL-3098-95-2010 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
DLA QPL-3098-97-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
DLA QPL-3098-98-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
DLA QPL-3098-99-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 MIKROSCHALTUNGEN, LINEARE, BI-FET-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, MINIATUR, OBERFLÄCHENMONTAGE
DLA SMD-5962-90798-1992 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, SCHNELL, CMOS, GENERATOR/PRÜFER MIT DOPPELTER UNGERADE PARITÄT, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, HOCHGESCHWINDIGKEITSREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-87778 REV A-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, LEISTUNGSTRANSISTOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 1-2008 Mikroschaltungen, linear, Transistor-Arrays, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-87778 REV B-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, LEISTUNGSTRANSISTOR, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 2-2013 Mikroschaltungen, linear, Transistor-Arrays, monolithisches Silizium

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Einkristallin und polykristallin

DB31/ 792-2014 Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit für monokristallines Silizium und Siliziumwafer
DB31/T 792-2014 Energieverbrauchsquote pro Produkteinheit Silizium-Einkristall und dessen Silizium-Wafer
DB31/ 792-2020 Energieverbrauchsquote pro Produkteinheit Silizium-Einkristall und dessen Silizium-Wafer

RU-GOST R, Einkristallin und polykristallin

GOST 19658-1981 Monokristallines Silizium in Barren. Spezifikationen
GOST 16153-1980 Monokristallines Germanium. Spezifikationen
GOST R IEC 61747-20-1-2017 Flüssigkristallanzeigegeräte. Teil 20-1. Visuelle Inspektion. Monochrome Flüssigkristallanzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallanzeigezellen)
GOST R IEC 61747-3-2017 Flüssigkristallanzeigegeräte. Teil 3. Flüssigkristallanzeigezellen (LCD). Abschnittsspezifikation
GOST 10243-1975 Stahl. Methoden zur Prüfung und Schätzung der Makrostruktur
GOST 5639-1982 Stahl und Legierungen. Methoden zur Erkennung und Bestimmung der Korngröße

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Einkristallin und polykristallin

DB53/T 499-2013 Trichlorsilan für Polysilicium

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Einkristallin und polykristallin

GJB 582-1988 Polykristallines Magnesiumfluorid für Linsen
GJB 3076A-2021 Galliumphosphid-Einzelchip-Spezifikation
GJB 3076-1997 Galliumphosphid-Einzelchip-Spezifikation
GJB 2917A-2018 Spezifikation für Indiumphosphid-Einzelwafer
GJB 2917A-2004 Spezifikation für Indiumphosphid-Einzelwafer
GJB 2917-1997 Spezifikation für Indiumphosphid-Einzelwafer
GJB 582A-2020 Spezifikation für polykristallines Magnesiumfluorid für Linsen
GJB 1926-1994 Materialspezifikation für Galliumarsenid-Einkristalle
GJB 10342-2021 Spezifikation für polierte Indiumantimonid-Einkristallwafer
GJB 10343-2021 Spezifikation für polierte Galliumantimonid-Einkristallwafer
GJB 393-1987 Haube aus polykristallinem Magnesiumfluorid für Luft-Luft-Raketen
GJB 1927A-2021 Methode zur Prüfung von Galliumarsenid-Einkristallmaterialien
GJB 1927-1994 Methode zur Prüfung von Galliumarsenid-Einkristallmaterialien
GJB 393B-2015 Spezifikation für polykristalline Magnesiumfluoridverkleidungen für Flugkörper
GJB 393A-1995 Spezifikation für polykristalline Magnesiumfluoridverkleidungen für Flugkörper
GJB 9804-2020 Spezifikation für Einkristallstäbe aus Molybdän-Niob-Legierung für nukleare Zwecke
GJB 8715-2015 Spezifikation für heißgepresste polykristalline Magnesiumfluorid-Flachbleche für Raketenanwendungen
GJB 1431-1992 Allgemeine Spezifikationen für monokristalline Silizium-Solarzellen für den Weltraumeinsatz
GJB 395-1987 Einkristallines Magnesiumfluorid für Luft-Luft-Raketen-Modulationsplatten
GJB 8714-2015 Spezifikation für polykristalline Zinksulfid-Verkleidungsmaterialien für Flugkörper

ES-UNE, Einkristallin und polykristallin

UNE-EN 168100:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten. (Von AENOR im November 1996 gebilligt.)
UNE-EN 120007:1992 BDS: FLÜSSIGKRISTALLANZEIGEN. MONOCHROME LCDS OHNE ELEKTRONISCHE SCHALTUNGEN. (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
UNE-EN 168200/A1:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten (Qualifikationszulassung). (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
UNE-EN 168200:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten (Qualifikationszulassung). (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
UNE-EN 62276:2016 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Januar 2017.)
UNE-EN 61747-3:2006 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Abschnittsspezifikation (IEC 61747-3:2006). (Von AENOR im Januar 2007 gebilligt.)
UNE-EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007). (Von AENOR im August 2007 gebilligt.)
UNE-EN 61747-4:2012 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 4: Flüssigkristallanzeigemodule und -zellen – Wesentliche Nennwerte und Merkmale (Von AENOR im Februar 2013 gebilligt.)

German Institute for Standardization, Einkristallin und polykristallin

DIN V VDE V 0126-18-3:2007 Solarwafer – Teil 3: Alkalische Korrosionsschäden an kristallinen Siliziumwafern – Methode zur Bestimmung der Korrosionsrate von mono- und multikristallinen Siliziumwafern (im Schnitt)
DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren (IEC 60122-4:2019); Deutsche Fassung EN IEC 60122-4:2019
DIN EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 2: Verfahren; Deutsche Fassung EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze; Deutsche Fassung EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente; Deutsche Fassung EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien - Teil 3: Instrumente; Deutsche Fassung EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-2:2003-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material - Teil 2: Verfahren; Deutsche Fassung EN 13925-2:2003
DIN EN 60444-9:2007-12 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007); Deutsche Fassung EN 60444-9:2007
DIN EN 62276:2017-08 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messverfahren (IEC 62276:2016); Deutsche Fassung EN 62276:2016 / Hinweis: DIN EN 62276 (2013-08) bleibt neben dieser Norm bis zum 28.11.2019 gültig.
DIN EN IEC 62276:2023-05 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messverfahren (IEC 49/1401/CD:2022); Text in Deutsch und Englisch / Hinweis: Ausgabedatum 28.04.2023*Gedacht als Ersatz für DIN EN 62276 (2017-08).
DIN EN 13925-1:2003-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material - Teil 1: Allgemeine Grundsätze; Deutsche Fassung EN 13925-1:2003
DIN EN 120007:1993-06 Vordruck für Bauartspezifikation: Flüssigkristallanzeigen; monochrome LCDs ohne elektronische Schaltung; Deutsche Fassung EN 120007:1992
DIN EN 60444-8:2017-11 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-8:2016); Deutsche Fassung EN 60444-8:2017 / Hinweis: DIN EN 60444-8 (2004-03) bleibt neben dieser Norm bis zum 19.01.2020 gültig.
DIN ISO 16463:2005 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Maße, Typen (ISO 16463:2004); Englische Fassung von DIN ISO 16463:2005
DIN EN 60444-7:2004-11 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten - Teil 7: Messung von Aktivitäts- und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-7:2004); Deutsche Fassung EN 60444-7:2004
DIN EN 1330-11:2007-09 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Teil 11: Begriffe, die bei der Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden; Dreisprachige Fassung EN 1330-11:2007
DIN EN 61747-4:2013-07 Flüssigkristallanzeigegeräte - Teil 4: Flüssigkristallanzeigemodule und -zellen - Wesentliche Nennwerte und Merkmale (IEC 61747-4:2012); Deutsche Fassung EN 61747-4:2012 / Hinweis: DIN EN 61747-4 (1999-07) bleibt neben dieser Norm bis zum 20.

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Einkristallin und polykristallin

DB36/ 652-2012 Die Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit Polysilizium
DB36/ 771-2013 Energieverbrauchsquote pro Produkteinheit monokristallines Czochralski-Silizium

British Standards Institution (BSI), Einkristallin und polykristallin

23/30468947 DC BS EN 62276. Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden
BS EN 13925-2:2003(2008) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Verfahren
BS EN 13925-3:2005(2009) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Instrumente
BS EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Verfahren
BS EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Instrumente
BS EN 13925-1:2003(2008) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Allgemeine Grundsätze
BS EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Allgemeine Grundsätze
13/30276532 DC BS EN 61747-20-1. Flüssigkristallanzeigegeräte. Teil 20-1. Visuelle Inspektion. Monochrome Flüssigkristall-Anzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristall-Anzeigezellen)
BS EN 61747-2-1:1998 Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte. Passivmatrix-Monochrom-LCD-Module. Leere Detailspezifikation
BS EN 61747-2-1:2013 Flüssigkristallanzeigegeräte. Passivmatrix-Monochrom-LCD-Module. Leere Detailspezifikation
14/30277702 DC BS EN 61747-3. Flüssigkristallanzeigegeräte. Teil 3. Flüssigkristallanzeigezellen (LCD). Abschnittsspezifikation
BS EN 61747-2-1:2001 Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Passivmatrix-Monochrom-LCD-Module – Vordruck für Bauartspezifikation

CH-SNV, Einkristallin und polykristallin

VSM 10336.10-1939 Polykristalliner Halbleiter. Regeln für Gleichrichtersäulen und -geräte

HU-MSZT, Einkristallin und polykristallin

MSZ 12435/3-1977 Polykristallines Silizium. Wichtigste technische Merkmale

U.S. Military Regulations and Norms, Einkristallin und polykristallin

ARMY MIL-PRF-3098/104 F-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR102/U
ARMY MIL-PRF-3098/105 H-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR103/U
ARMY MIL-PRF-3098/80 G-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR105/U
ARMY MIL-PRF-3098/88 H-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR112/U
ARMY MIL-PRF-3098/86 F-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR110/U
ARMY MIL-PRF-3098/82 E-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR106/U
ARMY MIL-PRF-3098/83 G-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR107/U
ARMY MIL-PRF-3098/89 E-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR113/U
ARMY MIL-PRF-3098/92 F-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR116/U
ARMY MIL-PRF-3098/100 E-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR123/U
ARMY MIL-PRF-3098/99 E-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR122/U
ARMY MIL-PRF-3098/108 E-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR128/U
ARMY MIL-PRF-3098/101 D-2013 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR124/U
ARMY MIL-PRF-3098/113 E-2011 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR134/U
ARMY MIL-PRF-3098/115 E-2011 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR136/U
ARMY MIL-PRF-3098/116 E-2011 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR137/U
ARMY MIL-PRF-3098/120 E-2011 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR131/U
ARMY MIL-PRF-3098/132 E-2011 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR151/U
ARMY MIL-PRF-3098/137 D-2011 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR157/U
ARMY MIL-PRF-3098 K-2010 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY MIL-PRF-3098 K (1)-2011 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY MIL-PRF-3098 K (1) SUPP 1-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
ARMY QPL-55681-QPD-2010 Kondensator, Chip, mehrschichtig, fest, keramisches Dielektrikum

IN-BIS, Einkristallin und polykristallin

IS 9709-1980 Spezifikationen für synthetischen Quarz-Einkristall
IS 4570 Pt.11-1989 Spezifikation für Quarzhalter Teil 11 Metallische, geschweißte, zweipolige Quarzhalter Typ DQ
IS 4570 Pt.8-1985 Spezifikation für Quarzeinheitshalterungen Teil 8 Metallische, geschweißte, dreiadrige Quarzeinheitshalterung Typ DK
IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 Kristall-Einheitshalter – Spezifikation Teil 13 – Übersicht über Quarzkristall-Einheitshalter mit automatischer Handhabung, Abschnitt 5: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristall-Einheitshalter Typ CU 05
IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 Kristalleinheitshalter – Spezifikation Teil 13 Übersicht über Quarzkristalleinheitshalter mit automatischer Handhabung Abschnitt 4: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CU 04
IS 2511-1963 Spezifikationen für polykristalline Halbleiter-Gleichrichterstapel
IS 3136-1965 Gerätespezifikation für polykristalline Halbleitergleichrichter
IS 4570 Pt.6-1984 Kristalleinheitshalter-Spezifikation Teil 6 Metall, mit Lötmittel versiegelt, Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CX
IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 Kristalleinheitshalter – Spezifikation Teil 13 Übersicht über automatisch verarbeitete Quarzkristalleinheitshalter Abschnitt 3: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CU 03
IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 Kristalleinheitshalter – Spezifikation Teil 13 Übersicht über automatisch verarbeitete Quarzkristalleinheitshalter Abschnitt 2: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CU 02
IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 Kristalleinheitshalter – Spezifikation Teil 13 Übersicht über automatisch verarbeitete Quarzkristalleinheitshalter Abschnitt 1: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CU 01
IS 4570 Pt.7-1985 Quarzeinheit-Unterstützungsspezifikation Teil 7 Mikro-, Metall-, lötversiegelter Zweidraht-Kristalleinheit-Unterstützungstyp DJ
IS 4570 Pt.12-1989 Spezifikation für Quarzeinheitshalterungen Teil 12 Mikro-Kristalleinheitshalterungen aus Metall, kaltgeschweißt, Zweidraht, Typ EB
IS 4570 Pt.3-1984 Spezifikationen für Kristallhalter Teil 3 Rohrförmige Kristallhalter (Glas) Typ AP, AR, AS, AT und AU
IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in Oszillatoren der Serie II AA Abschnitt 3: Quarzkristalleinheit Typ AA-03
IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in Oszillatoren der Serie II AA Abschnitt 5: Quarzkristalleinheit Typ AA-05
IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren der Serie II AA verwendet werden, Abschnitt 2: Quarzkristalleinheit Typ AA-02
IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren der Serie II AA verwendet werden, Abschnitt 1: Quarzkristalleinheit Typ AA-01
IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren verwendet werden, Teil II AA-Serie, Abschnitt 4: Quarzkristalleinheit Typ AA-04
IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren verwendet werden, Teil II, Serie AA, Abschnitt 6: Quarzkristalleinheit Typ AA-06
IS 4570 Pt.5-1984 Spezifikation für Kristalleinheitenhalter, Teil 5 ftfiETAL, mit Lötmittel versiegelt, Zweidraht-Kristalleinheitshaltertypen BF, EF/1 und BG, BG 1

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, Einkristallin und polykristallin

DB51/T 2499-2018 Benennung und Qualifizierungsbeurteilung von Einkristall-Edelsteinen mit Füllbehandlung

Professional Standard - Medicine, Einkristallin und polykristallin

YY 0290.9-2010 Augenimplantate.Intraokularlinsen.Teil 9:Multifokale Intraokularlinsen

Professional Standard - Aviation, Einkristallin und polykristallin

HB 5255-1983 Bestimmung der interkristallinen Korrosion und der Tendenz zur interkristallinen Korrosion von Aluminiumlegierungen
HB 6742-1993 Bestimmung der Kristallorientierung von Einzelkristallblättern durch Röntgen-Backblow-Laue-Fotografie
HB 7762-2005 Spezifikation für Vorlegierungen gerichtet erstarrter und einkristalliner Superlegierungen für Flugzeugtriebwerke

American National Standards Institute （ANSI), Einkristallin und polykristallin

ANSI/ASTM D6058:2001 Praxis zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung
ANSI/ASTM D6057:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Phasenkontrastmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Einkristallin und polykristallin

NF C93-616:2013 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
NF C26-400:1971 POLYKRISTALLINE ALUMINIUMOXIDKERAMIK. TESTMETHODEN.
NF ISO 16463:2014 Polykristalline diamantgelötete Einsätze – Abmessungen, Typen
NF EN 61747-3:2007 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Zwischenspezifikation
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
NF EN 1330-11:2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Teil 11: Röntgenbeugung polykristalliner und amorpher Materialien
NF C93-616*NF EN 62276:2018 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze.
NF EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
NF E66-314:2004 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Abmessungen, Typen.
NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Abmessungen, Typen
NF EN 61747-3-1:2006 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3-1: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Besonderer Spezifikationsrahmen
NF EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Ausrüstung
NF EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
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Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Einkristallin und polykristallin

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IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Einkristallin und polykristallin

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ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Einkristallin und polykristallin

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Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Einkristallin und polykristallin

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