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Polykristallin und Einkristall

Für die Polykristallin und Einkristall gibt es insgesamt 500 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Polykristallin und Einkristall die folgenden Kategorien: Halbleitermaterial, Nichteisenmetalle, Baumaterial, Optische Ausrüstung, Industrieofen, Papier und Pappe, Isolierflüssigkeit, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Wortschatz, Einrichtungen im Gebäude, Prüfung von Metallmaterialien, Diskrete Halbleitergeräte, Nichteisenmetallprodukte, Energie- und Wärmeübertragungstechnik umfassend, Optik und optische Messungen, Optoelektronik, Lasergeräte, magnetische Materialien, Feuerfeste Materialien, Batterien und Akkus, Anorganische Chemie, Keramik, Solartechnik, Teile und Zubehör für Telekommunikationsgeräte, Komponenten elektrischer Geräte, Zerstörungsfreie Prüfung, Schneidewerkzeuge, Elektronische Anzeigegeräte, medizinische Ausrüstung, Luftqualität, Isoliermaterialien, Spanlose Bearbeitungsgeräte, Verbundverstärkte Materialien, Organisation und Führung von Unternehmen (Enterprises), Chemikalien, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Werkzeugmaschine, Pulvermetallurgie, Arbeitssicherheit, Arbeitshygiene, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Terminologie (Grundsätze und Koordination), Stahlprodukte, Glasfaserkommunikation, analytische Chemie, Rotierender Motor, erziehen, Kernenergietechnik, Wasserqualität, Land-und Forstwirtschaft, Filter, Gleichrichter, Wandler, geregelte Netzteile, Glas, Partikelgrößenanalyse, Screening, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Umweltschutz, Elektrische Lichter und zugehörige Geräte, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Allgemeines, Terminologie, Standardisierung, Dokumentation.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Polykristallin und Einkristall

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Polykristallin und Einkristall

  • GB/T 5238-2019 Monokristallines Germanium und monokristalline Germaniumscheiben
  • GB/T 36706-2018 Polykristallines Indiumphosphid
  • GB/T 39137-2020 Bestimmung der Orientierung eines Einkristalls aus hochschmelzendem Metall
  • GB/T 20228-2021 Galliumarsenid-Einkristall
  • GB/T 20229-2022 Galliumphosphid-Einkristall
  • GB/T 20230-2022 Indiumphosphid-Einkristall
  • GB/T 39865-2021 Verfahren zur Messung des Brechungsindex einachsiger optischer Kristalle
  • GB/T 12964-2018 Polierte Wafer aus monokristallinem Silizium
  • GB/T 26069-2022 Geglühte monokristalline Siliziumwafer
  • GB/T 37051-2018 Testmethode zur Bestimmung der Kristalldefektdichte in PV-Siliziumbarren und -Wafern
  • GB/T 29055-2019 Multikristalline Siliziumwafer für Photovoltaik-Solarzellen
  • GB/T 38907-2020 Wassersparende Unternehmen – Polysiliziumindustrie
  • GB/T 19346.3-2021 Methoden zur Messung amorpher und nanokristalliner Legierungen – Teil 3: Wechselstrommagnetische Eigenschaften eines amorphen Streifens auf Fe-Basis unter Verwendung einer Einzelblechprobe
  • GB/T 25076-2018 Monokristallines Silizium für Solarzellen
  • GB/T 36648-2018 Spezifikation für TFT-Flüssigkristallmonomere
  • GB/T 18910.201-2021 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 20-1: Sichtprüfung – Monochrome Flüssigkristallanzeigezellen
  • GB/T 41325-2022 Kristalle mit niedriger Dichte stammen aus grubenpolierten monokristallinen Siliziumwafern für integrierte Schaltkreise
  • GB/T 36647-2018 Spezifikation für Flüssigkristallmonomere
  • GB/T 12965-2018 Monokristallines Silizium als geschnittene Wafer und geläppte Wafer
  • GB/T 26071-2018 Monokristalline Siliziumwafer für Solarzellen
  • GB/T 29054-2019 Gießen multikristalliner Siliziumsteine für Photovoltaik-Solarzellen
  • GB/T 37418-2019 Lutetium-Oxyorthosilikat, Lutetium-Yttrium-Oxyorthosilikat-Szintillations-Einkristalle
  • GB/T 18910.202-2021 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 20-2: Sichtprüfung – Flüssigkristallanzeigemodule mit monochromer Matrix
  • GB/T 4059-2018 Prüfverfahren für den Phosphorgehalt in polykristallinem Silizium durch Zonenschmelzverfahren unter kontrollierter Atmosphäre
  • GB/T 4060-2018 Prüfverfahren für den Borgehalt in polykristallinem Silizium mittels Vakuumzonenschmelzverfahren
  • GB/T 18916.47-2020 Norm der Wasseraufnahme – Teil 47: Polysiliziumproduktion
  • GB/T 11094-2020 Galliumarsenid-Einkristall und Schneidwafer, gezüchtet durch die horizontale Bridgman-Methode
  • GB/T 5252-2020 Prüfverfahren für die Versetzungsdichte von einkristallinem Germanium

Group Standards of the People's Republic of China, Polykristallin und Einkristall

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Polykristallin und Einkristall

  • KS D 2715-2006 Zugprobe aus ein- und polykristallinen Nano-/Mikro-Dünnschichtmaterialien
  • KS D 2715-2017 Zugprobe aus ein- und polykristallinen Nano-/Mikro-Dünnschichtmaterialien
  • KS D 2715-2006(2011) Zugprobe aus ein- und polykristallinen Nano-/Mikro-Dünnschichtmaterialien
  • KS C 7110-2007(2017) Flüssigkristallanzeigegeräte – Messmethoden der Hintergrundbeleuchtungseinheit für Flüssigkristallanzeigen
  • KS B 3620-2012 Polykristalline Diamantmatrizen zum Drahtziehen
  • KS C IEC 60122-4:2022 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren
  • KS C 7110-2007(2022) Flüssigkristallanzeigegeräte – Messmethoden der Hintergrundbeleuchtungseinheit für Flüssigkristallanzeigen
  • KS C 7110-2022 Flüssigkristallanzeigegeräte – Messmethoden der Hintergrundbeleuchtungseinheit für Flüssigkristallanzeigen
  • KS P ISO 11979-9-2023 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
  • KS C IEC 61747-3-2002(2017) Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Teil 3: Abschnittsspezifikation von Flüssigkristallanzeigezellen (LCD).
  • KS C IEC 60119-2014(2019) Empfehlungen für polykristalline Halbleiter-Gleichrichterstapel und -ausrüstungen
  • KS C IEC 60444-9-2021 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung der Störresonanz von piezoelektrischen Kristalleinheiten
  • KS C IEC 61747-3-2002(2022) Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Teil 3: Abschnittsspezifikation von Flüssigkristallanzeigezellen (LCD).
  • KS C IEC 61747-20-1-2015(2020) FLÜSSIGKRISTALLANZEIGEGERÄTE – Teil 20-3: Sichtprüfung – Monochrome LCD-Anzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallzellen)
  • KS C IEC 61747-3-2022 Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Teil 3: Abschnittsspezifikation von Flüssigkristallanzeigezellen (LCD).
  • KS C IEC 61747-20-1:2015 FLÜSSIGKRISTALLANZEIGEGERÄTE – Teil 20-3: Sichtprüfung – Monochrome LCD-Anzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallzellen)
  • KS D 0070-2002 Methode zur Prüfung der magnetischen Eigenschaften amorpher Metalle unter Verwendung einzelner Blechproben
  • KS C 6503-1999(2009) Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
  • KS C IEC 61747-3-1-2002(2017) Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Teil 3-1: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Vordruck für Bauartspezifikation
  • KS C IEC 61747-20-1-2020 FLÜSSIGKRISTALLANZEIGEGERÄTE – Teil 20-3: Sichtprüfung – Monochrome LCD-Anzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallzellen)
  • KS C IEC 60119-2019 Empfehlungen für polykristalline Halbleiter-Gleichrichterstapel und -ausrüstungen
  • KS C IEC 60444-7-2021 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten

CZ-CSN, Polykristallin und Einkristall

UNKNOWN, Polykristallin und Einkristall

Professional Standard - Machinery, Polykristallin und Einkristall

  • JB/T 10439-2004 Kristallzüchtungsöfen Kristallzüchtungsöfen der TDR-Serie nach der Czochralski-Methode
  • JB/T 5633-1991 Einkristallofen. Abstufung des Energieverbrauchs
  • JB/T 7996-1999 Gemeinsames Schleifmittel Einzelnes Alundum
  • JB/T 7996-2012 Konventionelles Schleifmittel. Monokristallines Edelkorund
  • JB/T 12068-2014 TDR-Z Germanium-Einkristall-Züchtungsofen nach der Czochralski-Methode
  • JB/T 5203-1991 Monokristallines geschmolzenes Aluminiumoxid. Methode zur chemischen Analyse
  • JB/T 5203-2012 Chemische Analysemethoden für monokristallines geschmolzenes Aluminiumoxid
  • JB/T 5203-2023 Chemische Analysemethoden für monokristallines geschmolzenes Aluminiumoxid
  • JB/T 7826.2-1996 Einphasiges Brückenmodul für Thyristoren der MTQ (MFQ)-Serie
  • JB/T 7826.3-1995 Einphasiges Thyristor-Brückenmodul der Serie MTS (MFS).
  • JB/T 7826.2-1995 Einphasiges Thyristor-Brückenmodul der Serie MTQ (MFQ).
  • JB/T 12542-2015 Superabrasive.Polykristalline Diamantpulver mit Detonation

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Polykristallin und Einkristall

Professional Standard - Light Industry, Polykristallin und Einkristall

轻工业部, Polykristallin und Einkristall

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Polykristallin und Einkristall

未注明发布机构, Polykristallin und Einkristall

  • SEMI M55-0308-2008 SPEZIFIKATION FÜR POLIERTE EINKRISTALLINE SILIZIUMCARBID-WAFER
  • ASTM RR-E04-1008 2013 E2627-Praxis zur Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße mittels Elektronenrückstreubeugung (EBSD) in vollständig rekristallisierten polykristallinen Materialien
  • DIN ISO 16463 E:2014-11 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Abmessungen, Typen
  • SEMI M81-0611-2011 LEITFADEN ZU FEHLER AUF EINKRISTALLINISCHEN SILIZIUMCARBID-SUBSTRATEN

Professional Standard - Electron, Polykristallin und Einkristall

  • SJ/T 11500-2015 Testverfahren zur Messung der kristallographischen Orientierung von monokristallinem Siliziumkarbid
  • SJ/T 11501-2015 Prüfverfahren zur Bestimmung des Kristalltyps von monokristallinem Siliziumkarbid
  • SJ 3244.3-1989 Messmethoden für die Kristallorientierung von Einkristallen aus Galliumarsenid und Indiumphosphid
  • SJ/Z 2655-1986 Sammlung einkristalliner Germaninm-Defekte
  • SJ 20607-1996 Spezifikation für Molybdänatkristall
  • SJ 20444-1994 Spezifikation für Lithiumniobat-Einkristall
  • SJ 3241-1989 Galliumarsenid-Einkristallstab und -Wafer
  • SJ 3243-1989 Indiumphosphid-Einkristallbarren und -Wafer
  • SJ/T 10173-1991 TDA75 einkristalline Silizium-Solarzelle
  • SJ 20606-1996 Spezifikation für Tellurdioxid-Einkristall
  • SJ/T 10333-1993 Messmethoden für Uni-Junction-Transistoren
  • SJ/T 11450-2013 Spezifikationen zum Energieverbrauch von Einkristallöfen
  • SJ/T 11854-2022 Czochralski-Ofen aus monokristallinem Silizium für die Photovoltaik
  • SJ/T 11450-2023 Spezifikation für den Energieverbrauch von Silizium-Einkristall-Züchter
  • SJ 2268-1983 Serie gyromagnetischer Mehrkristallmaterialien aus magnetischen Oxiden
  • SJ/T 11502-2015 Spezifikation für polierte monokristalline Siliziumkarbid-Wafer
  • SJ/T 11505-2015 Spezifikation für polierte Saphir-Einkristallwafer
  • SJ/T 11853-2022 Überdruck-Schwebezonen-Schmelzofen für einkristallines Silizium
  • SJ 2572-1985 Monokristalline Siliziumstäbe und -platten für Solarzellen
  • SJ/T 11864-2022 Halbisolierendes Siliziumkarbid-Einkristallsubstrat
  • SJ 3245-1989 Methoden zur Messung der Versetzung von Indiumphosphid-Einkristallen
  • SJ 2592-1985 Monolithische Quarzkristallfilter für Typ LSP10.7MA(~E)
  • SJ 20641-1997 Spezifikation für Indiumantimonid-Einkristalle zur Verwendung in Infrarotdetektoren

Defense Logistics Agency, Polykristallin und Einkristall

工业和信息化部, Polykristallin und Einkristall

  • YS/T 724-2016 Siliziumpulver für polykristallines Silizium
  • YS/T 1359-2020 Polykristallines Lithiumtantalat-Pulver
  • YS/T 1195-2017 Siliziumtetrachlorid, ein Nebenprodukt von Polysilizium
  • JC/T 2417-2017 Piezoelektrisches Einkristallmaterial aus Lithiumtetraborat
  • YS/T 1182-2016 Sicherheitsspezifikationen für die Herstellung von Germanium-Einkristallen
  • YS/T 1500-2021 Polykristallines Silizium bereitet Silberplatten für die Ofenauskleidung vor
  • SJ/T 2268-2018 Gyromagnetische polykristalline Ferritmaterialserie
  • YS/T 1590-2022 Anforderungen an die Bewertung grüner Fabriken für die polykristalline Siliziumindustrie
  • YB/T 4589-2017 Kohlenstoff/Kohlenstoff-Verbundwerkstoffe für die Isolierung von Einkristallöfen
  • XB/T 520-2021 Mit Cer dotierter polykristalliner Gadolinium-Gallium-Aluminium-Granat-Szintillator
  • YB/T 4587-2017 Heizelement aus Kohlenstoff/Kohlenstoff-Verbundwerkstoff für Einkristallöfen

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Polykristallin und Einkristall

  • YS/T 554-2007 Lithiumniobat-Einkristalle
  • YS/T 42-2010 Lithiumtantalat-Einkristalle
  • YS/T 554-2006 Lithiumniobat-Einkristall
  • YS/T 1167-2016 Geätzte Wafer aus monokristallinem Silizium
  • YS/T 1061-2015 Siliziumkern für Polysilizium durch verbesserte Siemens-Methode
  • YS 783-2012 Die Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit eines Infrarot-Germanium-Einkristalls
  • YS/T 978-2014 Führungsschild aus Kohlenstoff/Kohlenstoff-Verbundwerkstoffen für einen Einkristallofen
  • YS/T 977-2014 Wärmeisolationszylinder aus Kohlenstoff/Kohlenstoff-Verbundwerkstoff eines Einkristallofens
  • YS/T 792-2012 Tiegel aus Kohlenstoff-Kohlenstoff-Verbundwerkstoffen, der in Einkristallöfen verwendet wird

RU-GOST R, Polykristallin und Einkristall

  • GOST 19658-1981 Monokristallines Silizium in Barren. Spezifikationen
  • GOST 16153-1980 Monokristallines Germanium. Spezifikationen
  • GOST R IEC 61747-20-1-2017 Flüssigkristallanzeigegeräte. Teil 20-1. Visuelle Inspektion. Monochrome Flüssigkristallanzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallanzeigezellen)
  • GOST R IEC 61747-3-2017 Flüssigkristallanzeigegeräte. Teil 3. Flüssigkristallanzeigezellen (LCD). Abschnittsspezifikation

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Polykristallin und Einkristall

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Polykristallin und Einkristall

  • GJB 582-1988 Polykristallines Magnesiumfluorid für Linsen
  • GJB 3076A-2021 Galliumphosphid-Einzelchip-Spezifikation
  • GJB 3076-1997 Galliumphosphid-Einzelchip-Spezifikation
  • GJB 2917A-2018 Spezifikation für Indiumphosphid-Einzelwafer
  • GJB 2917A-2004 Spezifikation für Indiumphosphid-Einzelwafer
  • GJB 2917-1997 Spezifikation für Indiumphosphid-Einzelwafer
  • GJB 582A-2020 Spezifikation für polykristallines Magnesiumfluorid für Linsen
  • GJB 1926-1994 Materialspezifikation für Galliumarsenid-Einkristalle
  • GJB 10342-2021 Spezifikation für polierte Indiumantimonid-Einkristallwafer
  • GJB 10343-2021 Spezifikation für polierte Galliumantimonid-Einkristallwafer
  • GJB 393-1987 Haube aus polykristallinem Magnesiumfluorid für Luft-Luft-Raketen
  • GJB 1927A-2021 Methode zur Prüfung von Galliumarsenid-Einkristallmaterialien
  • GJB 1927-1994 Methode zur Prüfung von Galliumarsenid-Einkristallmaterialien
  • GJB 393B-2015 Spezifikation für polykristalline Magnesiumfluoridverkleidungen für Flugkörper
  • GJB 393A-1995 Spezifikation für polykristalline Magnesiumfluoridverkleidungen für Flugkörper
  • GJB 9804-2020 Spezifikation für Einkristallstäbe aus Molybdän-Niob-Legierung für nukleare Zwecke
  • GJB 8715-2015 Spezifikation für heißgepresste polykristalline Magnesiumfluorid-Flachbleche für Raketenanwendungen
  • GJB 1431-1992 Allgemeine Spezifikationen für monokristalline Silizium-Solarzellen für den Weltraumeinsatz
  • GJB 395-1987 Einkristallines Magnesiumfluorid für Luft-Luft-Raketen-Modulationsplatten

German Institute for Standardization, Polykristallin und Einkristall

  • DIN V VDE V 0126-18-3:2007 Solarwafer – Teil 3: Alkalische Korrosionsschäden an kristallinen Siliziumwafern – Methode zur Bestimmung der Korrosionsrate von mono- und multikristallinen Siliziumwafern (im Schnitt)
  • DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren (IEC 60122-4:2019); Deutsche Fassung EN IEC 60122-4:2019
  • DIN EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 2: Verfahren; Deutsche Fassung EN 13925-2:2003
  • DIN EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze; Deutsche Fassung EN 13925-1:2003
  • DIN EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente; Deutsche Fassung EN 13925-3:2005
  • DIN EN 13925-3:2005-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien - Teil 3: Instrumente; Deutsche Fassung EN 13925-3:2005
  • DIN EN 13925-2:2003-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material - Teil 2: Verfahren; Deutsche Fassung EN 13925-2:2003
  • DIN EN 60444-9:2007-12 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007); Deutsche Fassung EN 60444-9:2007
  • DIN EN 62276:2017-08 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messverfahren (IEC 62276:2016); Deutsche Fassung EN 62276:2016 / Hinweis: DIN EN 62276 (2013-08) bleibt neben dieser Norm bis zum 28.11.2019 gültig.
  • DIN EN IEC 62276:2023-05 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messverfahren (IEC 49/1401/CD:2022); Text in Deutsch und Englisch / Hinweis: Ausgabedatum 28.04.2023*Gedacht als Ersatz für DIN EN 62276 (2017-08).
  • DIN EN 13925-1:2003-07 Zerstörungsfreie Prüfung - Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material - Teil 1: Allgemeine Grundsätze; Deutsche Fassung EN 13925-1:2003
  • DIN EN 120007:1993-06 Vordruck für Bauartspezifikation: Flüssigkristallanzeigen; monochrome LCDs ohne elektronische Schaltung; Deutsche Fassung EN 120007:1992
  • DIN EN 60444-8:2017-11 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-8:2016); Deutsche Fassung EN 60444-8:2017 / Hinweis: DIN EN 60444-8 (2004-03) bleibt neben dieser Norm bis zum 19.01.2020 gültig.
  • DIN IEC 60122-2:1993-09 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristallgeräten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Identisch mit IEC 60122-2:1983
  • DIN ISO 16463:2005 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Maße, Typen (ISO 16463:2004); Englische Fassung von DIN ISO 16463:2005
  • DIN EN 60444-7:2004-11 Messung von Parametern von Quarzkristalleinheiten - Teil 7: Messung von Aktivitäts- und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristalleinheiten (IEC 60444-7:2004); Deutsche Fassung EN 60444-7:2004
  • DIN EN 1330-11:2007-09 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Teil 11: Begriffe, die bei der Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden; Dreisprachige Fassung EN 1330-11:2007

ES-UNE, Polykristallin und Einkristall

  • UNE-EN 168100:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten. (Von AENOR im November 1996 gebilligt.)
  • UNE-EN 120007:1992 BDS: FLÜSSIGKRISTALLANZEIGEN. MONOCHROME LCDS OHNE ELEKTRONISCHE SCHALTUNGEN. (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
  • UNE-EN 168200/A1:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten (Qualifikationszulassung). (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
  • UNE-EN 168200:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten (Qualifikationszulassung). (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
  • UNE-EN 62276:2016 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Januar 2017.)
  • UNE-EN 61747-3:2006 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Abschnittsspezifikation (IEC 61747-3:2006). (Von AENOR im Januar 2007 gebilligt.)
  • UNE-EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007). (Von AENOR im August 2007 gebilligt.)

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Polykristallin und Einkristall

  • DB36/ 652-2012 Die Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit Polysilizium
  • DB36/ 771-2013 Energieverbrauchsquote pro Produkteinheit monokristallines Czochralski-Silizium

HU-MSZT, Polykristallin und Einkristall

British Standards Institution (BSI), Polykristallin und Einkristall

  • BS EN 13925-2:2003(2008) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Verfahren
  • BS EN 13925-3:2005(2009) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Instrumente
  • BS EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Verfahren
  • BS EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Instrumente
  • BS EN 13925-1:2003(2008) Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Allgemeine Grundsätze
  • BS EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Allgemeine Grundsätze
  • BS EN ISO 11979-9:2006+A1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
  • 13/30276532 DC BS EN 61747-20-1. Flüssigkristallanzeigegeräte. Teil 20-1. Visuelle Inspektion. Monochrome Flüssigkristall-Anzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristall-Anzeigezellen)
  • BS EN 61747-2-1:1998 Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte. Passivmatrix-Monochrom-LCD-Module. Leere Detailspezifikation
  • BS EN 61747-2-1:2013 Flüssigkristallanzeigegeräte. Passivmatrix-Monochrom-LCD-Module. Leere Detailspezifikation
  • 14/30277702 DC BS EN 61747-3. Flüssigkristallanzeigegeräte. Teil 3. Flüssigkristallanzeigezellen (LCD). Abschnittsspezifikation
  • BS EN 62047-9:2011 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
  • BS EN 62047-9:2013 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
  • BS EN 61747-2-1:2001 Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Passivmatrix-Monochrom-LCD-Module – Vordruck für Bauartspezifikation
  • 23/30468947 DC BS EN 62276. Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden

U.S. Military Regulations and Norms, Polykristallin und Einkristall

IN-BIS, Polykristallin und Einkristall

  • IS 9709-1980 Spezifikationen für synthetischen Quarz-Einkristall
  • IS 4570 Pt.11-1989 Spezifikation für Quarzhalter Teil 11 Metallische, geschweißte, zweipolige Quarzhalter Typ DQ
  • IS 4570 Pt.8-1985 Spezifikation für Quarzeinheitshalterungen Teil 8 Metallische, geschweißte, dreiadrige Quarzeinheitshalterung Typ DK
  • IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 Kristall-Einheitshalter – Spezifikation Teil 13 – Übersicht über Quarzkristall-Einheitshalter mit automatischer Handhabung, Abschnitt 5: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristall-Einheitshalter Typ CU 05
  • IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 Kristalleinheitshalter – Spezifikation Teil 13 Übersicht über Quarzkristalleinheitshalter mit automatischer Handhabung Abschnitt 4: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CU 04
  • IS 2511-1963 Spezifikationen für polykristalline Halbleiter-Gleichrichterstapel
  • IS 3136-1965 Gerätespezifikation für polykristalline Halbleitergleichrichter
  • IS 4570 Pt.6-1984 Kristalleinheitshalter-Spezifikation Teil 6 Metall, mit Lötmittel versiegelt, Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CX
  • IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 Kristalleinheitshalter – Spezifikation Teil 13 Übersicht über automatisch verarbeitete Quarzkristalleinheitshalter Abschnitt 3: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CU 03
  • IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 Kristalleinheitshalter – Spezifikation Teil 13 Übersicht über automatisch verarbeitete Quarzkristalleinheitshalter Abschnitt 2: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CU 02
  • IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 Kristalleinheitshalter – Spezifikation Teil 13 Übersicht über automatisch verarbeitete Quarzkristalleinheitshalter Abschnitt 1: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CU 01
  • IS 4570 Pt.7-1985 Quarzeinheit-Unterstützungsspezifikation Teil 7 Mikro-, Metall-, lötversiegelter Zweidraht-Kristalleinheit-Unterstützungstyp DJ
  • IS 4570 Pt.12-1989 Spezifikation für Quarzeinheitshalterungen Teil 12 Mikro-Kristalleinheitshalterungen aus Metall, kaltgeschweißt, Zweidraht, Typ EB
  • IS 4570 Pt.3-1984 Spezifikationen für Kristallhalter Teil 3 Rohrförmige Kristallhalter (Glas) Typ AP, AR, AS, AT und AU
  • IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in Oszillatoren der Serie II AA Abschnitt 3: Quarzkristalleinheit Typ AA-03
  • IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten zur Verwendung in Oszillatoren der Serie II AA Abschnitt 5: Quarzkristalleinheit Typ AA-05
  • IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren der Serie II AA verwendet werden, Abschnitt 2: Quarzkristalleinheit Typ AA-02
  • IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren der Serie II AA verwendet werden, Abschnitt 1: Quarzkristalleinheit Typ AA-01

GSO, Polykristallin und Einkristall

  • GSO IEC 61747-20-1:2016 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 20-1: Sichtprüfung – Monochrome Flüssigkristallanzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallanzeigezellen)
  • BH GSO IEC 61747-20-1:2017 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 20-1: Sichtprüfung – Monochrome Flüssigkristallanzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallanzeigezellen)
  • GSO ISO 11979-9:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
  • OS GSO ISO 11979-9:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
  • BH GSO ISO 11979-9:2016 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
  • OS GSO IEC 61747-3:2014 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Abschnittsspezifikation
  • GSO IEC 62276:2014 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
  • OS GSO IEC 62276:2014 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
  • OS GSO IEC 61747-3-1:2014 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3-1: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Vordruck für Bauartspezifikation
  • GSO IEC 60444-7:2014 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristall-Einheiten
  • BH GSO ISO 16463:2016 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Abmessungen, Typen
  • BH GSO IEC 60444-7:2016 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 7: Messung von Aktivität und Frequenzeinbrüchen von Quarzkristall-Einheiten

Professional Standard - Medicine, Polykristallin und Einkristall

  • YY 0290.9-2010 Augenimplantate.Intraokularlinsen.Teil 9:Multifokale Intraokularlinsen

American National Standards Institute （ANSI), Polykristallin und Einkristall

  • ANSI/ASTM D6058:2001 Praxis zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung
  • ANSI/ASTM D6057:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Phasenkontrastmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Polykristallin und Einkristall

  • NF C93-616:2013 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
  • NF C26-400:1971 POLYKRISTALLINE ALUMINIUMOXIDKERAMIK. TESTMETHODEN.
  • NF ISO 16463:2014 Polykristalline diamantgelötete Einsätze – Abmessungen, Typen
  • NF EN 61747-3:2007 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Zwischenspezifikation
  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente.
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • NF EN 1330-11:2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Teil 11: Röntgenbeugung polykristalliner und amorpher Materialien
  • NF C93-616*NF EN 62276:2018 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
  • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze.
  • NF EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • NF EN 61747-3-1:2006 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3-1: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Besonderer Spezifikationsrahmen
  • NF E66-314:2004 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Abmessungen, Typen.
  • NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Abmessungen, Typen
  • NF EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Ausrüstung
  • NF EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
  • NF EN 61747-4:2013 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 4: Flüssigkristallanzeigemodule und -zellen – Grenzwerte und wesentliche Merkmale
  • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Teil 11: Begriffe, die bei der Röntgenbeugung von polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Polykristallin und Einkristall

  • JIS C 6760:2014 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden

IEC - International Electrotechnical Commission, Polykristallin und Einkristall

  • IEC 61747-20-1:2015 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 20-1: Sichtprüfung – Monochrome Flüssigkristallanzeigezellen (ausgenommen alle Aktivmatrix-Flüssigkristallanzeigezellen) (Ausgabe 1.0)
  • PAS 62276-2001 Einkristallwafer für Oberflächenwellengeräte – Spezifikation und Messmethode (Ausgabe 1.0)

CEN - European Committee for Standardization, Polykristallin und Einkristall

  • EN IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren

KR-KS, Polykristallin und Einkristall

  • KS C IEC 60122-4-2022 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren

Danish Standards Foundation, Polykristallin und Einkristall

  • DS/EN 61747-3:2007 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Abschnittsspezifikation
  • DS/EN ISO 11979-9:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
  • DS/EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • DS/EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
  • DS/EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
  • DS/EN 62276:2013 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
  • DS/EN 13925-1:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
  • DS/EN 1330-11:2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Begriffe, die bei der Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden
  • DS/EN 61747-3-1:2007 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3-1: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Vordruck für Bauartspezifikation

International Electrotechnical Commission (IEC), Polykristallin und Einkristall

  • IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren
  • IEC 61747-3:2015 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Abschnittsspezifikation

ANSI - American National Standards Institute, Polykristallin und Einkristall

  • Z80.12-2007 Ophthalmologie – Multifokale Intraokularlinsen (VC)

Professional Standard - Building Materials, Polykristallin und Einkristall

  • JC/T 2143-2012 Keramische Materialien auf Basis von tetragonalem Zirkonoxid
  • JC/T 1048-2007 Schmelztiegel aus Quarzglas für die Züchtung von einkristallinem Silizium
  • JC/T 1048-2018 Quarztiegel für die Züchtung von einkristallinem Silizium
  • JC/T 2796-2023 Hochreines Graphitpulver für Siliziumkarbid-Einkristalle
  • JC/T 2025-2010 Piezoelektrische Einkristalle aus Bleimagnesiumniobattitanat (PMNT).
  • JC/T 2349-2015 SiN-Keramik-Isolationskomponenten für die Herstellung von polykristallinem Silizium
  • JC/T 2343-2015 Einkristallines Aluminiumoxidrohr, hergestellt durch kantendefiniertes filmgespeistes Kristallwachstum

Professional Standard - Aviation, Polykristallin und Einkristall

  • HB 6742-1993 Bestimmung der Kristallorientierung von Einzelkristallblättern durch Röntgen-Backblow-Laue-Fotografie
  • HB 7762-2005 Spezifikation für Vorlegierungen gerichtet erstarrter und einkristalliner Superlegierungen für Flugzeugtriebwerke

SE-SIS, Polykristallin und Einkristall

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Polykristallin und Einkristall

  • JJG 48-2004 Standardscheibe aus einkristallinem Silizium mit spezifischem Widerstand
  • JJG 629-2014 Polykristalline Röntgendiffraktometer
  • JJG 629-1989 Eichvorschrift für polykristallines Röntgendiffraktometer
  • JJG(地质) 1014-1990 Eichvorschriften für polykristallines Röntgendiffraktometer

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Polykristallin und Einkristall

  • YB 1603-1983 Trenn- und Schleifscheiben aus Silizium-Einkristallen

机械电子工业部, Polykristallin und Einkristall

  • JB 5203-1991 Chemische Analysemethode für einkristallinen Korund

European Committee for Standardization (CEN), Polykristallin und Einkristall

  • EN 13925-2:2003 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • EN 13925-3:2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
  • EN 1330-11:2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Begriffe, die bei der Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden

International Organization for Standardization (ISO), Polykristallin und Einkristall

  • ISO 11979-9:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
  • ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen; Änderung 1
  • ISO 16463:2004 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Abmessungen, Typen
  • ISO 16463:2014 Polykristalline Diamanteinsätze, bestückt – Abmessungen, Typen

Lithuanian Standards Office , Polykristallin und Einkristall

  • LST EN 13925-3-2005 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
  • LST EN 13925-2-2004 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • LST EN 13925-1-2004 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
  • LST EN 1330-11-2007 Zerstörungsfreie Prüfung – Terminologie – Begriffe, die bei der Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien verwendet werden
  • LST EN 61747-3-2007 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Rahmenspezifikation (IEC 61747-3:2006)
  • LST EN ISO 11979-9:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen (ISO 11979-9:2006)
  • LST EN 120007-2001 Leere Detailspezifikation. Flüssigkristallanzeigen. Monochrome LCDs ohne elektronische Schaltung
  • LST EN 60444-9-2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007)
  • LST EN 62276-2006 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden (IEC 62276:2005)
  • LST EN 62276-2013 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messverfahren (IEC 62276:2012)

AENOR, Polykristallin und Einkristall

  • UNE-EN 13925-2:2004 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 2: Verfahren
  • UNE-EN 13925-3:2006 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinen und amorphen Materialien – Teil 3: Instrumente
  • UNE-EN 13925-1:2006 Zerstörungsfreie Prüfung – Röntgenbeugung an polykristallinem und amorphem Material – Teil 1: Allgemeine Grundsätze
  • UNE-EN ISO 11979-9:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen (ISO 11979-9:2006)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Polykristallin und Einkristall

  • ASTM E2627-13(2019) Standardpraxis zur Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße mithilfe der Elektronenrückstreubeugung (EBSD) in vollständig rekristallisierten polykristallinen Materialien
  • ASTM F1723-96 Standardpraxis zur Bewertung polykristalliner Siliziumstäbe durch Float-Zone-Kristallwachstum und Spektroskopie
  • ASTM F847-94(1999) Standardtestmethoden zur Messung der kristallographischen Ausrichtung von Flächen auf einkristallinen Siliziumwafern durch Röntgentechniken
  • ASTM D6058-96(2011) Standardverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung
  • ASTM D6058-96(2016) Standardverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung
  • ASTM E1181-02(2015) Standardtestmethoden zur Charakterisierung von Duplexkorngrößen

Professional Standard - Education, Polykristallin und Einkristall

  • JY/T 0587-2020 Allgemeine Prinzipien polykristalliner Röntgenbeugungsmethoden
  • JY/T 009-1996 Allgemeine Prinzipien der Röntgenableitungsmethode für rotierende Target-Polykristalle

Association of German Mechanical Engineers, Polykristallin und Einkristall

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Polykristallin und Einkristall

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Polykristallin und Einkristall

  • EN 62276:2013 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Polykristallin und Einkristall

  • EN 62276:2016 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden

GOST, Polykristallin und Einkristall

  • GOST 25734-1983 Aluminiumoxid. Methode zur kristallooptischen Bestimmung von Einkristallen in nichtmetallurgischem Aluminiumoxid

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Polykristallin und Einkristall

  • DB15/T 2234-2021 Energieverbrauchsquote pro Produkteinheit monokristallines Czochralski-Silizium

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Polykristallin und Einkristall

  • QC 720200-1998 Flüssigkristall- und Festkörperanzeigegeräte – Teil 3: Abschnittsspezifikation für Flüssigkristallanzeigezellen (LCD).

SCC, Polykristallin und Einkristall

  • IEC 60122-2:1962 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzoszillatorkristallen

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Polykristallin und Einkristall

  • ESDU 81027 A-1982 Lattice structures. Part 1: mean fluid forces on single and multiple plane frames.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Polykristallin und Einkristall

  • GJB 6466-2008 Spezifikation für heißgepresste polykristalline Magnesiumfluoridplatte für Raketen

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Polykristallin und Einkristall

  • DB61/T 512-2011 Prüfregeln für monokristalline Siliziumwafer für Solarzellen
  • DB61/T 511-2011 Prüfregeln für monokristalline Siliziumstäbe für Solarzellen

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Polykristallin und Einkristall

  • JJF 1256-2010 Kalibrierungsspezifikation für Röntgeneinkristall-Ausrichtungsgeräte

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Polykristallin und Einkristall

  • DB31/ 792-2014 Norm des Energieverbrauchs pro Produkteinheit für monokristallines Silizium und Siliziumwafer
  • DB31/T 792-2014 Energieverbrauchsquote pro Produkteinheit Silizium-Einkristall und dessen Silizium-Wafer
  • DB31/ 792-2020 Energieverbrauchsquote pro Produkteinheit Silizium-Einkristall und dessen Silizium-Wafer

  Einkristall polykristallin, Einkristall + polykristallin, polykristallin, Polykristallin und Einkristall, Einkristall polykristallin, Polykristallin und amorph, Polykristallin + Einkristall, Monokristallin+polykristallin+, Einkristallin und polykristallin, Einkristallin und polykristallin, Polykristallin und Einkristall, Einkristall polykristallin, Was ist mit monokristallin und polykristallin?, Einkristallin und polykristallin, Was ist mit monokristallin und polykristallin?, +Einkristall +Polykristallin, Was ist mit monokristallin vs. polykristallin?, Beugung polykristallin und amorph, Wie wäre es mit monokristallin und polykristallin?, Einkristallin und polykristallin.

 



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