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Strahlteiler

Für die Strahlteiler gibt es insgesamt 18 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Strahlteiler die folgenden Kategorien: Oberflächenbehandlung und Beschichtung, analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Wortschatz.


SE-SIS, Strahlteiler

  • SIS SS-ISO 2128:1984 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
  • SIS SS 11 70 30-1980 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop

Danish Standards Foundation, Strahlteiler

  • DS/EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Strahlteiler

  • DB44/T 1527-2015 Mikrostrahlanalyse-Rasterelektronenmikroskop-Bildklarheitsbewertungsmethode

CH-SNV, Strahlteiler

  • VSM 34130-1934 Eloxieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen. Bestimmung der Dicke des anodischen Oxidfilms. Zerstörungsfreie Messungen mittels Strahlteilungsmikroskopie
  • VSM 18653.1-1965 Eloxieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen. Bestimmung der Dicke des anodischen Oxidfilms. Zerstörungsfreie Messungen mittels Strahlteilungsmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Strahlteiler

  • NF ISO 15932:2014 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Wortschatz

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Strahlteiler

  • GB/T 27788-2020 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Strahlteiler

  • GB/T 27788-2011 Mikrostrahlanalyse.Rasterelektronenmikroskopie.Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
  • GB/T 18735-2014 Mikrostrahlanalyse. Allgemeiner Leitfaden zur Spezifikation nanometerdünner Referenzmaterialien für das analytische Transmissionselektronenmikroskop (AEM/EDS)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Strahlteiler

KR-KS, Strahlteiler

International Organization for Standardization (ISO), Strahlteiler

  • ISO 15932:2013 Mikrostrahlanalyse.Analytische Elektronenmikroskopie.Wortschatz

Lithuanian Standards Office , Strahlteiler

  • LST EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)

AENOR, Strahlteiler

  • UNE-EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)

German Institute for Standardization, Strahlteiler

  • DIN EN ISO 2128:2010-12 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen - Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten - Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2128:2010




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