Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

Für die Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche gibt es insgesamt 43 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optische Ausrüstung, Nichteisenmetalle, Glas.

International Organization for Standardization (ISO), Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
ISO 19012-1:2007 Optik und Photonik - Bezeichnung von Mikroskopobjektiven - Teil 1: Feldebene/Plan
ISO 9345-1:1996 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen - Teil 1: Tubuslänge 160 mm
ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Oberflächencharakterisierung – Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
ISO 9345-2:2003 Optik und optische Instrumente – Mikroskope: Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme
ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird
ISO 9345-2:2014 Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme
ISO 9345:2019 Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme

British Standards Institution (BSI), Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

BS ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
BS 7012-9:1997 Lichtmikroskope - Spezifikation für Schnittstellenanschluss Typ C
BS 7012-3:1997 Lichtmikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen für Tubuslänge 160 mm
BS ISO 9345-2:2003 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen - Unendlich korrigierte optische Systeme
BS ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Oberflächencharakterisierung. Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
BS 7011-2.2:1998 Verbrauchszubehör für Lichtmikroskope. Folien. Spezifikation für Materialien und Verarbeitungsqualität
BS ISO 9345-2:2014 Mikroskope. Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen. Unendlich korrigierte optische Systeme
BS ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

KS D 2713-2006 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS D 2713-2016(2021) Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
KS B ISO 19012-1-2016(2021) Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan
KS B ISO 9345-1:2006 Optik und optische Instrumente Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 1 Tubuslänge 160 mm
KS B ISO 9345-1:2016 Optik und optische Instrumente Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 1 Tubuslänge 160 mm
KS B ISO 9345-1-2023 Bildabstand optischer und optischer Instrumentenmikroskope relativ zu mechanischen Referenzebenen Teil 1: 160 mm Tubuslänge
KS B ISO 9345-2:2006 Optik und optische Instrumente – Mikroskope: Abbildungsabstände in Bezug auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme
KS B ISO 9345-2:2016 Optik und optische Instrumente – Mikroskope: Abbildungsabstände in Bezug auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme
KS B ISO 9345-2-2016(2021) Optik und optische Instrumente – Mikroskope: Abbildungsabstände in Bezug auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme
KS B ISO 9345-1-2016(2021) Optik und optische Instrumente Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 1 Tubuslänge 160 mm

KR-KS, Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

KS B ISO 19012-1-2016 Optik und Photonik – Bezeichnung von Mikroskopobjektiven – Teil 1: Feldebene/Plan
KS B ISO 9345-2-2016 Optik und optische Instrumente – Mikroskope: Abbildungsabstände in Bezug auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme
KS B ISO 9345-1-2016 Optik und optische Instrumente Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 1 Tubuslänge 160 mm
KS B ISO 9345-2-2023 Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme

RU-GOST R, Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops

TIA - Telecommunications Industry Association, Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

TIA-573C000-1998 Abschnittsspezifikation für feldportable optische Mikroskope
TIA/EIA-573CA00-1998 Blanko-Bauartspezifikation für feldportable optische Mikroskope
EIA-546A000-1989 Abschnittsspezifikation für ein tragbares optisches Feldmikroskop zur Inspektion von optischen Wellenleitern und verwandten Geräten
EIA/TIA-546AA00-1990 Blanko-Detailspezifikation für tragbare optische Mikroskope zur Inspektion von optischen Wellenleitern und zugehörigen Geräten

American National Standards Institute （ANSI), Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Blanko-Bauartspezifikation für feldportable optische Mikroskope
ANSI/EIA/TIA 546AAOO:1989 Blanko-Detailspezifikation für tragbare optische Mikroskope zur Inspektion von optischen Wellenleitern und verwandten Geräten / Hinweis: Genehmigt am 10.07.1989.

German Institute for Standardization, Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

DIN ISO 9345-2:2005 Optik und optische Instrumente – Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme (ISO 9345-2:2003)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

GB/T 41805-2022 Methodik zur quantitativen Inspektion des Defekts auf der Optikoberfläche – Mikroskopische Streu-Dunkelfeld-Bildgebung
GB/T 22057.2-2008 Mikroskope – Abbildungsabstände im Zusammenhang mit mechanischen Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Optische Nahfeldmikroskopie an der Oberfläche

JIS B 7132-2:2009 Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme
JIS B 7132-2:2022 Mikroskope – Abbildungsabstände bezogen auf mechanische Referenzebenen – Teil 2: Unendlich korrigierte optische Systeme