Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия, Всего: 59 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Цветные металлы, Стекло.

International Organization for Standardization (ISO), Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
ISO 19012-1:2007 Оптика и фотоника. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
ISO 9345-1:1996 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа.
ISO 9345-2:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
ISO 9345-2:2014 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
ISO 9345:2019 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

British Standards Institution (BSI), Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
BS 7012-9:1997 Световые микроскопы. Спецификация для интерфейсного соединения типа C
BS 7012-3:1997 Световые микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета для трубки длиной 160 мм.
BS ISO 9345-2:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
BS ISO 18337:2015 Химический анализ поверхности. Характеристика поверхности. Измерение латерального разрешения конфокального флуоресцентного микроскопа
BS 7011-2.2:1998 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Слайды. Спецификация на материалы и качество отделки
BS ISO 9345-2:2014 Микроскопы. Расстояния визуализации, связанные с механическими базовыми плоскостями. Оптические системы с коррекцией на бесконечность
BS ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур

GSO, Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

BH GSO ISO 27911:2016 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
GSO ISO 27911:2013 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
BH GSO ISO 8037-2:2016 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Слайды. Часть 2. Качество материала, стандарты отделки и способ упаковки.
OS GSO ISO 8037-2:2014 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Слайды. Часть 2. Качество материала, стандарты отделки и способ упаковки.
GSO ISO 9345-2:2014 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
BH GSO ISO 9345-2:2016 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

KS D 2713-2006 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2021 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
KS B ISO 19012-1-2021 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS B ISO 19012-1-2016(2021) Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS B ISO 9345-1:2006 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-1:2016 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-1-2023 Расстояние изображения оптических и оптических инструментальных микроскопов относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1: длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-2:2006 Оптика и оптические инструменты-Микроскопы:Расстояния изображения относительно механических плоскостей отсчета.Часть 2:Оптические системы с коррекцией на бесконечность
KS B ISO 9345-2:2016 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS B ISO 9345-2-2016(2021) Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS B ISO 9345-1-2016(2021) Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.

SCC, Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

BS ISO 19012-1:2007 Оптика и фотоника. Обозначение объективов микроскопа – Ровность поля/плана
BS 7012-8:1990 Световые микроскопы. Спецификация на сетки с разметкой поверхности для окуляров
BS 7011-3-3.2:1990 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Защитные стекла. Спецификация материалов и качества отделки.
BS 7011-3.2:1998 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Защитные стекла. Спецификация материалов и качества отделки.
BS 7011-2-2.2:1990 Расходные принадлежности для световых микроскопов. Слайды-Спецификация материалов и качества отделки
VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2020 Технология оптических измерений микротопографии - калибровка интерферометров для измерения площади и интерференционных микроскопов для измерения формы
DIN ISO 9345-1:2005 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм (ISO 9345-1:1996).

KR-KS, Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

KS B ISO 19012-1-2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
KS B ISO 9345-2-2016 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
KS B ISO 9345-1-2016 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
KS B ISO 9345-2-2023 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

RU-GOST R, Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля

TIA - Telecommunications Industry Association, Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

TIA-573C000-1998 Технические характеристики полевых портативных оптических микроскопов
TIA/EIA-573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов
EIA-546A000-1989 Технические характеристики полевого портативного оптического микроскопа для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств
EIA/TIA-546AA00-1990 Бланк подробной спецификации полевых портативных оптических микроскопов для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств

GOST, Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

GOST R 70626-2023 Оптика и фотоника. Микроскопы. Основные элементы конструкции. Размеры

American National Standards Institute （ANSI), Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Бланк подробной спецификации для портативных полевых оптических микроскопов
ANSI/EIA/TIA 546AAOO:1989 Бланк подробной спецификации полевых портативных оптических микроскопов для проверки оптических волноводов и сопутствующих устройств / Примечание: утверждено 10 июля 1989 г.

German Institute for Standardization, Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

DIN ISO 9345-2:2005 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность (ISO 9345-2:2003)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

GB/T 41805-2022 Методика количественного контроля дефектов на поверхности оптики - визуализация в темном поле с помощью микроскопического рассеяния.
GB/T 22057.2-2008 Микроскопы. Расстояния отображения в зависимости от механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Поверхностная ближнепольная оптическая микроскопия

JIS B 7132-2:2009 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
JIS B 7132-2:2022 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.