Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

Für die Geringe Vergrößerung und Mikroskopie gibt es insgesamt 81 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Geringe Vergrößerung und Mikroskopie die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Optoelektronik, Lasergeräte, Werkzeugmaschinenausrüstung, Ventil, Prüfung von Metallmaterialien, Optik und optische Messungen, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, analytische Chemie, Schmierstoffe, Industrieöle und verwandte Produkte, Längen- und Winkelmessungen, Elektronische Anzeigegeräte, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Diskrete Halbleitergeräte.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

GJB 9890.1-2020 Strukturprüfung und Bewertung der GH4169-Legierung für den Einsatz in der Luftfahrt Teil 1: Prüfung und Bewertung bei geringer Vergrößerung und Mikrostruktur

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

JIS B 7254:2007 Mikroskope – Vergrößerung
JIS B 7139-1:2008 Stereomikroskope – Teil 1: Mindestanforderungen an Stereomikroskope
JIS B 7144:1995 Mikroskop – Verbindung von Kondensoren für Durchlicht mit Untertischhülsen

British Standards Institution (BSI), Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

BS ISO 8039:2014 Mikroskope. Werte, Toleranzen und Symbole zur Vergrößerung
BS 7012-10.2:1997 Lichtmikroskope - Mindestanforderungen an Stereomikroskope - Hochleistungsmikroskope
BS 7012-10.1:1998 Lichtmikroskope - Mindestanforderungen an Stereomikroskope - Stereomikroskope für den allgemeinen Gebrauch
BS ISO 11884-2:2007 Optik und Photonik. Mindestanforderungen an Stereomikroskope. Hochleistungsmikroskope
BS 7012-10.4:1998 Lichtmikroskope – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Informationen für den Benutzer
BS ISO 11884-1:2006 Optik und Photonik - Mindestanforderungen an Stereomikroskope - Stereomikroskope für den allgemeinen Gebrauch
BS ISO 19055:2015 Mikroskope. Mindestanforderungen an Binokulartuben
BS ISO 19056-2:2019 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
BS ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
BS ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
18/30339980 DC BS ISO 19056-2. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 2. Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

NF A89-211:2013 Zerstörende Prüfungen an Schweißnähten an metallischen Werkstoffen – Makroskopische und mikroskopische Untersuchung von Schweißnähten
NF A89-211:1996 Zerstörende Prüfungen an Schweißnähten in metallischen Werkstoffen. Makroskopische und mikroskopische Untersuchung von Schweißnähten.
NF A04-112:1980 Eisen und Stahl. Makrografische Methode zur Darstellung und Beschreibung der chemischen Heterogenität von sprudelndem Stahlwalzdraht.
NF A04-114:1984 Eisen und Stahl. Walzdraht aus Stranggussstahl mit hohem Kohlenstoffgehalt. Makrografische Methode zur Darstellung und Beschreibung der chemischen Heterogenität.
NF A04-113:1984 Eisen und Stahl. Aus Barren gewonnener Walzdraht aus Kohlenstoffstahl. Makrografische Methode zur Darstellung und Beschreibung der chemischen Heterogenität.

European Committee for Standardization (CEN), Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

EN ISO 17639:2022 Zerstörende Prüfungen an Schweißnähten an metallischen Werkstoffen – Makroskopische und mikroskopische Untersuchung von Schweißnähten
EN ISO 17639:2013 Zerstörende Prüfungen an Schweißnähten in metallischen Werkstoffen – Makroskopische und mikroskopische Untersuchung von Schweißnähten [Ersetzt: CEN EN 1321]

American Society for Testing and Materials (ASTM), Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E1951-98 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
ASTM E1951-02 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
ASTM E1951-01 Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
ASTM E1951-14(2019) Standardhandbuch zur Kalibrierung von Absehen und Lichtmikroskopvergrößerungen
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM D5770-02 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
ASTM D5770-96 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
ASTM D5770-02(2007) Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E3143-18a Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E3143-18 Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E3143-18b Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2530-06 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
DB31/T 315-2004 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Transmissionselektronenmikroskops

Defense Logistics Agency, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 3-2006 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 2-2001 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 1-1993 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
DLA A-A-50207 A-1988 MIKROSKOP, OPTISCH: MONOKULAR, FESTFOKUS, TASCHENTYP, ZWISCHEN 40- UND 60-FACHVERGRÖSSERUNG
DLA DSCC-VID-V62-04743-2005 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, NIEDRIGE LEISTUNG, NIEDRIGER OFFSET, QUAD-SPANNUNGSKomparator, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62-04745-2005 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, NIEDRIGE LEISTUNG, NIEDRIGER OFFSET, DOPPELSPANNUNGSKomparator, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-91693 REV C-2001 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, VIERFACH, GERINGER LEISTUNG, OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-95596 REV B-2006 MIKROKREISLAUF, LINEAR, EINZELVERSORGUNG, DREIFACH-VIDEOVERSTÄRKER MIT NIEDRIGER LEISTUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-86871 REV D-2006 MIKROKREISE, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, VIERFACH POSITIVE NAND-PUFFER MIT 2 EINGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-88648 REV E-2002 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY, VIERFACH-DIFFERENTIAL-LEITUNGSTREIBER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88649 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHER NIEDRIGER ENERGIE-SCHOTTKY-EMPFÄNGER MIT VIERFACHER DIFFERENTIALLEITUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/20 D-2005 MIKROKREISE, DIGITAL, TTL, LOW POWER, NAND-GATE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-M-38510/20 D VALID NOTICE 1-2010 Mikroschaltungen, Digital, TTL, Low Power, NAND-Gates, monolithisches Silizium

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

GB/T 41398-2022 Mikroskope一Mindestanforderungen an Binokulartuben

International Organization for Standardization (ISO), Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

ISO 19055:2015 Mikroskope – Mindestanforderungen an Binokulartuben
ISO 11884-2:2007 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
ISO 11884-1:2006 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 1: Stereomikroskope für den allgemeinen Gebrauch
ISO 11884-2:1997 Optik und optische Instrumente – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
ISO 11884-1:1998 Optik und optische Instrumente – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 1: Stereomikroskope für den allgemeinen Gebrauch
ISO/FDIS 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
ISO 27911:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
ISO 19056-2:2019 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 2: Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
ISO/TR 14880-5:2010 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 5: Anleitung zum Testen

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

KS B ISO 11884-2-2011(2016) Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
KS B ISO 11884-2:2011 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope

RU-GOST R, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

GOST 11200-1975 Objektive und Körperrohre der Mikroskope. Anbringen von Maßen
GOST 8.003-1983 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Mikroskope für den Werkzeugbau. Methoden und Mittel zur Überprüfung
GOST 3361-1975 Okulare und Körpertuben der Mikroskope. Anbringen von Maßen

Professional Standard - Judicatory, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

SF/T 0135-2023 Technische Spezifikationen für die Typisierung und Anwendung forensischer genetischer Mikrohaplotyp-Marker

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

GB/T 34002-2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen

IT-UNI, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

UNI 7686-1977 Vergrößerung der makroskopischen Inspektion und der mikroskopischen Inspektion. Vergrößerung und Spezifikationen der metallografischen Fotografie mit geringer Vergrößerung und der metallografischen Mikrofotografie. Technische Empfehlungen und Betriebsrichtlinien für die Fotografie

Association for Information and Image Management (AIIM), Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

AIIM 10198-1994 Mikrographik - Rotationskamera für 16-mm-Mikrofilm - Mechanische und optische Eigenschaften

Group Standards of the People's Republic of China, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

T/CVIA 02-2017 Gesunde Anzeigegeräte Teil 2 Technische Anforderungen und Testmethoden für Anzeigegeräte mit geringem Blaulichtanteil für Displays
T/CVIA 62-2017 Gesunde Anzeigegeräte Teil 2 Technische Anforderungen und Testmethoden für Anzeigegeräte mit geringem Blaulichtanteil für Displays
T/CVIA 75-2019 Gesunde Anzeigegeräte Teil 3 Technische Anforderungen und Testmethoden für flimmerarme Anzeigegeräte

Aerospace, Security and Defence Industries Association of Europe (ASD), Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

ASD-STAN PREN 2950-2007 Luft- und Raumfahrttechnik Prüfverfahren Hitzebeständige Knetlegierungen Halbzeuge und Teile Bedingungen für die makrografische und mikrografische Untersuchung Struktur- und Defektatlas (Ausgabe P1)

Professional Standard - Commodity Inspection, Geringe Vergrößerung und Mikroskopie

SN/T 3798-2014 Bestimmung von Asbest in Bau- und Automobilmaterialien. Polarisiertes Lichtmikroskop