ZH
EN
KR
JP
ES
RU

Verfahren zur Messung der Dicke dünner Siliziumdioxidschichten auf Siliziumoberflächen mittels Ellipsometrie

Für die Verfahren zur Messung der Dicke dünner Siliziumdioxidschichten auf Siliziumoberflächen mittels Ellipsometrie gibt es insgesamt 1 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Verfahren zur Messung der Dicke dünner Siliziumdioxidschichten auf Siliziumoberflächen mittels Ellipsometrie die folgenden Kategorien: Längen- und Winkelmessungen.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Verfahren zur Messung der Dicke dünner Siliziumdioxidschichten auf Siliziumoberflächen mittels Ellipsometrie

• GB/T 31225-2014 Testverfahren für die Dicke von Siliziumoxid auf Si-Substrat mittels Ellipsometer

Sonstige:   +++++ Methode zur Messung der Dicke einer dünnen Siliziumdioxidschicht auf einer Siliziumoberfläche mit einem Ellipsometer, Verfahren zur Messung der Dicke dünner Siliziumdioxidschichten auf Siliziumoberflächen mittels Ellipsometrie.