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REM-Rasterelektronenmikroskop

Für die REM-Rasterelektronenmikroskop gibt es insgesamt 15 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst REM-Rasterelektronenmikroskop die folgenden Kategorien: Luftqualität, Optische Ausrüstung, Längen- und Winkelmessungen.

RU-GOST R, REM-Rasterelektronenmikroskop

• GOST ISO 16000-27-2017 Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

Association Francaise de Normalisation, REM-Rasterelektronenmikroskop

• NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von auf Oberflächen abgelagertem Faserstaub mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
• NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

German Institute for Standardization, REM-Rasterelektronenmikroskop

• DIN ISO 16000-27:2014-11 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)
• DIN ISO 16000-27:2014 Raumluft – Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode) (ISO 16000-27:2014)

International Organization for Standardization (ISO), REM-Rasterelektronenmikroskop

• ISO 16000-27:2014 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
• ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM

British Standards Institution (BSI), REM-Rasterelektronenmikroskop

• 12/30228339 DC BS ISO 16000-27. Innenluft. Teil 27. Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)
• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
• 18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM

未注明发布机构, REM-Rasterelektronenmikroskop

• DIN ISO 16000-27 E:2012-12 Raumluft - Teil 27: Bestimmung von abgesetztem Faserstaub auf Oberflächen mittels REM (Rasterelektronenmikroskopie) (direkte Methode)

American Society for Testing and Materials (ASTM), REM-Rasterelektronenmikroskop

• ASTM F1372-93(1999) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
• ASTM F1372-93(2020) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
• ASTM F1372-93(2012) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
• ASTM F1372-93(2005) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen

Sonstige:   Sem, +++++Sem, halb unter Wasser, halbartig, sem-Technologie, Sem-Analyse, Sem scannen, Sem-Maschine, Sem scannen, Semesterzeit, sem Oberfläche, Galliumsem, sem Mutter, +sem+, Mikro-Sem, semimikroskopisch, Sem-Sem-Scan-Analyse, Feld Sem Sem, sem??, sem sem.