Testport

Für die Testport gibt es insgesamt 24 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Testport die folgenden Kategorien: Gedruckte Schaltungen und Leiterplatten, Schnittstellen- und Verbindungsgeräte.

International Telecommunication Union (ITU), Testport

ITU-T K.65-2011 Überspannungs- und Überstromanforderungen für Abschlussmodule mit Kontakten für Prüfanschlüsse oder Überspannungsschutzgeräte (Studiengruppe 5)
ITU-T K.65-2004 Überspannungs- und Überstromanforderungen für Abschlussmodule mit Kontakten für Testports oder SPDs Serie K: Schutz vor Störungen, Studiengruppe 5

U.S. Air Force, Testport

AIR FORCE A-A-59820-2009 NETZWERK-MESSSYSTEM, EINSCHLIESSLICH EINEM NETZWERKANALYSATOR, 500 KHz - 1,3 GHz MIT 50-OHM-TESTPORT-IMPEDANZ, KALIBRIERKITS UND ZUBEHÖR

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Testport

IEEE Std 1149.1-2001 IEEE-Standard-Testzugriffsport und Boundary-Scan-Architektur
IEEE Std 1149.1-1990 IEEE-Standard-Testzugriffsport und Boundary-Scan-Architektur
IEEE P1149.10/D90, March 2016 IEEE Draft High Speed Test Access Port und On-Chip-Verteilungsarchitektur
IEEE Std 1149.1-2013 IEEE-Standard für Test Access Port und Boundary-Scan-Architektur – Redline
IEEE P1149.1/D2012.e27, September 2012 IEEE Draft Standard Test Access Port und Boundary Scan Architecture
IEEE P1149.10/D94, December 2016 IEEE Draft High Speed Test Access Port und On-Chip-Verteilungsarchitektur
IEEE Std 1149.10-2017 IEEE-Standard für Hochgeschwindigkeits-Testzugriffsports und On-Chip-Verteilungsarchitektur
IEEE P1149.10/D95, January 2017 IEEE-genehmigter Entwurf für Hochgeschwindigkeits-Testzugangsport und On-Chip-Verteilungsarchitektur
IEEE P1149.1/D2012.e29, November 2012 Von der IEEE genehmigter Standardentwurf für Testzugriffs-Ports und Boundary-Scan-Architektur
IEEE Std 1149.1b-1994 Ergänzung zu IEEE Std 1149.1-1990, IEEE Standard Test Access Port und Boundary-Scan-Architektur
IEEE 1149.7-2022 IEEE-Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität
IEEE Std 1149.7-2022 IEEE-Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität
IEEE Std 1149.7-2009 IEEE-Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität
IEEE P1149.7/D6, July 2020 IEEE-Standardentwurf für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität
IEEE P1149.7/D7, October 2021 IEEE-Standardentwurf für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität
IEEE P1149.7/D8, April 2022 Von der IEEE genehmigter Standardentwurf für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Testport

IEEE 1149.1B ERTA-1996 Test Access Port und Boundary-Scan-Architektur (IEEE Computer Society)
IEEE 1149.10-2017 Hochgeschwindigkeits-Testzugriffsport und On-Chip-Verteilungsarchitektur (IEEE Computer Society)
IEEE 1149.1-1990 Standard Test Access Port und Boundary-Scan-Architektur (Dokument der IEEE Computer Society; einschließlich 1149.1A-1993)
IEEE 1149.1B SUPP-1994 Ergänzung zu IEEE Std 1149.1-1990@ Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture (Dokument der IEEE Computer Society)

American National Standards Institute （ANSI), Testport

ANSI/IEEE 1149.7:2009 Standard für Testzugriffsport- und Boundary-Scan-Architektur mit reduziertem Pin und erweiterter Funktionalität