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microscopio electrónico de campo

microscopio electrónico de campo, Total: 453 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopio electrónico de campo son: Calidad del aire, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Metrología y medición en general., Vocabularios, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Educación, Conjuntos de componentes electrónicos., Equipo medico, Optoelectrónica. Equipo láser, Componentes electrónicos en general., pruebas de metales, Medidas lineales y angulares., Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Dibujos tecnicos, Tratamiento superficial y revestimiento., Dispositivos de visualización electrónica., Materiales para el refuerzo de composites., Física. Química, Metales no ferrosos, Materiales de construcción, Materias primas para caucho y plástico., Sistemas de energía fluida, Materiales para la construcción aeroespacial., Alimentos para animales, Sistemas y componentes de fluidos aeroespaciales., fluidos hidraulicos, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Fotografía, Productos de hierro y acero., Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Cerámica, ingeniería de energía nuclear, Pinturas y barnices, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Papel y cartón, Microbiología, Ingredientes de pintura, Fibras textiles.

American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopio electrónico de campo

ASTM D7201-06(2011) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM D7201-06(2020) Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de asbesto, en el lugar de trabajo, mediante microscopía de contraste de fase (con la opción de microscopía electrónica de transmisión)
ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E3143-18a Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
ASTM E3143-18 Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E3143-18b Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM D3849-13 Método de prueba estándar para negro de humo mdash; caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
ASTM D3849-14 Método de prueba estándar para negro de humo mdash; caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM D3849-95a(2000) Método de prueba estándar para negro de carbón: dimensiones del agregado primario a partir del análisis de imágenes con microscopio electrónico
ASTM D3849-07 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM D3849-22 Método de prueba estándar para negro de humo: caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
ASTM E3143-18b(2023) Práctica estándar para realizar microscopía electrónica de criotransmisión de liposomas
ASTM D7200-06 Práctica estándar para el muestreo y recuento de fibras suspendidas en el aire, incluidas las fibras de amianto, en minas y canteras, mediante microscopía de contraste de fase y microscopía electrónica de transmisión
ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
ASTM E766-14e1
ASTM E3060-16 Guía estándar para la medición de partículas subvisibles en la fabricación biofarmacéutica mediante microscopía de imágenes dinámica (de flujo)
ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM D3849-02 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
ASTM D3849-04 Método de prueba estándar para la caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM D3849-14a Método de prueba estándar para negro de humo: caracterización morfológica del negro de humo mediante microscopía electrónica
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM D5756-02 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentración de masa de asbesto
ASTM D5756-95 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentración de masa de asbesto
ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM D5755-95 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentraciones de números de estructura de asbesto
ASTM D5755-02 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para concentraciones de números de estructura de asbesto
ASTM D5756-02(2008) Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial de masa de asbesto
ASTM F3294-18 Guía estándar para realizar mediciones cuantitativas de la intensidad de la fluorescencia en ensayos celulares con microscopía de epifluorescencia de campo amplio
ASTM D5755-03 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM D5755-09 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM D5755-09(2014)e1 Método de prueba estándar para muestreo por microvacío y análisis indirecto de polvo mediante microscopía electrónica de transmisión para carga superficial del número de estructura del asbesto
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM D6056-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM F1372-93(2005) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
ASTM F1372-93(2012)

British Standards Institution (BSI), microscopio electrónico de campo

BS ISO 19012-1:2013 Microscopios. Designación de objetivos de microscopio. Planitud del campo/Plano
BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
BS ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos de uso general
BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
BS ISO 19056-2:2019 Microscopios. Definición y medición de propiedades de iluminación - Propiedades de iluminación relacionadas con el color en microscopía de campo brillante
BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS EN ISO 14880-1:2005 Óptica y fotónica - Conjunto de microlentes - Vocabulario
BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
18/30339980 DC BS ISO 19056-2. Microscopios. Definición y medida de propiedades de iluminación. Parte 2. Propiedades de iluminación relacionadas con el color en microscopía de campo brillante
BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
BS ISO 13794:1999 Aire ambiente - Determinación de fibras de amianto - Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
PD ISO/TS 10797:2012 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS ISO 5061:2002 Piensos para animales - Determinación de la cáscara de semillas de ricino - Método microscópico
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 10936-1:2002 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios de operación. Requisitos y métodos de prueba.
21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
15/30292710 DC BS ISO 19214. Directrices para la determinación de la dirección de crecimiento de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS ISO 10312:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa.
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS ISO 13794:2019 Aire ambiente. Determinación de fibras de amianto. Método de microscopía electrónica de transmisión de transferencia indirecta.
BS EN ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Vocabulario y propiedades generales.
BS ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
BS ISO 22493:2014 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
BS EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 21363:2020 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
BS ISO 20263:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la posición de la interfaz en la imagen transversal de los materiales estratificados.
BS EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
BS EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para propiedades geométricas
PD IEC TR 62977-2-4:2018 Pantallas electrónicas. Pantallas transparentes. Descripción general de los escenarios de aplicación
BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
BS PD ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías. Reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos soportados por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.
BS ISO 10936-1:2017 Cambios rastreados. Óptica y fotónica. Microscopios de operación. Requisitos y métodos de prueba.
BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 29301:2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas.
19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS EN ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
BS EN ISO 17751-2:2016 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana, otras fibras animales especiales y sus mezclas. Método de microscopía electrónica de barrido.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopio electrónico de campo

KS B ISO 19012-1:2011 Óptica y fotónica-Designación de objetivos de microscopio-Parte 1:Planitud del campo/Plano
KS B ISO 19012-1:2016 Óptica y fotónica－Designación de objetivos del microscopio－Parte 1：Planitud del campo/Plano
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS D 2716-2008 Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS B ISO 11884-2:2011 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS D 2716-2008(2018) Medición del diámetro de nanopartículas－Microscopio electrónico de transmisión
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS P ISO 10936-2:2020 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
KS D 8544-2006 Recubrimiento metálico-Medición del espesor del recubrimiento-Método de microscopía electrónica de transmisión
KS D 8544-2016(2021) Revestimiento metálico－Medición del espesor del revestimiento－Método de microscopía electrónica de transmisión
KS D 2713-2006 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS I ISO 4407:2012 Potencia de fluido hidráulico-Contaminación de fluidos-Determinación de contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico
KS I ISO 10312:2008 Aire ambiente-Determinación de fibras de amianto-Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
KS I ISO 13794:2008 Aire ambiente－Determinación de fibras de amianto－Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
KS I ISO 10312-2008(2018) Aire ambiente－Determinación de fibras de amianto－Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia directa
KS I ISO 13794-2008(2018) Aire ambiente－Determinación de fibras de amianto－Método de microscopía electrónica de transmisión por transferencia indirecta
KS B ISO 19012-1-2016(2021) Óptica y fotónica－Designación de objetivos del microscopio－Parte 1：Planitud del campo/Plano
KS B ISO 8040-2006(2021) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8478-2006(2016) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8478-2006(2021) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8040-2006(2016) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS D ISO 23833:2022 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
KS B ISO 14880-2:2013 Óptica y fotónica ― Conjuntos de microlentes ― Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
KS B ISO 14880-2:2008 Óptica y fotónica-Arrays de microlentes-Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda

Professional Standard - Machinery, microscopio electrónico de campo

JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
JB/T 7398.10-1994 Microscopio - Dispositivo de campo oscuro
JB/T 9352-1999 Método de prueba para el microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5383-1991 Especificación para microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
JB/T 5584-1991 Método de prueba de amplificación por microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5585-1991 Método de prueba de resolución del microscopio electrónico de transmisión.
JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.

International Organization for Standardization (ISO), microscopio electrónico de campo

ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
ISO 19012-1:2011 Microscopios - Designación de los objetivos del microscopio - Parte 1: Planitud del campo/Plano
ISO 19012-1:2013 Microscopios. Designación de los objetivos del microscopio. Parte 1: Planitud del campo/Plano
ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
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ISO 14880-2:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
ISO/FDIS 29301:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Métodos para calibrar la ampliación de imágenes utilizando materiales de referencia con estructuras periódicas.
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ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
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KS D ISO 23833-2022 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
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T/GDASE 0008-2020 Determinación del módulo de Young de una película de grafeno.
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JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
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VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
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国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio electrónico de campo

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GB/T 40300-2021 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica analítica—Vocabulario
GB/T 40066-2021 Nanotecnologías—Medición del espesor del óxido de grafeno—Microscopía de fuerza atómica (AFM)
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GB/T 4930-2021 Análisis de microhaces—Microanálisis con sonda electrónica—Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), microscopio electrónico de campo

IPC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos
IPC TM-650 2.6.22-1995 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico.
IPC/JEDEC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos [Reemplazado: IPC TM-650 2.6.22]

RU-GOST R, microscopio electrónico de campo

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GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
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GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST R 8.630-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Métodos de verificación
GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)
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Professional Standard - Medicine, microscopio electrónico de campo

YY 1296-2016 Microscopios quirúrgicos ópticos y fotónicos Fotopeligros de los microscopios quirúrgicos oftálmicos

TIA - Telecommunications Industry Association, microscopio electrónico de campo

TIA-573C000-1998 Especificación seccional para microscopios ópticos portátiles de campo
TIA/EIA-573CA00-1998 Especificación detallada en blanco para microscopios ópticos portátiles de campo
EIA-546A000-1989 Especificación seccional para un microscopio óptico portátil de campo para la inspección de guías de ondas ópticas y dispositivos relacionados
EIA/TIA-546AA00-1990 Especificación detallada en blanco para microscopios ópticos portátiles de campo para la inspección de guías de ondas ópticas y dispositivos relacionados

German Institute for Standardization, microscopio electrónico de campo

DIN 58272:1983 Instrumentos medicos; pinzas microscópicas, modelo fino
DIN 58272:2009 Instrumentos médicos - Pinzas microscópicas, modelo fino
DIN 58272:2016 Instrumentos médicos - Pinzas microscópicas, modelo fino
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
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DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020); Versión alemana EN ISO 21363:2022
DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
DIN EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO 14880-2:2006); Versión en inglés de DIN EN ISO 14880-2:2007-03
DIN EN 60749-35:2007-03 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006); Versión alemana EN 60749-35:2006
DIN ISO 16000-27:2014-11 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)

Professional Standard - Petroleum, microscopio electrónico de campo

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio electrónico de campo

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.
DB31/T 315-2004 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de transmisión.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, microscopio electrónico de campo

JEDEC J-STD-035-1999 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos

International Electrotechnical Commission (IEC), microscopio electrónico de campo

IEC PAS 62191:2000 Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados no herméticos.
IEC TR 62977-2-4:2018 Pantallas electrónicas - Parte 2-4: Pantallas transparentes - Descripción general de escenarios de aplicación

国家能源局, microscopio electrónico de campo

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

工业和信息化部, microscopio electrónico de campo

YB/T 4676-2018 Análisis de fases precipitadas en acero mediante microscopía electrónica de transmisión
SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio electrónico de campo

DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

Professional Standard - Judicatory, microscopio electrónico de campo

SF/T 0139-2023

American National Standards Institute （ANSI), microscopio electrónico de campo

ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Especificación detallada en blanco para microscopios ópticos portátiles de campo
ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ANSI/ASTM D6056:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión

Professional Standard - Commodity Inspection, microscopio electrónico de campo

SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, microscopio electrónico de campo

SPB-M6-3-2010 08 de abril: Microscopía de fuerza atómica (antecedentes de la técnica)
SPB-M2-1-2007 Propiedades interfaciales y reológicas de asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.
SPB-M6-1-2010 08 de abril: Propiedades interfaciales y reológicas de los asfaltenos investigadas utilizando AFM
SPB-M14-1-2010 10 de septiembre: Interacciones y propiedades reológicas de los asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.

SE-SIS, microscopio electrónico de campo

SIS SS-ISO 9220:1989
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
SIS SS 11 11 15-1985 Acero - Método para evaluar el contenido de inclusiones de escoria - Métodos microscópicos - Recuento manual de partículas y cálculo de la distribución de tamaño

European Committee for Standardization (CEN), microscopio electrónico de campo

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
EN ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario (ISO 14880-1:2019)
EN ISO 14880-1:2005 Óptica y fotónica - Conjunto de microlentes - Parte 1: Vocabulario
EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
prEN ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)
EN ISO 14880-2:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda

Danish Standards Foundation, microscopio electrónico de campo

DS/EN ISO 9220:1995
DS/ISO 10936-2:2010 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
DS/ISO/TS 10797:2012 Nanotecnologías - Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de transmisión
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
DS/ISO/TS 22292:2021 Nanotecnologías: reconstrucción de imágenes en 3D de nanoobjetos sostenidos por varillas mediante microscopía electrónica de transmisión
DS/EN 60749-35:2007
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva

ES-UNE, microscopio electrónico de campo

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)
UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2022.)
UNE-EN 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

Professional Standard - Public Safety Standards, microscopio electrónico de campo

GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)
GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

IT-UNI, microscopio electrónico de campo

UNI 7604-1976 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microfractografía.
UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.

PH-BPS, microscopio electrónico de campo

PNS ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión

AENOR, microscopio electrónico de campo

UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).
UNE 77236:1999 AIRE AMBIENTE. DETERMINACIÓN DE LAS FIBRAS DE AMIANTO. MÉTODO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN DIRECTA.

Lithuanian Standards Office , microscopio electrónico de campo

LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Society of Automotive Engineers (SAE), microscopio electrónico de campo

SAE ARP598C-2003 (R) Dimensionamiento microscópico aeroespacial y recuento de contaminación de partículas para sistemas de energía fluida

AT-ON, microscopio electrónico de campo

OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de transmisión (ISO 21363:2020)

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, microscopio electrónico de campo

GJB 5384.22-2005 Métodos de prueba de rendimiento para composiciones pirotécnicas Parte 21: Determinación de la concentración de cantidades de partículas sólidas de humo Método del microscopio electrónico
GJB 5384.23-2005 Métodos de prueba de rendimiento para composiciones pirotécnicas Parte 23: Determinación de la distribución del tamaño de partículas para partículas sólidas de humo Método de microscopio electrónico

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, microscopio electrónico de campo

GJB 8684.22-2015 Métodos de prueba para las propiedades pirotécnicas. Parte 22: Determinación de la concentración del número de partículas sólidas de humo mediante microscopía electrónica.
GJB 8684.23-2015 Métodos de prueba para las propiedades pirotécnicas. Parte 23: Determinación de la distribución del tamaño de las partículas sólidas de humo mediante microscopía electrónica.

CN-STDBOOK, microscopio electrónico de campo

图书 a-4565 Métodos prácticos para el microanálisis electrónico.

未注明发布机构, microscopio electrónico de campo

BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
DIN EN ISO 21363:2022 Nanotecnologías: mediciones de la distribución del tamaño y la forma de las partículas mediante microscopía electrónica de transmisión.

BE-NBN, microscopio electrónico de campo

NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

IPC - Association Connecting Electronics Industries, microscopio electrónico de campo

IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 Microscopía Acústica para Componentes Electrónicos Encapsulados No Herméticos (Incorpora Enmienda 1: Enero de 2007)

Professional Standard - Nuclear Industry, microscopio electrónico de campo

EJ/T 20176-2018 Microscopio de fuerza atómica Método de medición de la nitidez del borde de la herramienta de diamante

GOSTR, microscopio electrónico de campo

PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
PNST 507-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de transmisión y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

YU-JUS, microscopio electrónico de campo

JUS U.M1.056-1993 Hormigón: determinación del contenido y del factor de distancia de los poros del hormigón celular mediante análisis con microscopio lineal