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Espectroscopia fotoeléctrica
Espectroscopia fotoeléctrica, Total: 91 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectroscopia fotoeléctrica son: Química analítica, Componentes electrónicos en general., Óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Pruebas eléctricas y electrónicas., Medidas lineales y angulares..
German Institute for Standardization, Espectroscopia fotoeléctrica
- DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
- DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
- DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
- DIN ISO 15472:2020 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectroscopia fotoeléctrica
- KS D 2518-2005 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
- KS D 2518-1982 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
- KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
- KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
- KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
- KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
- KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
- KS D ISO 19318-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
- KS D ISO 18118-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de h
International Organization for Standardization (ISO), Espectroscopia fotoeléctrica
- ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
- ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
- ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
- ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
- ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
- ISO/CD TR 18392:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Procedimientos para determinar fondos.
- ISO 14701:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
- ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Medición del espesor del óxido de silicio
- ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
- ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
- ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
- ISO/TR 19319:2003
- ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
- ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
- ISO/CD 5861 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
- ISO/DIS 5861:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Espectroscopia fotoeléctrica
- GB/T 41072-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Directrices para el análisis de espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta
- GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
- GB/T 36401-2018 Análisis químico de superficies: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: informes de resultados de análisis de películas delgadas
British Standards Institution (BSI), Espectroscopia fotoeléctrica
- BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
- BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
- BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
- BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
- BS ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
- BS ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
- BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
- BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- BS ISO 14701:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
- 23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
- BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
- BS ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Estimar y reportar límites de detección para elementos en materiales homogéneos.
- 20/30423741 DC BS ISO 19318. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de los métodos utilizados para el control y la corrección de cargos.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectroscopia fotoeléctrica
- GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
- GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
- GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
- GB/T 31470-2015 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones Auger y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
- GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
- GB/T 31472-2015
- GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
- GB/Z 32490-2016 Procedimiento para la determinación de fondo mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X para análisis químico de superficies.
- GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
- GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
- GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
- GB/T 29556-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistas por el analizador.
- GB/T 25188-2010 Mediciones de espesor para capas ultrafinas de óxido de silicio en obleas de silicio Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
- GB/T 28633-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
- GB/T 25185-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga.
- GB/T 30702-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
Professional Standard - Electron, Espectroscopia fotoeléctrica
- SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- SJ/T 10714-1996 Práctica estándar para comprobar las características de funcionamiento de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectroscopia fotoeléctrica
- ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E995-16 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
- ASTM E995-11 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopia electrónica de Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X
- ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E2108-16 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E2735-14(2020) Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
- ASTM E902-94(1999) Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E1523-97 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
- ASTM E1523-15
未注明发布机构, Espectroscopia fotoeléctrica
- BS ISO 18516:2006(2010) Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
- BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
Association Francaise de Normalisation, Espectroscopia fotoeléctrica
- NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).
- NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro e informes de datos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Espectroscopia fotoeléctrica
- GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
- GB/T 33502-2017 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS)
KR-KS, Espectroscopia fotoeléctrica
- KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
Group Standards of the People's Republic of China, Espectroscopia fotoeléctrica
- T/ZSA 39-2020 Caracterización del grafeno - Función de trabajo - Método de espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta (UPS)
- T/ZGIA 002-2020 Métodos de prueba de grafeno Determinación de la función de trabajo Espectroscopia de fotoelectrones ultravioleta
Standard Association of Australia (SAA), Espectroscopia fotoeléctrica
- AS ISO 15472:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Espectroscopia fotoeléctrica
- JIS K 0152:2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
- JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos