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Forma de pico espectral

Forma de pico espectral, Total: 85 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Forma de pico espectral son: Optoelectrónica. Equipo láser, Química analítica, Equipo medico, Tecnología gráfica, Gráficos de computadora, Dispositivos semiconductores, Geología. Meteorología. Hidrología, Calidad del agua, Fotografía, Comunicaciones de fibra óptica., Tratamiento superficial y revestimiento., Corrosión de metales, Materiales de construcción, Óptica y medidas ópticas., Frutas. Verduras, Combustibles, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios..


Professional Standard - Electron, Forma de pico espectral

  • SJ 2355.7-1983 Método de medición de la longitud de onda de emisión máxima y el ancho de banda de radiación espectral de dispositivos emisores de luz.
  • SJ 2658.12-1986 Métodos de medición para diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición para la longitud de onda de emisión máxima y la mitad del ancho espectral
  • SJ/T 2658.12-2015 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos. Parte 12: Longitud de onda de emisión máxima y ancho de banda radiante espectral.
  • SJ/Z 3206.6-1989 Formas y dimensiones del electrodo de grafito para el espectro de emisión.

International Organization for Standardization (ISO), Forma de pico espectral

  • ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 20903:2006 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • ISO 17560:2002
  • ISO 24585-1:2023 Tecnología gráfica. Medición de imágenes multiespectrales y cálculo colorimétrico para artes gráficas y aplicaciones industriales. Parte 1: Parámetros y métodos de medición.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Forma de pico espectral

  • GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

British Standards Institution (BSI), Forma de pico espectral

  • BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • BS ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • BS EN ISO 8599:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • BS ISO 13655:2017 Tecnología gráfica. Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
  • BS ISO 20903:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • BS ISO 24585-1:2023 Tecnología gráfica. Medición de imágenes multiespectrales y cálculo colorimétrico para artes gráficas y aplicaciones industriales: parámetros y métodos de medición
  • BS ISO 24585-2:2023 Tecnología gráfica. Medición de imágenes multiespectrales y cálculo colorimétrico para artes gráficas y aplicaciones industriales. Requisitos para superficies decorativas.
  • BS ISO 17560:2002 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
  • BS ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad boro en silicio.
  • 23/30449567 DC BS ISO 24585-2. Tecnología gráfica. Medición de imágenes multiespectrales y cálculo colorimétrico para artes gráficas y aplicaciones industriales. Parte 2. Requisitos para superficies decorativas.
  • BS EN 17265:2019 Productos alimenticios. Determinación de elementos y sus especies químicas. Determinación de aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)
  • 23/30449564 DC BS ISO 24585-1. Tecnología gráfica. Medición de imágenes multiespectrales y cálculo colorimétrico para artes gráficas y aplicaciones industriales - Parte 1. Parámetros y métodos de medición

GSO, Forma de pico espectral

  • GSO ISO 19830:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • BH GSO ISO 19830:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • OS GSO ISO 13655:2015 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
  • BH GSO ISO 13655:2017 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
  • BH GSO ISO 20903:2016 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • GSO ISO 20903:2013 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • GSO ISO 5-3:2015 Fotografía y tecnología gráfica -- Mediciones de densidad -- Parte 3: Condiciones espectrales
  • GSO IEC 61290-3-1:2014 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Forma de pico espectral

  • ASTM E827-07 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
  • ASTM E827-95 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
  • ASTM E827-02 Práctica estándar para identificar elementos por los picos en espectroscopía electrónica Auger
  • ASTM G177-03(2020) Tablas estándar para distribuciones espectrales ultravioleta solares de referencia: hemisféricas en 37° Superficie inclinada
  • ASTM G177-03 Tablas estándar para distribuciones espectrales ultravioleta solares de referencia: hemisféricas en 37 superficies inclinadas
  • ASTM G177-03(2008)e1 Tablas estándar para distribuciones espectrales ultravioleta solares de referencia: hemisférica en 37x00B0; Superficie inclinada
  • ASTM G177-03e1 Tablas estándar para distribuciones espectrales ultravioleta solares de referencia: hemisféricas en 37 superficies inclinadas
  • ASTM G173-03(2020) Tablas estándar para las irradiaciones espectrales solares de referencia: normal directa y hemisférica en 37° Superficie inclinada
  • ASTM D8214-18 Método de prueba estándar para formas de azufre en el carbón mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

SCC, Forma de pico espectral

  • AWWA ACE68624 Espectroscopía de fluorescencia y formación de subproductos de desinfección
  • 08/30192852 DC Norma ISO 5-3. Fotografía y tecnología gráfica. Mediciones de densidad espectral. Parte 3. Condiciones espectrales
  • UNE-EN ISO 8599:1997 ÓPTICA E INSTRUMENTOS ÓPTICOS. LENTES DE CONTACTO. DETERMINACIÓN DE LA TRANSMITANCIA ESPECTRAL Y LUMINOSA. (ISO 8599:1994).
  • NS-EN ISO 8599:1996 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa (ISO 8599:1994).
  • BS ISO 13655:1996 Tecnología gráfica. Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
  • DANSK DS/ISO 13655:2017 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
  • BS ISO 20903:2006 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • 07/30174471 DC BS ISO 13655. Tecnología gráfica. Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
  • AWWA JAW48196 Revista AWWA — Monitoreo de la formación de DBP con espectroscopia UV diferencial
  • VDI/VDE 2631 BLATT 11-2020 Tecnología de medición de formas: análisis espectral (análisis de Fourier, análisis armónicos)
  • AWWA WQTC65806 El efecto del fosfato en las propiedades morfológicas y espectroscópicas de las tuberías de cobre para agua potable que experimentan corrosión localizada
  • DANSK DS/ISO/TS 19620:2018 Calidad del agua – Determinación de especies de arsénico(III) y arsénico(V) – Método mediante cromatografía líquida de alta resolución (HPLC) con detección mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) o espectro de fluorescencia atómica de generación de hidruros...
  • BS PD ISO/TS 19620:2018 Calidad del agua. Determinación de especies de arsénico(III) y arsénico(V). Método que utiliza cromatografía líquida de alta resolución (HPLC) con detección mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) o espectrometría de fluorescencia atómica de generación de hidruros...
  • AWWA WQTC69299 Postprocesamiento de firmas fluorescentes espectrales mediante modelo de análisis de componentes principales para la determinación del carácter orgánico y el potencial de formación de THM
  • 08/30192846 DC Norma ISO 5-1. Fotografía y tecnología gráfica. Mediciones de densidad espectral. Parte 1. Vocabulario, símbolos y notaciones.
  • 08/30192849 DC Norma ISO 5-2. Fotografía y Tecnología Gráfica. Mediciones de densidad espectral. Parte 2. Condiciones geométricas para la densidad de transmisión.
  • 08/30192855 DC Norma ISO 5-4. Fotografía y tecnología gráfica. Mediciones de densidad espectral. Parte 4. Condiciones geométricas para la densidad de reflexión.
  • NS-EN 17265:2019 Productos alimenticios. Determinación de elementos y sus especies químicas. Determinación de aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP-OES).
  • DANSK DS/EN 17265:2019 Productos alimenticios – Determinación de elementos y sus especies químicas – Determinación de aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)

Association Francaise de Normalisation, Forma de pico espectral

  • NF S11-687:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • NF C93-805-3-2*NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
  • NF X21-051*NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Forma de pico espectral

  • KS B ISO 8599-2014(2019) Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • KS B ISO 8599-2019 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
  • KS X ISO 13655-2006(2016) Tecnología gráfica-Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
  • KS X ISO 13655:2021 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
  • KS X ISO 13655-2006(2021) Tecnología gráfica-Medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.
  • KS A ISO 5-3-2021 Fotografía y tecnología gráfica-Medidas de densidad-Parte 3: Condiciones espectrales
  • KS C IEC 61290-3-2:2005 Amplificadores ópticos-Parte 3-2:Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido-Método del analizador de espectro eléctrico
  • KS P ISO 9913-1-2014(2019) Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Parte 1: Determinación de la permeabilidad y transmisibilidad al oxígeno con el método polarográfico.
  • KS P ISO 9913-1-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Parte 1: Determinación de la permeabilidad y transmisibilidad al oxígeno con el método polarográfico.
  • KS D ISO 17560:2003 Análisis químico de superficie-Espectrometría de masas secundaria-Método para perfilar en profundidad el boro en silicio

American National Standards Institute (ANSI), Forma de pico espectral

  • ANSI CGATS.5-2009 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas

KR-KS, Forma de pico espectral

  • KS X ISO 13655-2021 Tecnología gráfica: medición espectral y cálculo colorimétrico para imágenes de artes gráficas.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Forma de pico espectral

  • GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • GB/T 28893-2024 Análisis químico de superficies Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X Métodos para determinar las intensidades de los picos e información necesaria para informar los resultados

Professional Standard - Ocean, Forma de pico espectral

  • HY/T 152-2013 Especiación de arsénico trivalente y arsénico pentavalente en agua de mar mediante espectroscopia de fluorescencia atómica

卫生健康委员会, Forma de pico espectral

  • WS/T 635-2018 Determinación de la especiación de arsénico en cromatografía líquida urinaria-método de fluorescencia atómica

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Forma de pico espectral

  • JIS T 0306:2002 Análisis de estado de películas pasivas formadas sobre biomateriales metálicos mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.

Professional Standard - Agriculture, Forma de pico espectral

  • NY/T 1841-2010 Determinación no destructiva de sólidos solubles y acidez titulable en manzanas por NIR

ES-UNE, Forma de pico espectral

  • ISO 24585-2:2023 Tecnología gráfica. Medición de imágenes multiespectrales y cálculo colorimétrico para artes gráficas y aplicaciones industriales. Parte 2: Requisitos para superficies decorativas.
  • UNE-EN 17265:2020 Productos alimenticios - Determinación de elementos y sus especies químicas - Determinación de aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, Forma de pico espectral

  • PREN 3733-001-1995 Conector óptico circular de la serie aeroespacial@ Canal único@ Acoplado por anillo autoblocante Temperaturas de funcionamiento 150 grados Celsius continuo 200 grados Celsius continuo@ 260 grados Celsius pico y resistente al fuego Parte 001: Especificación técnica

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Forma de pico espectral

  • DB22/T 1605-2012 Determinación rápida y no destructiva de cenizas, humedad, sólidos insolubles en agua y extractos de butanol saturados de agua en ginseng mediante espectroscopia de infrarrojo cercano




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