ZH
EN
ES

Форма спектрального пика

Форма спектрального пика, Всего: 54 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Форма спектрального пика, являются: Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Аналитическая химия, Медицинское оборудование, Графические технологии, Компьютерная графика, Полупроводниковые приборы, Геология. Метеорология. Гидрология, Качество воды, Оптоволоконная связь, Обработка поверхности и покрытие, Коррозия металлов, Оптика и оптические измерения, Фрукты. Овощи, Топливо, Общие методы испытаний и анализа пищевых продуктов.

Professional Standard - Electron, Форма спектрального пика

SJ 2355.7-1983 Метод измерения пиковой длины волны излучения и спектральной полосы пропускания излучения светоизлучающих устройств
SJ 2658.12-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения пиковой длины волны излучения и полуширины спектра
SJ/T 2658.12-2015 Метод измерения полупроводниковых инфракрасных диодов. Часть 12: Пиковая длина волны излучения и спектральная полоса излучения.
SJ/Z 3206.6-1989 Формы и размеры графитового электрода для определения спектра излучения

International Organization for Standardization (ISO), Форма спектрального пика

ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
ISO 20903:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 20903:2019 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 17560:2002 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии.
ISO 24585-1:2023 Графическая технология. Измерение мультиспектральных изображений и колориметрические вычисления для полиграфии и промышленного применения. Часть 1. Параметры и методы измерения.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Форма спектрального пика

GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.

British Standards Institution (BSI), Форма спектрального пика

BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
BS ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS ISO 13655:2017 Графическая технология. Спектральные измерения и колориметрические вычисления графических изображений
BS ISO 20903:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS ISO 24585-1:2023 Графическая технология. Измерение мультиспектральных изображений и колориметрические вычисления для полиграфии и промышленного применения. Параметры и методы измерения
BS ISO 24585-2:2023 Графическая технология. Мультиспектральные измерения изображений и колориметрические вычисления для полиграфии и промышленного применения. Требования к декоративным поверхностям
BS ISO 17560:2002 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии.
BS ISO 17560:2014 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии
23/30449567 DC БС ИСО 24585-2. Графическая технология. Мультиспектральные измерения изображений и колориметрические расчеты для полиграфии и промышленного применения. Часть 2. Требования к декоративным поверхностям
BS EN 17265:2019 Продовольственные товары. Определение элементов и их химических разновидностей. Определение алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ICP-OES)
23/30449564 DC БС ИСО 24585-1. Графическая технология. Измерение мультиспектральных изображений и колориметрические вычисления для полиграфии и промышленного применения. Часть 1. Параметры и методы измерения

American Society for Testing and Materials (ASTM), Форма спектрального пика

ASTM E827-07 Стандартная практика идентификации элементов по пикам в электронной оже-спектроскопии
ASTM E827-95 Стандартная практика идентификации элементов по пикам в электронной оже-спектроскопии
ASTM E827-02 Стандартная практика идентификации элементов по пикам в электронной оже-спектроскопии
ASTM G177-03(2020) Стандартные таблицы для справочных спектральных распределений солнечного ультрафиолета: полусферическое на 37° Наклоненная поверхность
ASTM G177-03 Стандартные таблицы для справочных спектральных распределений солнечного ультрафиолета: полусфера на 37 наклоненной поверхности
ASTM G177-03e1 Стандартные таблицы для справочных спектральных распределений солнечного ультрафиолета: полусфера на 37 наклоненной поверхности
ASTM G177-03(2008)e1 Стандартные таблицы для справочных спектральных распределений солнечного ультрафиолета: полусферическое на 37x00B0; Наклоненная поверхность
ASTM G173-03(2020) Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямого нормального и полусферического на 37° Наклоненная поверхность
ASTM D8214-18 Стандартный метод определения форм серы в угле методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой

Association Francaise de Normalisation, Форма спектрального пика

NF S11-687:1997 Оптика и оптические приборы. Контактные линзы. Определение спектрального и светового коэффициента пропускания.
NF X21-058:2006 Химический анализ поверхности — электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
NF C93-805-3-2*NF EN 61290-3-2:2009 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-2. Параметры коэффициента шума. Метод анализатора электрического спектра.
NF X21-051*NF ISO 17560:2006 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Форма спектрального пика

KS B ISO 8599-2014(2019) Оптика и оптические приборы. Линзы контактные. Определение спектрального и светового коэффициента пропускания.
KS X ISO 13655-2006(2016) Графические технологии – спектральные измерения и колориметрические вычисления для графических изображений.
KS X ISO 13655:2021 Графические технологии. Спектральные измерения и колориметрические вычисления для графических изображений.
KS X ISO 13655-2006(2021) Графические технологии – спектральные измерения и колориметрические вычисления для графических изображений.
KS C IEC 61290-3-2:2005 Оптические усилители. Часть 3. 2: Методы испытаний параметров коэффициента шума. Метод анализа электрического спектра.
KS P ISO 9913-1-2014(2019) Оптика и оптические приборы. Контактные линзы. Часть 1. Определение кислородопроницаемости и пропускаемости полярографическим методом.
KS D ISO 17560:2003 Поверхностный химический анализ－Вторичная масс-спектрометрия－Метод глубинного профиля бора в кремнии

未注明发布机构, Форма спектрального пика

BS EN ISO 8599:1997 Оптика и оптические приборы. Линзы контактные. Определение спектрального и светового коэффициента пропускания.

American National Standards Institute （ANSI), Форма спектрального пика

ANSI CGATS.5-2009 Графические технологии. Спектральные измерения и колориметрические вычисления для графических изображений.

KR-KS, Форма спектрального пика

KS X ISO 13655-2021 Графические технологии. Спектральные измерения и колориметрические вычисления для графических изображений.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Форма спектрального пика

GB/T 28893-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая при сообщении о результатах.

Professional Standard - Ocean, Форма спектрального пика

HY/T 152-2013 Видообразование трехвалентного и пятивалентного мышьяка в морской воде методом атомно-флуоресцентной спектроскопии.

卫生健康委员会, Форма спектрального пика

WS/T 635-2018 Определение образования мышьяка в жидкостной хроматографии мочи методом атомной флуоресценции

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Форма спектрального пика

JIS T 0306:2002 Анализ состояния пассивной пленки, сформированной на металлических биоматериалах, методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Professional Standard - Agriculture, Форма спектрального пика

NY/T 1841-2010 Неразрушающее определение растворимого сухого вещества и титруемой кислотности в плодах яблони методом БИК.

ES-UNE, Форма спектрального пика

ISO 24585-2:2023 Графические технологии. Измерение мультиспектральных изображений и колориметрические вычисления для полиграфии и промышленного применения. Часть 2. Требования к декоративным поверхностям.
UNE-EN 17265:2020 Пищевые продукты - Определение элементов и их химических форм - Определение алюминия методом оптической эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ICP-OES)

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, Форма спектрального пика

PREN 3733-001-1995 Круглый оптический разъем аэрокосмической серии @ Одноканальный @ Соединен самоблокирующимся кольцом Рабочие температуры 150 градусов Цельсия непрерывно 200 градусов Цельсия непрерывно @ 260 градусов Пиковая и огнестойкость Часть 001: Технические характеристики

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Форма спектрального пика

DB22/T 1605-2012 Неразрушающее и быстрое определение золы, влаги, водонерастворимых твердых веществ и водонасыщенных бутанольных экстрактов в женьшене методом ближней инфракрасной спектроскопии.