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SEM, Total: 18 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en SEM son: Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Calidad del aire, Educación.

British Standards Institution (BSI), SEM

• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM

• JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.

Professional Standard - Commodity Inspection, SEM

• SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.

International Organization for Standardization (ISO), SEM

• ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, SEM

• JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Professional Standard - Machinery, SEM

• JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
• JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, SEM

• JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
• JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM

• KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
• KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
• KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
• KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
• KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM

• ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
• ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido

KR-KS, SEM

• KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario

Professional Standard - Education, SEM

• JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.

Otros:   Microscópio electrónico escaneando, Microscopía electrónica y microscopía electrónica de barrido., SEM, Microscópio electrónico escaneando, Microscópio electrónico escaneando, SEM, SEM, Escaneo con microscopio electrónico, Microscopio electrónico de barrido, SEM, Microscopio electrónico de barrido Microscopio electrónico de barrido Microscopio electrónico de barrido, SEM, Microscopio electrónico de barridoOtros microscopios electrónicos, Microscopio electrónico de barrido Microscopio electrónico de barrido, Microscopio electrónico de barrido Microscopio electrónico de barrido, Parámetros SEM, microscopio electrónico de campo microscopio electrónico de barrido, Microscopio electrónico de barrido Microscopio electrónico de barrido, Microscópio electrónico escaneando, Microscópio electrónico escaneando.