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SEM, Total: 176 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en SEM son: Equipo óptico, Calidad del aire, Óptica y medidas ópticas., Educación, Medidas lineales y angulares., Vocabularios, Química analítica, Tratamiento superficial y revestimiento., Metales no ferrosos, Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Dispositivos de visualización electrónica., Pinturas y barnices, pruebas de metales, Fibras textiles, Optoelectrónica. Equipo láser, Materiales de construcción, Productos de hierro y acero., Física. Química, Cerámica, Pesca y cría de peces., Equipo medico.
British Standards Institution (BSI), SEM
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
- BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
- BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
- BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
- BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
- BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
- 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM
- JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
- JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
- JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
Professional Standard - Commodity Inspection, SEM
- SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
- SN/T 3009-2011 Identificación de la corrosión del agua de mar en superficies metálicas mediante SEM.
International Organization for Standardization (ISO), SEM
- ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
- ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
- ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
- ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
- ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
- ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
- ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
- ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
- ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
American Society for Testing and Materials (ASTM), SEM
- ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
- ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
- ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
- ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
- ASTM C1723-16
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-14e1
- ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
- ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
- ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, SEM
- JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
- JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido
Professional Standard - Machinery, SEM
- JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
- JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
- JB/T 7503-1994 Espesor de la sección transversal de recubrimientos metálicos Método de medición mediante microscopio electrónico de barrido
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, SEM
- JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
- JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM
- KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
- KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
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- KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
- KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
- KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
- KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
- KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
- KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
- KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KR-KS, SEM
- KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
- KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
Professional Standard - Education, SEM
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- JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
- JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido
- JY/T 0586-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía confocal de barrido láser.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM
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- GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
- GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
- GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
- GB/T 17359-1998
- GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
- GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
- GB/T 17362-1998
- GB/T 30834-2014 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero. Microscopio electrónico de barrido
- GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 36422-2018 Fibra sintética. Método de prueba para micromorfología y diámetro. Método de microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 30834-2022 Clasificación y clasificación de inclusiones en acero: método del microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
- GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
- GB/T 14593-2008 Método de análisis cuantitativo de cachemira, lana y sus mezclas. Método de microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
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- T/QGCML 1940-2023
- T/CSTM 00229-2020 Identificación de materiales de grafeno en materiales de recubrimiento Método de microscopio electrónico de barrido-espectrómetro de dispersión de energía
- T/NLIA 004-2021 Método de prueba de tracción SEM in situ para aleaciones de aluminio fabricadas con aditivos
- T/CSTM 00346-2021 Clasificación automática y estadística de las inclusiones en el acero. Método del espectro de dispersión de energía del microscopio electrónico de barrido.
- T/GAIA 017-2022 Determinación del contenido de flúor en el revestimiento superficial de aluminio y aleaciones de aluminio. Método del microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
Professional Standard - Petroleum, SEM
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- SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM
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Association of German Mechanical Engineers, SEM
- VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
- VDI 3866 Blatt 5-2017 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
- VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
国家能源局, SEM
- SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, SEM
- GJB 2666A-2018 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
- GJB 2666-1996 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
- GJB 737.11-1993 Métodos de prueba para productos químicos pirotécnicos Determinación del tamaño de partículas Microscopía electrónica de barrido
- GJB 8288-2014 Reglamento de verificación para el sistema de cámara de racha de espejo giratorio de velocidad ultraalta
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, SEM
- GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
- GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM
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Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM
- DB32/T 4546-2023 Especificaciones técnicas para la inspección automatizada de imágenes de diatomeas mediante microscopios electrónicos de barrido.
- DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno
Professional Standard - Judicatory, SEM
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, SEM
- GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes
- GB/T 38783-2020 Método de determinación del espesor del recubrimiento para compuestos de metales preciosos mediante microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
Association Francaise de Normalisation, SEM
- NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
- NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
- XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
- NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
- NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
SE-SIS, SEM
European Committee for Standardization (CEN), SEM
- EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
- EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
- EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
- prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
RU-GOST R, SEM
- GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
- GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
- GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
- GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
Danish Standards Foundation, SEM
German Institute for Standardization, SEM
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
- DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
- DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
Professional Standard - Public Safety Standards, SEM
- GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
- GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
- GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
- GA/T 1418-2017 Examen de composición elemental de evidencia de vidrio de ciencia forense Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía
- GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
- GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
- GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
ES-UNE, SEM
- UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
- UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)
工业和信息化部, SEM
- YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.
- SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM
- DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, SEM
- GJB 5891.6-2006 Método de prueba de carga de material para iniciar un dispositivo explosivo Parte 6: Medición del tamaño de grano Microscopía electrónica de barrido
AENOR, SEM
- UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).
Lithuanian Standards Office , SEM
- LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).
AT-ON, SEM
- OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
BE-NBN, SEM
- NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).
Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM
- DB37/T 420.2-2004 Protocolo de diagnóstico de la enfermedad del dedo de escorpión en peces de maricultura, parte 2: método de diagnóstico por microscopía electrónica de barrido
未注明发布机构, SEM
- BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
国家食品药品监督管理局, SEM