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Separación de impurezas

Separación de impurezas, Total: 36 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Separación de impurezas son: Dispositivos semiconductores, Componentes de tuberías y tuberías., Plantas y equipos para la industria alimentaria., Química analítica, Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, químicos inorgánicos, Químicos orgánicos, Leche y productos lácteos, pruebas de metales, Calidad del agua.


Group Standards of the People's Republic of China, Separación de impurezas

  • T/CASAS 010-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de GaN mediante espectrometría de masas de iones secundarios
  • T/CASAS 009-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de SiC semiaislantes mediante espectrometría de masas de iones secundarios
  • T/CBWQA 0003-2013 Separador de suciedad

Association Standard - China Boiler Water Quality Association Standards, Separación de impurezas

CZ-CSN, Separación de impurezas

  • CSN 68 4154-1989 Concentración de las impurezas por el método de intercambio iónico.
  • CSN 68 4151-1987 Concentración de las impurezas por el método de vaporización.

Indonesia Standards, Separación de impurezas

  • SNI 02-1189-1989 Separador de impurezas de agua y aceite de palma, Prueba de desempeño

VN-TCVN, Separación de impurezas

  • TCVN 2315-1978 Reactivos.Método para la determinación de impurezas aniónicas.

RU-GOST R, Separación de impurezas

  • GOST 10671.0-2016 Reactivos. Requisitos generales para los métodos de análisis de impurezas aniónicas.
  • GOST 10671.0-1974 Reactivos. Requisitos generales para los métodos de análisis de impurezas aniónicas.
  • GOST R 57061-2016 Cobre. Medición de la fracción de masa de impurezas en cobre mediante un método de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

American Society for Testing and Materials (ASTM), Separación de impurezas

  • ASTM E1438-06 Guía estándar para medir anchos de interfaces en perfiles de profundidad de pulverización catódica utilizando SIMS
  • ASTM D5996-05 Método de prueba estándar para medir contaminantes aniónicos en agua de alta pureza mediante cromatografía iónica en línea
  • ASTM UOP720-93 Impurezas en p-xileno de alta pureza por GC

HU-MSZT, Separación de impurezas

  • MSZ 11787-1979 IPARI OLAJOK EMULZI? SZ?TV?L?SI HAJLAM?NAK MEGHAT?ROZ?SA KEVER?SI ELJ?R?SSAL
  • MSZ 1891/1-1979 AC?LFEL?LETEK EL?K?SZ?T?SE FEL?LETV?DELEMHEZ Szennyez?dések és tisztasági fokozatok

International Organization for Standardization (ISO), Separación de impurezas

  • ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
  • ISO 14237:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente

Association Francaise de Normalisation, Separación de impurezas

  • NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Separación de impurezas

  • GB/T 20176-2006 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
  • GB/T 31197-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Determinación de aniones de impurezas. Método de cromatografía iónica
  • GB/T 5413.30-1997 Leche y leche en polvo. Determinación de impurezas.

British Standards Institution (BSI), Separación de impurezas

  • BS ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente

Professional Standard - Coal, Separación de impurezas

  • MT/T 807-1999 Separación del grupo vitrinita en carbón bituminoso.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Separación de impurezas

  • GB/T 35925-2018 Determinación de impurezas de iones flúor en productos químicos solubles en agua: método de cromatografía iónica

工业和信息化部, Separación de impurezas

  • YS/T 1497-2021 Método de análisis para compuestos de platino Determinación del contenido de aniones de impurezas Cromatografía iónica
  • YS/T 1496-2021 Método de análisis para compuestos de paladio Determinación del contenido de aniones de impurezas Cromatografía iónica

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Separación de impurezas

  • JIS K 1800:1978 Métodos analíticos para trazas de impurezas en etileno de alta pureza.

Universal Oil Products Company (UOP), Separación de impurezas

  • UOP 720-2008 Impurezas y pureza del p-xileno de alta pureza mediante GC

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Separación de impurezas

  • KS I ISO 6332:2021 Calidad del agua. Determinación del hierro. Método espectrométrico utilizando 1,10-fenantrolina.
  • KS D ISO 14237:2003 Análisis químico de superficies－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente

KR-KS, Separación de impurezas

  • KS I ISO 6332-2021 Calidad del agua. Determinación del hierro. Método espectrométrico utilizando 1,10-fenantrolina.

Professional Standard - Automobile, Separación de impurezas

  • QC/T 575-1999 El método de análisis de impurezas en la pauta de trabajo de limpieza del automóvil.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Separación de impurezas

  • YS/T 473-2015 Métodos de análisis químico del galio industrial. Determinación de elementos de impureza. Método analítico ICP-MS.
  • YS/T 473-2005 Determinación de elementos de impureza en galio para uso industrial-método analítico ICP-MS
  • YS/T 742-2010 Métodos para el análisis químico del óxido de galio Determinación de impurezas Método del espectrómetro de masas de plasma acoplado inductivamente

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