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Parámetros espectrales

Parámetros espectrales, Total: 115 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Parámetros espectrales son: Estandarización. Reglas generales, carbones, ingeniería de energía solar, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Optoelectrónica. Equipo láser, Comunicaciones de fibra óptica., Vocabularios, Mediciones de radiación, Equipo óptico.

Group Standards of the People's Republic of China, Parámetros espectrales

T/SZFAA 01-2018 Especificación de parámetros espectrales de fuentes de radiación artificiales para plantas

RU-GOST R, Parámetros espectrales

GOST R 52205-2004 Brasas. Método para la determinación espectrométrica de parámetros genéticos y tecnológicos.
GOST 26874-1986 Espectrómetros de potencia de radiación ionizante. Métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 20766-1975 Detectores de espectrómetros semiconductores de radiación ionizante. Tipos y parámetros básicos.
GOST 17173-1981 Rendijas espectrales y accesorios a ellas. Tipos, parámetros básicos y dimensiones. Requerimientos técnicos

American National Standards Institute （ANSI), Parámetros espectrales

ANSI/ASTM E973M:1996 Método de prueba para la determinación del parámetro de desajuste espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica (métrico)
ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico
ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Amplificadores de fibra óptica - Especificación básica Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico

Professional Standard - Machinery, Parámetros espectrales

JB/T 8231-1999 Los parámetros básicos de los espectrógrafos de rejillas planas.

CZ-CSN, Parámetros espectrales

CSN 35 6535-1983 Instrumentos electrónicos de medida. Analizadores de espectros de procesos sucesivos. Nomenclatura de parámetros

American Society for Testing and Materials (ASTM), Parámetros espectrales

ASTM E973-10 Método de prueba estándar para la determinación del parámetro de discrepancia espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica
ASTM E973-91e1 Método de prueba para la determinación del parámetro de desajuste espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica
ASTM E973-02 Método de prueba estándar para la determinación del parámetro de discrepancia espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica
ASTM E973-05a Método de prueba estándar para la determinación del parámetro de discrepancia espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica
ASTM E973-05 Método de prueba estándar para la determinación del parámetro de discrepancia espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica
ASTM E973-15 Método de prueba estándar para la determinación del parámetro de discrepancia espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica
ASTM E973-10(2015) Método de prueba estándar para la determinación del parámetro de discrepancia espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica
ASTM E973-16(2020) Método de prueba estándar para la determinación del parámetro de discrepancia espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica
ASTM E973-16 Método de prueba estándar para la determinación del parámetro de discrepancia espectral entre un dispositivo fotovoltaico y una celda de referencia fotovoltaica

International Organization for Standardization (ISO), Parámetros espectrales

ISO/DIS 14594 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
ISO 14594:2003 Analyse par microfaisceaux - Analyse par microsonde électronique (Microsonde de Castaing) - Líneas directrices para la determinación de parámetros experimentales para la espectrometría de dispersión de longitud de onda
ISO 14594:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
ISO 14594:2003/Cor 1:2009 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda; Corrigendum técnico 1
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Parámetros espectrales

KS D ISO 14594:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-3-2:2005 Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
KS D ISO 14594:2012 Análisis de microhaces－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－2：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) Amplificadores ópticos－Parte 3－2：Métodos de prueba para parámetros de figura de ruido－Método del analizador de espectro eléctrico
KS C IEC 60904-3-2010(2020) Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

KR-KS, Parámetros espectrales

KS D ISO 14594-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
KS D ISO 14594-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Parámetros espectrales

CNS 13059-3-1992 Dispositivos fotovoltaicos Parte 3`75Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos terrestres`6rPV`6s con datos de irradiancia espectral de referencia
CNS 13059.3-1992 Dispositivos fotovoltaicos Parte 3`75Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos terrestres`6rPV`6s con datos de irradiancia espectral de referencia

British Standards Institution (BSI), Parámetros espectrales

BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
23/30425940 DC BS ISO 14594. Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 60904-3:2008 Dispositivos fotovoltaicos. Parte 3: Principios de medición de dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia.
BS EN 60904-3:2016 Dispositivos fotovoltaicos. Principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
BS EN IEC 60904-3:2019 Dispositivos fotovoltaicos: principios de medición para dispositivos solares fotovoltaicos (PV) terrestres con datos de irradiancia espectral de referencia
BS EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
BS EN 61290-3-2:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros del factor de ruido - Método del analizador de espectro eléctrico
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
19/30398879 DC BS EN 61290-1-1. Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
18/30387381 DC BS EN 61290-1-1 Ed.4.0. Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico
BS ISO 14594:2003 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
BS ISO 14594:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS EN 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.

未注明发布机构, Parámetros espectrales

DIN EN IEC 61290-1-1:2022 Métodos de prueba para amplificadores de fibra óptica – Parte 1 1: Parámetros de ganancia y rendimiento óptico – Método del analizador de espectro óptico
BS EN 61290-3-1:2003(2004) Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3 - 1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.

German Institute for Standardization, Parámetros espectrales

DIN 5030-1:1985 Medición espectral de radiación; terminología, cantidades, valores característicos
DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
DIN EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-3-1:2004-05 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003); Versión alemana EN 61290-3-1:2003
DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.
DIN EN 61290-1-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006); Versión alemana EN 61290-1-1:2006
DIN 58389-2:1996 Telescopios - Parámetros fotométricos para telescopios de observación y miras telescópicas - Parte 2: Determinación de la transmisión espectral
DIN EN 61290-10-4:2008 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 10-4: Parámetros multicanal - Método de sustracción de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico (IEC 61290-10-4:2007); Versión alemana EN 61290-10-4:2007
DIN EN IEC 61290-1-1:2019 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 86C/1563/CD:2018); Texto en alemán e inglés.
DIN EN IEC 61290-1-1:2022-07 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020); Versión alemana EN IEC 61290-1-1:2020 / Nota: DIN EN 61290-1-1 (2016-03) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2023-10...

International Electrotechnical Commission (IEC), Parámetros espectrales

IEC 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.

Association Francaise de Normalisation, Parámetros espectrales

NF C93-805-5-1*NF EN 61290-5-1:2006 Métodos de prueba de amplificadores ópticos. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico
NF X21-002:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
NF C93-805-3-2*NF EN 61290-3-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-2: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF C93-805-1-1:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico.
NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-4: parámetros multicanal. Método de resta de fuente interpolada utilizando un analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 60904-3:2019 Dispositivos fotovoltaicos - Parte 3: principios de medición de dispositivos solares fotovoltaicos (PV) para uso terrestre, incluidos datos de iluminancia espectral de referencia

ZA-SANS, Parámetros espectrales

SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

Danish Standards Foundation, Parámetros espectrales

DS/EN 61290-5-1:2006
DS/EN 61290-3-1:2004
DS/EN 61290-1-1:2007
DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico

ES-UNE, Parámetros espectrales

UNE-EN 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 3-1: Parámetros de la figura de ruido - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en abril de 2004.)
UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2020.)
UNE-EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia - Método analizador de espectro óptico (Ratificado por AENOR en agosto de 2015.)
UNE-EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006). (Ratificada por AENOR en octubre de 2006.)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Parámetros espectrales

EN 61290-1-1:2015 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Parámetros espectrales

EN 61290-2-1:1998 Amplificadores de fibra óptica: especificación básica, parte 2-1: métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro óptico
EN 61290-5-1:2000 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5-1: Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico
EN 61290-2-2:1998 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas Parte 2-2: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica Analizador de espectro eléctrico

Lithuanian Standards Office , Parámetros espectrales

LST EN 61290-3-1-2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-3-1:2003)
LST EN 61290-5-1-2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006).
LST EN 61290-1-1-2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2006).
LST EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020).

PL-PKN, Parámetros espectrales

PN-EN IEC 61290-1-1-2021-06 E Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-1-1:2020).

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Parámetros espectrales

JIS K 0189:2013 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Determinación de parámetros experimentales para espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
JIS C 6122-3-1:2011 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Parámetros espectrales

TIA/EIA-455-209-2000 FOTP-209 Amplificadores de fibra óptica IEC 61290-2-1 - Especificaciones básicas Parte 2-1: Métodos de prueba para parámetros de potencia óptica - Analizador de espectro óptico

Standard Association of Australia （SAA）, Parámetros espectrales

AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados