ZH
EN
ES
Спектральные параметры
Спектральные параметры, Всего: 115 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Спектральные параметры, являются: Стандартизация. Основные правила, Угли, Солнечная энергетика, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Оптоволоконная связь, Словари, Измерения радиации, Оптическое оборудование.
Group Standards of the People's Republic of China, Спектральные параметры
- T/SZFAA 01-2018 Спецификация спектральных параметров искусственных источников излучения для растений
RU-GOST R, Спектральные параметры
- GOST R 52205-2004 Твердые угли. Метод спектрометрического определения генетических и технологических параметров
- GOST 26874-1986 Спектрометры мощности ионизирующего излучения. Методы измерения основных параметров
- GOST 20766-1975 Полупроводниковые спектрометрические детекторы ионизирующего излучения. Типы и основные параметры
- GOST 17173-1981 Спектральные щели и крепления к ним. Типы, основные параметры и размеры. Технические требования
American National Standards Institute (ANSI), Спектральные параметры
- ANSI/ASTM E973M:1996 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом (метрическим)
- ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Оптоволоконные усилители. Базовые спецификации, часть 2-1. Методы тестирования параметров оптической мощности. Анализатор оптического спектра.
- ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209 - IEC 61290-2-1 - Оптоволоконные усилители. Базовые спецификации, часть 2-1. Методы тестирования параметров оптической мощности. Анализатор оптического спектра.
Professional Standard - Machinery, Спектральные параметры
CZ-CSN, Спектральные параметры
- CSN 35 6535-1983 Электронные измерительные приборы. Последовательные анализаторы спектров процессов. Номенклатура параметров
American Society for Testing and Materials (ASTM), Спектральные параметры
- ASTM E973-10 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
- ASTM E973-91e1 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
- ASTM E973-02 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
- ASTM E973-05a Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
- ASTM E973-05 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
- ASTM E973-15 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
- ASTM E973-10(2015) Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
- ASTM E973-16(2020) Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
- ASTM E973-16 Стандартный метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
International Organization for Standardization (ISO), Спектральные параметры
- ISO/DIS 14594 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
- ISO 14594:2003 Анализ по микрофайсу - Анализ по электронному микрозонду (Microsonde de Castaing) - Линии направления для определения экспериментальных параметров для спектрометрии по дисперсии по длине света
- ISO 14594:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
- ISO 14594:2003/Cor 1:2009 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны; Техническое исправление 1
- ISO 15470:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Спектральные параметры
- KS D ISO 14594:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
- KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Оптические усилители-Методы испытаний-Часть 5-1:Параметры отражения -Метод оптического анализатора спектра
- KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Оптические усилители-Методы испытаний-Часть 5-1:Параметры отражения -Метод оптического анализатора спектра
- KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Оптические усилители-Методы испытаний-Часть 3-1:Параметры коэффициента шума-Метод оптического анализатора спектра
- KS C IEC 61290-3-1:2005 Оптические усилители-Методы испытаний-Часть 3-1:Параметры коэффициента шума-Метод оптического анализатора спектра
- KS C IEC 61290-3-2:2005 Оптические усилители. Часть 3. 2: Методы испытаний параметров коэффициента шума. Метод анализа электрического спектра.
- KS D ISO 14594:2012 Микролучевой анализ-Электронно-зондовый микроанализ-Руководство по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны
- KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 10. 2. Многоканальные параметры. Импульсный метод с использованием стробируемого оптического анализатора спектра.
- KS D ISO 15470-2005(2020) Химический анализ поверхности-Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия-Описание выбранных параметров работы прибора
- KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) Оптические усилители. Часть 3. 2: Методы испытаний параметров коэффициента шума. Метод анализа электрического спектра.
- KS C IEC 60904-3-2010(2020) Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных пороков с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
- KS D ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности-Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия-Описание выбранных параметров работы прибора
KR-KS, Спектральные параметры
- KS D ISO 14594-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
- KS D ISO 14594-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Спектральные параметры
- CNS 13059-3-1992 Фотоэлектрические устройства. Часть 3`75. Принципы измерения наземных фотоэлектрических устройств`6rPV`6sСолнечные устройства с эталонными данными спектральной освещенности.
- CNS 13059.3-1992 Фотоэлектрические устройства. Часть 3`75. Принципы измерения наземных фотоэлектрических устройств`6rPV`6sСолнечные устройства с эталонными данными спектральной освещенности.
British Standards Institution (BSI), Спектральные параметры
- BS EN 61290-5-1:2006 Оптические усилители. Методы испытаний. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра.
- 23/30425940 DC BS ISO 14594. Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны
- BS EN IEC 61290-1-1:2020 Оптические усилители. Методы испытаний. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра
- BS EN 60904-3:2008 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (ФЭ) солнечных устройств с эталонными данными спектральной освещенности.
- BS EN 60904-3:2016 Фотоэлектрические устройства. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении
- BS EN IEC 60904-3:2019 Фотоэлектрические устройства. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
- BS EN 61290-3-2:2009 Оптические усилители. Методы испытаний. Параметры коэффициента шума. Метод анализатора электрического спектра
- BS EN 61290-3-2:2008 Оптические усилители. Методы испытаний. Параметры коэффициента шума. Метод анализатора электрического спектра.
- BS EN 61290-10-2:2009 Оптические усилители. Методы испытаний. Многоканальные параметры. Импульсный метод с использованием стробируемого оптического анализатора спектра
- BS EN 61290-10-2:2008 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 10-2. Многоканальные параметры. Импульсный метод с использованием стробируемого оптического анализатора спектра.
- 19/30398879 DC БС ЕН 61290-1-1. Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра
- 18/30387381 DC БС ЕН 61290-1-1 Ред.4.0. Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра
- BS EN 61290-10-4:2007 Оптические усилители. Методы испытаний. Многоканальные параметры. Метод интерполированного вычитания источника с использованием оптического анализатора спектра.
- BS ISO 14594:2003 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
- BS ISO 14594:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны
- BS EN 61290-10-2:2003 Оптические усилители. Методы испытаний. Многоканальные параметры. Импульсный метод с использованием стробируемого оптического анализатора спектра.
- BS EN 61290-1-1:2006 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- BS EN 61290-1-1:2015 Оптические усилители. Методы испытаний. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра
- BS EN 61290-1-1:2007 Оптические усилители. Методы испытаний. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра
- BS ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
- BS ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
未注明发布机构, Спектральные параметры
- DIN EN IEC 61290-1-1:2022 Методы испытаний оптоволоконных усилителей. Часть 1 1. Оптические характеристики и параметры усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- BS EN 61290-3-1:2003(2004) Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3.1. Параметры коэффициента шума. Метод оптического анализатора спектра.
German Institute for Standardization, Спектральные параметры
- DIN 5030-1:1985 Спектральное измерение излучения; терминология, количества, характеристические значения
- DIN EN 61290-5-1:2007 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 5-1. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-5-1:2006); Немецкая версия EN 61290-5-1:2006.
- DIN EN 61290-3-1:2004 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-1. Параметры коэффициента шума. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-3-1:2003); Немецкая версия EN 61290-3-1:2003
- DIN EN 61290-3-1:2004-05 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-1. Параметры коэффициента шума. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-3-1:2003); Немецкая версия EN 61290-3-1:2003
- DIN EN 61290-5-1:2007-03 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 5-1. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-5-1:2006); Немецкая версия EN 61290-5-1:2006 / Примечание: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) остается действительным наряду с этим стандартом до 01 июня 2009 г.
- DIN EN 61290-1-1:2007 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-1-1:2006); Немецкая версия EN 61290-1-1:2006.
- DIN 58389-2:1996 Телескопы. Фотометрические параметры наблюдательных телескопов и оптических прицелов. Часть 2. Определение спектрального пропускания.
- DIN EN 61290-10-4:2008 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 10-4. Многоканальные параметры. Метод интерполированного вычитания источника с использованием анализатора оптического спектра (IEC 61290-10-4:2007); Немецкая версия EN 61290-10-4:2007.
- DIN EN IEC 61290-1-1:2019 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра (IEC 86C/1563/CD:2018); Текст на немецком и английском языках
- DIN EN IEC 61290-1-1:2022-07 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-1-1:2020)
International Electrotechnical Commission (IEC), Спектральные параметры
- IEC 61290-5-1:2006 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 5-1. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра.
- IEC 61290-3-1:2003 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-1. Параметры коэффициента шума; Метод оптического анализатора спектра
- IEC 61290-1-1:2020 RLV Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- IEC 61290-1-1:2020 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- IEC 61290-1-1:2015 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- IEC 61290-1-1:2006 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
Association Francaise de Normalisation, Спектральные параметры
- NF C93-805-5-1*NF EN 61290-5-1:2006 Методы испытаний оптических усилителей. Часть 5-1. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра.
- NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-1. Параметры коэффициента шума. Метод оптического анализатора спектра.
- NF EN 61290-3-1:2004 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-1. Параметры коэффициента шума. Метод оптического анализатора спектра.
- NF EN 61290-5-1:2006 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 5-1. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра.
- NF C93-805-1-1:2020 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- NF EN IEC 61290-1-1:2020 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- NF X21-002:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
- NF C93-805-3-2*NF EN 61290-3-2:2009 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-2. Параметры коэффициента шума. Метод анализатора электрического спектра.
- NF C93-805-1-1:2007 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 10-4. Многоканальные параметры. Метод вычитания интерполированного источника с использованием оптического анализатора спектра.
- NF EN IEC 60904-3:2019 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения солнечных фотоэлектрических (ФЭ) устройств для наземного использования, включая эталонные данные по спектральному излучению.
ZA-SANS, Спектральные параметры
- SANS 61290-5-1:2007 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 5-1. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра.
Danish Standards Foundation, Спектральные параметры
- DS/EN 61290-5-1:2006 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 5-1. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра.
- DS/EN 61290-3-1:2004 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-1. Параметры коэффициента шума. Метод оптического анализатора спектра.
- DS/EN 61290-1-1:2007 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
ES-UNE, Спектральные параметры
- UNE-EN 61290-3-1:2003 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-1. Параметры коэффициента шума. Метод оптического анализатора спектра (одобрен AENOR в апреле 2004 г.).
- UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в декабре 2020 г.).
- UNE-EN 61290-1-1:2015 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра (одобрен AENOR в августе 2015 г.).
- UNE-EN 61290-5-1:2006 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 5-1. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-5-1:2006). (Одобрено AENOR в октябре 2006 г.)
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Спектральные параметры
- EN 61290-1-1:2015 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
- EN IEC 61290-1-1:2020 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра.
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Спектральные параметры
- EN 61290-2-1:1998 Волоконно-оптические усилители. Базовые характеристики. Часть 2-1. Методы тестирования параметров оптической мощности. Анализатор оптического спектра.
- EN 61290-5-1:2000 Волоконно-оптические усилители. Основные характеристики. Часть 5-1. Методы испытаний параметров отражения. Анализатор оптического спектра.
- EN 61290-2-2:1998 Волоконно-оптические усилители. Базовые характеристики. Часть 2-2. Методы тестирования параметров оптической мощности. Электрический анализатор спектра.
Lithuanian Standards Office , Спектральные параметры
- LST EN 61290-3-1-2004 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-1: Параметры коэффициента шума. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-3-1:2003)
- LST EN 61290-5-1-2006 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 5-1. Параметры отражения. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-5-1:2006).
- LST EN 61290-1-1-2007 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-1-1:2006).
- LST EN IEC 61290-1-1:2020 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-1-1:2020)
PL-PKN, Спектральные параметры
- PN-EN IEC 61290-1-1-2021-06 E Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 1-1. Параметры мощности и усиления. Метод оптического анализатора спектра (IEC 61290-1-1:2020)
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Спектральные параметры
- JIS K 0189:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Определение экспериментальных параметров для волнодисперсионной рентгеновской спектроскопии.
- JIS C 6122-3-1:2011 Оптические усилители. Методы испытаний. Часть 3-1. Параметры коэффициента шума. Метод оптического анализатора спектра.
- JIS K 0162:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
(U.S.) Telecommunications Industries Association , Спектральные параметры
- TIA/EIA-455-209-2000 FOTP-209 Оптоволоконные усилители IEC 61290-2-1. Базовые спецификации, часть 2-1. Методы тестирования параметров оптической мощности. Анализатор оптического спектра.
Standard Association of Australia (SAA), Спектральные параметры
- AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.