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Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
Microscopía de mecánica atómica cerca de campo., Total: 49 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopía de mecánica atómica cerca de campo. son: Química analítica, Equipo óptico, Termodinámica y mediciones de temperatura., Medidas lineales y angulares., Metales no ferrosos, Física. Química, Materiales para la construcción aeroespacial., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Cerámica.
International Organization for Standardization (ISO), Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
- ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
- ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
- ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
- ISO/DIS 19606:2023 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la rugosidad superficial de películas cerámicas finas mediante microscopía de fuerza atómica
British Standards Institution (BSI), Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
- BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
- 21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
- BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
- BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
- 23/30461942 DC BS ISO 19606. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la rugosidad superficial de películas cerámicas finas mediante microscopía de fuerza atómica.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- KS D 2713-2006 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
- KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
- KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
Group Standards of the People's Republic of China, Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2530-06 Práctica estándar para calibrar el aumento Z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométrico utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- SPB-M6-3-2010 08 de abril: Microscopía de fuerza atómica (antecedentes de la técnica)
- SPB-M2-1-2007 Propiedades interfaciales y reológicas de asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.
- SPB-M14-1-2010 10 de septiembre: Interacciones y propiedades reológicas de los asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.
- SPB-M6-1-2010 08 de abril: Propiedades interfaciales y reológicas de los asfaltenos investigadas utilizando AFM
- SPB-M6-2-2010 08 de abril: Interacciones coloidales entre asfalteno y diferentes superficies medidas mediante microscopía de fuerza atómica (AFM)
KR-KS, Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- KS B ISO 19012-1-2016 Óptica y fotónica－Designación de objetivos del microscopio－Parte 1：Planitud del campo/Plano
RU-GOST R, Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
- GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
- GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
- GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
- GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido
German Institute for Standardization, Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- GB/T 31227-2014 Método de prueba para la rugosidad de la superficie mediante microscopio de fuerza atómica para películas delgadas pulverizadas
- GB/T 32189-2015 Examen de microscopía de fuerza atómica de la rugosidad de la superficie del sustrato monocristalino de nitruro de galio
- GB/T 27760-2011 Método de prueba para calibrar el aumento z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométricos utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
- GB/T 28872-2012 Método de prueba del microscopio de fuerza atómica en modo magnético de impacto ligero para nanotopografía de células vivas
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- GB/T 40066-2021 Nanotecnologías—Medición del espesor del óxido de grafeno—Microscopía de fuerza atómica (AFM)
- GB/T 40128-2021 Análisis químico de superficie: microscopía de fuerza atómica: método de prueba para determinar el espesor de las nanohojas de disulfuro de molibdeno en capas bidimensionales
Professional Standard - Nuclear Industry, Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- EJ/T 20176-2018 Microscopio de fuerza atómica Método de medición de la nitidez del borde de la herramienta de diamante
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- GB/T 32262-2015 Preparación de muestra de ácido desoxirribonucleico para medición con microscopio de fuerza atómica.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- JIS R 1683:2007 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.
- JIS R 1683:2014 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.
International Electrotechnical Commission (IEC), Microscopía de mecánica atómica cerca de campo.
- IEC TS 62607-6-2:2023 Nanofabricación - Características clave de control - Parte 6-2: Grafeno - Número de capas: microscopía de fuerza atómica, transmisión óptica, espectroscopia Raman