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Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica

Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica, Total: 20 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica son: Medidas lineales y angulares., Termodinámica y mediciones de temperatura., Metales no ferrosos, Química analítica.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica

• ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
• ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
• ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica

Group Standards of the People's Republic of China, Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica

• T/QGCML 1940-2023

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica

• KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
• KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)

International Organization for Standardization (ISO), Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica

• ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
• ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
• ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras

British Standards Institution (BSI), Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica

• BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
• BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
• 19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
• BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras

German Institute for Standardization, Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica

• DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)

RU-GOST R, Microscopía de campo cercano de barrido de fuerza atómica

• GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
• GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
• GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
• GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
• GOST R 8.630-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Métodos de verificación
• GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido

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