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Cómo calibrar un microscopio electrónico de barrido

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cómo calibrar un microscopio electrónico de barrido son: Equipo óptico, Medidas lineales y angulares., Dispositivos de visualización electrónica., Materiales de construcción, Productos de hierro y acero., Calidad del aire, Óptica y medidas ópticas., Pinturas y barnices, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Química analítica, Ingredientes de pintura.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Cómo calibrar un microscopio electrónico de barrido

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Cómo calibrar un microscopio electrónico de barrido

ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
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ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
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ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
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ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
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ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
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ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
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ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Cómo calibrar un microscopio electrónico de barrido

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cómo calibrar un microscopio electrónico de barrido

KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
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BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
BS ISO 13083:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Estándares sobre la definición y calibración de la resolución espacial de microscopios de sonda de barrido eléctrico (ESPM), como SSRM y SCM para imágenes dopantes en 2D y otros fines

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JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes

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GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración

German Institute for Standardization, Cómo calibrar un microscopio electrónico de barrido

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)