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扫描电子显微镜怎么校准
本专题涉及扫描电子显微镜怎么校准的标准有50条。
国际标准分类中，扫描电子显微镜怎么校准涉及到光学设备、长度和角度测量、电子显示器件、建筑材料、钢铁产品、空气质量、分析化学、光学和光学测量、涂料和清漆、医学科学和保健装置综合、涂料配料。
在中国标准分类中，扫描电子显微镜怎么校准涉及到电子光学与其他物理光学仪器、放大镜与显微镜、混凝土、集料、灰浆、砂浆、钢铁与铁合金分析方法、公共医疗设备、基础标准与通用方法、材料防护、犯罪鉴定技术、工业防尘防毒技术。
国家计量技术规范，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
美国材料与试验协会，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- ASTM E766-98(2003) 校准扫描电子显微镜的放大倍数
- ASTM E766-98 校准扫描电子显微镜的放大倍数
- ASTM E766-14 扫描电子显微镜放大倍率校准的标准方法
- ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
- ASTM E766-14(2019) 校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
- ASTM E766-14e1 用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
- ASTM E986-97 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
- ASTM E986-04(2017) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
- ASTM E986-04(2024) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
- ASTM E986-04 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
- ASTM E986-04(2010) 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
- ASTM C1723-16(2022) 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
- ASTM C1723-10 用扫描电子显微镜检验硬化混凝土的标准指南
- ASTM C1723-16 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
- ASTM E2142-08(2015) 用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
- ASTM E2142-08 用扫描电子显微镜分级和分类铁中内含物的标准试验方法
- ASTM E2142-08(2023) 用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
- ASTM E2090-00 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
- ASTM E2090-12 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
- ASTM B748-90(2010) 扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的标准试验方法
- ASTM E2809-13 在法医油漆检查中使用扫描电子显微镜/X射线光谱法的标准指南
- ASTM B748-90(2021) 用扫描电子显微镜测量横截面测量金属涂层厚度的标准试验方法
- ASTM E1588-95(2001) 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-08 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-10 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E2142-01 利用扫描电子显微镜测定钢中杂质的额定值和分级的标准试验方法
- ASTM E1588-95 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM B748-90(2001) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
- ASTM F1372-93(1999) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
- ASTM E1588-20 通过扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法进行枪支残留分析的标准实践
- ASTM F1372-93(2020) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
- ASTM D605-82(1996)e1 用电子显微镜扫描测定工作环境下空气中单晶陶瓷晶须浓度的标准试验方法
- ASTM D6059-96(2011) 用电子显微镜扫描测定工作环境下空气中单晶陶瓷晶须浓度的标准试验方法
上海市标准，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- DB31/T 297-2003 扫描电子显微镜放大倍率校准方法
韩国科技标准局，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- KS D ISO 16700:2013 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－扫描电子显微镜－图像放大率校准指南
国际标准化组织，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO 16700:2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
法国标准化协会，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- NF X21-005:2006 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
英国标准学会，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- BS ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
- BS ISO 16700:2016 微束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
- BS ISO 13083:2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
KR-KS，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- KS D ISO 16700-2023 微束分析扫描电子显微镜图像放大率校准指南
日本工业标准调查会，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
RU-GOST R，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- GOST R 8.636-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.校准方法
- GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
德国标准化学会，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- DIN SPEC 52407:2015-03 纳米技术 使用原子力显微镜(AFM)和透射扫描电子显微镜(TSEM)进行粒子测量的准备和评估方法
国家质检总局，关于扫描电子显微镜怎么校准的标准
- GB/T 43661-2024 表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准
