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Rejilla de medición
Rejilla de medición, Total: 21 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Rejilla de medición son: Químicos orgánicos, Medidas lineales y angulares., Telecomunicaciones en general, Física. Química, Comunicaciones de fibra óptica..
CH-SNV, Rejilla de medición
- VSM 13190.8-1969 Schrauben, Muttern und ?hnliche TeileTechnische LieferbedingungenKennzeichnung und Lieferartfür Muttern
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Rejilla de medición
- GB/T 41070-2021 Película de lente lenticular para visualización 3D autoestereoscópica: método de medición óptica
Professional Standard - Machinery, Rejilla de medición
- JB/T 10080.1-2011 Transductor de desplazamiento lineal de rejilla. Parte 1: Lecturas digitales para transductor de rejilla.
- JB/T 10080.2-2011 Transductor de desplazamiento lineal de rejilla. Parte 2: Transductor de rejilla lineal
- JB/T 10030-1999 Sistema de medición de desplazamiento lineal de rejilla
- JB/T 10034-1999 Sistema de medición del desplazamiento angular de rejilla
- JB/T 10030-2012 Dispositivo de medición del desplazamiento lineal de rejilla
- JB/T 10034-2012 Sistema de medición del desplazamiento angular de rejilla
Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Rejilla de medición
- ECA TEP105-8-1987 Medición de respuesta ráster para tubos de rayos catódicos monocromáticos
ECIA - Electronic Components Industry Association, Rejilla de medición
- TEP105-8-1987 Medición de respuesta ráster para tubos de rayos catódicos monocromáticos
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Rejilla de medición
- JJG 341-1994 Regulación de verificación del dispositivo de medición de desplazamiento lineal de rejilla
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Rejilla de medición
- JJF(机械) 006-2008 Especificación de calibración para sistema de medición de desplazamiento de línea de rejilla separada
IEC - International Electrotechnical Commission, Rejilla de medición
- TS 62622-2012 Nanotecnologías – Descripción@ parámetros de medición y calidad dimensional de rejillas artificiales (Edición 1.0)
British Standards Institution (BSI), Rejilla de medición
- PD IEC/TS 62622:2012 Nanotecnologías. Descripción, medición y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales.
- BS EN 61757-1-1:2017 Sensores de fibra óptica. Medición de deformaciones. Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
- BS EN IEC 61757-2-1:2021 Sensores de fibra óptica. Medición de temperatura. Sensores de temperatura basados en rejillas de fibra de Bragg
- BS EN IEC 61757-5-1:2021 Sensores de fibra óptica. Medición de inclinación. Sensores de inclinación basados en rejillas de fibra de Bragg
- BS EN IEC 61757-1-1:2020 Sensores de fibra óptica - Medición de deformaciones. Sensores de deformación basados en rejillas de Bragg de fibra
- PD ISO/TS 20793:2019 Fotografía. Impresión lenticular para cambio de imágenes. Medidas de calidad de imagen.
German Institute for Standardization, Rejilla de medición
KR-KS, Rejilla de medición
- KS C IEC TS 62622-2023 Nanotecnologías. Descripción, medida y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales.