ZH
RU
EN

Medición de rejilla

Medición de rejilla, Total: 15 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Medición de rejilla son: Químicos orgánicos, Medidas lineales y angulares., Telecomunicaciones en general, Física. Química.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Medición de rejilla

• GB/T 41070-2021 Película de lente lenticular para visualización 3D autoestereoscópica: método de medición óptica

Professional Standard - Machinery, Medición de rejilla

• JB/T 10030-1999 Sistema de medición de desplazamiento lineal de rejilla
• JB/T 10034-1999 Sistema de medición del desplazamiento angular de rejilla
• JB/T 10030-2012 Dispositivo de medición del desplazamiento lineal de rejilla
• JB/T 10034-2012 Sistema de medición del desplazamiento angular de rejilla
• JB/T 10080.1-2011 Transductor de desplazamiento lineal de rejilla. Parte 1: Lecturas digitales para transductor de rejilla.
• JB/T 10080.2-2011 Transductor de desplazamiento lineal de rejilla. Parte 2: Transductor de rejilla lineal

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Medición de rejilla

• ECA TEP105-8-1987 Medición de respuesta ráster para tubos de rayos catódicos monocromáticos

ECIA - Electronic Components Industry Association, Medición de rejilla

• TEP105-8-1987 Medición de respuesta ráster para tubos de rayos catódicos monocromáticos

IEC - International Electrotechnical Commission, Medición de rejilla

• TS 62622-2012 Nanotecnologías – Descripción@ parámetros de medición y calidad dimensional de rejillas artificiales (Edición 1.0)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Medición de rejilla

• JJG 341-1994 Regulación de verificación del dispositivo de medición de desplazamiento lineal de rejilla

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Medición de rejilla

• JJF(机械) 006-2008 Especificación de calibración para sistema de medición de desplazamiento de línea de rejilla separada

German Institute for Standardization, Medición de rejilla

• DIN IEC/TS 62622:2014-09*DIN SPEC 42622:2014-09 Nanotecnologías - Descripción, medición y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales (IEC/TS 62622:2012)

British Standards Institution (BSI), Medición de rejilla

• PD IEC/TS 62622:2012 Nanotecnologías. Descripción, medición y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales.

KR-KS, Medición de rejilla

• KS C IEC TS 62622-2023 Nanotecnologías. Descripción, medida y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales.

Otros:   rejilla, rejilla de fibra, rejilla de fibra, Rejilla de alta calidad, Rejilla universal, rejilla ultravioleta, Rejilla de medición, Medición de rejilla, Rejilla de medición, rejilla de imágenes, rejilla, Medición de rejilla, rejilla, ¿Qué tal medir rejillas?, Medir los parámetros de la rejilla., ¿Qué empresa es mejor para medir rejillas?, rejilla plana, ¿Qué tipo de rejilla se mide?, Rejilla de fase de rejilla ordinaria, Rejilla delantera y rejilla trasera..