ZH
RU
EN

rastreo de una sola partícula

rastreo de una sola partícula, Total: 142 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en rastreo de una sola partícula son: Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Mediciones de radiación, Materias primas para caucho y plástico., válvulas, Física. Química, Agricultura y silvicultura, Sistemas de vehículos de carretera, Calidad del aire, Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Dispositivos semiconductores, Química analítica, Componentes para la construcción aeroespacial., Dispositivos de visualización electrónica., Sistemas y componentes de fluidos aeroespaciales., Sistemas y operaciones espaciales., Circuitos integrados. Microelectrónica, Organización y gestión de la empresa., Componentes electrónicos en general., Optoelectrónica. Equipo láser, Equipos e instrumentos a bordo., Servicios, Aeronaves y vehículos espaciales en general., Barriles. Batería. botes, Aislamiento.

Professional Standard - Education, rastreo de una sola partícula

JY 0011-1990 Enseñanza de cátodo de traza única - osciloscopio rad

Society of Automotive Engineers (SAE), rastreo de una sola partícula

SAE J2970-2023 Requisitos mínimos de rendimiento para gases trazadores no refrigerantes y detectores electrónicos de fugas de gas trazadores
SAE J2970-2012 Requisitos mínimos de rendimiento para gases trazadores no refrigerantes y detectores electrónicos de fugas de gas trazadores

International Organization for Standardization (ISO), rastreo de una sola partícula

ISO/DIS 19430 Determinación de la distribución del tamaño de partículas y la concentración numérica mediante análisis de seguimiento de partículas (PTA)
ISO 21501-3:2007 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 3: Contador de partículas transportadas por líquido de extinción de la luz.
ISO 21501-2:2007 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 2: Contador de partículas transmitidas por líquido con dispersión de luz.
ISO 21501-3:2019 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción luminosa de una sola partícula. Parte 3: Contador de partículas transportadas por líquido de extinción de la luz.
ISO 21501-2:2019 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 2: Contador de partículas transmitidas por líquido con dispersión de luz.
ISO 21501-4:2007 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 4: Contador de partículas en el aire por dispersión de luz para espacios limpios.
ISO 21501-4:2018 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 4: Contador de partículas en el aire por dispersión de luz para espacios limpios.
ISO 21501-4:2018/Amd 1:2023 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 4: Contador de partículas en suspensión en el aire por dispersión de luz para espacios limpios. Enmienda 1.
ISO 21501-1:2009 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 1: Espectrómetro de aerosol de dispersión de luz.
ISO 8942:2010
ISO 12584:2013 Aeroespacial. Componentes de fluidos hidráulicos. Expresión de niveles de contaminación por partículas.
ISO/TS 19590:2017 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula

British Standards Institution (BSI), rastreo de una sola partícula

BS ISO 21501-3:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas líquidas de extinción de luz
BS ISO 21501-2:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas líquidas con dispersión de luz
BS ISO 6980-1:2022 Cambios rastreados. Energía nuclear. Radiación de partículas beta de referencia. Métodos de producción
BS ISO 21501-3:2019 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula: contador de partículas transmitidas por líquido de extinción de luz
BS ISO 21501-4:2018 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas en suspensión por dispersión de luz para espacios limpios
BS ISO 21501-4:2007 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Contador de partículas en suspensión por dispersión de luz para espacios limpios
BS ISO 21501-2:2019 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de partícula única: contador de partículas transmitidas por líquido con dispersión de luz
BS ISO 11171:2022 Cambios rastreados. Potencia del fluido hidráulico. Calibración de contadores automáticos de partículas para líquidos.
BS ISO 21501-4:2018+A1:2023 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de partícula única: contador de partículas en el aire con dispersión de luz para espacios limpios
19/30385918 DC BS ISO 21501-3. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 3. Contador de partículas transmitidas por líquido de extinción de luz.
19/30385915 DC BS ISO 21501-2. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 2. Contador de partículas transmitidas por líquidos con dispersión de luz
BS ISO 16844-4:2022 Cambios rastreados. Vehiculos de carretera. Sistemas de tacógrafo. Interfaz de comunicación de la unidad de visualización
BS ISO 21501-1:2009 Determinación de la distribución del tamaño de partículas - Métodos de interacción de la luz de una sola partícula - Espectrómetro de aerosol de dispersión de luz
BS 3406-7:1988 Métodos para determinar la distribución del tamaño de partículas: recomendaciones para métodos de interacción de luz de una sola partícula
BS IEC 62679-3-3:2016 Pantallas electrónicas de papel: métodos de medición óptica para pantallas con unidades de iluminación integradas
BS ISO 15864:2021 Cambios rastreados. Sistemas espaciales. Métodos generales de prueba para naves espaciales, subsistemas y unidades.
DD IEC/TS 62396-2:2008 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: Directrices para las pruebas de efectos de un solo evento en sistemas de aviónica
DD IEC/PAS 62396-2:2007 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: Directrices para las pruebas de efectos de un solo evento en sistemas de aviónica
BS EN 120007:1993 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Pantallas de cristal líquido. LCD monocromáticos sin circuito electrónico
BS IEC 62396-5:2014 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Evaluación de flujos de neutrones térmicos y efectos de eventos únicos en sistemas de aviónica.
BS EN 50419:2022 Cambios rastreados. Marcado de aparatos eléctricos y electrónicos (AEE) respecto a la recogida selectiva de residuos AEE (RAEE)
BS EN 120007:1991 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificaciones detalladas en blanco - Pantallas de cristal líquido - LCD monocromáticos sin circuito electrónico
21/30419440 DC BS ISO 21501-4 AMD1. Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 4. Contador de partículas en suspensión en el aire por dispersión de luz para espacios limpios
BS ISO 8518:2022 Cambios rastreados. Aire del lugar de trabajo. Determinación de partículas de plomo y compuestos de plomo. Métodos espectrométricos de llama y absorción atómica electrotérmica.
BS IEC 62396-2:2017 Cambios rastreados. Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Directrices para pruebas de efectos de eventos únicos para sistemas de aviónica
DD IEC/TS 62396-4:2008 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: directrices para el diseño con electrónica de aeronaves de alto voltaje y posibles efectos de un solo evento
DD IEC/PAS 62396-4:2007 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: directrices para el diseño con electrónica de aeronaves de alto voltaje y posibles efectos de un solo evento
BS IEC 62396-1:2012 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
BS DD IEC/TS 62396-1:2006 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
BS IEC 62396-1:2016 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
PD IEC TR 62396-8:2020 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Flujos de protones, electrones, piones, muones, rayos alfa y efectos de evento único en equipos electrónicos de aviónica. Pautas de concientización
DD IEC/TS 62396-1:2006 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de un solo evento dentro de los equipos electrónicos de aviónica.
BS EN 62396-1:2016 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de un solo evento dentro de los equipos electrónicos de aviónica.
BS EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores
PD CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías. Distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula
PD IEC TR 61948-2:2019 Cambios rastreados. Instrumentación de medicina nuclear. Pruebas de rutina. Cámaras de centelleo y tomografía computarizada por emisión de fotón único.
DD IEC/TS 62396-3:2008 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: optimización del diseño del sistema para adaptarse a los efectos de evento único (SEE) de la radiación atmosférica.
DD IEC/PAS 62396-3:2007 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica: optimización del diseño del sistema para adaptarse a los efectos de evento único (SEE) de la radiación atmosférica.
BS EN 61466-1:2016 Cambios rastreados. Unidades de cadena de aisladores compuestos para líneas aéreas con tensión nominal superior a 1000 V. Clases de resistencia estándar y accesorios finales

IETF - Internet Engineering Task Force, rastreo de una sola partícula

RFC 6729-2012 Indicar estados de manejo de correo electrónico en campos de seguimiento

German Institute for Standardization, rastreo de una sola partícula

DIN 66161:2010-10 Análisis del tamaño de partículas: símbolos de fórmula, unidades
DIN EN 120007:1993-06 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido; LCD monocromáticos sin circuito electrónico; Versión alemana EN 120007:1992
DIN EN 120007:1993 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido; LCD monocromáticos sin circuito electrónico; Versión alemana EN 120007:1992
DIN 54407:2023-06 Pruebas de resinas de intercambio iónico: determinación de la distribución del tamaño de las perlas para resinas de intercambio iónico mono y heterodispersas
DIN CEN ISO/TS 19590:2019-11*DIN SPEC 19286:2019-11 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula (ISO/TS 19590:2017); Versión alemana CEN ISO/TS 19590:2019
DIN EN 60749-44:2017-04 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, rastreo de una sola partícula

GB/T 14853.6-2002 Ingredientes de compuestos de caucho--Negro de humo, peletizado--Determinación de la fuerza de trituración de pellets individuales
GB/T 3780.16-1983 Negro de carbón: determinación de la resistencia al aplastamiento de los pellets individuales
GB/T 43226-2023 Método de prueba en el dominio del tiempo de error suave de un solo evento para circuitos integrados de semiconductores utilizados en aplicaciones aeroespaciales
GB/T 42732-2023 Medición de distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en fases acuosas en nanotecnología mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de partícula única

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, rastreo de una sola partícula

GJB 7242-2011
GJB 6777-2009 Método de prueba de efectos de un solo evento en una fuente de radiación Cf para dispositivos electrónicos militares

(U.S.) Ford Automotive Standards, rastreo de una sola partícula

FORD ASL CHEMICALS-6B-2020 LISTA DE FUENTES APROBADAS (ASL) - CATEGORÍA QUÍMICOS - TINTAS / FLUIDOS DE MARCADO / TRAZADORES

American Society for Testing and Materials (ASTM), rastreo de una sola partícula

ASTM E2834-12(2018) Guía estándar para la medición de la distribución del tamaño de partículas de nanomateriales en suspensión mediante análisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)
ASTM E2834-12(2022) Guía estándar para la medición de la distribución del tamaño de partículas de nanomateriales en suspensión mediante análisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)
ASTM E2834-12 Guía estándar para la medición de la distribución del tamaño de partículas de nanomateriales en suspensión mediante análisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)
ASTM E741-00(2006)e1 Método de prueba estándar para determinar el cambio de aire en una sola zona mediante una dilución de gas trazador
ASTM E741-00 Método de prueba estándar para determinar el cambio de aire en una sola zona mediante una dilución de gas trazador
ASTM E741-23 Método de prueba estándar para determinar el cambio de aire en una sola zona mediante una dilución de gas trazador
ASTM F328-98 Práctica estándar para la calibración de un contador de partículas en el aire utilizando partículas esféricas monodispersas
ASTM E741-00(2006) Método de prueba estándar para determinar el cambio de aire en una sola zona mediante una dilución de gas trazador
ASTM E741-11(2017) Método de prueba estándar para determinar el cambio de aire en una sola zona mediante una dilución de gas trazador
ASTM F1192-11 Guía estándar para la medición de fenómenos de evento único (SEP) inducidos por irradiación de iones pesados de dispositivos semiconductores
ASTM F50-92(1996) Práctica estándar para el dimensionamiento y recuento continuo de partículas en el aire en áreas con polvo controlado y salas limpias utilizando instrumentos capaces de detectar partículas submicrométricas únicas y más grandes
ASTM F50-92(2001)e1 Práctica estándar para el dimensionamiento y recuento continuo de partículas en el aire en áreas con polvo controlado y salas limpias utilizando instrumentos capaces de detectar partículas submicrométricas únicas y más grandes
ASTM F50-07 Práctica estándar para el dimensionamiento y recuento continuo de partículas en el aire en áreas con polvo controlado y salas limpias utilizando instrumentos capaces de detectar partículas submicrométricas únicas y más grandes
ASTM D5743-97 Práctica estándar para el muestreo de líquidos de una o varias capas, con o sin sólidos, en tambores o recipientes similares
ASTM D5743-97(2003) Práctica estándar para el muestreo de líquidos de una o varias capas, con o sin sólidos, en tambores o recipientes similares
ASTM D5743-97(2008) Práctica estándar para el muestreo de líquidos de una o varias capas, con o sin sólidos, en tambores o recipientes similares
ASTM F50-12(2015) Práctica estándar para el dimensionamiento y recuento continuo de partículas en el aire en áreas con polvo controlado y salas limpias utilizando instrumentos capaces de detectar partículas submicrométricas únicas y más grandes

RU-GOST R, rastreo de una sola partícula

GOST R ISO 21501-4-2012 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de luz de una sola partícula. Parte 4. Contador de partículas en suspensión en el aire por dispersión de luz para espacios limpios
GOST 22617.4-1991 Semillas de remolacha. Métodos para la determinación de la masa de 1000 semillas y de una unidad de masa.

US-FCR, rastreo de una sola partícula

FCR NE-F-3-41T-1981 PRUEBAS IN SITU DE SISTEMAS DE FILTRO HEPA MEDIANTE EL MÉTODO DEL ESPECTRÓMETRO DE UNA SOLA PARTÍCULA Y TAMAÑO DE PARTÍCULA

ES-UNE, rastreo de una sola partícula

UNE-EN 120007:1992 BDS: DISPLAYS DE CRISTAL LÍQUIDO. LCDS MONOCROMOS SIN CIRCUITO ELECTRÓNICO. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
SAE AIR6219-2023 Desarrollo de análisis de efectos de eventos únicos de neutrones atmosféricos para su uso en evaluaciones de seguridad
UNE-EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)
UNE-EN 300386 V1.5.1:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

Liaoning Provincial Standard of the People's Republic of China, rastreo de una sola partícula

DB21/T 2789-2017 Reglamento Técnico para la Producción de Semilla de Maíz Apta para Siembra de Una Sola Semilla

Professional Standard - Aerospace, rastreo de una sola partícula

QJ 10005-2008 Directrices de prueba de efectos de eventos únicos inducidos por iones pesados de dispositivos semiconductores para aplicaciones espaciales

Professional Standard - Agriculture, rastreo de una sola partícula

891药典一部-2015 Preparación formulada y preparación de sabor único Sihua Schisandra Granules
900药典一部-2020 Preparación formulada y preparación de sabor único Sihua Schisandra Granules
1091药典一部-2020 Preparación con receta y preparación de un solo sabor Wuhuasijunzi Granules
1074药典一部-2015 Preparación con receta y preparación de un solo sabor Wuhuasijunzi Granules
1528药典一部-2020 Preparación con receta y preparación única Bahuashenqi Schisandra Granules
1631药典一部-2020 Preparación con receta y preparación de un solo sabor Gránulos de Guazijin compuestos de Jiuhua
1567药典一部-2015 Preparación con receta y preparación de un solo sabor Gránulos de Guazijin compuestos de Jiuhua
1306药典一部-2010 Preparación con receta y preparación de un solo sabor Gránulos de Guazijin compuestos de Jiuhua

Danish Standards Foundation, rastreo de una sola partícula

DS/ISO 21501-4:2007 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 4: Contador de partículas en el aire por dispersión de luz para espacios limpios.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, rastreo de una sola partícula

GB/T 34955-2017 Efectos de la radiación atmosférica: directrices para las pruebas de efectos de un solo evento en sistemas de aviónica
GB/T 29024.4-2017 Determinación de la distribución del tamaño de las partículas －Métodos de interacción de la luz de una sola partícula －Parte 4: Contador de partículas en el aire por dispersión de luz para espacios limpios
GB/T 34956-2017 Efectos de la radiación atmosférica: adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica.

Group Standards of the People's Republic of China, rastreo de una sola partícula

T/CIE 119-2021 Métodos y procedimientos de prueba de efecto de evento único de neutrones atmosféricos para dispositivos semiconductores
T/SAASS 127-2023

U.S. Military Regulations and Norms, rastreo de una sola partícula

ARMY MIL-C-70723-1993 CARTUCHO, CALIBRE .50, BOLA M-858 Y MUNICIÓN DE ENTRENAMIENTO DE CORTO ALCANCE TRAZADOR M-860

SAE - SAE International, rastreo de una sola partícula

SAE J2970-2015 Requisitos mínimos de rendimiento para gases trazadores no refrigerantes y detectores electrónicos de fugas de gas trazadores

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, rastreo de una sola partícula

GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
GB/T 39343-2020 Diseño y procedimiento de experimentos de efectos de evento único de dispositivo procesador para el sector aeroespacial
GB/T 41270.7-2022 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 7: Gestión del proceso de análisis de efectos de evento único (SEE) en el diseño de aviónica.
GB/T 41270.9-2022 Gestión de procesos para aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 9: Métodos y procedimientos de cálculo de la tasa de fallas por efecto de evento único para equipos de aviónica.

SE-SIS, rastreo de una sola partícula

SIS SEN R 36 03 12 Bil.13-1959 Kontrollutrustningar f?r kraftanl?ggningar Ritningslista f?r transformatorstation EXEMPEL
SIS SS-CECC 20007-1991 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido LCD monocromáticas sin circuito electrónico

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, rastreo de una sola partícula

JEDEC JESD57-1996 Procedimientos de prueba para la medición de efectos de un solo evento en dispositivos semiconductores debido a la irradiación de iones pesados

CEN - European Committee for Standardization, rastreo de una sola partícula

CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula

Association Francaise de Normalisation, rastreo de una sola partícula

XP T16-401*XP CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías: distribución de tamaño y concentración de nanopartículas inorgánicas en medios acuosos mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente de una sola partícula
NF EN 120007:1992 Marco de especificaciones particulares: dispositivos de visualización de cristal líquido - LCD monocromáticos sin circuito electrónico
NF C93-120-007*NF EN 120007:1992 Especificación de detalle en blanco: Pantallas de cristal líquido - LCD monocromáticas sin circuito electrónico
XP CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotecnologías: distribución del tamaño de partículas y concentración de nanopartículas inorgánicas en un medio acuoso mediante espectrometría de masas con plasma inducido en modo de partícula única
NF EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: método de prueba para los efectos de un evento único (SEE) irradiado por un haz de neutrones para dispositivos semiconductores.
NF C86-507:1994 SISTEMA ARMONIZADO DE EVALUACIÓN DE CALIDAD DE COMPONENTES ELECTRÓNICOS. DISPLAYS DE CRISTAL LÍQUIDO. LCDS MONOCROMOS SIN CIRCUITO ELECTRÓNICO. ESPECIFICACIÓN DE DETALLE EN BLANCO. (ESPECIFICACIÓN CECC 20 007).

Lithuanian Standards Office , rastreo de una sola partícula

LST EN 120007-2001 Especificación detallada en blanco. Pantallas de cristal líquido. LCD monocromáticos sin circuito electrónico

未注明发布机构, rastreo de una sola partícula

BS ISO 13323-1:2000(2002) Determinación de la distribución del tamaño de las partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 1: Consideraciones sobre la interacción de la luz.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, rastreo de una sola partícula

EN 120007:1992 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido LCD monocromáticas sin circuito electrónico

Defense Logistics Agency, rastreo de una sola partícula

DLA SMD-5962-86018 REV D-2006 MICROCIRCUITO LINEAL, CONTROLADORES DE PANTALLA DE PLASMA DE CA, SILICIO MONOLÍTICO

API - American Petroleum Institute, rastreo de una sola partícula

API 4091-1971 ESTUDIOS ÓPTICOS DE NEBLINAS AUTOMOTRICES Y NATURALES: DISPERSIÓN DE PARTÍCULAS ÚNICAS - INFORME FINAL

Professional Standard - Electron, rastreo de una sola partícula

SJ/T 10271-1991 Especificación detallada del componente electrónico. Tubo de visualización monocromático tipo 31SG7Y14

International Electrotechnical Commission (IEC), rastreo de una sola partícula

IEC 62396-2:2012 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Parte 2: Directrices para las pruebas de efectos de un solo evento para sistemas de aviónica
IEC 62396-5:2014 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radioación atmosférica - Parte 5: Evaluación de flujos de neutrones térmicos y efectos de eventos únicos en sistemas de aviónica
IEC TR 62396-8:2020 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Parte 8: Flujos de protones, electrones, piones, muones, rayos alfa y efectos de eventos únicos en equipos electrónicos de aviónica - Directrices de concientización
IEC 62396-1:2012 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radioación atmosférica - Parte 1: Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica
IEC 62396-1:2016 Gestión de procesos para aviónica - Efectos de la radiación atmosférica - Parte 1: Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de equipos electrónicos de aviónica

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, rastreo de una sola partícula

DB37/T 3698.4-2020 Guía para la creación de unidades demostrativas de consumo asegurado Parte 4: Operadores de comercio electrónico

IN-BIS, rastreo de una sola partícula

IS 9000 Pt.15/Sec.5-1982 PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE PRUEBAS AMBIENTALES PARA ARTÍCULOS ELECTRÓNICOS Y ELÉCTRICOS PARTE ⅩⅤ PRUEBA DE SELLADO Sección 5 Sellado - Método del gas trazador (helio) con espectrómetro de masas
IS 9000 Pt.15/Sec.8-1982 PROCEDIMIENTOS BÁSICOS DE PRUEBAS AMBIENTALES PARA ARTÍCULOS ELECTRÓNICOS Y ELÉCTRICOS PARTE ⅩⅤ PRUEBA DE SELLADO Sección 8 Sellado - Método del gas trazador radiactivo (criptón)

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), rastreo de una sola partícula

SMPTE 390M-2004 Formato de intercambio de material televisivo (MXF) Patrón operativo especializado Átomo (representación simplificada de un solo elemento)

Standard Association of Australia （SAA）, rastreo de una sola partícula

IEC 62396-1:2016 RLV Gestión de procesos para la aviónica. Efectos de la radiación atmosférica. Parte 1: Adaptación de los efectos de la radiación atmosférica mediante efectos de evento único dentro de los equipos electrónicos de aviónica.

PH-BPS, rastreo de una sola partícula

PNS IEC 60749-44:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores.

IEC - International Electrotechnical Commission, rastreo de una sola partícula

PAS 62396-3-2007 Gestión de procesos para aviónica – Efectos de la radiación atmosférica – Parte 3: Optimización del diseño del sistema para adaptarse a los efectos de evento único (SEE) de la radiación atmosférica (Edición 1.0)