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iones en el espectro de masas

iones en el espectro de masas, Total: 23 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en iones en el espectro de masas son: Química analítica, Calidad del suelo. Pedología, Protección contra el crimen.

International Organization for Standardization (ISO), iones en el espectro de masas

ISO/TS 22933:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para medir la resolución de masas en SIMS.
ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
ISO 20295:2018 Calidad del suelo: determinación de perclorato en el suelo mediante cromatografía iónica

Association Francaise de Normalisation, iones en el espectro de masas

NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), iones en el espectro de masas

JIS K 0153:2015 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
JIS K 0158:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
JIS K 0163:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones

British Standards Institution (BSI), iones en el espectro de masas

BS ISO 23830:2008 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
BS ISO 20295:2018 Calidad del suelo. Determinación de perclorato en el suelo mediante cromatografía iónica.

American Society for Testing and Materials (ASTM), iones en el espectro de masas

ASTM E1504-06 Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1504-11(2019) Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1162-87(2001) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1162-87(1996) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1504-92(1996) Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1504-92(2001) Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1635-95(2000) Práctica estándar para informar datos de imágenes en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1635-06(2019) Práctica estándar para informar datos de imágenes en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1504-11 Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, iones en el espectro de masas

GB/T 40109-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, iones en el espectro de masas

GB/T 32495-2016 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.

Professional Standard - Public Safety Standards, iones en el espectro de masas

GA/T 1320-2016 Métodos de examen GC-MS para detectar iones fluoruro en orina y sangre en ciencia forense