ZH
EN
ES

Ионы в масс-спектрометрии

Ионы в масс-спектрометрии, Всего: 25 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Ионы в масс-спектрометрии, являются: Аналитическая химия, Качество почвы. Почвоведение, Защита от преступности.

International Organization for Standardization (ISO), Ионы в масс-спектрометрии

ISO/TS 22933:2022 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод измерения массового разрешения в ВИМС.
ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Глубина распыления p
ISO 20295:2018 Качество почвы. Определение перхлората в почве с помощью ионной хроматографии.

Association Francaise de Normalisation, Ионы в масс-спектрометрии

NF ISO 23830:2009 Химический анализ поверхностей. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительных интенсивностей в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Ионы в масс-спектрометрии

JIS K 0153:2015 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
JIS K 0164:2023 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профиля бора в кремнии.
JIS K 0158:2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод коррекции интенсивности насыщения при подсчете одиночных ионов. Динамическая масс-спектрометрия вторичных ионов.
JIS K 0163:2010 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным эталонным материалам.

British Standards Institution (BSI), Ионы в масс-спектрометрии

BS ISO 23830:2008 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в статической масс-спектрометрии вторичных ионов.
BS ISO 20295:2018 Качество почвы. Определение перхлората в почве методом ионной хроматографии.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Ионы в масс-спектрометрии

ASTM E1504-06 Стандартная практика представления масс-спектральных данных в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
ASTM E1504-11(2019) Стандартная практика представления масс-спектральных данных в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
ASTM E1162-87(2001) Стандартная практика представления данных о профиле глубины распыления в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
ASTM E1162-87(1996) Стандартная практика представления данных о профиле глубины распыления в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
ASTM E1504-92(1996) Стандартная практика представления масс-спектральных данных в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
ASTM E1504-92(2001) Стандартная практика представления масс-спектральных данных в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
ASTM E1635-95(2000) Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
ASTM E1635-06(2019) Стандартная практика представления данных визуализации в масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS)
ASTM E1504-11 Стандартная практика представления масс-спектральных данных в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
ASTM E1162-11(2019) Стандартная практика представления данных о профиле глубины распыления в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)
ASTM E1162-06 Стандартная практика представления данных о профиле глубины распыления в масс-спектрометрии вторичных ионов (ВИМС)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Ионы в масс-спектрометрии

GB/T 40109-2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод глубинного профиля бора в кремнии.
GB/T 41064-2021 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Ионы в масс-спектрометрии

GB/T 32495-2016 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования мышьяка в кремнии.

Professional Standard - Public Safety Standards, Ионы в масс-спектрометрии

GA/T 1320-2016 Методы ГХ-МС исследования на ионы фтора в моче и крови в судебной медицине