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Parámetros del difractómetro

Parámetros del difractómetro, Total: 203 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Parámetros del difractómetro son: Óptica y medidas ópticas., pruebas de metales, Protección de radiación, Equipo óptico, Vocabularios, Optoelectrónica. Equipo láser, Pruebas no destructivas, Mediciones de radiación, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Medidas lineales y angulares., Química analítica, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Herramientas de máquina, Geología. Meteorología. Hidrología, Productos de la industria química., producción de metales, Comunicaciones de fibra óptica., Minerales no metalíferos, Metrología y medición en general., Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Pruebas mecánicas, Sistemas de automatización industrial, Medición del flujo de fluido., Equipos de tracción eléctrica., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Calidad del agua, tubos electronicos, Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., Equipo medico, Educación, Equipo de minería, Motores aeroespaciales y sistemas de propulsión., Dispositivos semiconductores, ingenieria de energia hidraulica, Engranajes, químicos inorgánicos, SISTEMAS DE FLUIDOS Y COMPONENTES PARA USO GENERAL, ingeniería de energía nuclear.

Professional Standard - Machinery, Parámetros del difractómetro

JB/T 8239.1-1999 Parámetros básicos para la red de difracción.
JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
JB/T 9399-1999 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
JB/T 8387-2010 Instrumentos de prueba no destructivos. Parámetro principal para el tubo de rayos X de detección industrial.
JB/T 4136.1-1999 Parámetros del torno medidor
JB/T 7808-2010 Instrumentos de pruebas no destructivas Principales series de parámetros para equipos industriales de rayos X.
JB/T 7440-1994 Probador de parámetros de técnica de fundición a presión
JB/T 10564-2006 Parámetros básicos para instrumentos de medición de flujo.
JB/T 9346-1999 Parámetros básicos para espectrofotómetro.
JB/T 6266-1992 Comparador óptico para medición de ángulos - Parámetro básico
JB/T 10574-2006 Instrumentos ópticos de medición de longitud - Parámetros básicos
JB/T 10574-2013 Parámetros básicos de los instrumentos ópticos de medición de longitud.
JB/T 8231-1999 Los parámetros básicos de los espectrógrafos de rejillas planas.
JB/T 8387-1996 Principales parámetros del tubo de rayos X para detección de defectos industriales.
JB/T 9330-1999 El parámetro básico para la placa de diafragma del instrumento óptico.
JB/T 4081-1991 Tipo de bomba de iones de pulverización catódica y parámetros básicos.

Professional Standard - Nuclear Industry, Parámetros del difractómetro

EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Parámetros del difractómetro

GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 13970-1992 Serie de parámetros básicos de instrumentos digitales.
GB/T 13970-2008 Términos de parámetros básicos de instrumentos digitales.
GB/T 13970-2008 Términos de parámetros básicos de instrumentos digitales.
GB/T 1314-1991 Parámetros básicos para instrumentos de medición de flujo.
GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
GB/T 3720-1988 Instrumentos ópticos de medición de longitud. Parámetros básicos.
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
GB/T 12162.4-2010 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón. Parte 4: Calibración de dosímetros de área y personales en campos de radiación de referencia X de baja energía.
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Parámetros del difractómetro

YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X

Professional Standard - Energy, Parámetros del difractómetro

NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
NB/SH/T 0339-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X de tamiz molecular de faujasita

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Parámetros del difractómetro

JJG 629-2014
JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG 895-1995 Reglamento de Verificación del Sistema de Caracterización del Perfil de Índice de Refracción y Parámetros Geométricos de la Fibra Óptica
JJG(民航) 035-1996 Regulación de verificación del conjunto de prueba de parámetros de salida ИВП
JJG(铁道) 150-2009 Instrumento de medida para el parámetro geométrico del cable de contacto.
JJG(电子) 31010-2007 Reglamento de verificación para analizadores de precisión de parámetros de semiconductores
JJG(机械) 9-1990 Reglas de verificación para el instrumento de medición integral de parámetros de la lavadora.

Professional Standard - Education, Parámetros del difractómetro

JY 141-1982 Interferencia de luz, difracción, demostrador de polarización.
JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

RU-GOST R, Parámetros del difractómetro

GOST R 59738-2021 Óptica y fotónica. Rejillas de difracción. Tipos, dimensiones principales y parámetros.
GOST 22091.0-1984 Dispositivos de rayos X. Requisitos generales para la medición de parámetros.
GOST 25851-1983 Instrumentos radiométricos. Métodos de medición de los principales parámetros.
GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
GOST 26874-1986 Espectrómetros de potencia de radiación ionizante. Métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 23012-1978 Dispositivos multiposición de conteo indicado y sivitching. Parametros basicos
GOST 18230-1972 Fuentes de alimentación para detectores espectrométricos de radiación semiconductora. Tipos y parámetros básicos.
GOST 9847-1979 Instrumentos ópticos para la medición de parámetros de rugosidad superficial. Parámetros y tipos básicos.
GOST 24352-1980 Fotoemisores semiconductores. Parámetros principales
GOST 25935-1983 Instrumentos dosimétricos. Métodos de medición de los principales parámetros.
GOST 18720-1990 Tubos de cámaras de televisión. Métodos de medición de parámetros.
GOST 25678-1983 Instrumentos para medidas de energía láser de pulso. Tipos. Parametros basicos. Métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 28258-1989 Dispositivos de rayos X con radioisótopos. Tipos, principales parámetros y requisitos técnicos.
GOST 23643-1979 Aparatos terapéuticos con radioisótopos para la irradiación por contacto. Parámetros
GOST 26308-1984 Fuentes selladas de radiación radionucleídica. Métodos de medición de parámetros.

工业和信息化部, Parámetros del difractómetro

YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
JB/T 13935-2020 Instrumento de prueba no destructivo, detección ultrasónica, detector de tiempo de sonido por difracción ultrasónica
JB/T 13738-2019 Analizador portátil multiparamétrico de calidad del agua.
JBT13738-2019 Analizador portátil multiparamétrico de calidad del agua.

Association Francaise de Normalisation, Parámetros del difractómetro

NF S10-133:2005 Óptica e instrumentos ópticos - Óptica difractiva - Vocabulario.
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico.
NF M60-517:2010 Fuentes de referencia - Calibración de monitores de contaminación de superficies - Emisores alfa, beta y fotones.

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Parámetros del difractómetro

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GBZ/T 200.1-2007 Individuos de referencia para su uso en protección radiológica.Parte 1:Parámetros físicos

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Parámetros del difractómetro

JJF 1447-2014 Especificación de calibración para detectores de fallas ultrasónicos mediante difracción de tiempo de vuelo
JJF 1491-2014 Especificación de calibración para medidor digital de parámetros eléctricos de CA
JJF 1470-2014 Especificación de calibración para simuladores fisiológicos multiparamétricos
JJF 2009-2022 Especificación de calibración para analizadores de precisión de parámetros de semiconductores
JJF(机械) 018-2008 Especificación de calibración para probador integral de parámetros de lavadora

American National Standards Institute （ANSI), Parámetros del difractómetro

ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Parte 5 -1: Método de prueba para parámetros de reflectancia - Analizador de espectro óptico

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Parámetros del difractómetro

GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
GB/T 40023-2021 Instrumentos de prueba no destructivos—Instrumento ultrasónico de difracción de tiempo de vuelo—Requisitos técnicos
GB/T 39849-2021 Instrumentos de prueba no destructivos. Instrumento ultrasónico de difracción de tiempo de vuelo. Métodos de pruebas de rendimiento.

British Standards Institution (BSI), Parámetros del difractómetro

BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
PD ISO/IEC TR 20547-2:2018 Tecnologías de la información. Arquitectura de referencia de big data. Casos de uso y requisitos derivados
PD ISO/TS 20758:2019 Medicina tradicional china. Detectores de parámetros fisiológicos abdominales.
BS EN 61290-5-2:2004 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico
BS IEC 62755:2012+A1:2020 Instrumentación de protección radiológica. Formato de datos para instrumentos de radiación utilizados en la detección del tráfico ilícito de materiales radiactivos.
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS EN 61290-5-3:2002 Amplificadores de fibra óptica - Especificaciones básicas - Métodos de prueba para parámetros de reflectancia - Tolerancia de reflectancia utilizando un analizador de espectro eléctrico
20/30400497 DC BS IEC 62755 AMD1. Instrumentación de protección radiológica. Formato de datos para instrumentos de radiación utilizados en la detección del tráfico ilícito de materiales radiactivos.
PD IEC/TS 62743:2012 Instrumentación de protección radiológica. Dosímetros contadores electrónicos para campos pulsados de radiaciones ionizantes.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Parámetros del difractómetro

ASTM E1426-98 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ASTM E1426-98(2009)e1 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E1426-14(2019)e1 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
ASTM E242-15(2020) Radiografías de referencia estándar para la apariencia de imágenes radiográficas a medida que se cambian ciertos parámetros
ASTM E1458-92 Método de prueba estándar para la verificación de la calibración de instrumentos de dimensionamiento de partículas por difracción láser utilizando retículas de fotomáscara

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Parámetros del difractómetro

KS D 0287-2005(2020) Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
KS D 0287-2005 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS A ISO 6980-2003(2018) Determinación de respuesta según energía beta y radiación beta de referencia para calibración de dosímetros y medidores de tasa de dosis
KS A 4037-2001 MEDIDORES DE ESTUDIO DE RADIACIÓN TIPO TUBO CONTADOR GEIGER-MULLER
KS A 4037-1976(1997) MEDIDORES DE ESTUDIO DE RADIACIÓN TIPO TUBO CONTADOR GEIGER-MULLER
KS A 4037-1982 MEDIDORES DE ESTUDIO DE RADIACIÓN TIPO TUBO CONTADOR GEIGER-MULLER
KS C IEC 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos-Métodos de prueba-Parte 5-1:Parámetros de reflectancia-Método del analizador de espectro óptico

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Parámetros del difractómetro

ESDU 67035 B-2007 Parámetros del flujo de chorro
ESDU 67035 A-1981 Parámetros del flujo de chorro

Lithuanian Standards Office , Parámetros del difractómetro

LST EN ISO 15902:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Óptica difractiva. Vocabulario (ISO 15902:2004)
LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.

GOSTR, Parámetros del difractómetro

GOST 24469-1980 Instrumentos para la medición de parámetros de radiación láser. Requisitos técnicos generales

Group Standards of the People's Republic of China, Parámetros del difractómetro

T/ZJDJ 005-2022 Instrumento de medición de parámetros eléctricos con pantalla digital.
T/GDC 172-2022 Detector de parámetros de salud Lifewave
T/ZPP 045-2023 Monitor de calidad del agua en línea multiparamétrico
T/SXBX 001-2023 Herramienta de registro de combinación de cuatro parámetros de registro de producción
T/QGCML 330-2022 Procedimiento de calibración para instrumento de parámetro de explosión de gas en mina.

Professional Standard - Ocean, Parámetros del difractómetro

HY/T 126-2009
HY/T 271-2018 Métodos de prueba del instrumento de monitoreo de la calidad del agua marina multiparamétrico

能源部, Parámetros del difractómetro

SY/T 5097-1991 Instrumento multiparamétrico de perforación.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Parámetros del difractómetro

JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

German Institute for Standardization, Parámetros del difractómetro

DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006
DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
DIN EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-2: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro eléctrico (IEC 61290-5-2:2003); Versión alemana EN 61290-5-2:2004
DIN EN 61290-5-1:2007-03 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico (IEC 61290-5-1:2006); Versión alemana EN 61290-5-1:2006 / Nota: DIN EN 61290-5-1 (2001-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2009-06-01.

European Committee for Standardization (CEN), Parámetros del difractómetro

EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.

Danish Standards Foundation, Parámetros del difractómetro

DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
DS/EN 61290-5-1:2006
DS/EN 61290-5-2:2004

Professional Standard - Customs, Parámetros del difractómetro

HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

AENOR, Parámetros del difractómetro

UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.

IX-IX-IEC, Parámetros del difractómetro

IEC TS 62607-6-17:2023 Nanofabricación - Características clave de control - Parte 6-17: Material a base de grafeno - Parámetro de pedido: difracción de rayos X y microscopía electrónica de transmisión

PL-PKN, Parámetros del difractómetro

PN G03359-1989 Aparatos para el registro de radiactividad ¿Clasificación, parámetros esenciales y géneros? requerimientos técnicos

Professional Standard - Petroleum, Parámetros del difractómetro

SY/T 6454-2000 Sistema computarizado de disparo y extracción de muestras.
SY/T 6971-2013 Equipos de prueba de instrumentación de perforación multiparamétricos.
SY/T 6739-2008
SY/T 5097-2006 Especificaciones técnicas del multi. Instrumento de monitoreo de parámetros de plataforma de perforación/servicio.
SY/T 5097-1996 Condiciones técnicas del instrumento multiparamétrico para perforación (workover) de pozos.
SY 5097-2006 Condiciones técnicas del instrumento multiparamétrico para perforación (workover) de pozos.
SY 6146-1995 Combinación de operación de perforador de instrumentación de parámetros de perforación
SY/T 5377-2013 Especificaciones para instrumentos de prueba de fluidos de perforación.
SY 5377-2013 Condiciones técnicas del equipo de prueba de parámetros de fluidos de perforación.
SY/T 6146-1995 Plataforma combinada de operación de perforador de instrumentos de parámetros de perforación
SY/T 5234-1991 Método de cálculo de parámetros hidráulicos en perforación por chorro

国家能源局, Parámetros del difractómetro

SY/T 6454-2019 Instrumento de perforación CNC
NB/T 10169-2019 Probador de parámetros de funcionamiento del polipasto minero

RO-ASRO, Parámetros del difractómetro

STAS R 12771-1989 ESPECIFICACIÓN PARA LAS RADIACIONES DE REFERENCIA X Y T PARA CALIBRAR DOSÍMETROS Y MEDIDORES DE DOSIFICACIÓN Y PARA DETERMINAR LA RESPUESTA THBIR EN FUNCIÓN DE LA ENERGÍA DEL FOTON

Professional Standard - Railway, Parámetros del difractómetro

TB/T 3227-2010 Instrumentos de medida para la geometría del hilo de contacto.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Parámetros del difractómetro

GJB 8860-2016 Procedimientos de calibración para monitores multiparamétricos.
GJB 2740-1996 Serie de parámetros del telémetro láser de pulso
GJB 894-1990 Pruebas de parámetros de radiación láser militar

卫生健康委员会, Parámetros del difractómetro

WS/T 659-2019 Gestión de seguridad de monitores multiparamétricos

工业和信息化部/国家能源局, Parámetros del difractómetro

JB/T 13046-2017 Instrumento de medición de parámetros de rosca de tubería de aceite
JB/T 4136.1-2017 Tornos de instrumentos Parte 1: tipos y parámetros

Professional Standard - Construction Industry, Parámetros del difractómetro

JG/T 329-2011 Aparatos de coeficiente térmico de hormigón.

Professional Standard - Military and Civilian Products, Parámetros del difractómetro

WJ 2098-1992 Serie de parámetros del telémetro láser de pulso
WJ 1682-1986 Especificaciones del velocímetro digital SSY-1A

International Organization for Standardization (ISO), Parámetros del difractómetro

ISO/TS 20758:2019 Medicina tradicional china: detectores de parámetros fisiológicos abdominales
ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 6980:1996 Radiaciones beta de referencia para calibrar dosímetros y medidores de dosis y para determinar su respuesta en función de la energía de la radiación beta
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 23547:2022 Medición de la radiactividad. Radionucleidos emisores de rayos gamma. Especificaciones estándar de medición de referencia para la calibración de espectrómetros de rayos gamma.

ZA-SANS, Parámetros del difractómetro

SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

IT-UNI, Parámetros del difractómetro

UNI 6966-1971 Determinación cuantitativa de las figuras polares y policristales mediante difusión de trapos X

International Electrotechnical Commission (IEC), Parámetros del difractómetro

IEC 61290-5-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia; Método del analizador de espectro eléctrico.
IEC 62755:2012/AMD1:2020 Instrumentación de protección radiológica: formato de datos para instrumentos de radiación utilizados en la detección del tráfico ilícito de materiales radiactivos.

ES-UNE, Parámetros del difractómetro

UNE-EN 61290-5-2:2004 Amplificadores ópticos - Métodos de ensayo - Parte 5-2: Parámetros de reflectancia - Método analizador de espectro eléctrico (Ratificado por AENOR en septiembre de 2004.)

能源, Parámetros del difractómetro

NB/T 51036-2015 Probador multiparamétrico portátil de agua de mina

Society of Automotive Engineers (SAE), Parámetros del difractómetro

SAE AIR4068A-1996 Factores de la sonda de emisión de turbinas de gas

Standard Association of Australia （SAA）, Parámetros del difractómetro

AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
IEC 62755:2012+AMD1:2020 CSV Instrumentos de protección radiológica. Formato de datos para los instrumentos radiológicos utilizados en la detección del tráfico ilícito de materiales radiactivos.

Professional Standard - Surveying and Mapping, Parámetros del difractómetro

CH 8006-1991 La serie de qlotter analógico y sus parámetros básicos.

Professional Standard - Water Conservancy, Parámetros del difractómetro

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