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parámetros del difractómetro de rayos x
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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en parámetros del difractómetro de rayos x son: Óptica y medidas ópticas., pruebas de metales, Protección de radiación, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Pruebas no destructivas, Química analítica, Productos de la industria química., producción de metales, Minerales no metalíferos, Medidas lineales y angulares., Mediciones de radiación, tubos electronicos, Educación, químicos inorgánicos.
Professional Standard - Machinery, parámetros del difractómetro de rayos x
- JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
- JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
- JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
- JB/T 9399-1999 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
- JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
- JB/T 8387-2010 Instrumentos de prueba no destructivos. Parámetro principal para el tubo de rayos X de detección industrial.
- JB/T 8387-1996 Principales parámetros del tubo de rayos X para detección de defectos industriales.
- JB/T 7808-2010 Instrumentos de pruebas no destructivas Principales series de parámetros para equipos industriales de rayos X.
- JB/T 7808-1995 Serie de parámetros principales del detector de defectos de rayos X industrial.
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, parámetros del difractómetro de rayos x
Professional Standard - Nuclear Industry, parámetros del difractómetro de rayos x
- EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, parámetros del difractómetro de rayos x
- GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
- GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
- GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
- GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
- GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
- GB/Z 41399-2022 Instrumentos de prueba no destructivos: sistema industrial de imágenes de rayos X digitales
- GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
- GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
- GB/T 12162.4-2010 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón. Parte 4: Calibración de dosímetros de área y personales en campos de radiación de referencia X de baja energía.
- GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
- GB/T 20726-2015
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, parámetros del difractómetro de rayos x
- YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
- YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
- YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
Professional Standard - Energy, parámetros del difractómetro de rayos x
- NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
- NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
- NB/SH/T 0339-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X de tamiz molecular de faujasita
工业和信息化部, parámetros del difractómetro de rayos x
- YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
Occupational Health Standard of the People's Republic of China, parámetros del difractómetro de rayos x
- GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
RU-GOST R, parámetros del difractómetro de rayos x
- GOST 22091.0-1984 Dispositivos de rayos X. Requisitos generales para la medición de parámetros.
- GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
- GOST 28258-1989 Dispositivos de rayos X con radioisótopos. Tipos, principales parámetros y requisitos técnicos.
- GOST 17489-1972 Vidicones, rayos X. Parámetros y dimensiones básicos.
- GOST R 52125-2003 Fuentes selladas de radiación X de radionúclidos. Métodos de medición de parámetros.
- GOST 25113-1986 Aparatos de rayos X para ensayos no destructivos para la detección de defectos industriales. Especificaciones generales
American National Standards Institute （ANSI), parámetros del difractómetro de rayos x
- ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, parámetros del difractómetro de rayos x
- GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
British Standards Institution (BSI), parámetros del difractómetro de rayos x
- BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
- BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
- BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), parámetros del difractómetro de rayos x
- JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
- JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
American Society for Testing and Materials (ASTM), parámetros del difractómetro de rayos x
- ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E1426-14(2019)e1 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
- ASTM E1426-98 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
- ASTM E1426-98(2009)e1 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
- ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E1426-14 Método de prueba estándar para determinar las constantes elásticas de rayos X para su uso en la medición de tensiones residuales mediante técnicas de difracción de rayos X
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), parámetros del difractómetro de rayos x
- KS D 0287-2005(2020) Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
- KS D 0287-2005 Método de prueba estándar para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
- KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
German Institute for Standardization, parámetros del difractómetro de rayos x
- DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
- DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
- DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
- DIN 6868-16:2019-05 Garantía de la calidad de la imagen en departamentos de rayos X de diagnóstico. Parte 16: Documentación de los parámetros de procesamiento de imágenes clínicas en sistemas de rayos X digitales.
European Committee for Standardization (CEN), parámetros del difractómetro de rayos x
- EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
Association Francaise de Normalisation, parámetros del difractómetro de rayos x
Danish Standards Foundation, parámetros del difractómetro de rayos x
- DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
Lithuanian Standards Office , parámetros del difractómetro de rayos x
- LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
Professional Standard - Customs, parámetros del difractómetro de rayos x
- HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X
AENOR, parámetros del difractómetro de rayos x
- UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
IT-UNI, parámetros del difractómetro de rayos x
- UNI 6966-1971 Determinación cuantitativa de las figuras polares y policristales mediante difusión de trapos X
IX-IX-IEC, parámetros del difractómetro de rayos x
- IEC TS 62607-6-17:2023 Nanofabricación - Características clave de control - Parte 6-17: Material a base de grafeno - Parámetro de pedido: difracción de rayos X y microscopía electrónica de transmisión
International Organization for Standardization (ISO), parámetros del difractómetro de rayos x
- ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
- ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
Professional Standard - Education, parámetros del difractómetro de rayos x
- JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
- JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos
Standard Association of Australia （SAA）, parámetros del difractómetro de rayos x
- AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
RO-ASRO, parámetros del difractómetro de rayos x
- STAS R 12771-1989 ESPECIFICACIÓN PARA LAS RADIACIONES DE REFERENCIA X Y T PARA CALIBRAR DOSÍMETROS Y MEDIDORES DE DOSIFICACIÓN Y PARA DETERMINAR LA RESPUESTA THBIR EN FUNCIÓN DE LA ENERGÍA DEL FOTON