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análisis semicuantitativo de eds

análisis semicuantitativo de eds, Total: 31 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en análisis semicuantitativo de eds son: Química analítica, Protección contra el fuego, Minerales metalíferos, Materiales semiconductores, Metales ferrosos.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), análisis semicuantitativo de eds

  • KS D ISO 22309-2011(2016) Análisis de microhaces -Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
  • KS D ISO 22309-2011(2021) Análisis de microhaces -Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
  • KS D ISO 22309:2011 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)

International Organization for Standardization (ISO), análisis semicuantitativo de eds

  • ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
  • ISO 22309:2011 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior

Association Francaise de Normalisation, análisis semicuantitativo de eds

  • NF X21-004*NF ISO 22309:2012 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior.
  • NF ISO 22309:2012 Análisis de microhaz: análisis elemental cuantitativo mediante espectrometría selectiva de energía (EDS) de elementos que tienen un número atómico de 11 (Na) o mayor

RO-ASRO, análisis semicuantitativo de eds

  • STAS 10803-1976 PAPEL DE FILTRO PARA ANÁLISIS SEMICUANTATIVOS Y CUANTATITIVOS
  • STAS 8378/2-1969 FIBROASE SEMIFABRICADO ?l PRODUSE FINITE DIN INDUSTRIA CELULOZEI ?l HIRTIEI ANALIZA COMPONEN?ILOR CENU?II Determinarea con?inutului de fier
  • STAS 8378/3-1969 FIBROASE SEMIFABRICADO ?l PRODUSE FINITE DIN INDUSTRIA CELULOZEI ?l H?RTIEI ANALIZA COMPONEN?ILOR CENU?II Determinarea con?inutului de calciu
  • STAS 8378/5-1969 FIBROASE SEMIFABRICADO ?l PRODUSE FINITE DIN INDUSTRIA CELULOZEI ?l HlRTIEI ANALIZA COMPONEN?ILOR CENU?II Determinarea con?inutului de cupru
  • STAS 8378/6-1969 FIBROASE SEMIFABRICADO ?l PRODUSE FINITE DIN INDUSTRIA CELULOZEI ?l HlRTIEI ANALIZA COMPONEN?ILOR CENU?II Determinarea con?inutului de mangan
  • STAS 8378/7-1969 FIBROASE SEMIFABRICADO ?l PRODUSE FINITE DIN INDUSTRIA CELULOZEI ?l HIRTIEI ANALIZA COMPONEN?ILOR CENU?II Determinarea con?inutului de arsen

British Standards Institution (BSI), análisis semicuantitativo de eds

  • BS ISO 22309:2011 Análisis de microhaces. Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior

German Institute for Standardization, análisis semicuantitativo de eds

  • DIN ISO 22309:2015-11 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior (ISO 22309:2011)
  • DIN ISO 22309:2015 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior (ISO 22309:2011)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, análisis semicuantitativo de eds

  • GB/T 16840.7-2021 Métodos de determinación técnica para evidencia de incendio eléctrico. Parte 7: Método analítico de componentes de espectrometría de energía dispersiva.

RU-GOST R, análisis semicuantitativo de eds

  • GOST R ISO 22309-2015 Sistema estatal para asegurar la uniformidad de las mediciones. Análisis de microhaces. Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, análisis semicuantitativo de eds

  • JJG 464-2011 Reglamento de verificación de analizadores de química clínica semiautomáticos
  • JJG(电子) 31010-2007 Reglamento de verificación para analizadores de precisión de parámetros de semiconductores

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, análisis semicuantitativo de eds

  • GB/T 6150.17-1985 Métodos para el análisis químico de concentrados de tungsteno: método fotométrico de naranja semixilenol para la determinación del contenido de bismuto.
  • GB/T 17359-2012 Análisis de microhaces. Análisis cuantitativo mediante espectrometría de energía dispersiva.
  • GB/T 223.48-1985 Métodos para el análisis químico de hierro, acero y aleaciones: método fotométrico de naranja semixilenol para la determinación del contenido de bismuto.

Professional Standard - Electron, análisis semicuantitativo de eds

  • SJ 20234-1993 Reglamento de verificación del analizador de parámetros de semiconductores modelo HP4145A.

American Society for Testing and Materials (ASTM), análisis semicuantitativo de eds

  • ASTM F1894-98 Método de prueba para cuantificar la composición y el espesor de películas del proceso de semiconductores de siliciuro de tungsteno
  • ASTM F1894-98(2003) Método de prueba para cuantificar la composición y el espesor de películas del proceso de semiconductores de siliciuro de tungsteno
  • ASTM F1894-98(2011) Método de prueba para cuantificar la composición y el espesor de películas del proceso de semiconductores de siliciuro de tungsteno
  • ASTM E3309-21 Guía estándar para informes de análisis forense de residuos de disparos de cebador (pGSR) mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS)

US-AATCC, análisis semicuantitativo de eds

Professional Standard - Aviation, análisis semicuantitativo de eds

  • HB 5220.46-1995 Determinación del contenido de bismuto mediante el método de absorciofotometría de naranja semixilenol para el análisis químico de superaleaciones.

Group Standards of the People's Republic of China, análisis semicuantitativo de eds

  • T/CNIA 0143-2022 Recipientes de resina ultrapura para análisis de trazas de impurezas de materiales semiconductores




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