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Cómo analizar el espectro energético

Cómo analizar el espectro energético, Total: 278 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cómo analizar el espectro energético son: Química analítica, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Protección de radiación, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Pruebas no destructivas, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Geología. Meteorología. Hidrología, Componentes electrónicos en general., Productos de la industria textil., Mediciones de radiación, Medidas lineales y angulares., Calidad del suelo. Pedología, Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., ingeniería de energía nuclear, Aplicaciones de la tecnología de la información., Metales no ferrosos, Productos de la industria química., Ferroaleaciones, Bebidas, Tabaco, productos del tabaco y equipos relacionados., Materias primas para caucho y plástico., pruebas de metales, Residuos, Combustibles, Papel y cartón, Física. Química, Leche y productos lácteos.


US-CFR-file, Cómo analizar el espectro energético

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  • CFR 50-23.75-2014 Vida silvestre y pesca. Parte 23: Convención sobre el comercio internacional de especies amenazadas de fauna y flora silvestres (cita). Sección 23.75: ¿Cómo puedo comerciar internacionalmente en vicún? a (Vicugna vicugna)?
  • CFR 50-23.71-2014 Vida silvestre y pesca. Parte 23: Convención sobre el comercio internacional de especies amenazadas de fauna y flora silvestres (cita). Sección 23.71: ¿Cómo puedo comerciar internacionalmente con caviar de esturión?
  • CFR 50-23.74-2014 Vida silvestre y pesca. Parte 23: Convención sobre el comercio internacional de especies amenazadas de fauna y flora silvestres (cita). Sección 23.74: ¿Cómo puedo comercializar internacionalmente trofeos personales de caza deportiva?
  • CFR 50-23.70-2014 Vida silvestre y pesca. Parte 23: Convención sobre el comercio internacional de especies amenazadas de fauna y flora silvestres (cita). Sección 23.70: ¿Cómo puedo comerciar internacionalmente con pieles, partes y productos de caimanes americanos y otros cocodrilos americanos?
  • CFR 50-23.69-2014 Vida silvestre y pesca. Parte 23: Convención sobre el comercio internacional de especies amenazadas de fauna y flora silvestres (cita). Sección 23.69: ¿Cómo puedo comerciar internacionalmente con pieles y productos de piel de gato montés, nutria de río, lince canadiense, lobo gris y hermano?

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Cómo analizar el espectro energético

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  • GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • GB/T 11713-2015 Métodos analíticos generales del espectrómetro gamma de germanio de alta pureza.
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  • GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 42256-2022 Determinación de rutenio-106 en agua de mar─Espectrometría gamma
  • GB/Z 32494-2016 Análisis de superficie Análisis químico Espectroscopía electrónica de Auger Interpretación de información química
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  • GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
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  • GB/T 16145-2022 Método de espectrometría de rayos gamma para la determinación de radionucleidos en muestras ambientales y biológicas.
  • GB/T 17507-1998 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico
  • GB/T 29558-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia electrónica Auger. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
  • GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
  • GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
  • GB/T 28633-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
  • GB/T 17507-2008 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico de transmisión
  • GB/T 28971-2012 Cigarrillos. Determinación de N-nitrosaminas específicas del tabaco en humo secundario. Método GC-TEA
  • GB/T 25185-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga.
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  • GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
  • GB/T 2679.11-1993 Papel y cartón. Análisis cualitativo de cargas minerales y recubrimientos minerales. Método SEM/EDAX

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Cómo analizar el espectro energético

  • GB/T 41072-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Directrices para el análisis de espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta
  • GB/T 41074-2021 Análisis de microhaz: método de preparación de muestras para análisis de polvos generales utilizando WDS y EDS.
  • GB/T 29732-2021 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones de tornillo sin fin de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • GB/T 36401-2018 Análisis químico de superficies: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: informes de resultados de análisis de películas delgadas
  • GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
  • GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
  • GB/T 36504-2018 Guía para el análisis de la contaminación de la superficie de la placa de circuito impreso: espectroscopia electrónica Auger
  • GB/T 16145-2020 Método de espectrometría gamma para analizar radionucleidos en muestras biológicas.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cómo analizar el espectro energético

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  • KS D 2518-1982 Métodos para el análisis espectroquímico de emisión fotoeléctrica de cadmio metálico.
  • KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
  • KS D ISO 22309-2011(2016) Análisis de microhaces -Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
  • KS D ISO 22309-2011(2021) Análisis de microhaces -Análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
  • KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de resolución media-Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
  • KS D ISO 17974-2011(2016) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución-Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS M 0033-2008(2018) Reglas generales para métodos analíticos en cromatografía líquida de alta resolución.
  • KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de resolución media-Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de resolución media-Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • KS D ISO 15471-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 18118-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X-Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de h
  • KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución-Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
  • KS D ISO TR 17270:2007 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de transmisión analítica-Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
  • KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución-Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
  • KS D ISO 22309:2011 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
  • KS D ISO 15471:2005 Análisis químico de superficies-Espectroscopia de electrones Auger-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 19318-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
  • KS M 2800-1-2007 Determinación de tipos de hidrocarburos aromáticos en dispersantes de derrames de petróleo: método de cromatografía líquida de alta resolución con detección de índice de refrN

IN-BIS, Cómo analizar el espectro energético

  • IS 11148-1984 EXPRESIÓN DE LAS PROPIEDADES DE LOS ANALIZADORES DE ESPECTRO

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Cómo analizar el espectro energético

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  • JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
  • JIS K 0161:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

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  • ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
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  • ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
  • ISO/TR 19319:2003
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  • ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
  • ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Derivación de información química
  • ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
  • ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15647:2004 Energía nuclear - Análisis isotópico del hexafluoruro de uranio - Método espectrométrico de masas con fuente de gas de doble estándar
  • ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • ISO/CD TR 18392:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Procedimientos para determinar fondos.
  • ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
  • ISO 14701:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
  • ISO 16242:2011 Análisis químico de superficies: registro y presentación de datos en espectroscopia electrónica Auger (AES)
  • ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Medición del espesor del óxido de silicio
  • ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
  • ISO 16531:2013 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Métodos para la alineación del haz de iones y la medición asociada de la corriente o densidad de corriente para el perfilado de profundidad en AES y XPS
  • ISO 22309:2011 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior
  • ISO 15471:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 15471:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 29081:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía electrónica Auger - Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga
  • ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
  • ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ISO/CD 5861 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
  • ISO/DIS 5861:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
  • ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Estimación y presentación de informes de límites de detección para elementos en materiales homogéneos.

Professional Standard - Petroleum, Cómo analizar el espectro energético

  • SY/T 6189-1996 Método de análisis cuantitativo del espectro energético de minerales de roca.
  • SY/T 6189-2018 Método de análisis cuantitativo del espectro energético de minerales de roca.
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  • SY/T 5253-1991 Método de análisis del espectro de rayos gamma natural del núcleo de roca Método de detección de germanio de alta pureza

British Standards Institution (BSI), Cómo analizar el espectro energético

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  • BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS ISO 17973:2016 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
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  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
  • BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • PD ISO/TR 18394:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de electrones Auger. Derivación de información química.
  • BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
  • BS ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
  • BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
  • BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
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