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Documentación de vida del instrumento

Documentación de vida del instrumento, Total: 137 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Documentación de vida del instrumento son: Documentación técnica del producto, Equipos para la industria química., Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Pruebas mecánicas, Aplicaciones de la tecnología de la información., Pruebas no destructivas, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Optoelectrónica. Equipo láser, Medidas lineales y angulares., Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Dispositivos semiconductores, Geología. Meteorología. Hidrología, Desarrollo de software y documentación del sistema., Equipo medico, Comunicaciones de fibra óptica., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Dispositivos de visualización electrónica., Equipos e instrumentos a bordo., Sistemas de automatización industrial, Adhesivos, Astronomía. Geodesia. Geografía, Frutas. Verduras, Símbolos gráficos, Equipo de minería, Industria de construccion, Equipo de teleférico.

German Institute for Standardization, Documentación de vida del instrumento

DIN 28000-2:2011 Aparatos químicos - Documentación en el ciclo de vida de las plantas de proceso - Parte 2: Contenido de la documentación
DIN 28000-2:2002 Aparatos químicos - Tipos de documentos en el ciclo de vida de las plantas de proceso - Parte 2: Definiciones de los tipos de documentos
DIN EN 62304:2007 Software de dispositivos médicos: procesos del ciclo de vida del software (IEC 62304:2006); Versión alemana EN 62304:2006
DIN ISO 15226:2017 Documentación técnica del producto - Modelo de ciclo de vida y asignación de documentos (ISO 15226:1999)
DIN ISO 15226:1999 Documentación técnica del producto - Modelo de ciclo de vida y asignación de documentos (ISO 15226:1999)
DIN EN ISO 17526:2003-10 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vida útil de los láseres (ISO 17526:2003); Versión alemana EN ISO 17526:2003
DIN 28000-1:2002 Aparatos químicos - Tipos de documentos en el ciclo de vida de las plantas de proceso - Parte 1: Registro de los tipos de documentos esenciales y complementarios
DIN 28000-1:2011 Aparatos químicos - Documentación en el ciclo de vida de las plantas de proceso - Parte 1: Registro de la documentación esencial y complementaria
DIN 28000-3:2009 Aparatos químicos - Documentación en el ciclo de vida de las plantas de proceso - Parte 3: Diagramas de flujo y códigos de identificación de la planta
DIN EN ISO 17526:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vida útil de los láseres (ISO 17526:2003); Versión alemana EN ISO 17526:2003
DIN EN 62304:2016 Software de dispositivos médicos: procesos del ciclo de vida del software (IEC 62304:2006 + A1:2015); Versión alemana EN 62304:2006 + Cor.:2008 + A1:2015
DIN EN 2591-406:1998 Serie aeroespacial - Elementos de conexión eléctrica y óptica; métodos de prueba - Parte 406: Resistencia mecánica; Versión alemana EN 2591-406:1998
DIN 28000-1 Berichtigung 1:2012 Aparatos químicos - Documentación en el ciclo de vida de las plantas de proceso - Parte 1: Registro de la documentación esencial y complementaria, Corrigendum según DIN 28000-1:2011-01
DIN EN 60749-23:2011-07 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida operativa a alta temperatura (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); Versión alemana EN 60749-23:2004 + A1:2011 / Nota: DIN EN 60749-23 (2004-10) sigue siendo válida junto con esta norma hasta...
DIN EN 62005-7:2004 Fiabilidad de los dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes ópticos pasivos. Parte 7: Modelización del estrés vital (IEC 62005-7:2004); Versión alemana EN 62005-7:2004
DIN EN 3745-410:2015 Serie aeroespacial - Fibras y cables ópticos, uso aeronáutico - Métodos de prueba - Parte 410: Vida térmica; Versión alemana e inglesa EN 3745-410:2015
DIN EN 3745-410:2016 Serie aeroespacial - Fibras y cables ópticos, uso aeronáutico - Métodos de prueba - Parte 410: Vida térmica; Versión alemana e inglesa EN 3745-410:2015
DIN EN 60749-23:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida operativa a alta temperatura (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); Versión alemana EN 60749-23:2004 + A1:2011
DIN EN 302-7:2013 Adhesivos para estructuras portantes de madera - Métodos de ensayo - Parte 7: Determinación de la vida útil en las condiciones referenciadas; Versión alemana EN 302-7:2013
DIN EN 60749-5:2018-01 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario (IEC 60749-5:2017); Versión alemana EN 60749-5:2017 / Nota: DIN EN 60749-5 (2003-09) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2020...
DIN EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estacionario (IEC 60749-5:2003); Versión alemana EN 60749-5:2003
DIN 28000-4:2014 Aparatos químicos - Documentación en el ciclo de vida de las plantas de proceso - Parte 4: Símbolos gráficos de válvulas, tuberías y actuadores
DIN CWA 16633:2013 Comportamiento de envejecimiento de los componentes estructurales con respecto a la evaluación integrada de la vida útil y la posterior gestión de activos de las instalaciones construidas; Versión en inglés CWA 16633:2013

Professional Standard - Petroleum, Documentación de vida del instrumento

SY/T 6144-2008 Especificaciones técnicas de la herramienta de registro de vida útil de neutrones.
SY/T 6144-1995 Condiciones técnicas de la herramienta de registro de vida útil de neutrones.
SY 6144-2008 Condiciones técnicas de la herramienta de registro de vida útil anual de neutrones

IN-BIS, Documentación de vida del instrumento

IS 7412-1974 PRUEBAS DE VIDA DE DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES

Society of Automotive Engineers (SAE), Documentación de vida del instrumento

SAE J2409-1998 Formato de archivo de intercambio de datos sobre fatiga de Strain-Life

Association Francaise de Normalisation, Documentación de vida del instrumento

NF C74-017*NF EN 62304:2006 Software de dispositivos médicos: procesos del ciclo de vida del software.
NF E04-810*NF ISO 15226:1999 Documentación técnica del producto. Modelo de ciclo de vida y asignación de documentos.
NF EN ISO 17526:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vida útil de los láseres
NF S10-128*NF EN ISO 17526:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vida útil de los láseres.
NF C96-022-23*NF EN 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a alta temperatura.
NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a alta temperatura.
NF C93-913-7*NF EN 62005-7:2004 Fiabilidad de los dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes ópticos pasivos. Parte 7: modelado del estrés vital.
NF EN 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a altas temperaturas.
NF EN 60749-23/A1:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a altas temperaturas.
NF C96-022-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
NF C96-022-5*NF EN 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
NF EN 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: prueba de vida continua bajo temperatura y humedad con polarización.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Documentación de vida del instrumento

GB/T 37929-2019 Instrumentos de prueba no destructivos: métodos de prueba para la vida útil de los tubos de rayos X.
GB/T 40214-2021 Tipos de documentos para proyectos eléctricos y de instrumentación en la industria de procesos.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Documentación de vida del instrumento

EN 62304:2006 Software de dispositivos médicos: procesos del ciclo de vida del software (corrección incorporada de noviembre de 2008)
EN 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 23: Vida operativa a alta temperatura (Incorpora la Enmienda A1: 2011)

American National Standards Institute （ANSI), Documentación de vida del instrumento

ANSI/AAMI/IEC 62304,Ed.1:2006 Software de dispositivos médicos: procesos del ciclo de vida del software

Professional Standard - Water Conservancy, Documentación de vida del instrumento

SL/T 108-1995 Los métodos de nomenclatura de modelos para instrumentos hidrológicos.
SL 108-2006 Los métodos de modelo y nomenclatura para instrumentos hidrológicos y sistemas automáticos de recursos hídricos e hidrología.
SL/T 244-1999 Especificaciones generales para equipos e instrumentos de mediciones hidrométricas de teleféricos.

British Standards Institution (BSI), Documentación de vida del instrumento

BS ISO/IEC 24789-1:2012 Tarjetas de identificación. Vida útil de la tarjeta. Perfiles y requisitos de aplicación
BS EN ISO 17526:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vida útil de los láseres
BS EN 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vida útil a alta temperatura
BS EN 60749-23:2004+A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vida útil a alta temperatura
BS ISO/IEC/IEEE 26531:2015 Ingeniería de sistemas y software. Gestión de contenidos para el ciclo de vida del producto, documentación de gestión de usuarios y servicios.
BS EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario
BS EN 60749-5:2017 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Documentación de vida del instrumento

JIS C 5036:1975 Método de prueba de resistencia (eléctrica) para componentes electrónicos.
JIS C 5037:1975 Método de prueba de resistencia (mecánica) para componentes electrónicos.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Documentación de vida del instrumento

JJF 1203-2008 Especificación de calibración para productos electroacústicos (altavoces) Equipos de medición de vida útil de potencia

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Documentación de vida del instrumento

KS B ISO 17526:2020 Óptica e instrumentos ópticos. Láseres y equipos relacionados con el láser. Vida útil de los láseres.
KS B ISO 17526:2015 Óptica e instrumentos ópticos ― Láseres y equipos relacionados con el láser ― Vida útil de los láseres
KS B ISO 17526:2013 ¿Óptica e instrumentos ópticos?; ¿Láseres y equipos relacionados con el láser?; Vida útil de los láseres
KS B ISO 17526:2008 Óptica e instrumentos ópticos-Láseres y equipos relacionados con el láser-Vida útil de los láseres
KS C IEC 60749-23:2006 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 23: Vida útil a alta temperatura
KS C IEC 60749-23:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
KS C IEC 60749-23-2006(2016) Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 23: Vida útil a alta temperatura

KR-KS, Documentación de vida del instrumento

KS B ISO 17526-2020 Óptica e instrumentos ópticos. Láseres y equipos relacionados con el láser. Vida útil de los láseres.
KS C IEC 60749-23-2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.

Group Standards of the People's Republic of China, Documentación de vida del instrumento

T/ZAQ 10113-2022 Equipos de prueba de vida útil intermitente para dispositivos semiconductores.

GB-REG, Documentación de vida del instrumento

REG NASA-LLIS-0610--1999 Lecciones aprendidas: pruebas de vida útil a largo plazo de componentes de naves espaciales

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Documentación de vida del instrumento

GJB 10196-2021 Método de prueba de vida acelerada para dispositivos de potencia de microondas de estado sólido
GJB 9380-2018 Método de prueba de vida de la junta de soldadura del dispositivo de montaje en superficie y requisitos de evaluación
GJB 8349-2015 Requisitos generales para documentos aleatorios para instrumentos de prueba militares.

International Organization for Standardization (ISO), Documentación de vida del instrumento

ISO 17526:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vida útil de los láseres
ISO/IEC 24789-1:2012 Tarjetas de identificación - Vida útil de la tarjeta - Parte 1: Perfiles de aplicación y requisitos

Danish Standards Foundation, Documentación de vida del instrumento

DS/EN ISO 17526:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Láseres y equipos relacionados con el láser - Vida útil de los láseres
DS/EN 60749-23/A1:2011
DS/EN 60749-23:2004
DS/EN 60749-5:2003

JP-JEITA, Documentación de vida del instrumento

JEITA EDR-4704A-2007 Guía de aplicación del test de vida acelerado para dispositivos semiconductores

Lithuanian Standards Office , Documentación de vida del instrumento

LST EN ISO 17526:2004 Óptica e instrumentos ópticos. Láseres y equipos relacionados con el láser. Vida útil de los láseres (ISO 17526:2003).
LST EN 60749-23-2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas (IEC 60749-23:2004)
LST EN 60749-23-2004/A1-2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida operativa a alta temperatura (IEC 60749-23:2004/A1:2011).

AENOR, Documentación de vida del instrumento

UNE-EN ISO 17526:2004 Óptica e instrumentos ópticos. Láseres y equipos relacionados con el láser. Vida útil de los láseres (ISO 17526:2003).
UNE-EN 62005-7:2005 Fiabilidad de los dispositivos de interconexión de fibra óptica y los componentes ópticos pasivos. Parte 7: Modelización del estrés vital.
UNE-EN 60749-23:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.
UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.
UNE-EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Documentación de vida del instrumento

JEDEC JESD74A-2007 Procedimiento de cálculo de la tasa de fallos de vida temprana para componentes semiconductores

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Documentación de vida del instrumento

DB61/T 1448-2021 Procedimientos de prueba de vida intermitente para dispositivos discretos semiconductores de alta potencia

European Committee for Standardization (CEN), Documentación de vida del instrumento

EN ISO 17526:2003 Óptica e instrumentos ópticos Láseres y equipos relacionados con el láser Vida útil de los láseres ISO 17526:2003

RU-GOST R, Documentación de vida del instrumento

GOST R ISO/IEC 24789-1-2016 Tarjetas de identificación. Vida útil de la tarjeta. Parte 1. Perfiles y requisitos de aplicación

American Welding Society (AWS), Documentación de vida del instrumento

WRC 374:1992 Artículos presentados en la conferencia sobre "Vida de recipientes a presión" Celebrada por la AFIAP francesa en 1989

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Documentación de vida del instrumento

ECA EIA/ECA-364-22B-2000 Procedimiento de prueba de vida simulada TP-22B para conectores eléctricos

WRC - Welding Research Council, Documentación de vida del instrumento

BULLETIN 374-1992 "PONENCIAS PRESENTADAS EN LA CONFERENCIA SOBRE ""VIDA DE LOS RECIPIENTES A PRESIÓN"" REALIZADA POR LA AFIAP FRANCESA EN 1989

Professional Standard - Building Materials, Documentación de vida del instrumento

JC/T 551-1994 Accesorios para tanques de bajo nivel de agua del inodoro: sello de la válvula de drenaje y método de prueba de vida útil

ZA-SANS, Documentación de vida del instrumento

SANS 15289:2007 Ingeniería de sistemas y software - Contenido de productos de información de procesos del ciclo de vida de sistemas y software (Documentación)

Standard Association of Australia （SAA）, Documentación de vida del instrumento

AS/NZS ISO/IEC 15289:2007 Ingeniería de sistemas y software - Contenido de productos de información de procesos del ciclo de vida de sistemas y software (Documentación)

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Documentación de vida del instrumento

TIA-1048-2005 Fiabilidad de los dispositivos de interconexión de fibra óptica y los componentes pasivos. Parte 7: Modelado del estrés vital (IEC 62005-7 adoptada)

International Electrotechnical Commission (IEC), Documentación de vida del instrumento

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
IEC 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
IEC 60278:1968 Documentación que debe entregarse con los aparatos de medida electrónicos.
IEC 60749-23:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
IEC 62005-7:2004 Fiabilidad de los dispositivos de interconexión de fibra óptica y los componentes ópticos pasivos. Parte 7: Modelización del estrés vital.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Documentación de vida del instrumento

GB/T 4937.23-2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a altas temperaturas.
GB/T 13972-2010 Especificaciones técnicas generales para instrumentos hidrológicos oceanográficos.
GB/T 13972-1992 Especificaciones técnicas generales para instrumentos hidrológicos oceanográficos.
GB/T 9359-2016 Condiciones y métodos básicos de prueba ambiental para instrumentos hidrológicos.
GB/T 9359-2001 Condiciones y métodos básicos de prueba ambiental para instrumentos hidrológicos.
GB/T 15966-2007 Parámetro principal y especificación general para instrumento hidrológico.
GB/T 15966-1995 Parámetro principal y especificación general para instrumento hidrológico.
GB/T 18522.2-2002 Especificación general para instrumentos hidrométricos. Parte 2: Condición operativa referencial.
GB/T 32749-2016 Especificaciones generales para equipos e instrumentos de medición de teleféricos hidrométricos.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Documentación de vida del instrumento

ASTM F3487-20 Guía estándar para evaluar la vida útil de una pieza de cepillo destinada a limpiar un dispositivo médico

Professional Standard - Electron, Documentación de vida del instrumento

SJ/Z 9077-1987 Documentos adjuntos del instrumento de medida electrónico.
SJ 2259-1982 Preparación para la documentación de instrumentos de medición electrónicos suministrados.

工业和信息化部, Documentación de vida del instrumento

SJ/T 11461.5.3-2016 Dispositivos de visualización de diodos emisores de luz orgánicos Parte 5-3: Métodos de prueba para la imagen residual y la vida útil

Professional Standard - Geology, Documentación de vida del instrumento

DZ 0038-1992 Reglamento sobre documentación de procesos de productos de instrumentos geológicos.
DZ/T 0163-1995 Método de clasificación y numeración de documentos de diseño de productos de instrumentos geológicos.
DZ/T 0198.8-1997 Cambios en los documentos de proceso de las directrices para la gestión de procesos de instrumentos geológicos.
DZ 0042-1992 Normativa sobre dibujos de productos y documentos técnicos de instrumentos geológicos.
DZ/T 163-1995 Método de clasificación y numeración de documentos de diseño de productos de instrumentos geológicos.
DZ/T 0042.4-1992 Método de conservación de documentos técnicos y dibujos de productos de instrumentos geológicos
DZ/Z 5-1981 Reglas generales para la preparación de dibujos de productos y documentos técnicos de instrumentos geológicos.
DZ/T 0042.1-1992 Reglas generales para la preparación de dibujos de productos y documentos técnicos de instrumentos geológicos.
DZ/T 0042.3-1992 Método para modificar dibujos de productos y documentos técnicos de instrumentos geológicos.
DZ/Z 7-1981 Método para modificar dibujos de productos y documentos técnicos de instrumentos geológicos.
DZ/Z 8-1981 Método de conservación de documentos técnicos y dibujos de productos de instrumentos geológicos
DZ/T 0042.2-1992 Requisitos y formatos para dibujos y documentos técnicos de instrumentos geológicos.
DZ/Z 6-1981 Requisitos y formatos para dibujos y documentos técnicos de instrumentos geológicos.
DZ/T 0138-1994 Revisión de estandarización de dibujos de productos de instrumentos geológicos y documentos de diseño.

CZ-CSN, Documentación de vida del instrumento

CSN 35 6506-1983 Instrumentos de medida electrónicos Documentación suministrada con los instrumentos de medida electrónicos.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Documentación de vida del instrumento

GB/T 15966-2017 Parámetros primarios y condiciones técnicas generales para instrumentos hidrológicos.

European Association of Aerospace Industries, Documentación de vida del instrumento

AECMA PREN 2349-317-1999 Requisitos de la serie aeroespacial y procedimientos de prueba para relés y contactores Parte 317: Vida útil del dispositivo de conmutación de bobina Edición 3E
AECMA PREN 2349-317-2000 Requisitos de la serie aeroespacial y procedimientos de prueba para relés y contactores Parte 317: Vida útil del dispositivo de conmutación de bobina Edición P 1

RO-ASRO, Documentación de vida del instrumento

STAS 11142-1978 DOCUMENTOS SUMINISTRADOS CON LOS INSTRUMENTOS DE MEDIDA ELECTRÓNICOS. ESPECIFICACIONES PARA SU ELABORACIÓN

KE-KEBS, Documentación de vida del instrumento

KS 09-533-1983 ESPECIFICACIÓN ESTÁNDAR DE KENIA PARA LA DOCUMENTACIÓN QUE DEBE SUMINISTRARSE CON UN APARATO DE MEDICIÓN ELECTRÓNICA