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Prueba de durabilidad de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario
Prueba de durabilidad de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario, Total: 7 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Prueba de durabilidad de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario son: Dispositivos semiconductores.
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Prueba de durabilidad de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario
International Electrotechnical Commission (IEC), Prueba de durabilidad de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario
- IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
- IEC 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Prueba de durabilidad de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario
- EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
- EN 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
- EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario
- EN 60749-4:2002 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de tensión altamente acelerada (HAST)