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Prueba de vida útil de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario

Prueba de vida útil de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario, Total: 3 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Prueba de vida útil de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario son: Dispositivos semiconductores.

British Standards Institution (BSI), Prueba de vida útil de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario

• BS EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario

Association Francaise de Normalisation, Prueba de vida útil de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario

• NF C96-022-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.

German Institute for Standardization, Prueba de vida útil de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario

• DIN EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estacionario (IEC 60749-5:2003); Versión alemana EN 60749-5:2003

Otros:   Prueba de durabilidad de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario, Prueba de vida útil de desviación de temperatura y humedad en estado estacionario.