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Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos, Total: 34 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos son: Dispositivos semiconductores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Símbolos gráficos, Materiales semiconductores.

International Electrotechnical Commission (IEC), Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

IEC 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción
IEC 62951-6:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores flexibles y estirables. Parte 6: Método de prueba para la resistencia laminar de películas conductoras flexibles.
IEC 62047-22:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 22: Método de ensayo de tracción electromecánico para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles.

Association Francaise de Normalisation, Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

NF C96-050-3*NF EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: probeta estándar de película delgada para ensayos de tracción
NF EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: probetas estandarizadas de película delgada para ensayos de tracción.
NF EN 62047-22:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 22: método de ensayo de tracción electromecánico para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles.
NF C96-050-22*NF EN 62047-22:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 22: método de prueba de tracción electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles.
NF EN 62047-8:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 8: método de prueba de flexión de tiras para medir las propiedades de tracción de películas delgadas.

German Institute for Standardization, Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

DIN EN 62047-3:2007 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006); Versión alemana EN 62047-3:2006
DIN EN 62047-3:2007-02 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006); Versión alemana EN 62047-3:2006
DIN EN 62047-8:2011-12 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 8: Método de prueba de flexión de tiras para medir la propiedad de tracción de películas delgadas (IEC 62047-8:2011); Versión alemana EN 62047-8:2011
DIN EN 62047-22:2015-04 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 22: Método de prueba de tracción electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles (IEC 62047-22:2014); Versión alemana EN 62047-22:2014
DIN EN 62047-22:2015 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 22: Método de prueba de tracción electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles (IEC 62047-22:2014); Versión alemana EN 62047-22:2014
DIN EN 62047-8:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 8: Método de prueba de flexión de tiras para medir la propiedad de tracción de películas delgadas (IEC 62047-8:2011); Versión alemana EN 62047-8:2011
DIN EN 62047-6:2010 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 6: Métodos de ensayo de fatiga axial de materiales de película delgada (IEC 62047-6:2009); Versión alemana EN 62047-6:2010

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción
EN 62047-22:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 22: Método de ensayo de tracción electromecánico para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles.
EN 62047-2:2006 Dispositivos semiconductores Dispositivos microelectromecánicos Parte 2: Método de prueba de tracción de materiales de película delgada
EN 62047-8:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 8: Método de ensayo de flexión de tiras para medir la propiedad de tracción de películas delgadas.
EN 62047-16:2015 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 16: Métodos de prueba para determinar tensiones residuales de películas MEMS - Métodos de curvatura de oblea y deflexión del haz en voladizo

British Standards Institution (BSI), Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

BS EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción
BS EN 62047-2:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 2: Método de prueba de tracción de materiales de película delgada
BS EN 62047-22:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Método de prueba de tracción electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles.
BS EN 62047-16:2015 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba para determinar tensiones residuales de películas MEMS Métodos de curvatura de oblea y deflexión del haz en voladizo

Danish Standards Foundation, Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

Lithuanian Standards Office , Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

LST EN 62047-3-2007 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006).
LST EN 62047-2-2007 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 2: Método de ensayo de tracción de materiales de película delgada (IEC 62047-2:2006).
LST EN 62047-8-2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 8: Método de ensayo de flexión de tiras para medir la propiedad de tracción de películas delgadas (IEC 62047-8:2011).

ES-UNE, Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

UNE-EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Probeta estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
UNE-EN 62047-8:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 8: Método de ensayo de flexión de tiras para la medida de la propiedad de tracción de películas delgadas (Ratificada por AENOR en septiembre de 2011.)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

JIS C 5630-3:2009 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Dispositivos semiconductores Piezas de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción de equipos microelectromecánicos

KS C IEC 62047-8:2015 Dispositivos semiconductores ― Dispositivos microelectromecánicos ― Parte 8: Método de prueba de flexión de tiras para medir la propiedad de tracción de películas delgadas