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Optoelectrónica de elementos

Optoelectrónica de elementos, Total: 62 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Optoelectrónica de elementos son: Productos de metales no ferrosos., Química analítica, Materiales semiconductores, Metales ferrosos, Metales no ferrosos, ingeniería de energía nuclear, pruebas de metales, Óptica y medidas ópticas., Joyería, Física. Química.

European Association of Aerospace Industries, Optoelectrónica de elementos

AECMA PREN 2591-FD15-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexión eléctrica y óptica Parte FD15 - Elementos ópticos - Prueba de daños en la sonda Edición P 1
AECMA PREN 2591-FD6-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexión eléctrica y óptica Parte FD6 - Elementos ópticos Resistencia mecánica Edición P 1

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Optoelectrónica de elementos

GB/T 33236-2016 Silicio policristalino. Determinación de oligoelementos. Método de espectrometría de masas por descarga luminiscente.
GB/T 34209-2017 Acero inoxidable—Determinación del contenido de múltiples elementos—Espectrometría de emisión óptica de descarga incandescente

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Optoelectrónica de elementos

DB35/T 1146-2011 Determinación del contenido de elementos de impureza en materiales de silicio mediante espectrometría de masas de descarga luminosa

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Optoelectrónica de elementos

GB/T 42518-2023 Análisis químico de oligoelementos en cristales de germanato de bismuto (BGO) mediante espectrometría de masas de descarga luminosa
GB/T 22368-2008 Acero de baja aleación. Determinación del contenido de múltiples elementos. Espectrometría de emisión óptica de descarga incandescente (método de rutina)
GB/T 37211.3-2022 Método para el análisis químico del germanio metálico. Parte 3: Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
GB/T 36590-2018(英文版) Método para el análisis químico de plata de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga luminiscente.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Optoelectrónica de elementos

YS/T 871-2013 Análisis químico de aluminio de alta pureza. Determinación de trazas de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 895-2013 Métodos para el análisis químico de renio de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 897-2013 Métodos para el análisis químico de niobio de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 891-2013 Métodos para el análisis químico de titanio de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 899-2013 Métodos para el análisis químico de tantalio de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 901-2013 Métodos para el análisis químico de tungsteno de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 1600-2023 Determinación de elementos traza de impurezas en monocristales de carburo de silicio: espectrometría de masas de descarga luminosa
YS/T 1011-2014 Métodos para el análisis químico de cobalto de alta pureza. Determinación del contenido de elementos de impureza. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 1012-2014 Métodos para el análisis químico de níquel de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 917-2013 Métodos de análisis químico para cadmio de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 922-2013 Métodos para el análisis químico de cobre de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 1599-2023 Método para el análisis químico de circonio de alta pureza 一 Determinación del contenido de elementos traza de impurezas 一 Espectrometría de masas de descarga luminiscente
YS/T 229.4-2013 Métodos de análisis químico para plomo de alta pureza. Parte 4: Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 923.2-2013 Métodos para el análisis químico de bismuto de alta pureza. Parte 2: Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.
YS/T 38.3-2023 Métodos para el análisis químico de galio de alta pureza. Parte 3: Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga incandescente.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Optoelectrónica de elementos

GB/T 36590-2018 Método para el análisis químico de plata de alta pureza. Determinación del contenido de elementos traza de impurezas. Espectrometría de masas de descarga luminiscente.

工业和信息化部, Optoelectrónica de elementos

YS/T 1473-2021 Método de análisis químico de molibdeno de alta pureza Determinación de elementos traza de impurezas Espectrometría de masas de descarga luminosa
YS/T 1506-2021 Método de análisis químico de iridio de alta pureza Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de masas de descarga luminosa
YS/T 1494-2021 Método de análisis químico para oro de alta pureza Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de masas de descarga luminosa
YS/T 1504-2021 Método de análisis químico de paladio de alta pureza Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de masas de descarga luminosa
YS/T 1530-2022 Método de análisis químico de estaño de alta pureza Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de masas de descarga luminosa
YS/T 1495-2021 Método de análisis químico para rodio de alta pureza Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de masas de descarga luminosa
YS/T 1493-2021 Método de análisis químico para platino de alta pureza Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de masas de descarga luminosa
YS/T 1505-2021 Método de análisis químico de rutenio de alta pureza Determinación del contenido de elementos de impureza Espectrometría de masas de descarga incandescente
YS/T 1347-2020 Método de análisis químico de hafnio de alta pureza Determinación del contenido de elementos traza de impurezas Espectrometría de masas de descarga luminiscente
XB/T 628-2020 Métodos de análisis químico para metales de tierras raras de alta pureza Determinación del contenido de oligoelementos Espectrometría de masas de descarga luminosa
YS/T 1288.4-2018 Métodos para el análisis químico de zinc de alta pureza Parte 4: Determinación del contenido de oligoelementos Espectrometría de masas por descarga luminiscente

American Society for Testing and Materials (ASTM), Optoelectrónica de elementos

ASTM C1284-00(2005) Práctica estándar para la electrodeposición de actínidos para espectrometría alfa
ASTM C1284-00 Práctica estándar para la electrodeposición de actínidos para espectrometría alfa
ASTM C1284-18 Práctica estándar para la electrodeposición de actínidos para espectrometría alfa

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Optoelectrónica de elementos

KS D 1674-2019 Métodos para el análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente de oligoelementos en oro.
KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17973:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos

Group Standards of the People's Republic of China, Optoelectrónica de elementos

T/SDAS 4-2016 Métodos para el análisis químico de oro de alta pureza. Determinación del contenido de elementos de impureza. Espectrometría de masas de descarga luminiscente.
T/CAQI 134-2020 Gemas—Determinación de oligoelementos—Espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente con ablación láser
T/CST 2-2020 Determinación del contenido de elementos múltiples en joyas de aleación de oro mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente por ablación láser

British Standards Institution (BSI), Optoelectrónica de elementos

BS ISO 17973:2003 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
IEC 62607-6-21:2022 Nanofabricación. Características clave de control. - Parte 6-21: Material a base de grafeno. Composición elemental, relación C/O: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

International Organization for Standardization (ISO), Optoelectrónica de elementos

ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17973:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos

Association Francaise de Normalisation, Optoelectrónica de elementos

NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de media resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Optoelectrónica de elementos

JIS K 0165:2011 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Optoelectrónica de elementos

YB/T 4308-2012 Acero de baja aleación. Determinación del contenido de múltiples elementos. Espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente por ablación láser (método de rutina)

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, Optoelectrónica de elementos

PREN 2591-F11-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexiones eléctricas y ópticas Parte F11 - Elementos ópticos Efectividad de la fijación del cable Torsión del cable (Edición P 1)
PREN 2591-F10-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexiones eléctricas y ópticas Parte F10 - Elementos ópticos Eficacia de la fijación de cables Tirado de cables (Edición P 1)
PREN 2591-F12-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexión eléctrica y óptica Parte F12 - Elementos ópticos Efectividad de la fijación del cable Compresión axial del cable (Edición P 1)
PREN 2591-F9-1993 Elementos de la serie aeroespacial de métodos de prueba de conexión eléctrica y óptica Parte F9 - Elementos ópticos Efectividad de la fijación del cable Flexión cíclica del cable (Edición P 1)

International Electrotechnical Commission (IEC), Optoelectrónica de elementos

IEC TS 62607-6-21:2022 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 6-21: Material a base de grafeno - Composición elemental, relación C/O: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X