ZH
EN
ES

Элемент оптоэлектроники

Элемент оптоэлектроники, Всего: 62 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Элемент оптоэлектроники, являются: Изделия цветных металлов, Аналитическая химия, Полупроводниковые материалы, Черные металлы, Цветные металлы, Атомная энергетика, Испытание металлов, Оптика и оптические измерения, Ювелирные изделия, Физика. Химия.

European Association of Aerospace Industries, Элемент оптоэлектроники

AECMA PREN 2591-FD15-1993 Элементы методов испытаний электрических и оптических соединений аэрокосмической серии. Часть FD15. Оптические элементы. Издание на повреждение испытательного зонда, P 1
AECMA PREN 2591-FD6-1993 Методы испытаний элементов электрических и оптических соединений аэрокосмической серии. Часть FD6. Оптические элементы, механическая износостойкость, издание P 1

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Элемент оптоэлектроники

GB/T 33236-2016 Поликристаллический кремний. Определение микроэлементов. Метод масс-спектрометрии тлеющего разряда.
GB/T 34209-2017 Нержавеющая сталь. Определение содержания многоэлементных соединений. Оптическая эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда.

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Элемент оптоэлектроники

DB35/T 1146-2011 Определение содержания примесных элементов в кремниевых материалах методом масс-спектрометрии в тлеющем разряде

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Элемент оптоэлектроники

GB/T 42518-2023 Химический анализ микроэлементов в кристаллах германата висмута (BGO) методом масс-спектрометрии тлеющего разряда
GB/T 22368-2008 Низколегированная сталь.Определение содержания мультиэлементов.Оптико-эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда(Рутинный метод)
GB/T 37211.3-2022 Метод химического анализа металлического германия. Часть 3. Определение содержания микроэлементов-примесей. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
GB/T 36590-2018(英文版) Метод химического анализа серебра высокой чистоты. Определение содержания микроэлементов-примесей. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Элемент оптоэлектроники

YS/T 871-2013 Химический анализ алюминия высокой чистоты.Определение микропримесей.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 895-2013 Методы химического анализа рения высокой чистоты.Определение содержания микроэлементов-примесей.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 897-2013 Методы химического анализа ниобия высокой чистоты.Определение содержания микроэлементов-примесей.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 891-2013 Методы химического анализа титана высокой чистоты.Определение содержания микроэлементов-примесей.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 899-2013 Методы химического анализа тантала высокой чистоты.Определение содержания микроэлементов-примесей.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 901-2013 Методы химического анализа вольфрама высокой чистоты.Определение содержания микроэлементов-примесей.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1600-2023 Определение микроэлементов-примесей в монокристалле карбида кремния. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1011-2014 Методы химического анализа кобальта высокой чистоты.Определение содержания примесных элементов.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1012-2014 Методы химического анализа никеля высокой чистоты.Определение содержания микроэлементов-примесей.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 917-2013 Методы химического анализа кадмия высокой чистоты.Определение содержания микроэлементов-примесей.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 922-2013 Методы химического анализа меди высокой чистоты.Определение содержания микроэлементов-примесей.Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1599-2023 Метод химического анализа циркония высокой чистоты 一 Определение содержания микроэлементов-примесей 一 Масс-спектрометрия тлеющего разряда
YS/T 229.4-2013 Методы химического анализа свинца высокой чистоты. Часть 4. Определение содержания микроэлементов-примесей. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 923.2-2013 Методы химического анализа висмута высокой чистоты. Часть 2. Определение содержания микроэлементов-примесей. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 38.3-2023 Методы химического анализа галлия высокой чистоты. Часть 3. Определение содержания следовых примесных элементов. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Элемент оптоэлектроники

GB/T 36590-2018 Метод химического анализа серебра высокой чистоты. Определение содержания микроэлементов-примесей. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.

工业和信息化部, Элемент оптоэлектроники

YS/T 1473-2021 Метод химического анализа молибдена высокой чистоты. Определение микроэлементов-примесей. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1506-2021 Метод химического анализа иридия высокой чистоты. Определение содержания примесных элементов. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1494-2021 Метод химического анализа золота высокой чистоты. Определение содержания примесных элементов. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1504-2021 Метод химического анализа палладия высокой чистоты. Определение содержания примесных элементов. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1530-2022 Метод химического анализа олова высокой чистоты. Определение содержания примесных элементов. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1495-2021 Метод химического анализа родия высокой чистоты. Определение содержания примесных элементов. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1493-2021 Метод химического анализа платины высокой чистоты. Определение содержания примесных элементов. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1505-2021 Метод химического анализа рутения высокой чистоты. Определение содержания примесных элементов. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
YS/T 1347-2020 Метод химического анализа гафния высокой чистоты. Определение содержания микроэлементов-примесей. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
XB/T 628-2020 Методы химического анализа особо чистых редкоземельных металлов. Определение содержания микроэлементов. Масс-спектрометрия в тлеющем разряде.
YS/T 1288.4-2018 Методы химического анализа цинка высокой чистоты. Часть 4. Определение содержания микроэлементов методом масс-спектрометрии тлеющего разряда

American Society for Testing and Materials (ASTM), Элемент оптоэлектроники

ASTM C1284-00(2005) Стандартная практика электроосаждения актинидов для альфа-спектрометрии
ASTM C1284-00 Стандартная практика электроосаждения актинидов для альфа-спектрометрии
ASTM C1284-18 Стандартная практика электроосаждения актинидов для альфа-спектрометрии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Элемент оптоэлектроники

KS D 1674-2019 Методы спектрометрического анализа микроэлементов в золоте в индуктивно-связанной плазме
KS D ISO 17973-2011(2021) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры среднего разрешения－Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
KS D ISO 17973:2011 Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры среднего разрешения－Калибровка энергетических шкал для элементного анализа
KS D ISO 17974-2011(2021) Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры высокого разрешения－Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния
KS D ISO 17974:2011 Химический анализ поверхности－Электронные оже-спектрометры высокого разрешения－Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния

Group Standards of the People's Republic of China, Элемент оптоэлектроники

T/SDAS 4-2016 Методы химического анализа золота высокой чистоты. Определение содержания примесных элементов. Масс-спектрометрия тлеющего разряда.
T/CAQI 134-2020 Драгоценные камни — Определение микроэлементов — Масс-спектрометрия с лазерной абляцией и индуктивно связанной плазмой.
T/CST 2-2020 Определение содержания мультиэлементов в ювелирных изделиях из золотых сплавов методом лазерной абляционно-индуктивно-связанной плазмы масс-спектрометрии

British Standards Institution (BSI), Элемент оптоэлектроники

BS ISO 17973:2003 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
BS ISO 17974:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.
IEC 62607-6-21:2022 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. - Часть 6-21: Материал на основе графена. Элементный состав, соотношение C/O: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.

International Organization for Standardization (ISO), Элемент оптоэлектроники

ISO 17973:2016 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
ISO 17973:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
ISO 17974:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.

Association Francaise de Normalisation, Элемент оптоэлектроники

NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Химический анализ поверхности - Электронные оже-спектрометры среднего разрешения - Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Элемент оптоэлектроники

JIS K 0165:2011 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
JIS K 0166:2011 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры высокого разрешения. Калибровка энергетических шкал для анализа элементного и химического состояния.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Элемент оптоэлектроники

YB/T 4308-2012 Низколегированная сталь.Определение содержания мультиэлементов.Лазерная абляционная масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой (Рутинный метод)

ASD-STAN - Aerospace and Defence Industries Association of Europe - Standardization, Элемент оптоэлектроники

PREN 2591-F11-1993 Элементы электрических и оптических соединений аэрокосмической серии. Методы испытаний. Часть F11. Эффективность оптических элементов при креплении кабеля на скручивание кабеля (издание P 1)
PREN 2591-F10-1993 Элементы методов испытаний электрических и оптических соединений аэрокосмической серии. Часть F10. Эффективность оптических элементов при протягивании кабеля при креплении кабеля (издание P 1)
PREN 2591-F12-1993 Элементы электрических и оптических соединений аэрокосмической серии. Методы испытаний. Часть F12. Оптические элементы. Эффективность крепления кабеля. Осевое сжатие кабеля (издание P 1).
PREN 2591-F9-1993 Элементы методов испытаний электрических и оптических соединений аэрокосмической серии. Часть F9. Эффективность оптических элементов при креплении кабеля Циклическое изгибание кабеля (издание P 1)

International Electrotechnical Commission (IEC), Элемент оптоэлектроники

IEC TS 62607-6-21:2022 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-21. Материал на основе графена. Элементный состав, соотношение C/O: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.