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Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica son: Medidas lineales y angulares., Metales no ferrosos, Educación, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Termodinámica y mediciones de temperatura..
RU-GOST R, Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
- GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
- GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
- GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
- KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
- JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido
Professional Standard - Education, Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
- JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
- GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
- GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición
American Society for Testing and Materials (ASTM), Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
International Organization for Standardization (ISO), Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
- ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
- ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
Group Standards of the People's Republic of China, Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
British Standards Institution (BSI), Sonda de barrido para microscopio de fuerza atómica
- BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.